JPS62124633A

JPS62124633A - 光デイスク装置

Info

Publication number: JPS62124633A
Application number: JP26557485A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Yamaguchi; 毅山口; Shozo Kobayashi; 省三小林; Shigemi Maeda; 茂己前田; Toshihisa Deguchi; 出口　敏久
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1985-11-25
Filing date: 1985-11-25
Publication date: 1987-06-05

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、書き換え可能な光ディスク装置にお（Ｊる記
録補正方式に関する。

（従来の技術）一般に書き換え可能な光ディスク媒体を用いる情報処理
用の光ディスク装置として、記録、再生原理の違いによ
り、又、記録再生消去用光源あるいは記録媒体の違いに
より、種々の既知なる装置が存在する。たとえば、光磁
気ディスク装置では、記録再生消去用光源として半導体
レーザを用い、記録媒体として円板形基板（ディスク）
に蒸着あるいはスパッタ法により磁性膜を形成し、情報
データに応じ磁化の方向を変化させることにより情報を
記録する。

この光磁気ディスク装置７こおいては、一般的に、再生
時に比して高い出力の記録レーザビームの照射により局
所的に磁性膜の温度をキコーリ一点近傍に上昇させ、補
助磁場を印加することにより磁化の方向を変更させ、記
録を行なう。ディジタル情報記録においては、上記の方
法を用いて形成される磁化極性の反転間隔あるいは同−
極性間の間隔を情報データに応じて変化させる事により
、データの記憶を行なっている。

（発明の解決すべき問題点）光磁気ディスク装置において用いられる上記のデータ記
憶方法では、ディスク」二に形成された磁化反転部分の
ディスク回転方向に沿った長さく以下「記録ビット長」
と云う）が厳密に制御されている必要がある。この記録
ビット長を決定している要因としては、記録レーザ出力
や磁性媒体の記録感度が考えられる。記録レーザ出力の
変化は、半導体レーザの出力特性の経時変化による変動
により引き起こされろ。又、磁性媒体の記録感度は、個
々の光磁気ディスクにおいて常に一定に制御するのは困
難であり、変動幅を有する。さら７こ、光磁気ディスク
装置の使用環境特に周囲温度によっても、記録レーザ出
力及び磁性媒体の記録感度の変動が容易に予想される。

上記の変動により引き起こされた記録ビット長の変化は
、ディジタル記録における検出窓幅に対する余裕の低下
、あるいは記録ビット長の短波長側への移行による信号
対雑音比の低下をもたらし、最悪状態においては、デー
タ誤り率の劣化にいたる。

本発明の目的は、記録ビット長の変動を抑制する記録補
正方式を備えた光ディスク装置を提供することである。

（問題点を解決するための手段）本発明に係る光ディスク装置は、書き換え可能な光ディ
スク媒体を用いる情報処理用のディスク装置において、
単一周期を持つパルス列を光ディスフ媒体に記録させる
記録手段と、記録したパルス列の再生２値信号の高レベ
ルの期間と低レベルの期間の平均の差を求める差検出手
段と、前記の記録手段において前記の差に対応して記録
すべき情報のパルス列のデユーティ比を再生パルスのデ
ユーティ比が一定になるように補正させる記録補正手段
と、前記の記録手段による記録と前記の差検出手段によ
る差検出と前記の記録補正手段による補正とからなる記
録補正を制御する制御手段とを有する事を特徴とする。

（作　用）再生される記録パルスのデユーティ比を一定にするため
に、記録ビット周期の整数倍の単一周期を持つパルス列
を試記録し、再生した信号におけるデユーティ比からデ
ユーティ比のずれを求める。

そして、このずれに対応して、情報の記録に際し、予め
デユーティ比をずらしておき、再生パルスのデユーティ
比を所定の値に保たせる。

（実施例）以下、添付の図面を参照して本発明の実施例の説明を行
なう。

第１図に示す本発明の実施例の光磁気ディスク装置にお
いては、記録ビット長の変動を抑制するため、試記録時
の再生信号のデユーティ比を検出し、そのずれ量に相当
する分だけ、以後の記録時の記録デユーティ比を補正す
る。この光磁気ディスク装置において、記録の際は、光
ディスク装置制御部１は、記録すべき情報データを変調
器２に送る。変調器２は、この情報データをディジタル
変調し、パルス列として記録パルス発生回路３に送る。

