JPS6210695A - Inspection of ic packaged substrate for display unit - Google Patents
Inspection of ic packaged substrate for display unitInfo
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- JPS6210695A JPS6210695A JP60150590A JP15059085A JPS6210695A JP S6210695 A JPS6210695 A JP S6210695A JP 60150590 A JP60150590 A JP 60150590A JP 15059085 A JP15059085 A JP 15059085A JP S6210695 A JPS6210695 A JP S6210695A
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- JP
- Japan
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- pads
- mounting board
- output pads
- column
- inspection
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、マトリックス型表示装置の基板の元不良を
容易に検出することができるようにした基板の検査方法
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for inspecting a substrate of a matrix type display device, which makes it possible to easily detect a defective substrate.
従来は、列電極用出力パッドを目視により1.っ1つ検
査していた。Conventionally, the output pads for column electrodes were visually inspected in 1. I was checking one thing.
従来の方法によるときは作業者の疲労や疲労による検査
ミスや検査もれなどが考えられるし、列電極用出力パッ
ドの数が増えた場合などはそれら □が大巾に増す
と思われる。又、測定時間も増大し、コストアップとな
る。本発明は以上のような問題点を解決させ、時間短縮
によるコストダウン、精度の向上を目的とする。When using the conventional method, inspection errors and inspection omissions may occur due to worker fatigue and exhaustion, and if the number of output pads for column electrodes increases, these □ are expected to increase significantly. Furthermore, the measurement time increases, leading to an increase in cost. The present invention aims to solve the above-mentioned problems, reduce costs by shortening time, and improve accuracy.
上記目的を達成するための本発明に於ける検査方法は下
記の通りである。The inspection method according to the present invention to achieve the above object is as follows.
複数の行電極と複数の列電極を持ったマトリックス型表
示パネルに対応して複数の行電極用出力パッドと列電極
用出力パッドを有し、前記行電極と行電極用パッド、列
電極と列電極用パッドとをそれぞれ接続することにより
与えられた表示データに従って前記マトリックス型表示
パネルを駆動することができるマトリックス表示装置用
IC実装基板の検査方法において、前記列電極用量カッ
(ラドの隣合うものには異なる出力信号が現われるよう
に前記表示データを与え、この状態でIC実装基板の消
費電流を測定することにより列電極用出力パッドの短絡
状態を検出することを特徴とする。Corresponding to a matrix type display panel having a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes, it has a plurality of row electrode output pads and a plurality of column electrode output pads, and the row electrodes and the row electrode pads, the column electrodes and the columns In the method for testing an IC mounting board for a matrix display device, the matrix type display panel can be driven according to display data given by connecting the column electrode pads to the electrode pads adjacent to each other. The present invention is characterized in that the display data is applied so that different output signals appear, and the short circuit state of the column electrode output pad is detected by measuring the current consumption of the IC mounting board in this state.
ある列電極用出力パッドと、その隣合う列電極用出力パ
ッドにはそれぞれ異なる出力信号が現われるようにする
。このとき前記の列電極用出力パッドとその隣合う列電
極用出力パッドが短絡していると、そこに短絡電流が流
れ、それにより消費電流が変化する。この電流変化によ
り短絡を発見することができる。Different output signals are made to appear on a certain column electrode output pad and an adjacent column electrode output pad. At this time, if the column electrode output pad and the adjacent column electrode output pad are short-circuited, a short-circuit current will flow there, thereby changing the current consumption. A short circuit can be detected by this current change.
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面にもとすいて詳述する。第1
図はIC実装基板の回路図であり、点線内はドツトマト
リックス液晶表示装置のIC実装基板100(以下IC
実装基板と略記する)である。これは5行5列のマトリ
ックス構造をなすようセグメント出力パッド1〜5と、
コモン出力パッド11〜15がそれぞれ後述する液晶表
示素子のパターンと同ピツチで配置されている。セグメ
ント出力パッド1〜5にはそれぞれセグメントドライバ
IC6〜10が接続され、コモン出力パッド11〜15
にはコモンドライバIC16が接続されている。抵抗器
17〜21はそれぞれ液晶駆動用の電源であり、コモン
・セグメントの選択電圧と非選択電圧を供給する。C,
D、Eはそれぞれ十電源vDD、−電源■□、GND用
端子であり、Fは1画面ごとに1発パルスを出力するフ
レーム信号、Gは各表示データ端子、Hは制御信号端子
である。22は電流変化を見るための抵抗で、A・Bは
抵抗220両端電圧を見るための端子である。以上に示
したIC実装基板100を用いた液晶表示素子の検査方
法を説明する。第2図は、液晶表示素子の表示状態と、
その時の波形を示す状 □態図であり、第2回置は
液晶表示素子の表示状態図、第2図■は、観察波形図で
ある。[Examples] Examples of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. 1st
The figure is a circuit diagram of an IC mounting board, and the area within the dotted line is an IC mounting board 100 (hereinafter referred to as IC
(abbreviated as mounting board). This includes segment output pads 1 to 5 to form a matrix structure of 5 rows and 5 columns.
