JPS6213026Y2 - - Google Patents

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JPS6213026Y2
JPS6213026Y2 JP17273281U JP17273281U JPS6213026Y2 JP S6213026 Y2 JPS6213026 Y2 JP S6213026Y2 JP 17273281 U JP17273281 U JP 17273281U JP 17273281 U JP17273281 U JP 17273281U JP S6213026 Y2 JPS6213026 Y2 JP S6213026Y2
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JP
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circuit board
printed circuit
contact pin
contact
diameter portion
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は新規なプリント基板検査装置に関す
る。特に、適当な検査回路に接続された接触ピン
をプリント基板上に形成された導体箔パターン等
に接触させて、導体箔パターンの接続状態等、当
該プリント基板が正しく形成されたか否かを検査
するものであつて、接触ピンを導体箔パターン等
に確実に接触させるようにして、検査ミスを無く
すようにした新規なプリント基板検査装置を提供
しようとするものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a novel printed circuit board inspection device. In particular, a contact pin connected to an appropriate test circuit is brought into contact with a conductive foil pattern formed on a printed circuit board to check the connection state of the conductive foil pattern and whether or not the printed circuit board has been formed correctly. The present invention aims to provide a novel printed circuit board inspection device that eliminates inspection errors by bringing contact pins into reliable contact with a conductive foil pattern or the like.

第1図は従来のプリント基板検査装置の一例a
を示すものである。bはフレーム体で、例えばエ
アシリンダcのような駆動機構によつて矢印で示
す方向に往復移動されるようになつている。フレ
ーム体bの先端部には絶縁材料から成る保持ブロ
ツクdが設けられており、この保持ブロツクdに
複数の接触ピンe,e,……がスライド自在に保
持されている。そして、フレーム体bが被検プリ
ント基板fの方へ向つて移動されると、接触ピン
e,e,……の先端が被検プリント基板fの所定
の導体箔パターン等と接触され、従つて、各接触
ピンe,e,……が接続されている検査回路gに
よつて被検プリント基板f上の導体箔パターンの
通電状態等が検査されるようになつている。
Figure 1 shows an example of a conventional printed circuit board inspection device.
This shows that. Reference numeral b denotes a frame body, which is reciprocated in the direction shown by the arrow by a drive mechanism such as an air cylinder c. A holding block d made of an insulating material is provided at the tip of the frame b, and a plurality of contact pins e, e, . . . are slidably held on this holding block d. Then, when the frame body b is moved toward the printed circuit board f to be tested, the tips of the contact pins e, e, . , contact pins e, e, .

上記のようなプリント基板検査装置にあつて
は、接触ピンe,e,……は、図示しない弾発手
段によつて、被検プリント基板f上の導体箔パタ
ーン等に圧接せしめられるようになつているが、
時として、被検プリント基板上の接触部に半田付
時に付着したフラツクスとかその他の異物が付着
していることがあり、このような場合は、単に接
触ピンe,e,……が被検プリント基板fに圧接
されるだけでは、フラツクス等に遮ぎられて、接
触ピンe,e,……が導体箔パターン等と接触で
きない事態が生ずることがあり、ために、正しい
検査を行なうことができないということがあつ
た。
In the above-mentioned printed circuit board inspection device, the contact pins e, e, ... are brought into pressure contact with the conductor foil pattern, etc. on the printed circuit board f to be tested by a resilient means (not shown). Although,
Sometimes, the contact parts on the printed circuit board under test may have flux or other foreign matter attached to them during soldering, and in such cases, the contact pins e, e,... If only the contact pins are pressed against the board f, the contact pins e, e, etc. may be blocked by flux, etc., and may not be able to come into contact with the conductor foil pattern, etc., and therefore, correct inspection cannot be performed. Something happened.