記録パルス発生回路３は、この変調後のパルス列から記
録パルスを発生し、レーザ駆動回路４に送る。レーザ駆
動回路４は、この記録パルスと光ディスク装置制御部１
からの制御信号により、光学ヘッド５の半導体レーザに
記録パルス電流を印加する。光学ヘッド５は、半導体レ
ーザを備え、光磁気ディスクに記録を行なう。

再生の際は、光学ヘッド５により光磁気ディスクから再
生された再生信号は、波形整形回路６にて、増幅と帯域
制限とにより波形が整形され、次いで、波形処理回路７
でディジタル化され、さらに、復調器８で復調されて、
光ディスク装置制御部１に送られる。

試記録の際に、光ディスク装置制御部ｌからの記録補正
指令を受けることにより、記録補正制御部１１は、記録
パルス発生回路３において記録パルス列を記録ビット周
期の整数倍の単一周期を持つパルス列に切換えさせると
ともに、光ディスク装置制御部ｌは、ディスク上の未記
録領域にこの記録パルス列を記録すべくレーザ駆動回路
４を制御する。一方、記録された単一周期パルス列の再
生信号は、波形整形回路６で波形を整形した後、コンパ
レータ９で、レベルスライスによりディジタル化され、
再生デユーティ比検出回路１０に送られる。再生デユー
ティ比検出回路ｌＯは、コンパレータ９の２値化出力信
号の１１」の時間長さと「０」の時間長さとの差を検出
し、記録パルス発生回路３に送る。記録補正制御部１１
は、記録補正動作を行なうに際し、記録パルス発生回路
３と再生デユーティ比検出回路１０とを制御する。

以下で、記録補正についてさらに詳しく説明する。

第２図に詳細に示す記録パルス発生回路３は、光ディス
ク装置制御部１の指令により記録補正制御部ＩＩが信号
を送ると、記録ビット周期の整数倍の単一周期を持つパ
ルス列を記録パルスとして発生ずるとともに、この単一
周期パルス列により再生デユーティ比補正回路１０て検
出されたデユーティ比の補正量にもとづき、実情報の記
録パルスのデユーティ比を補正する。すなわち、記録パ
ルス発生回路３において、記録補正制御部１１からの制
御線３０２からの信号により第１マルチプレクザｌｏｔ
を切り換えると、単一周期発生回路１０７で発生した単
一周期をもつパルス列か１段目の記録デユーティ比補正
回路１０２を通りある一定値のデユーティ比の補正がか
けられ、引き続き、次に説明する２段目の記録デユーテ
ィ比補正回路を通り、さらにデユーティ比の補正がかけ
られ、最終の記録パルス列が信号線３０７を通り、レー
ザ駆動回路４に送られる。第２段の記録デユーティ比補
正回路において、第１段の記録デユーティ比補正回路１
０２の出力信号は、一方では、論理微分により立ち上が
りエツジを検出するエツジ検出回路１０９を経て、フリ
ップフロップ回路ＩＩＩの一方の入力端子に送られ、他
方では、複数の出力タップを有する遅延素子１０３と前
記遅延素子１０３の出力タップを選択する第２マルチプ
レクザ１０４とからなる遅延回路を通り、論理微分によ
り立ち上がりエツジを検出するエツジ検出回路１１０を
経て、フリップフロップ回路ｌＩＩの他方の入力端子に
送られる。フリップフロップ回路１１１の出力信号が記
録パルスとなり、レーザ駆動回路４に送られる。上記の
遅延回路において、第２マルチプレクサ１０４は、遅延
素子１０３の（２Ｎ−Ｍ−１）ステップのタップの内よ
りステップを選択するために用いるが、その第２マルチ
プレクサ１０４の選択入力のため、ラッチ回路１０６が
用いられる。ラッチ回路１０６のプリセット端子３１２
は、電源投入時に第２マルチプレクザ１０４への選択入
力値３０９を与えるために、予め初期設定されている。

