JPS6214436A - Wafer chuck - Google Patents

Wafer chuck

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JPS6214436A
JPS6214436A JP15237485A JP15237485A JPS6214436A JP S6214436 A JPS6214436 A JP S6214436A JP 15237485 A JP15237485 A JP 15237485A JP 15237485 A JP15237485 A JP 15237485A JP S6214436 A JPS6214436 A JP S6214436A
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JP
Japan
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base
wafer
lift
chuck
fork
Prior art date
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Pending
Application number
JP15237485A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinkichi Deguchi
出口 信吉
Shunzo Imai
今井 俊三
Teruya Sato
光弥 佐藤
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Priority to JP15237485A priority Critical patent/JPS6214436A/en
Priority to US06/792,584 priority patent/US4747608A/en
Publication of JPS6214436A publication Critical patent/JPS6214436A/en
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Abstract

PURPOSE:To simplify the structure of a chuck, facilitate the entry and exit of wafers, and to easily establish insulation by a method wherein a lift mechanism is separated into a lifting member for the lifting of wafers and a driving means for the operation of the lift and the wafer chuck is equipped with an insulating board. CONSTITUTION:As for the structure of a wafer chuck of this design, a lifting member including a fork 5 in a base-side section A for the mounting and supporting of a wafer 1 is separated from a lift-driving means in the stage-side section for the elevating of the fork 5 relative to the base 3. The base 3 is attached to a member 3' with the intermediary of an insulating board 19 made of ceramics or the like. It follows that the chuck may be prevented from further complication in its internal structure because the base-side section is furnished only with the lifting member. Insulation is attained between the base and stage by using an insulating of a simple structure.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の利用分野] 本発明は、半導体製造装置において半導体ウェハを加工
ないし検査のために保持するためのウェハチャックに関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a wafer chuck for holding a semiconductor wafer for processing or inspection in a semiconductor manufacturing apparatus.

[従来の技術] アライナ、コータ、ブローバ等の各種の半導体製造¥i
t置において、半導体ウェハは、露光、レジスト塗布、
ブロービングなどの作業を行なうためにウェハチャック
によって保持固定され、作業終了後、チャックから解放
されて搬出される。従ってウェハチャックとしては、単
にウェハを保持する機構のみならず、ウェハを搬出し易
くする機構を備えることが望ましい。従来、このような
ウェハ搬出のための機構として、ベルヌーイ方式、エア
ー搬出方式、つかみ上げ方式、あるいはウェハリフト方
式の4種類のものが考えられ、ウェハチャックに組込ま
れている。
[Prior art] Manufacturing of various semiconductors such as aligners, coaters, blowers, etc.
At the t position, the semiconductor wafer is subjected to exposure, resist coating,
The wafer is held and fixed by a wafer chuck to perform operations such as blobbing, and after the operation is completed, it is released from the chuck and carried out. Therefore, it is desirable that the wafer chuck not only have a mechanism for simply holding the wafer, but also a mechanism that makes it easy to unload the wafer. Conventionally, four types of mechanisms for carrying out such wafers have been considered: a Bernoulli method, an air carrying-out method, a picking-up method, and a wafer lift method, and these are incorporated into wafer chucks.

ベルヌーイ方式の機構は、ウェハ上面に気流を流してウ
ェハ上面側を負圧とすることによりウェハをチャック上
面から浮上させて搬出し易くするものであり、ウェハ上
面に吹付ける気流によってウェハ而に塵埃を付着させる
危険があるという欠点を有している。
The Bernoulli mechanism creates a negative pressure on the top surface of the wafer by blowing an airflow over the top of the wafer, making it easier to lift the wafer from the top of the chuck. It has the disadvantage that there is a risk of adhesion.

エアー搬出方式では、ウェハを同様に空気によって浮上
させたうえで、別の空気放出装置により浮上ウェハに搬
出エアを吹付け、エアーの力によってウェハをチャック
から取出すが、ウェハの取出しに際してその搬出方向が
不安定となるため、ウェハをウェハカセットに戻す際に
再度ウェハの位置決めを行なわなければならないという
欠点がさらに加わる。
In the air unloading method, the wafer is similarly levitated by air, and then unloading air is blown onto the floating wafer using another air release device, and the wafer is taken out of the chuck by the force of the air. An additional drawback is that the wafer becomes unstable, requiring repositioning of the wafer when returning it to the wafer cassette.