そこで、本考案は、上記した従来の欠点に鑑み
て為されたもので、接触ピンがフラツクス等を破
壊して導体箔パターン等と直に接触することがで
きるようにした新規なプリント基板検査装置を提
供しようとするもので、保持体にスライド自在に
かつ一定の方向に弾発付勢された接触ピンと、該
接触ピンを弾発付勢する手段の弾発力を蓄え、か
つ、該蓄えた弾発力を瞬時に解放する手段とを備
えたことを特徴とする。
Therefore, the present invention has been devised in view of the above-mentioned conventional drawbacks, and is a novel printed circuit board inspection device in which the contact pins can destroy flux etc. and come into direct contact with conductor foil patterns etc. It is intended to provide a contact pin which is elastically biased in a fixed direction and slidable on a holding body, and stores the elastic force of the means for elastically biasing the contact pin, and the elastic force of the means for elastically biasing the contact pin is stored. It is characterized by being equipped with a means for instantly releasing the elastic force.

以下に、本考案に係るプリント基板検査装置の
詳細を図示した実施例に従つて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Details of the printed circuit board inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to illustrated embodiments.

第2図乃至第4図は本考案プリント基板検査装
置の実施の一例1を示すものである。
2 to 4 show an example 1 of the printed circuit board inspection apparatus of the present invention.

2はフレーム体であり、エアシリンダ3のピス
トンロツド4の先端に固着されており、適当な治
具に保持された被検プリント基板fに対して接離
方向に移動されるようになつている。5はフレー
ム体2の一部を為す保持ブロツクであり、適当な
絶縁材料から成り、この保持ブロツク5に複数の
接触ピン6,6,……がスライド自在に保持され
ている。
Reference numeral 2 denotes a frame body, which is fixed to the tip of the piston rod 4 of the air cylinder 3, and is adapted to be moved toward and away from the printed circuit board f to be tested held by a suitable jig. A holding block 5 is a part of the frame body 2, and is made of a suitable insulating material, and a plurality of contact pins 6, 6, . . . are slidably held in the holding block 5.

接触ピン6,6,……の保持ブロツク5への保
持は、例えば第4図に示すようにして為される。
接触ピン6は導電性材料から成り、先端部7は略
円錐状の尖頭を為しており、又、基端部8を残し
て中程までが細径部9とされている。保持ブロツ
ク5にはそれを厚さ方向に貫通した保持孔10が
形成されており、この保持孔10にはスリーブ1
1が嵌合固定されており、このスリーブ11の上
端部、即ち反被検プリント基板側には内方へ突出
したフランジ12が形成されている。そして、接
触ピン6はその細径部9がスリーブ11内を挿通
され、その基端部8はフランジ12から上方に位
置され、この基端部8がフランジ12と係合され
ることによつて、接触ピン6が保持ブロツク5か
ら抜け落ちるのが防止される。接触ピン6をこの
ようにしてスリーブ11に挿通するには、実際上
は接触ピン6を、例えば基端部8とそれ以外の部
分というように、2つの部分に分けて形成し、細
径部9をフランジ12部分を通過させてから、こ
れに基端部8を螺合結合等の適当な手段によつて
結合するようにしておく必要がある。13は接触
ピン6の細径部9に外嵌され、スリーブ11のフ
ランジ12と細径部9の先端側との境にある肩部
14との間で圧縮されたコイルスプリングで、こ
れによつて、接触ピン6は常時第4図に実線矢印
で示す方向、即ち、被検プリント基板fの方へ向
つて弾発的に付勢されている。
The contact pins 6, 6, . . . are held in the holding block 5, for example, as shown in FIG.
The contact pin 6 is made of a conductive material, has a tip 7 having a substantially conical point, and has a narrow diameter portion 9 up to the middle except for the base end 8. A holding hole 10 is formed in the holding block 5 passing through it in the thickness direction, and the sleeve 1 is inserted into this holding hole 10.
1 is fitted and fixed, and a flange 12 protruding inward is formed at the upper end of this sleeve 11, that is, on the side opposite to the printed circuit board to be tested. The narrow diameter portion 9 of the contact pin 6 is inserted into the sleeve 11, the base end 8 is positioned above the flange 12, and the base end 8 is engaged with the flange 12. , the contact pin 6 is prevented from falling off from the holding block 5. In order to insert the contact pin 6 into the sleeve 11 in this way, the contact pin 6 is actually formed in two parts, for example, the base end part 8 and the other part, and the narrow diameter part is formed into two parts. 9 must be passed through the flange 12 portion, and then the proximal end portion 8 must be connected thereto by suitable means such as threaded connection. Reference numeral 13 denotes a coil spring that is fitted onto the narrow diameter portion 9 of the contact pin 6 and compressed between the flange 12 of the sleeve 11 and the shoulder portion 14 located at the boundary between the tip side of the narrow diameter portion 9. Therefore, the contact pin 6 is always resiliently biased in the direction shown by the solid arrow in FIG. 4, that is, toward the printed circuit board f to be tested.