さらに、ラッチ回路１０６への人力のために、ラッチ回
路１０６の出力値と再生デユーティ比検出回路１０から
の入力線３１１の値との間の加算あるいは減算を行なう
加／減算器１０５が備えられ、試記録の再生により得ら
れた補正量が再生デユーティ比検出回路ＩＯから加／減
算器１０５に送られると、ラッチ回路１０６の出力値が
変わる。また、１段目の記録デユーティ比補正回路１０
２は、上記の初期設定値に対してあらかじめ想定された
最適記録デユーティ比が得られるようにある一定のバイ
アス補正量を有するものとする。この記録条件により電
源投入直後に試記録された場合の再生パルス列の信号４
０１を第４図（ａ）に示す。（ここで記録条件が最適の
場合には図中実線で示されたデユーティ比が１である再
生パルス列を得る。）再生側においては、前記の単一周期パルス列を試記録し
た場合の光学ヘッド５よりの再生信号は、波形整形回路
６により適当な波形処理をほどこされた後、コンパレー
タ９によりディジタル化される。ここで、コンパレータ
９では、再生信号のデユーティ比を忠実に再現するため
に、再生信号のエンベロープの中間値を基準としてレベ
ルスライスを行なうことによりディジタル化する方式を
用いる。再生デユーティ比検出回路１０は、このように
して得られたディジタルパルス列のデユーティ比を検出
することにより記録条件の補正量を認識し、記録パルス
発生回路３に送る。

第３図に、この再生デコーティ比検出回路ＩＯの詳細な
ブロック図を示す。また、第４図（ａ）に各種信号のタ
イミングチャートを示ず。アップダウンカウンタ２０１
は、再生パルス列信号４０１の「１」と「０」の値によ
って計数方向を切り換え、又再生パルス列に対して十分
高い周波数を持つ記録パルス列をクロック入力信号４０
３とする。う・ソヂ回路２０２は、このアップダウンカ
ウンタ２０１の出力信号４０７をラッチする。ビットシ
フタ２０３は、ラッチ回路２０２の出力信号の上位ビッ
ト（デユーティ比すれの平均値に相当）を制御線３１１
を介して記録パルス発生回路３に送る。フリップフロッ
プ２０５は、再生パルス列の繰り返しを示し、カウンタ
２０４は、この繰り返し回数を計数し、アップダウンカ
ウンタ２０１の動作期間を決定する。

以上に説明した光磁気ディスク装置における記録補正及
び補正量検出の動作を、第４図（ａ）、　（ｂ）をもと
に説明する。試記録された甲−周期のパルス列の再生信
号４０１が、第４図に点線で示された再生デユーティ比
のずれたパルス列である場合を考える。Ｎビット高速ア
ップダウンカウンタ２０１は計数に先立って（２Ｎ−１
）値にプリセ・ソト端子４０２を用い初期設定されてい
る。再生デユーティ比検出回路１０のＮピット高速アッ
プダウンカウンタ２０＋は、記録補正制御部１１より与
えられる計数指令信号４０４が低レベルになり、かつ、
再生パルス列ｍ個の計数を行なうカウンタ２０４によっ
て決定される検出期間を示す制御信号４０５が低レベル
のときに、クロック信号４０３の計数動作を行なう。複
数個（ｍ個）の再生パルス列にわたって計数することに
より、再生パルス列の「１」の期間と「０」の期間との
差を求めるに際し、再生パルス列ｍ個にわたって」−記
差を検出し、平均化処理を行なう。なお、信号４０６は
、フリップフロップ２０５を初期状態に戻すために用い
る。

いま、ｍ個の再生パルス列のそれぞれが時間Δｉ（ｉ　
＝　１　、２）−ｍ）だけデユーティ比すれを起こして
いる場合、アップダウンカウンタ２０＋の各時刻におけ
る計数値は、第４図（ｂ）によって示される。

明らかに信号４０５によって示される計数期間かを得る
。ここで、Ｔｏはクロック人力４０３の繰り返し周期を
表わす。又、再生パルス列の計数をｍ＝２Ｍとすると、
再生デユーティ比ずれの平均は、ただし、ΔはΔ１（ｉ
＝　１．２．・・・ｍ）の平均値を表わし、２Ｎ−１＞
　　２Ｍ＋１Δ／Ｔｃとする。さらに、この最終値に対
し、ピットシフター２０３を用い、平均値に相当する上
位（Ｎ−Ｍ−１）ビットを出力線３１１を経て、記録パ
ルス発生回路３に送る。ここで、その最」−位ピットに
より、再生デユーティ比のずれの方向を示す。また、他
の（Ｎ−Ｍ−２）ビットにより平均ずれ量（２Δ／Ｔｃ
）に比例した値を示す。ただし、第４図（ａ）において
信号４０１が点線で示すように「ｌ」の期間より「０」
の期間の方が平均的に長い場合には、「２」進数の補数
表現で出力され、記録パルス発生回路３の加／減算器１
０５で補数加算により減算される。本実施例においては
第２図における記録パルス発生回路３への入力データと
して上記の方法で得られた出力データ４０９を直接与え
ることにより再生時のデユーティ比ずれ量（２Δ／Ｔｃ
）に相当する補正を以降の通常の情報記録に際し付加す
る。すなわち、第２図にお＋Ｊる加／減算回路１０５を
用い、入力線３１１の最」二位ビットにより、試記録時
の補正量を表わすラッチ回路出力３０９の値を増減し、
又、遅延素子１０３の１ステツプ当たりの遅延量τをτ
−Ｔ。とすればよい。第１段の記録デコ、−ティ比補正
回路１０２では、予想される最適記録デユーティ比を得
るように一定のバイアス補正がなされている。このバイ
アス補正が適当に設定されていると、再生デコーティ比
検出回路１０で検出されるデユーティ比補正量は、経時
変化や使用環境の変動による小さな値になる。第２段の
記録デユーティ比回路１０３〜１０６．１０８〜１１１
は、最小遅延量をＴｃとしたので、±Ｔｃの補正精度が
得られる。

