JPS62131341A - Computer test system - Google Patents

Computer test system

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Publication number
JPS62131341A
JPS62131341A JP60272105A JP27210585A JPS62131341A JP S62131341 A JPS62131341 A JP S62131341A JP 60272105 A JP60272105 A JP 60272105A JP 27210585 A JP27210585 A JP 27210585A JP S62131341 A JPS62131341 A JP S62131341A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
peripheral control
control device
bit
configuration information
Prior art date
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Pending
Application number
JP60272105A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Minazu
水津 義則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60272105A priority Critical patent/JPS62131341A/en
Publication of JPS62131341A publication Critical patent/JPS62131341A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To reduce man-hours required for test and to prevent a test operator from confusing due to an inadequate test result by testing the execution possibility of a test for each device generating a bit of secondary constitution information, and executing a test program based on the bit of information. CONSTITUTION:A test monitor and a bit of primary constitution information for a computer system are stored at a main storage device 1. When a peripheral control device 4 is selected as the object of the test, a command from a channel device 3 that is the host device of the peripheral control device 4 by the control of a central processing unit 2 is connected to the peripheral control device 4, and a specified value built in a register at the peripheral control device 4 is connected from the peripheral control device 4 to the main storage device 1, then being stored. When the value coincides with the specified value at the peripheral control device 4, it is possible to execute the test. Similarly, when the test for the execution possibility is performed based on the bit of primary constitution information and it is completed, the bit of secondary constitution information that is defined as possible to execute the test is generated at the main storage device 1, and the execution of the test program is performed based on the bit of information.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、中央処理装置、主記憶装置、チャネル装置お
よび各種装置等で構成されるコンピュータの試験方式に
関する。特に、試験を行う際に必要とされる試験用構成
情報の自動生成方式に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a test method for a computer comprising a central processing unit, a main memory, a channel device, various devices, and the like. In particular, it relates to a method for automatically generating test configuration information required when conducting tests.

〔概要〕〔overview〕

本発明は、コンピュータの試験方式において、主記憶装
置に格納されている第1次構成情報に基づいて試験実行
可能性の試験を行い、この結果に従って試験実行可能な
第2次構成情報を生成し、これに基づいて試験を行うこ
とにより、試験工数の削減および試験結果の不適切によ
る試験オペレータの混乱を防止するようにしたものであ
る。
In a computer testing method, the present invention performs a test for test executableness based on primary configuration information stored in a main storage device, and generates test-executable secondary configuration information according to the result. By conducting tests based on this, testing man-hours can be reduced and test operators can be prevented from being confused due to inappropriate test results.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、コンピュータの試験方式は被試験コンピュータシ
ステム全構成を記述した第1次構成情報に基づいて試験
対象装置を選択し、対応する試験プログラムを実行して
いた。
Conventionally, in computer testing methods, a test target device is selected based on primary configuration information that describes the entire configuration of the computer system under test, and a corresponding test program is executed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかし、このような従来のコンピュータシステムの試験
方式は、第1次構成情報に基づいて試験実行不可能な装
置およびその装置の配下に位置する装置に対しても試験
プログラムを実行するために、試験工数の増大と試験結
果の不適切による試験オペレータの混乱とを誘発する欠
点があった。
However, in such conventional computer system testing methods, test programs are executed for devices that cannot be tested based on the primary configuration information and for devices located under the devices. This method has disadvantages of increasing man-hours and confusing test operators due to inappropriate test results.

ここに試験実行不可能装置とは、未接続装置の他に接続
不良・電源不良および装置構成品の欠品等の基本的障害
を含む装置を意味する。
Here, the term "devices that cannot be tested" means, in addition to unconnected devices, devices that have basic failures such as connection failures, power failures, and missing device components.