Common output pads 11 to 15 are arranged at the same pitch as the pattern of a liquid crystal display element, which will be described later. Segment output pads 1 to 5 are connected to segment driver ICs 6 to 10, respectively, and common output pads 11 to 15 are connected to segment driver ICs 6 to 10, respectively.
A common driver IC 16 is connected to. Resistors 17 to 21 are power supplies for driving the liquid crystal, respectively, and supply common segment selection voltages and non-selection voltages. C,
D and E are terminals for the power supply vDD, -power supply ■□, and GND, respectively, F is a frame signal that outputs one pulse for each screen, G is each display data terminal, and H is a control signal terminal. 22 is a resistor for observing current changes, and A and B are terminals for observing the voltage across the resistor 220. A method of testing a liquid crystal display element using the IC mounting board 100 shown above will be explained. FIG. 2 shows the display state of the liquid crystal display element,
The second figure is a state diagram showing the waveform at that time, the second figure is a display state diagram of the liquid crystal display element, and the second figure is an observed waveform diagram.
まず第1図に示すIC実装基板100のセグメント出力
パッド1〜5とコモン出力パッド11〜15に第2回置
に示す液晶表示素子200を各電極を接続した状態にて
取付ける。次にIC実装基板100の各電源端子C,D
、Hに所定の電源を供給するとともに、制御端子Hには
各制御信号を供給し、さらに表示データ端子Gには第2
回置の表示状態となる表示データ信号を供給する。この
状態に於いて、オシロスコープのGND端子にA端子を
、チャンネル2端子にB端子を、チャンネル1端子にF
端子をそれぞれ接続し、オシロスコープをフレーム信号
でトリガをかける。この結果第2図(Blに示すように
、隣合うセグメント出力パッドが異なる駆動電圧を出力
している時間をT、、同じ駆動電圧を出力している時間
をTYとする。First, the liquid crystal display element 200 shown in the second position is attached to the segment output pads 1 to 5 and the common output pads 11 to 15 of the IC mounting board 100 shown in FIG. 1, with each electrode connected. Next, each power terminal C, D of the IC mounting board 100
, H, each control signal is supplied to the control terminal H, and a second signal is supplied to the display data terminal G.
A display data signal is supplied that provides a rotation display state. In this state, connect the A terminal to the GND terminal of the oscilloscope, the B terminal to the channel 2 terminal, and the F terminal to the channel 1 terminal.
Connect each terminal and trigger the oscilloscope with a frame signal. As a result, as shown in FIG. 2 (Bl), the time during which the adjacent segment output pads output different drive voltages is T, and the time during which they output the same drive voltage is TY.
この時、セグメントの出力パッド2−3間が短絡してい
たとする。T、の時間では、セグメントの出力パッド2
−6間が異電位のため短絡電流が流れ、T1の時間では
、セグメントの出力パッド2−3間が同電位となり短絡
電流は流れない。この状態をオシロスコープで観察する
と、第2図(B)のような波形となり、ショートしてい
ることを知ることができる。At this time, it is assumed that there is a short circuit between the output pads 2 and 3 of the segment. At time T, output pad 2 of the segment
-6 are at different potentials, so a short circuit current flows, and at time T1, the output pads 2 and 3 of the segment are at the same potential, so no short circuit current flows. If this state is observed with an oscilloscope, a waveform like that shown in FIG. 2(B) will be obtained, indicating that there is a short circuit.
次に第3図に他の応用例を示す。液晶表示素子200に
対して、第3装置のような表示になるような表示データ
を供給した場合であり、第2図に示す実施例と同様に″
セグメント出力パッドの2−3間がショートしている場
合に、オシロスコープで観察できる波形が第3図B)で
ある。T1の時間ではセグメント出力パッド2−3間が
同電位となり短絡電流が流れず、T2の時間ではセグメ
ント □出力パッド2−3間が異電位となり短絡電
流が流れ、T3の時間ではT、の時間と同様短絡電流は
流れない。以上の様に出力パッドの状態に合った適当な
表示データを供給することにより、短絡している場所を
正確に、かつ速やかに発見することができる。Next, FIG. 3 shows another example of application. This is a case where display data is supplied to the liquid crystal display element 200 so as to produce a display similar to that of the third device, and similarly to the embodiment shown in FIG.