以上の補正が終わると、単一周期パルス列の記録を消去
する。

なお、本実施例では、光磁気ディスク装置について説明
したが、本実施例に示した記録補正方式は、一般に、書
き換え可能な光ディスク媒体を用いろ情報処理用の光デ
ィスク装置に適用できる。

本実施例に示した記録補正方式は、電源投入時の他、情
報記録領域への記録、再生、消去動作を」−位装置より
要求されていない空き時間に行うように制御してもよい
。また、適当な時間間隔ごとに記録補正の値を更新する
ように制御することもできる。

（発明の効果）本発明の記録補正方式を用いる事により（１）再生波形
より直接、最適条件からの偏移量が検出できることによ
り、ただ−回の試行により補正量が決定できる。

（２）全ての処理をディンタル回路により行なうために
動作が安定である。

（３）アップダウンカウンタの人力クロックの周期Ｔｃ
に対し、±Ｔｏの補正精度が得られるためにＴｃを記録
ビット長に対して十分小さくすることにより高精度の補
正が可能である。

（４）実施例でも示したように平均化処理が容易に実現
できるために、ディスク上のキズ等による記録条件以外
の要因を除去ずろことができる。

等の効果が得られる。

又、適当な時間間隔にて試行を繰り返すことにより装置
の電源投入後の時間経過及びディスク交換時の各ディス
ク間の特性変動にも対応できることは明らかである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の記録補正方式を備えた光磁気ディス
ク装置のブロック図である。第２図は、記録パルス発生回路の具体的回路図である。第３図は、再生デユーティ比検出回路の具体的回路図で
ある。第４図（ａ）は、再生デユーティ比検出回路における各
種信号のタイムチャートであり、第４図（ｂ）は、アッ
プダウンカウンタの計数値のグラフである。 ■・・・光ディスク装置制御部、　　　２・・・変調器
、３・・記録パルス発生回路、４・・レーザ駆動回路、訃・・記録再生用光学ヘッド、６・・・波形整形回路、　　　　７・・波形処理回路、
８　復調器、　　　　　　　９・・コンパレータ、１０
・・・再生デユーティ比検出回路、１１・・記録補正制
御部。特許出願人　　　　　シャープ株式会社代　　理　　人
　弁理士　青白　葆はが２名＝１６−

Claims

【特許請求の範囲】

（１）書き換え可能な光ディスク媒体を用いる情報処理
用のディスク装置において、単一周期を持つパルス列を光ディスク媒体に記録させる
記録手段と、記録したパルス列の再生２値信号の高レベルの期間と低
レベルの期間の平均の差を求める差検出手段と、前記の記録手段において前記の差に対応して記録すべき
情報のパルス列のデューティ比を再生パルスのデューテ
ィ比が一定になるように補正させる記録補正手段と、前記の記録手段による記録と前記の差検出手段による差
検出と前記の記録補正手段による補正とからなる記録補
正を制御する制御手段とを有する事を特徴とする光ディ
スク装置。
（２）特許請求の範囲第１項記載の光ディスク装置にお
いて、前記の制御手段が前記の記録補正の動作を上位装置より
要求されていない空き時間に行なう事を特徴とする光デ
ィスク装置。
（３）特許請求の範囲第１項または第２項記載の光ディ
スク装置において、前記の制御手段が前記の記録補正の
動作を適当な時間間隔にて行なう事を特徴とする光ディ
スク装置。