本発明は上記の欠点を解決するもので、試験実行不可能
な装置およびその装置の配下に位置する装置に対しては
試験プログラムを実行せず、試験工数の削減および試験
結果の不適切による試験オペレータの混乱を防止できる
コンピュータ試験方式を堤供することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned drawbacks by not executing a test program for devices that cannot be tested or devices located under the device, thereby reducing test man-hours and testing due to inappropriate test results. The purpose is to provide a computerized test method that can prevent operator confusion.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、被試験コンピュータシステムを構成する装置
を定義した第1次構成情報を主記憶装置に格納し、この
情報に基づいて上記コンピュータシステムの試験を実行
する方式において、上記情報に基づいて定義された各装
置の接続および動作の状態を試験する可能性試験を実行
し、この可能性試験の結果に基づいて、試験可能な装置
により定義した第2次構成情報を作成し、上記試験はこ
の第2次構成情報に基づいて実行するを備えたことを特
徴とする。
The present invention provides a method for storing primary configuration information defining devices constituting a computer system under test in a main storage device, and executing a test of the computer system based on this information. A feasibility test is performed to test the connection and operational status of each device tested, and based on the results of this feasibility test, secondary configuration information defined by the testable device is created, and the above test The method is characterized in that it is executed based on the secondary configuration information.

すなわち、本発明は第1次構成情報に基づく被試験コン
ピュータシステムを構成する各種装置の試験実行可能性
を試験する可能性試験手段とこの試験結果による各種装
置の試験実行脂性を定義した第2次構成情報を主記憶装
置へ生成する生成手段とを含むことを特徴とする。ここ
で試験実行可能性試験とは、第1次構成情報に定義され
ている接続関係にある装置どうしの制御情報をチェック
するテストである。装置間の制御関係については、制御
を行う側の装置を上位装置、制御される側の装置を下位
装置と仮称するが、ある装置がある接続関係では上位装
置に他の接続関係では下位装置になる場合もある。まず
下位装置のレジスタに内蔵されたこの下位装置特有の定
義された値を上位装置の読み込み指令によって読み込み
、主記憶装置に格納後にこの値がこの下位装置特有の値
と一敗するならば、この下位装置は試験実行可能装置と
判断する。その値が異なる場合または読み込み指令が正
常に終了しなかった場合は、本下位装置は試験実行不可
能装置と判断する。試験実行可能試験では上位装置が試
験実行不可能装置の場合に、その不可能装置の下位に当
たる装置に対してはこの試験を実行しない。
That is, the present invention provides a feasibility test means for testing the feasibility of testing various devices constituting the computer system under test based on the primary configuration information, and a secondary method that defines the feasibility of testing the various devices based on the test results. and generating means for generating configuration information into the main storage device. Here, the test feasibility test is a test that checks control information between devices in a connection relationship defined in the primary configuration information. Regarding the control relationship between devices, the device that performs control is tentatively referred to as a higher-level device and the device that is controlled as a lower-level device; however, a device may function as a higher-level device in some connection relationships and a lower-level device in other connection relationships. Sometimes it happens. First, read the defined value unique to this lower device built into the register of the lower device by the read command of the higher device, and if this value is once lost to the value unique to this lower device after being stored in the main memory, then this The lower-level device is determined to be a test-enabled device. If the values are different or if the read command is not completed normally, this lower-level device determines that the test cannot be executed. In an executable test, if a host device is a test-unable device, this test is not executed for devices that are subordinate to the test-unable device.

〔作用〕[Effect]

可能性試験は主記憶装置に格納されている1次構成情報
に基づいて行う。この試験結果に基づいて試験実行可能
な装置について第2次構成情報を生成する。この動作に
より、試験実行不可能な装置およびその配下に位置する
装置に対しては試験プログラムを実行せず、試験工数の
削減および試験結果の不適切による試験オペレータの混
乱を防止することができる。
The feasibility test is performed based on the primary configuration information stored in the main memory. Based on this test result, secondary configuration information is generated for the test-enabled device. With this operation, the test program is not executed for devices that cannot be tested and devices located under the test, thereby reducing the number of testing steps and preventing confusion among test operators due to inappropriate test results.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例について図面を参照して説明す図は本発
明一実施例コンピュータの試験装置のブロック構成図で
ある。図において、まず被試験コンピュータシステムは
イニシャライズが行われ、主記憶装置1に試験用モニタ
およびコンピュータ装置の第1次構成情報が格納される
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be explained with reference to the drawings, which is a block diagram of a computer testing apparatus according to an embodiment of the present invention. In the figure, first, the computer system under test is initialized, and the primary configuration information of the test monitor and computer device is stored in the main storage device 1.