15はフレーム体2と被検プリント基板fとの
間に介在されたストツパー板であり、前記接触ピ
ン6,6,……が挿通される複数の孔16,1
6,……が形成されている。17はエアシリンダ
であり、そのピストンロツド18の先端がストツ
パー板16の一端と連結されており、このエアシ
リンダ17の駆動によつて、ストツパー板15が
フレーム体2の移動方向に対して垂直な方向に移
動されるようになつている。
15 is a stopper plate interposed between the frame body 2 and the printed circuit board f to be tested, and has a plurality of holes 16, 1 through which the contact pins 6, 6, . . . are inserted.
6,... are formed. Reference numeral 17 denotes an air cylinder, and the tip of the piston rod 18 is connected to one end of the stopper plate 16. By driving this air cylinder 17, the stopper plate 15 is moved in a direction perpendicular to the moving direction of the frame body 2. It is starting to be moved to

19は検査回路であり、各接触ピン6,6,…
…はこの検査回路に接続されている。
19 is a test circuit, and each contact pin 6, 6,...
... is connected to this test circuit.

以上のようなプリント基板検査装置1によるプ
リント基板fの検査は、次のようにして為され
る。先ず、被検プリント基板fを所定の箇所にセ
ツトし、ストツパー板15を第2図に示すよう
に、即ち、それに形成された孔16,16,……
の位置が接触ピン6,6,……の位置とずれた状
態にしておき、それから、フレーム体2を被検プ
リント基板fの方へ向つて(第2図の実線矢印で
示す方向へ)移動せしめる。すると、やがて接触
ピン6,6,……の尖端7,7,……はストツパ
ー板15に当接する。それでも、なおフレーム体
2が移動されると接触ピン6,6,……はスプリ
ング13,13,……の弾発力に抗して保持ブロ
ツク5に対して後退せしめられ、これによつて、
スプリング13,13,……の弾発力が蓄えられ
る(第2図参照)。そして、フレーム体2が所定
の位置まで移動せしめられたところで、エアーシ
リンダ17を駆動して、ストツパー板15を第2
図の1点鎖線矢印で示す方向に移動させると、ス
トツパー板15の孔16,16,……と接触ピン
6,6,……の位置とが一致をしたところで、接
触ピン6,6,……の被検プリント基板fの方へ
向つての前進を阻むものが無くなるため、蓄えら
れたスプリング13,13,……の弾発力が一気
に解放され、それによつて、接触ピン6,6,…
…はそれぞれ被検プリント基板fの所定の箇所に
衝突せしめられる。従つて、そのときの衝撃力に
よつてフラツクス等の異物は破壊され、接触ピン
6,6,……の先端7,7,……は被検プリント
基板fの所定の箇所に確実に接触せしめられる。
The printed circuit board f is inspected by the printed circuit board inspection apparatus 1 as described above in the following manner. First, the printed circuit board f to be tested is set at a predetermined location, and the stopper plate 15 is opened as shown in FIG. 2, that is, the holes 16, 16, . . .
The position of the contact pins 6, 6, . . . is shifted from the position of the contact pins 6, 6, . urge Then, the tips 7, 7, . . . of the contact pins 6, 6, . . . eventually come into contact with the stopper plate 15. Even so, when the frame body 2 is still moved, the contact pins 6, 6, .
The elastic force of the springs 13, 13, . . . is stored (see Fig. 2). Then, when the frame body 2 has been moved to a predetermined position, the air cylinder 17 is driven to move the stopper plate 15 to the second position.
When moved in the direction shown by the dashed-dotted line arrow in the figure, the holes 16, 16, . . . of the stopper plate 15 and the positions of the contact pins 6, 6, . Since there is nothing blocking the forward movement of ... toward the test printed circuit board f, the stored elastic force of the springs 13, 13, ... is released all at once, and as a result, the contact pins 6, 6, …
... are respectively caused to collide with predetermined locations on the printed circuit board f to be tested. Therefore, foreign matter such as flux is destroyed by the impact force at that time, and the tips 7, 7, . . . of the contact pins 6, 6, . It will be done.

