JPS6189153U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6189153U JPS6189153U JP17544784U JP17544784U JPS6189153U JP S6189153 U JPS6189153 U JP S6189153U JP 17544784 U JP17544784 U JP 17544784U JP 17544784 U JP17544784 U JP 17544784U JP S6189153 U JPS6189153 U JP S6189153U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- chamber
- infrared radiation
- gas
- gas analyzer
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
第１図は本考案に係る赤外線輻射式ガス分析計
を示す縦断面図、第２図は従来例を示す構成図で
ある。 １…サンプルセル、１ａ…サンプル室、１ｂ…
予熱室、２，３…ヒータ、６…隔壁、８…赤外線
検出器。
を示す縦断面図、第２図は従来例を示す構成図で
ある。 １…サンプルセル、１ａ…サンプル室、１ｂ…
予熱室、２，３…ヒータ、６…隔壁、８…赤外線
検出器。
Claims (1)
- サンプルセル内のサンプルガスをヒータにより
加熱し、そのとき発生する赤外線の輻射量に基づ
いてサンプルガス中の測定対象成分の濃度を測定
する赤外線輻射式ガス分析計において、前記サン
プルセル内に隔壁を設けて予熱室とサンプル室と
に区分し、前記各室間を連通すると共に、サンプ
ル室に対向して赤外線検出器を設けたことを特徴
とする赤外線輻射式ガス分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17544784U JPS6189153U (ja) | 1984-11-17 | 1984-11-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17544784U JPS6189153U (ja) | 1984-11-17 | 1984-11-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6189153U true JPS6189153U (ja) | 1986-06-10 |
Family
ID=30733049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17544784U Pending JPS6189153U (ja) | 1984-11-17 | 1984-11-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6189153U (ja) |
-
1984
- 1984-11-17 JP JP17544784U patent/JPS6189153U/ja active Pending