ウェハつかみ出し方式では流体によらずにつエバを機械
的に取出すので前記欠点はいずれも生じないが、この方
式ではウェハチャック上でウェハの下面側に搬入搬出用
ハンドを挿入するための空間が必要であり、従来はこの
空間を確保するためにウェハチャック上面の一部をハン
ド挿入のために切欠いて凹部を形成していた。この凹部
を形成するやり方は、構造的には筒中であるが、ハンド
挿入のための切欠凹部として無視できない大きさのもの
が必要であり、ウェハチャックにウェハを載置して保持
させたときにこの切欠凹部のためにウェハの平面度が劣
化したり、ブローバ等でウェハの一部に押付力が加わる
ような場合には切欠凹部の存在のためにウェハを損傷し
たりする恐れがあった。
The wafer gripping method does not have any of the above drawbacks because the evaporator is taken out mechanically without using fluid. However, in this method, there is a space on the wafer chuck for inserting the hand for loading and unloading the wafer on the underside of the wafer. Conventionally, in order to secure this space, a part of the top surface of the wafer chuck was cut out to form a recess for insertion of the hand. The method of forming this recess is that it is structurally in the cylinder, but it must be large enough to be used as a notch for inserting the hand, and when the wafer is placed on the wafer chuck and held. The flatness of the wafer may deteriorate due to the notch recess, and if a pressing force is applied to a portion of the wafer by a blower or the like, the presence of the notch recess may cause damage to the wafer.

ウェハリフト方式のものは、チャックに組込まれたリフ
トによってウェハをチャック上面から持ち上げ、これに
よってハンドの挿入を可能にするものであり、前記切欠
凹部の存在による欠点はリフトのチャック面上での沈み
込みを面一にすることによってほぼ解決できるが、従来
のこの方式のものではウェハチャック内部にリフト機構
の全てを組込んでおり、従ってチャック装置内部の構造
が極めて複雑になるほか、検査時に電気ノイズを遮断す
るためにチャックを独立して電気的に絶縁する必要があ
る場合にはリフト機構が絶縁の妨げとなり、更にはチャ
ックを温度制御する必要がある場合にもリフト機構が均
一な温度制御を妨害する結果となっていた。
The wafer lift type uses a lift built into the chuck to lift the wafer from the top of the chuck, thereby making it possible to insert the hand.The disadvantage of the presence of the notched recess is that the lift sinks on the chuck surface. This can be almost solved by making the wafers flush with each other, but with this conventional method, the entire lift mechanism is built into the wafer chuck, which not only makes the structure inside the chuck extremely complex, but also causes electrical noise during inspection. If the chuck needs to be electrically insulated independently to isolate the This resulted in interference.

[発明の目的コ 本発明の課題は、チャック内部構造を複雑にすることな
くウェハの搬出入をし易くするウェハリフト方式の機構
を備えたウェハチャック装置を提供することであり、更
には、これに加えてチャックの電気的または熱的な絶縁
が簡単な構造で達成し易い構造の上記ウェハチャックを
提供することである。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide a wafer chuck device equipped with a wafer lift type mechanism that facilitates loading and unloading of wafers without complicating the internal structure of the chuck. In addition, it is an object of the present invention to provide the above-mentioned wafer chuck having a structure in which electrical or thermal insulation of the chuck can be easily achieved with a simple structure.

[発明の構成] 本発明のウェハチャックにおいては、前述の課題を達成
するために、リフト機構をウェハリフト用のリフト部材
とこれを昇降移動させるリフト駆動手段とに分離し、チ
ャックとしてのウェハ載置部であるベースには前記リフ
ト部材を取付け、該ベースを支持するステージ側に前記
リフト駆動手段を取付けである。すなわち本発明のウェ
ハチャックは、前記ベースと、リフト部材と、リフト駆
動手段と、絶縁部材とを備えている。ベースは、その上
面にウェハ載雷用の平面を有するチャック主要部を構成
し、ステージ上に支持されている。
[Structure of the Invention] In order to achieve the above-mentioned problems, in the wafer chuck of the present invention, the lift mechanism is separated into a lift member for lifting the wafer and a lift drive means for moving the same up and down, and the wafer chuck is mounted on the wafer as a chuck. The lift member is attached to a base, which is a section, and the lift drive means is attached to a stage side that supports the base. That is, the wafer chuck of the present invention includes the base, a lift member, a lift drive means, and an insulating member. The base constitutes the main part of the chuck having a flat surface for mounting the wafer on its upper surface, and is supported on the stage.