第5図は本考案プリント基板検査装置の変形例
を示すものである。この変形例において、接触ピ
ン6aの先端部には細径部19が形成され、該細
径部19と主部20との間に段部21が形成され
る。また、細径部19の先端部が尖頭22とされ
る。一方、ストツパー板15aにはカギ穴状の孔
23が形成され、その大径部24は接触ピン6a
の主部20を挿通し得る大きさに、小径部25は
その幅が接触ピン6aの主部20の径より小さ
く、かつ、細径部19の径よりは大きくなるよう
に形成されている。
FIG. 5 shows a modification of the printed circuit board inspection apparatus of the present invention. In this modification, a narrow diameter portion 19 is formed at the tip of the contact pin 6a, and a step portion 21 is formed between the narrow diameter portion 19 and the main portion 20. Further, the tip of the narrow diameter portion 19 is a pointed tip 22 . On the other hand, a keyhole-shaped hole 23 is formed in the stopper plate 15a, and a large diameter portion 24 of the hole 23 is connected to the contact pin 6a.
The small diameter portion 25 is formed to have a width smaller than the diameter of the main portion 20 of the contact pin 6a, and larger than the diameter of the small diameter portion 19, so that the main portion 20 of the contact pin 6a can be inserted therethrough.

しかして、接触ピン6aを被検プリント基板f
の導体箔パターンh等に接触させる前において
は、第5図Aに示すように、接触ピン6aの細径
部19をストツパー板15aの孔23の小径部2
5に挿通し、段部21を小径部25の縁部と係合
させることによつて、接触ピン6aの被検プリン
ト基板fの方への前進を阻止して接触ピン6aに
関連された弾発手段の弾発力を蓄えるようになつ
ている。尚、この変形例では、接触ピン6aを付
勢する弾発手段は前述のスプリング13と同様の
もので良く、また、それの接触ピン6aへの関連
のさせ方も前記実施例におけるものと同様で良
い。
Thus, the contact pin 6a is connected to the printed circuit board f to be tested.
Before contacting the conductor foil pattern h etc., as shown in FIG.
5 and engages the stepped portion 21 with the edge of the small diameter portion 25, thereby preventing the contact pin 6a from advancing toward the printed circuit board f to be tested and reducing the elasticity associated with the contact pin 6a. It is designed to store the explosive power of the firing means. In this modification, the resilient means for biasing the contact pin 6a may be the same as the spring 13 described above, and the manner in which it is related to the contact pin 6a is also the same as that in the previous embodiment. That's fine.

しかして、接触ピン6aに関連された弾発手段
の弾発力が蓄えられたところで、ストツパー板1
5aを第5図Bに矢印で示す方向へ移動させ、接
触ピン6aの軸心を孔23の大径部24の中心と
整合させると、接触ピン6aは、蓄えられた弾発
力によつて、被検プリント基板fの所定箇所を目
がけて一気に進み、その尖頭22が被検プリント
基板fの所定箇所iに衝突する。従つて、接触ピ
ン6aは被検プリント基板fの所定箇所iと確実
に接触することができる。
When the elastic force of the elastic means associated with the contact pin 6a is accumulated, the stopper plate 1
5a in the direction shown by the arrow in FIG. , it advances all at once toward a predetermined location on the printed circuit board f to be tested, and its peak 22 collides with a predetermined location i on the printed circuit board f to be tested. Therefore, the contact pin 6a can reliably come into contact with the predetermined location i of the printed circuit board f to be tested.