When there is a short circuit between segment output pads 2 and 3, the waveform that can be observed with an oscilloscope is shown in FIG. 3B). At time T1, segment output pads 2 and 3 are at the same potential and no short circuit current flows; at time T2, segment output pads 2 and 3 are at different potentials and a short circuit current flows; and at time T3, short circuit current flows. Similarly, no short circuit current flows. As described above, by supplying appropriate display data that matches the state of the output pad, the location of the short circuit can be found accurately and quickly.
以上の説明で明らかなように、本発明によれば作業者の
疲労度や検査ミス、検査もれなどを著しく低減すること
が可能であり、特に大型のマトリックス表示のものには
有効である。結果的に時間短縮によるコストダウン、精
度の向上などの効果が得られる。As is clear from the above description, according to the present invention, it is possible to significantly reduce worker fatigue, inspection errors, inspection omissions, etc., and is particularly effective for large matrix displays. As a result, effects such as cost reduction due to time reduction and improved accuracy can be obtained.
図面はいずれも本発明の実施例を示すものであり、第1
図は、IC実装基板の回路図、第2図、第3図は、液晶
表示素子の表示状態を示し、キレ≠井第2装置、第3図
(3)は、液晶表示素子の表示状態図、第2図(B)、
第3図B)は、観察波形図を示す。
100・・・・・・IC実装基板、
200・・・・・・液晶表示素子。The drawings all show embodiments of the present invention, and the first
The figure shows the circuit diagram of the IC mounting board, Figures 2 and 3 show the display state of the liquid crystal display element, and Figure 3 (3) shows the display state of the liquid crystal display element. , Figure 2 (B),
FIG. 3B) shows an observed waveform diagram. 100...IC mounting board, 200...Liquid crystal display element.
Claims (1)
示パネルに対応して複数の行電極用出力パッドと列電極
用出力パッドを有し、前記行電極と行電極用パッド、列
電極と列電極用パッドとをそれぞれ接続することにより
与えられた表示データに従って前記マトリックス型表示
パネルを駆動することができるマトリックス表示装置用
IC実装基板の検査方法において、前記列電極用出力パ
ッドの隣合うものには異なる出力信号が現われるように
前記表示データを与え、この状態でIC実装基板の消費
電流を測定することにより列電極用出力パッドの短絡状
態を検出することを特徴とする表示装置用IC実装基板
の検査方法。Corresponding to a matrix type display panel having a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes, it has a plurality of row electrode output pads and a plurality of column electrode output pads, and the row electrodes and the row electrode pads, the column electrodes and the columns In the method for testing an IC mounting board for a matrix display device, the matrix type display panel can be driven according to display data given by connecting electrode pads to the output pads adjacent to the column electrode output pads. An IC mounting board for a display device, characterized in that a short-circuit state of a column electrode output pad is detected by applying the display data so that different output signals appear and measuring current consumption of the IC mounting board in this state. inspection method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60150590A JPS6210695A (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Inspection of ic packaged substrate for display unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60150590A JPS6210695A (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Inspection of ic packaged substrate for display unit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6210695A true JPS6210695A (en) | 1987-01-19 |
Family
ID=15500208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60150590A Pending JPS6210695A (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Inspection of ic packaged substrate for display unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6210695A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0262414U (en) * | 1988-10-27 | 1990-05-10 | ||
US5345485A (en) * | 1992-03-13 | 1994-09-06 | Siemens Power Corporation | Coolant vent fuel rod for a light water reactor |
-
1985
- 1985-07-09 JP JP60150590A patent/JPS6210695A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0262414U (en) * | 1988-10-27 | 1990-05-10 | ||
US5345485A (en) * | 1992-03-13 | 1994-09-06 | Siemens Power Corporation | Coolant vent fuel rod for a light water reactor |
US5375153A (en) * | 1992-03-13 | 1994-12-20 | Siemens Power Corporation | Coolant vent fuel rod and part length fuel rod having a reflex upper end fitting for a light water reactor |
US5384815A (en) * | 1992-03-13 | 1995-01-24 | Siemens Power Corporation | Hydraulic resistance strip for a light water reactor |
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