リフト部材は上昇位置と下降位置とをとり、これら開位
置間で移動可能にベースに取付けられており、上昇位置
ではベース上のウェハを前記平面から離して持ち上げ、
下降位置では自身の上面レベルが前記平面と実質的に同
等以下のレベルになるように沈み込む。リフト駆動手段
はベースを支持するステージ上に設けられ、ベースとの
相対的な変位によって前記リフト部材を前記開位置間で
移動させる。このリフト駆動手段は、リフト部材が前記
下降位置にあるときにはリフト部材と接触しないように
離されている。絶縁部材は、取付状態において前記リフ
ト手段を取付けたベース側と。
The lift member is mounted on the base so as to be movable between a raised position and a lowered position, and in the raised position lifts the wafer on the base away from the plane;
In the lowered position, it sinks down so that its upper surface level is substantially equal to or lower than the plane. Lift drive means is provided on a stage that supports a base, and moves the lift member between the open positions by displacement relative to the base. The lift drive means is spaced apart so as not to come into contact with the lift member when the lift member is in the lowered position. The insulating member is attached to the base side to which the lift means is attached in the attached state.

前記リフト駆動手段を取付けたステージ側との間を電気
的および/または熱的に絶縁する。
The lift driving means is electrically and/or thermally insulated from the stage side to which the lift driving means is attached.

本発明のひとつの実1′A態様において、前記リフト手
段はウェハを下から持ち上げる複数の細いフォークを含
み、ベース上面には前記下降位置においてこれらフォー
クを面一に受け入れる複数の好ましくは溝状の凹部が設
けられている。
In one embodiment 1'A of the invention, the lifting means includes a plurality of narrow forks for lifting the wafer from below, and the upper surface of the base has a plurality of preferably groove-like grooves for receiving the forks flush in the lowered position. A recess is provided.

本発明の別の実施態様においては、リフト手段が前記ベ
ースに取付けられ、ベースが絶縁部材を介してステージ
に支持されている。
In another embodiment of the invention, lifting means is attached to the base, and the base is supported by the stage via an insulating member.

し発明の作用コ 本発明のウェハチャックでは、前述のようにベース側に
は従動部品であるリフト部材を取付けるだけであるので
ベース外周部にこのリフト部材を配置してチャック内部
構造のwm化を避けることが可能であり、ステージ側の
リフト駆動手段と前記ベース側のリフト部材とを分離し
たので、リフト非作動状態での両者間の絶縁が単なる空
隙の形成によって達成され、これに加えてベースとステ
ージ間の絶縁が単純な絶縁部材の層の介在で達成可能と
なるものである。
Effects of the Invention In the wafer chuck of the present invention, as mentioned above, only the lift member, which is a driven part, is attached to the base side, so this lift member is arranged on the outer periphery of the base to make the internal structure of the chuck wm. Since the lift drive means on the stage side and the lift member on the base side are separated, insulation between them in the lift non-operation state is achieved by simply forming a gap, and in addition to this, the lift drive means on the stage side and the lift member on the base side are isolated. Insulation between the stage and the stage can be achieved by interposing a simple layer of insulating material.

[実施例] 第1図は本発明の実施例を示す平面図、第2a図はリフ
ト部材が下降位置にあるときの要部断面図、第2b図は
同じく上昇位置にあるときの要部断面図である。
[Example] Fig. 1 is a plan view showing an embodiment of the present invention, Fig. 2a is a sectional view of the main part when the lift member is in the lowered position, and Fig. 2b is a sectional view of the main part when the lift member is in the raised position. It is a diagram.