第6図は本考案プリント基板検査装置の別の実
施例を示すものである。この変形例において、接
触ピン6bは、その基端(反尖頭側)から稍尖頭
寄りの部分が細径部26とされ、その基端に細径
部26より径の大きいフランジ27が形成されて
いる。また、主部の中間部にもフランジ28が形
成され、そして、先端が尖頭29とされている。
FIG. 6 shows another embodiment of the printed circuit board inspection apparatus of the present invention. In this modification, the contact pin 6b has a narrow diameter portion 26 at a portion slightly closer to the pointed end from its base end (on the opposite side to the pointed end), and a flange 27 having a larger diameter than the narrow diameter portion 26 is formed at the base end. has been done. A flange 28 is also formed in the middle portion of the main portion, and the tip thereof is a pointed tip 29.

ストツパー板15bには前述の変形例における
と同様のカギ孔状の孔30が形成されており、そ
の大径部31は接触ピン6bの基端に形成された
フランジ27の径より大きい径に形成され、ま
た、小径部32はその幅が接触ピン6bの細径部
26の径よりも大きく、かつ、フランジ27の径
よりも小さく形成されている。
The stopper plate 15b is formed with a keyhole-shaped hole 30 similar to that in the above-described modification, and the large diameter portion 31 thereof is formed to have a larger diameter than the diameter of the flange 27 formed at the base end of the contact pin 6b. Further, the width of the small diameter portion 32 is larger than the diameter of the small diameter portion 26 of the contact pin 6b, and smaller than the diameter of the flange 27.

しかして、接触ピン6bを被検プリント基板の
導体箔パターン等に接触させる前においては、第
6図に示すように、接触ピン6bの細径部26を
ストツパー板15bの孔30の小径部32に挿通
し、フランジ27を小径部32の縁部と係合さ
せ、これによつて、接触ピン6bの前進を阻止す
る。そして、接触ピン6bに関連された弾発手段
の弾発力が蓄えられたところで、ストツパー板1
5bを、第6図に実線矢印で示す方向へ移動さ
せ、接触ピン6bの軸心と大径部31の中心とを
整合させると、蓄積された弾発力が一気に解放さ
れ、接触ピン6bは、第6図に点線矢印で示す方
向へ勢良く前進せしめられる。尚、弾発手段は図
示していないが、例えばコイルスプリングを保持
ブロツク5に組み込み、保持ブロツク5に挿通さ
れた接触ピン6bの先端寄りのフランジ28にス
プリングによる押圧力を受けるようにすることに
よつて、接触ピン6bに弾発手段を関連させるこ
とができる。また、この変形例において、ストツ
パー板15bは保持ブロツク5の反被検プリント
基板側に配置されるものである。
As shown in FIG. 6, before the contact pin 6b is brought into contact with the conductive foil pattern or the like of the printed circuit board to be tested, the small diameter portion 26 of the contact pin 6b is inserted into the small diameter portion 32 of the hole 30 of the stopper plate 15b. , and engages the flange 27 with the edge of the small diameter portion 32, thereby preventing the contact pin 6b from advancing. Then, when the elastic force of the elastic means associated with the contact pin 6b is accumulated, the stopper plate 1
5b in the direction shown by the solid line arrow in FIG. 6 to align the axis of the contact pin 6b with the center of the large diameter portion 31, the accumulated elastic force is released at once, and the contact pin 6b , and is forced to advance vigorously in the direction shown by the dotted arrow in FIG. Although the springing means is not shown, for example, a coil spring may be incorporated into the holding block 5 so that the flange 28 near the tip of the contact pin 6b inserted through the holding block 5 receives the pressing force of the spring. Therefore, a resilient means can be associated with the contact pin 6b. Further, in this modification, the stopper plate 15b is arranged on the side of the holding block 5 opposite to the printed circuit board to be tested.

