JPS62133158U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62133158U JPS62133158U JP1908686U JP1908686U JPS62133158U JP S62133158 U JPS62133158 U JP S62133158U JP 1908686 U JP1908686 U JP 1908686U JP 1908686 U JP1908686 U JP 1908686U JP S62133158 U JPS62133158 U JP S62133158U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- goniometer
- ray
- ray detector
- fixed
- sample
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
第１図は本考案の原理を説明する図、第２図は
本考案の一実施例の平面図、第３図は他の実施例
の平面図。 Ｘ…Ｘ線源、Ｃ…試料、Ｓ…スリツト、Ｄ…Ｘ
線検出器。
本考案の一実施例の平面図、第３図は他の実施例
の平面図。 Ｘ…Ｘ線源、Ｃ…試料、Ｓ…スリツト、Ｄ…Ｘ
線検出器。
Claims (1)
- 円筒状に曲成した試料をゴニオメータ中心にゴ
ニオメータと同軸的に固定し、Ｘ線源を固定し、
上記ゴニオメータの円周に沿つてＸ線検出器を駆
動する構成とし、回折Ｘ線が検出された時のＸ線
検出器のゴニオメータ上の角位置を読取つて、そ
の角度データから試料結晶の格子間隔を算出する
ようにしたＸ線回折計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1908686U JPS62133158U (ja) | 1986-02-12 | 1986-02-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1908686U JPS62133158U (ja) | 1986-02-12 | 1986-02-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62133158U true JPS62133158U (ja) | 1987-08-22 |
Family
ID=30813364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1908686U Pending JPS62133158U (ja) | 1986-02-12 | 1986-02-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62133158U (ja) |
-
1986
- 1986-02-12 JP JP1908686U patent/JPS62133158U/ja active Pending
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