図において、本発明に係るウェハチャックは、ウェハ1
を載置保持するベース側部分Aとその支持部分としての
一ステージ側部分Bとに分けて考えることができ、ベー
ス側部分Aにフォーク5を含むリフト部材が、ステージ
側部分にこのフォーク5をベース3に対して相対的に昇
降させるリフト駆動手段が互いに分離して配置されでい
る。
In the figure, the wafer chuck according to the present invention has a wafer 1
It can be considered to be divided into a base side part A for placing and holding the same, and a stage side part B as its supporting part, and the lift member including the fork 5 on the base side part A and the fork 5 on the stage side part. Lift driving means for raising and lowering the base 3 relative to the base 3 are arranged separately from each other.

ベース側部分Aにおいて、チャックの主要部をなすベー
ス3は図示しないチャッキング機構を内蔵するほか、ウ
ェハ1を載置する平面2をその上面に備え、平面図でみ
て120度の等角度間隔でこの平面2に外周縁から中は
どに至る径方向の細い溝状凹部4が三本設けられている
。ベース3の上記凹部4の端部においてフォーク5がそ
れぞれ昇降可能に軸支されている。このフォーク5は、
ベース3の凹部4に丁度納まって下降位置にて而−とな
るかまたはベース面より低くなり、且つ上昇位置ではウ
ェハ1の下面を支える上面部を有する細い棒状部6と、
ベース3に軸支された軸部7と、棒状部6が通常は下降
位置に保たれるように軸部7を下向きに付勢するばね9
と、ウェハ1の周縁に対して位置ガイドとなる凸部8と
からなり、前述のリフト部材を構成するものである。こ
のフォーク5は、その軸部7の下端をばね9に抗して押
し上げることにより上昇位置をとることができ、この押
し上げを解除することによりばね9のばね力で下降位置
をとることができる。
In the base side portion A, the base 3, which is the main part of the chuck, has a built-in chucking mechanism (not shown), and also has a flat surface 2 on its upper surface on which the wafer 1 is placed, arranged at equal angular intervals of 120 degrees when viewed from the top. Three narrow groove-like recesses 4 extending in the radial direction from the outer peripheral edge to the center are provided on this plane 2. Forks 5 are pivotally supported at the ends of the recesses 4 of the base 3 so as to be movable up and down. This fork 5 is
a thin rod-shaped part 6 that fits exactly in the recess 4 of the base 3 and has an upper surface part that is lower than the base surface in the lowered position and supports the lower surface of the wafer 1 in the raised position;
A shaft portion 7 pivotally supported by the base 3 and a spring 9 that biases the shaft portion 7 downward so that the bar-shaped portion 6 is normally maintained in the lowered position.
and a convex portion 8 that serves as a position guide with respect to the periphery of the wafer 1, and constitutes the aforementioned lift member. This fork 5 can take a raised position by pushing up the lower end of its shaft portion 7 against the spring 9, and can take a lowered position by the spring force of the spring 9 by releasing this pushing up.

フォーク5の前記昇降を果すのがステージ側部分Bのリ
フト駆動手段であり、これについて以下に説明する。
The lift driving means of the stage side portion B is responsible for raising and lowering the fork 5, and this will be explained below.