ここで本発明の特徴とするところは、一点鎖線で囲む試
験実行可能性試験部分である。すなわち、主記憶装置1
は中央処理装置2に接続され、情報の読出し、読込みが
行われる。中央処理装置2はチャネル装置3を経由して
周辺制御装置4〜6にそれぞれ接続され、また周辺制御
装置4〜6はそれぞれ周辺装置7〜13にそれぞれ接続
され、情報の授受および情報の処理が行われる。いま、
−例として試験の対象として周辺制御装置4を選択する
。中央処理装置2の制御により周辺制御装置4の上位装
置であるチャネル装置3がら指令が周辺制御装置4に接
続され、周辺制御装置4のレジス夕に内蔵された特有の
値が周辺制御装置4から主記憶装置1に接続され格納さ
れる。この値が周辺制御装置4の特有の値と一致するな
らば試験実行可能とする。同様にして第2次構成情報G
こ基づいて実行可能性の試験を行い終了したときに、試
験実行可能と定義した第2次構成情報を主記憶装置に生
成する。この第2次構成情報に基づいて試験プログラム
の実行を行う。
Here, the feature of the present invention is the test feasibility test portion surrounded by a dashed line. That is, main storage device 1
is connected to the central processing unit 2, and information is read and read therefrom. The central processing unit 2 is connected to the peripheral control devices 4 to 6 via the channel device 3, and the peripheral control devices 4 to 6 are connected to the peripheral devices 7 to 13, respectively, so that information can be exchanged and processed. It will be done. now,
- As an example, select the peripheral control device 4 as the test object. Under the control of the central processing unit 2, commands from the channel device 3, which is a higher-level device of the peripheral control device 4, are connected to the peripheral control device 4, and specific values stored in the register of the peripheral control device 4 are transmitted from the peripheral control device 4. It is connected to and stored in the main storage device 1. If this value matches the specific value of the peripheral control device 4, the test can be executed. Similarly, secondary configuration information G
Based on this, an executable test is performed, and when the test is completed, secondary configuration information defining that the test is executable is generated in the main storage device. The test program is executed based on this secondary configuration information.

このような構成の試験装置の動作について説明する。本
実施例に先行して被試験コンピュータシステムにイニシ
ャライズを行い、主記憶装置1に試験用モニタとコンピ
ュータ装置の第1次構成情報とを格納しておく。
The operation of the test apparatus having such a configuration will be explained. Prior to this embodiment, the computer system under test is initialized, and a test monitor and primary configuration information of the computer device are stored in the main storage device 1.

本情報はまず第1次構成情報に基づき試験実行可能性試
験を実行する。この試験対象として最初に周辺制御装置
4を選択し、周辺制御装置4の上位装置であるチャネル
装置3からの読みこみ指令により周辺制御装置4特有の
値を読み込み、主記憶装置lに格納し、試験実行可能か
否かの判断を行う、以下周辺制御装置5および周辺制御
装置6に対しても同様にこの試験を行う周辺制御装置4
〜6すべてに対するこの試験が終了すると、次に周辺制
御装置7〜13に対して試験実行可能性試験を行う。こ
の場合に周辺制御装置4〜6の読込み指令により周辺装
置7〜13特有の値が読み込まれる。一方、たとえば周
辺制御装置4が試験実行不可能装置の場合には、周辺装
置7.8に対するこの試験は実行ないように、周辺制御
装置4〜6が試験実行可能装置の場合のみ周辺装置7〜
13に対してこの試験を実行する。以上の繰り返しで第
1次構成情報に基づく試験実行可能性試験がすべて終了
すると、その結果に基づいて各種装置の試験実行可能性
と定義した第2次構成情報を主記憶装置1に生成する。
This information first executes a test feasibility test based on the primary configuration information. First, the peripheral control device 4 is selected as the test target, and a value specific to the peripheral control device 4 is read by a read command from the channel device 3, which is a higher-level device of the peripheral control device 4, and stored in the main storage device l. Peripheral control device 4, which similarly performs this test on peripheral control device 5 and peripheral control device 6, which determines whether the test can be executed or not.
After completing this test for all of the peripheral control devices 7 to 6, a feasibility test is then performed for the peripheral control devices 7 to 13. In this case, the values specific to the peripheral devices 7 to 13 are read by the read command from the peripheral control devices 4 to 6. On the other hand, for example, if the peripheral control device 4 is a device that cannot be tested, this test is not performed on the peripheral devices 7.8, and only if the peripheral control devices 4 to 6 are testable devices,
This test is performed on 13. When all test feasibility tests based on the primary configuration information are completed by repeating the above steps, secondary configuration information defining test feasibility of various devices is generated in the main storage device 1 based on the results.