以上に記載したところから明らかなように、本
考案プリント基板検査装置にあつては、保持体に
スライド自在にかつ一定の方向に弾発付勢された
接触ピンを設け、この接触ピンに関連された弾発
手段の弾発力を蓄えてこれを一瞬に解放すること
によつて、接触ピンを被検プリント基板の所定箇
所にある衝撃力を伴つて衝合するようにしたの
で、接触ピンが接触されるべき箇所にフラツクス
等の異物が付着していても、これらを破壊して、
その下にある導体箔パターンを接触することがで
き、接触不良による誤検査を無くすことができ
る。
As is clear from the above description, in the printed circuit board inspection device of the present invention, a contact pin that is slidably biased in a fixed direction is provided on the holder, and By storing the elastic force of the elastic means and releasing it instantaneously, the contact pins collide with a certain impact force at a predetermined location on the printed circuit board to be tested. Even if there is foreign matter such as flux attached to the place that should be contacted, destroy it and
The conductor foil pattern underneath can be contacted, and erroneous inspections due to poor contact can be eliminated.

尚、上記実施例において接触ピンに関連された
弾発手段の弾発力を蓄積し、かつこれを一気に解
放する手段としてストツパー板を用いたが、これ
を電磁的に行なつても良い。即ち、電磁石によつ
て接触ピンを上方に引き上げておき、それから、
電磁石への通電を断てば、蓄えられた弾発力によ
つて接触ピンは被検プリント基板へ向つて衝突す
ることになる。
In the above embodiment, the stopper plate is used as a means for accumulating the elastic force of the elastic means associated with the contact pin and releasing it all at once, but this may also be done electromagnetically. That is, the contact pin is pulled upward by an electromagnet, and then,
When the power to the electromagnet is cut off, the contact pin collides with the printed circuit board under test due to the stored elastic force.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のプリント基板検査装置の一例を
示す側面図、第2図乃至第4図は本考案プリント
基板検査装置の実施の一例を示し、第2図は接触
ピンを被検プリント基板に接触させる前の状態を
示す側面図、第3図は接触ピンを被検プリント基
板に接触させた状態の側面図、第4図は接触ピン
保持部を示す拡大断面図、第5図は本考案プリン
ト基板検査装置の変形例の要部を示す拡大斜視図
であり、Aは接触ピンが移動を阻止されている状
態を、B図は接触ピンが被検プリント基板に接触
した状態を示し、第6図は本考案プリント基板検
査装置の別の変形例を示す要部の拡大斜視図であ
る。 符号の説明、1……プリント基板検査装置、5
……保持体、6,6a,6b……接触ピン、13
……弾発手段、15,15a,15b……弾発力
を蓄えかつ解放する手段。
FIG. 1 is a side view showing an example of a conventional printed circuit board inspection device, FIGS. 2 to 4 show an example of implementation of the printed circuit board inspection device of the present invention, and FIG. FIG. 3 is a side view of the contact pin in contact with the test printed circuit board, FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of the contact pin holder, and FIG. 5 is the present invention. FIG. 6 is an enlarged perspective view showing the main parts of a modified example of the printed circuit board inspection device, in which FIG. A shows a state in which the contact pin is prevented from moving, and FIG. FIG. 6 is an enlarged perspective view of main parts showing another modification of the printed circuit board inspection apparatus of the present invention. Explanation of symbols, 1... Printed circuit board inspection device, 5
... Holding body, 6, 6a, 6b ... Contact pin, 13
...Bulging means, 15, 15a, 15b...Means for accumulating and releasing elastic force.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 保持体にスライド自在にかつ一定の方向に弾発
付勢された接触ピンと、該接触ピンを弾発付勢す
る手段の弾発力を蓄え、かつ、該蓄えた弾発力を
瞬時に解放する手段とを備えたことを特徴とする
プリント基板検査装置。
A contact pin that is elastically biased in a fixed direction while being slidable on a holding body and a means for elastically biasing the contact pin store elastic force, and instantly release the stored elastic force. A printed circuit board inspection device comprising: means.
JP17273281U 1981-11-20 1981-11-20 Printed circuit board inspection equipment Granted JPS5877478U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17273281U JPS5877478U (en) 1981-11-20 1981-11-20 Printed circuit board inspection equipment

Applications Claiming Priority (1)

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JP17273281U JPS5877478U (en) 1981-11-20 1981-11-20 Printed circuit board inspection equipment

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JPS5877478U JPS5877478U (en) 1983-05-25
JPS6213026Y2 true JPS6213026Y2 (en) 1987-04-03

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ID=29964614

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