すなわちステージ12に図示しない支持機構によって支
持された部材3′は絶縁板19を介してベース3を支持
すると共に、前記フォーク5の軸部7の下部に対置して
突上げビン10を軸支しており、この突上げビン10は
通常はばね18によって下方に付勢され、フォーク5が
下降位置にあるときには軸部7の下端とビン10の上端
との間に空隙が形成されて互いに離反するようになって
′いる。突上げビン10の下端にはベアリング11が取
付けられ、このベアリング11はへリコイドリング14
の上面に低摩擦係数で接している。ヘリコイドリング1
4は外周面に 120度ずつの等色配分された螺旋突条
14aと内周面に内歯ギア14bとを有し、外周三個所
で螺旋突条14aの傾きに合わせて傾斜してステージ1
2に軸受されたvローラ13により回転可能に支持され
ている。ヘリコイドリング14の内歯ギア14bは、ス
テージ12に取付けられた中間ギア17を介して駆動ギ
ア16と噛合し、駆動ギア16をモータ15によって正
逆回転させることによりヘリコイドリング14を正逆回
転する。Vローラ13と螺旋突条14aとの関係でヘリ
コイドリンク14はその回転方向に応じて上昇または下
降の平行移動を伴って回転することになる。このヘリコ
イドリングの回転による上昇下降はベアリング11を介
して突上げビン10に伝えられ、突上げビン10の上昇
によりその上端がフォーク5の軸部7と接して更にはこ
れをばね9に抗して押し上げ、第2b図に示すようにフ
ォーク5によるウェハ1の持ち上げが果される。このよ
うにして持ち上げられたウェハ1とベース上面2どの間
に図示しないハンド装置が挿し込まれてウェハの搬出ま
たは搬入が行なわれる。
That is, the member 3' supported by a support mechanism (not shown) on the stage 12 supports the base 3 via the insulating plate 19, and also pivotally supports the push-up pin 10 opposite to the lower part of the shaft portion 7 of the fork 5. This push-up bottle 10 is normally urged downward by a spring 18, and when the fork 5 is in the lowered position, a gap is formed between the lower end of the shaft portion 7 and the upper end of the bottle 10, so that they separate from each other. It's like that. A bearing 11 is attached to the lower end of the push-up bottle 10, and this bearing 11 is attached to a helicoid ring 14.
It is in contact with the top surface of the surface with a low coefficient of friction. helicoid ring 1
Stage 4 has spiral protrusions 14a distributed in the same color at 120 degrees on the outer circumferential surface and internal gears 14b on the inner circumferential surface.
It is rotatably supported by a v-roller 13 bearing at 2. The internal gear 14b of the helicoid ring 14 meshes with the drive gear 16 via an intermediate gear 17 attached to the stage 12, and the drive gear 16 is rotated in the forward and reverse directions by the motor 15, thereby rotating the helicoid ring 14 in the forward and reverse directions. . Due to the relationship between the V roller 13 and the spiral protrusion 14a, the helicoid link 14 rotates with upward or downward parallel movement depending on its rotation direction. The upward and downward movements caused by the rotation of the helicoid ring are transmitted to the push-up pin 10 via the bearing 11, and as the push-up pin 10 rises, its upper end comes into contact with the shaft portion 7 of the fork 5, further pushing it against the spring 9. The wafer 1 is lifted up by the fork 5 as shown in FIG. 2b. A hand device (not shown) is inserted between the wafer 1 lifted up in this manner and the upper surface 2 of the base, and the wafer is carried in or out.

ウェハ1がベース3の上に載置されでいる状態、すなわ
ちフォーク5が下降位置にあるときには、フォーク5の
軸部7と突上げビン10とが空隙を介して離れており、
またベース3は絶縁板(セラミック等)19を介して部
材3−に取付けられているので、ベース側はステージ側
に対して電気的熱的に絶縁されている。この場合、リフ
ト機構が二部弁に分離されているので絶縁の妨げになら
ず、ベースが単純な絶縁板19の介在のみによってステ
ージ側から絶縁できることに注目すべきである。
When the wafer 1 is placed on the base 3, that is, when the fork 5 is in the lowered position, the shaft portion 7 of the fork 5 and the push-up bin 10 are separated through a gap,
Furthermore, since the base 3 is attached to the member 3- via an insulating plate (ceramic or the like) 19, the base side is electrically and thermally insulated from the stage side. In this case, it should be noted that since the lift mechanism is separated into a two-part valve, it does not interfere with insulation, and the base can be isolated from the stage side by simply interposing the insulating plate 19.

以上の実施例では、固定ベースに対してヘリコイドリン
グによって突上げビン10を介してフォーク5を押し上
げたが、ヘリコイドリングによらずに別のカム機構を用
いても同様に実施可能である。
In the above embodiment, the fork 5 was pushed up against the fixed base via the push-up pin 10 by the helicoid ring, but it is also possible to use another cam mechanism instead of the helicoid ring.

