JPS6199987U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6199987U JPS6199987U JP18436084U JP18436084U JPS6199987U JP S6199987 U JPS6199987 U JP S6199987U JP 18436084 U JP18436084 U JP 18436084U JP 18436084 U JP18436084 U JP 18436084U JP S6199987 U JPS6199987 U JP S6199987U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- contact
- circuit element
- base
- center
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
第１図は本考案に係る集積回路素子用接続器の
一実施例を示す概略斜視図、第２図ａ，ｂはその
一部省略平面図およびその装着状態の断面図、第
３図ａ，ｂは本考案の別の実施例を示す概略断面
図、第４図ａ，ｂはリード端子間隔の異なる二種
類の集積回路素子を装着する従来の試験用基板を
示す概略斜視図である。 １，２……集積回路素子、１ａ，２ａ……リー
ド端子、３，４……ＩＣソケツト、５，６……試
験用基板、１０……集積回路素子用接続器、１１
……絶縁性基台、１２……端子ピン、１２ａ……
端子端、１２ｂ……接触端、１３……蓋体（押圧
子）、１４……開口、１６……蓋体、１８……板
ばね。
一実施例を示す概略斜視図、第２図ａ，ｂはその
一部省略平面図およびその装着状態の断面図、第
３図ａ，ｂは本考案の別の実施例を示す概略断面
図、第４図ａ，ｂはリード端子間隔の異なる二種
類の集積回路素子を装着する従来の試験用基板を
示す概略斜視図である。 １，２……集積回路素子、１ａ，２ａ……リー
ド端子、３，４……ＩＣソケツト、５，６……試
験用基板、１０……集積回路素子用接続器、１１
……絶縁性基台、１２……端子ピン、１２ａ……
端子端、１２ｂ……接触端、１３……蓋体（押圧
子）、１４……開口、１６……蓋体、１８……板
ばね。
Claims (1)
- 集積回路素子が中央に配置される絶縁性基台と
、この基台両側部にそれぞれ一端が下方に貫通し
た状態で列状に配列して植設されるとともに他端
が前記集積回路素子側のリード端子と接触する接
触端として基台中央側に臨む複数の端子ピンと、
これら各端子ピンの接触端に前記リード端子が接
触した状態でこの集積回路素子を押圧保持する押
圧子を備えたことを特徴とする集積回路素子用接
続器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18436084U JPS6199987U (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18436084U JPS6199987U (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199987U true JPS6199987U (ja) | 1986-06-26 |
Family
ID=30741846
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18436084U Pending JPS6199987U (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6199987U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63188578U (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-02 | ||
| JPH01223364A (ja) * | 1988-03-02 | 1989-09-06 | Matsushita Electron Corp | 半導体素子の測定装置 |
-
1984
- 1984-12-06 JP JP18436084U patent/JPS6199987U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63188578U (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-02 | ||
| JPH01223364A (ja) * | 1988-03-02 | 1989-09-06 | Matsushita Electron Corp | 半導体素子の測定装置 |