次に本実施例で生成した第2次構成情報の運用方法を試
験プログラムが手動起動方式と自動起動方式との各々の
場合について説明する。手動起動方式では、試験オペレ
ータが主記憶装置1に格納されている第2次構成情報を
コンソールに出力し、第2次構成情報に基づいて対応す
る試験プログラムの起動を行う。
Next, a method of operating the secondary configuration information generated in this embodiment will be described for cases in which the test program uses a manual startup method and an automatic startup method. In the manual startup method, the test operator outputs the secondary configuration information stored in the main storage device 1 to the console, and starts the corresponding test program based on the secondary configuration information.

自動起動方式では、出力記憶装置1に格納されている第
2次構成情報に基づいて試験実行可能装置を選択し、対
応する試験プログラムを自動的に起動し、試験実行可能
装置すべてに対して試験が終了後第2次構成情報をコン
ソールに出力し、試験オペレータに各装置の試験実行可
能性状況を通知する。
In the automatic startup method, test executable devices are selected based on the secondary configuration information stored in the output storage device 1, the corresponding test program is automatically started, and the test is performed on all test executable devices. After the completion of the test, the secondary configuration information is output to the console and the test operator is notified of the test executable status of each device.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明は、コンピュータシステム
の試験で試験プログラムを実行する前に、各装置の試験
実行可能性を試験して第2次構成情報を生成し、これに
基づいて実行することにより、試験工数の削減と試験結
果の不適切による試験オペレータの混乱防止ができる優
れた効果がある。
As explained above, the present invention is capable of testing the feasibility of testing each device to generate secondary configuration information, and executing the test based on this, before executing a test program in a test of a computer system. This has the excellent effect of reducing testing man-hours and preventing confusion among test operators due to inappropriate test results.

【図面の簡単な説明】 図は本発明一実施例コンピュータ試験装置のブロック構
成図。 1・・・主記憶装置、2・・・中央処理装置、3・・・
チャネル装置、4〜6・・・周辺制御装置、7〜13・
・・周辺装置。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The figure is a block diagram of a computer testing device according to an embodiment of the present invention. 1... Main storage device, 2... Central processing unit, 3...
Channel device, 4-6... Peripheral control device, 7-13.
...Peripheral devices.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被試験コンピュータシステムを構成する装置を定
義した第1次構成情報を主記憶装置に格納し、この情報
に基づいて上記コンピュータシステムの試験を実行する
方式において、 上記情報に基づいて定義された各装置の接続および動作
の状態を試験する可能性試験を実行し、この可能性試験
の結果に基づいて、試験可能な装置により定義した第2
次構成情報を作成し、上記試験はこの第2次構成情報に
基づいて実行する ことを特徴とするコンピュータの試験方式。
(1) In a method in which primary configuration information defining the devices constituting the computer system under test is stored in the main memory and a test of the computer system is executed based on this information, A feasibility test is performed to test the connectivity and operational status of each device tested, and based on the results of this feasibility test, the second
A computer testing method characterized in that secondary configuration information is created and the test is executed based on this secondary configuration information.
JP60272105A 1985-12-03 1985-12-03 Computer test system Pending JPS62131341A (en)

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JP60272105A JPS62131341A (en) 1985-12-03 1985-12-03 Computer test system

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