またベース3側が上下に可動の場合、突上げビン10を
ステージ側に固定配置して、ベースの下降時にフォーク
5の下降を突上げビンとの衝合によって阻止することで
、下降時のベース上面に対してフォーク5を相対的に持
ち上げるようにしてもよく、この場合はフォーク昇降の
駆動部として別個の駆動部を設けずともベースの昇降機
構で共用できる利点がある二この場合の実施例を第3図
と第48および4b図に示す。
In addition, when the base 3 side is movable up and down, the push-up bin 10 is fixedly arranged on the stage side, and when the base is lowered, the fork 5 is prevented from descending by colliding with the push-up bin, so that the upper surface of the base when lowering is prevented. The fork 5 may be lifted relatively to the fork. In this case, there is an advantage that the elevating mechanism of the base can be used in common as the elevating mechanism of the base without providing a separate driving portion for elevating the fork. 3 and 48 and 4b.

第3図、第4a 、4b図において、前記実施例と同効
部分には同一符号を付してあり、20は突上げビン10
をステージ12に固定する部材である。
In FIGS. 3, 4a and 4b, the same reference numerals are given to the parts having the same effect as in the above embodiment, and 20 is the push-up bottle 10.
This is a member that fixes the stage 12 to the stage 12.

ウェハの着脱時においてベース3が図示しない手段によ
って下降されると、フォーク5の軸部7の下端が固定突
上げビン10の上端と衝合して第4b図に示すようにベ
ース上面2に対してフォーク5がウェハ1を持ち上げる
When the base 3 is lowered by means (not shown) when loading and unloading wafers, the lower end of the shaft portion 7 of the fork 5 collides with the upper end of the fixed push-up bin 10, and as shown in FIG. The fork 5 lifts the wafer 1.

この方式は外部駆動源なしにフォークの昇降ができるの
で、ウエハブローバなどのようにベースを上下動させる
機構をもつものでは機構の簡素化が可能である。
Since this method allows the fork to be raised and lowered without an external drive source, it is possible to simplify the mechanism for devices that have a mechanism for moving the base up and down, such as a wafer blobber.

尚、この例では突上げビン10の固定部材20を三個所
に分けて配置したが、第5図のように突上げビン10の
代わりに全周配置の突上げリング10′をベースまわり
に設置し、フォーク5の軸部7の下端をこの突上げリン
グ10′の上縁と衝合可能にしておけば、ベース3がい
かなる回転位置をとろうともそのまま下降させることで
フォーク5によるウェハの持ち上げが可能となる。
In this example, the fixing member 20 of the push-up bottle 10 is arranged in three places, but instead of the push-up bottle 10, a push-up ring 10' arranged around the entire circumference is installed around the base as shown in Fig. 5. However, if the lower end of the shaft portion 7 of the fork 5 is made to be able to collide with the upper edge of this push-up ring 10', the wafer can be lifted by the fork 5 by lowering the base 3 in any rotational position. becomes possible.

[発明の効果] 以上に述べた如く、本発明によれば、ウェハリフト機構
を二つの部分に分けたので、リフトの駆動源をチャック
外部に設けたり、あるいはチャック自体の昇降機構をリ
フト駆動源に共用できたりする利点があり、このためチ
ャックにはそのベース側にリフト従動部のみを組み込め
ばよいので、チャック内部構造の複雑化を避けることが
できる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the wafer lift mechanism is divided into two parts, so the lift drive source can be provided outside the chuck, or the lifting mechanism of the chuck itself can be used as the lift drive source. There is an advantage that the chuck can be used in common, and therefore, it is only necessary to incorporate the lift driven part into the base side of the chuck, so that the internal structure of the chuck can be avoided from becoming complicated.

またリフト非作動状態でリフト機構の両部分間を離すこ
とが可能であるので、チャックのベースの電気的または
熱的な絶縁対策が単純な絶縁層の介在のみで達成でき、
リフト機構が絶縁の妨げとなることもない。さらにチャ
ックのウェハ載置面には細い溝状凹部が設けられるのみ
で、しかもその凹部にはフォークがほぼ面一に納まるの
で全面フラットなウェハ載置面が確保でき、ウェハの平
面度の劣化や局部的な外力によるウェハの損傷などの恐
れもない。
In addition, since it is possible to separate the two parts of the lift mechanism when the lift is not in operation, electrical or thermal insulation of the chuck base can be achieved by simply interposing an insulating layer.
The lift mechanism does not interfere with insulation. Furthermore, the wafer placement surface of the chuck is only provided with a narrow groove-like recess, and the fork fits flush with the recess, ensuring a completely flat wafer placement surface, which prevents deterioration of wafer flatness. There is no fear of damage to the wafer due to local external forces.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2a図はリ
フト部材が下降位置にあるときの要部断面図、第2b図
は同じく上昇位置にあるときの要部断面図、第3図は本
発明の別の実施例を示す平面図、第48および4b図は
同じくリフト部材が下降位置にあるときと上昇位置にあ
るときの各要部断面図、第5図は本発明のさらに別の実
施例を示す平面図である。 1:ウェハ、2:ウェハ載置用平面、 3:ベース、4:溝状凹部、5:フォーク、7:軸部、
10:突上げビン、11:ベアリング、12:ステージ
、13:Vローラ、 14:へリコイドリング、15:モータ、16:駆動ギ
ア、17:中間ギア、19:絶縁板。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of the present invention, FIG. 2a is a cross-sectional view of the main part when the lift member is in the lowered position, FIG. 2b is a cross-sectional view of the main part when the lift member is in the raised position, and FIG. FIG. 3 is a plan view showing another embodiment of the present invention, FIGS. 48 and 4b are sectional views of the main parts when the lift member is in the lowered position and the raised position, and FIG. 5 is a plan view showing another embodiment of the present invention. It is a top view which shows yet another Example. 1: Wafer, 2: Wafer mounting plane, 3: Base, 4: Groove-shaped recess, 5: Fork, 7: Shaft,
10: Push-up bottle, 11: Bearing, 12: Stage, 13: V roller, 14: Helicoid ring, 15: Motor, 16: Drive gear, 17: Intermediate gear, 19: Insulating plate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、上面にウェハ載置用の平面を有するベースと;ベー
スに対して上昇位置にある時はベース上に載置されたウ
ェハを前記平面から離して持ち上げると共に下降位置に
ある時は自身の上面レベルを前記平面と実質的に同等以
下のレベルにするように前記ベースに上下動可能に支持
されたリフト部材と;ベースを支持するステージに設け
られ、ベースと相対的な変位をすることにより前記リフ
ト部材を前記上昇位置と下降位置との間で移動させると
共に、リフト部材が下降位置にある時には該リフト部材
から離れているリフト駆動手段と;前記ベースおよびリ
フト部材と前記ステージおよびリフト駆動手段との間を
絶縁する絶縁部材とを備えたことを特徴とするウェハチ
ャック。 2、リフト部材がウェハを下から持ち上げる複数のフォ
ークを含み、ベース上面に前記下降位置においてフォー
クを面一に受け入れる複数の凹部が設けられていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のウェハチャ
ック。 3、リフト手段が前記ベースに取付けられ、ベースが前
記絶縁部材を介して前記ステージに支持されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のウェハチャ
ック。
[Claims] 1. A base having a flat surface for placing a wafer on its upper surface; when the base is in a raised position with respect to the base, the wafer placed on the base is lifted away from the flat surface, and the wafer is moved to a lowered position. a lift member that is vertically movably supported by the base so that its upper surface level is substantially equal to or lower than the plane; a lift drive means for moving said lift member between said raised position and said lowered position by displacement and is spaced from said lift member when said lift member is in said lowered position; said base and said lift member; A wafer chuck characterized by comprising an insulating member that insulates between a stage and a lift drive means. 2. The lift member includes a plurality of forks that lift the wafer from below, and a plurality of recesses are provided on the upper surface of the base to receive the forks flush in the lowered position. Wafer chuck as described. 3. The wafer chuck according to claim 1, wherein a lift means is attached to the base, and the base is supported by the stage via the insulating member.
JP15237485A 1984-10-30 1985-07-12 Wafer chuck Pending JPS6214436A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107598203A (en) * 2016-07-12 2018-01-19 沈阳黎明国际动力工业有限公司 A kind of lathe three-claw clamping tool

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107598203A (en) * 2016-07-12 2018-01-19 沈阳黎明国际动力工业有限公司 A kind of lathe three-claw clamping tool

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