JPS6182652A - Time-of-flight type collision dissociation mass spectrometer - Google Patents

Time-of-flight type collision dissociation mass spectrometer

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JPS6182652A
JPS6182652A JP59204960A JP20496084A JPS6182652A JP S6182652 A JPS6182652 A JP S6182652A JP 59204960 A JP59204960 A JP 59204960A JP 20496084 A JP20496084 A JP 20496084A JP S6182652 A JPS6182652 A JP S6182652A
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time
flight
ions
mass spectrometer
chamber
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Tamio Yoshida
吉田 多見男
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Shimadzu Corp
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0045Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
    • H01J49/005Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers

Abstract

PURPOSE:To enable a high sensitivity measurement to be conducted by combining first time-of-flight type mass spectrometer including an ionizing chamber and a drift tube with a second time-of-flight type mass spectrometer including a collision chamber and a drift tube. CONSTITUTION:A time-of-flight type collision dissociation mass spectrometer consists of a first time-of-flight type mass spectrometer 1 including an ionizing chamber 2, a lead electrode 4, a drift type 3, and pulse voltage generator means 5, and of a second time-of-flight type spectrometer 11 including an electric field sector 8 being energy selector means, a collision chamber 9 filled with helium, etc., a lead electrode 13, a drift tube 12, and a DC power source 14 for applying voltage between the electrode 13 and the collision chamber 9, and furthermore of an ion detector 15, Accordingly, execution of collision dissociation mass analysis with use of the time-of-flight type mass spectrometer so constructed enables a high sensititvity, high speed measurement without eliminating a range of the numbers of masses to be analyzed.

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は飛行時間型衝突解離質量分析装置に関し、と
くに飛行時間型質量分析装置と電場セクタとを用いて衝
突解離により質量分析をおこなう飛行時間型衝突解離質
量分析装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Industrial Application Field The present invention relates to a time-of-flight collisional dissociation mass spectrometer, and particularly to a flight-time collisional dissociation mass spectrometer that performs mass spectrometry by collisional dissociation using a time-of-flight mass spectrometer and an electric field sector. This invention relates to a time-based collisional dissociation mass spectrometer.

(ロ)従来技術 質量分析において有機化合物の分子量や分子構造解析を
おこなう場合、質量スペクトルの中にその親イオンと娘
イオンとが現われて、重要な分子構造情報を与えるもの
である。しかしながら試料が混合物であったり不純物が
試料に含まれている場合には、混合物などのイオンもス
ペクトル中に現われ、信頼できる分子構造を得る事が困
難である。
(b) Prior Art When analyzing the molecular weight and molecular structure of an organic compound using mass spectrometry, its parent ion and daughter ion appear in the mass spectrum and provide important molecular structure information. However, if the sample is a mixture or contains impurities, ions from the mixture will also appear in the spectrum, making it difficult to obtain a reliable molecular structure.

そこでスペクトルに現われる特定のイオンを選び、その
イオンをヘリウムなどの希ガスと衝突解離させて得られ
るイオンから分子構造情報を得ようとする試みがなされ
ている。(これを衝突解離質量分析法という)実際には
第4図A、Bに示すような2台の質量分析装置を直結し
たものや、二重収束型の質量分析装置などにより質量分
析がおこなわれている。第4図A、Bにおいて(a)は
イオン化室、(b)は磁場セクタ、(C)は衝突室、(
d)は電場セクタ、(e)はイオン検出器である。
Therefore, attempts are being made to select specific ions that appear in the spectrum, collide and dissociate the ions with rare gases such as helium, and obtain molecular structure information from the ions obtained. (This is called collision dissociation mass spectrometry.) In reality, mass spectrometry is performed using two mass spectrometers directly connected as shown in Figure 4 A and B, or a double convergence mass spectrometer. ing. In Figures 4A and B, (a) is the ionization chamber, (b) is the magnetic field sector, (C) is the collision chamber, (
d) is an electric field sector, and (e) is an ion detector.

しかしながらこれらのlR量量分製装置おいては、磁場
セクタ(b)を用いているため通常高質量数のイオンに
対応するためには磁界を強くしたり、イオン加速電圧を
下げる必要があり、そのため磁場セクタ(b)が非常に
大型になったりイオン透過立が低下するといった不都合
があった。さらに磁場セクタ(b)でのイオンの選別は
、磁界強度を走査してなされるため、イオンの全量を測
定することができず、したがって試料の量がおおくなる
(順向にあった。
However, since these IR mass separation devices use a magnetic field sector (b), it is usually necessary to strengthen the magnetic field or lower the ion acceleration voltage in order to handle ions with a high mass number. Therefore, there were disadvantages such as the magnetic field sector (b) becoming very large and ion permeation rate decreasing. Furthermore, since the selection of ions in the magnetic field sector (b) is performed by scanning the magnetic field strength, the total amount of ions cannot be measured, and therefore the amount of the sample becomes large (in the forward direction).

(ハ)目的 この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、分析質
量数域に制限がなく、高感度θり定が可能である飛行時
間型f+i突解離質量分析装置を提供しようとするもの
である。
(c) Purpose This invention has been made in view of the above circumstances, and aims to provide a time-of-flight f+i concussion mass spectrometer that has no limitations on the analysis mass number range and is capable of determining θ with high sensitivity. It is something.

(ニ)構成 そしてこの発明は、飛行時間型質量分析装置を用いて衝
突解離質量分析をおこなうよう構成され、そのさらに詳
しい構成は、試料をイオン化するイオン化室と、一方端
をそのイオン化室に相対させるとともに一部に電圧印可
時に内部を飛行するイオンをその運動量ぶルギーの差違
によって選択するエネルギー選択手段の組み込まれたイ
オンの第一飛行部と、第一飛行部のイオン化室例端部近
傍に設けられる第一引き出し電極とイオン化室とに電気
的に接続されるパルス電圧発生手段とで構成されるイオ
ンを等運動加速する第一イオン加速手段と、第一飛行部
その他方端に相対するように設けられ上記エネルギー選
択手段の非電圧印可時に飛行イオンの至る第一検出器と
、同じく第一飛行部の他方端に第一飛行部の軸方向にお
いて偏心する位置において相対するように設けられ内部
に希ガスが充填され上記エネルギー選択手段の電圧印可
時に飛行イオンの至る衝突室と、一方端でその衝突室に
相対するよう設けられるイオンの第二飛行部と、衝突室
と第二飛行部の衝突室側端部近傍に設けられる第二引き
出し電極と(衝突室と第二引き出し電極とに電気的に接
続される直流電源とで構成される第二イオン加速手段と
、第二飛行部の他方端に相対するように設けられ飛行イ
オンの至る第二イオン検出器とからなることを特徴とす
る飛行時間型衝突解離質量分析装置である。
(d) Configuration This invention is configured to perform collision dissociation mass spectrometry using a time-of-flight mass spectrometer, and its more detailed configuration includes an ionization chamber for ionizing a sample, and one end facing the ionization chamber. A first flight section for ions, which is equipped with an energy selection means for selecting ions flying therein according to the difference in their momentum and energy when a voltage is applied to the first flight section, and an ionization chamber near the end of the first flight section. A first ion accelerating means for uniformly accelerating ions, which is composed of a first extraction electrode provided and a pulse voltage generating means electrically connected to the ionization chamber, and a first ion accelerating means for uniformly accelerating ions, and A first detector provided at the energy selection means to which the flying ions reach when no voltage is applied; a collision chamber filled with a rare gas and into which flying ions reach when a voltage is applied from the energy selection means; a second flight section for ions provided at one end facing the collision chamber; and a collision chamber and a second flight section. a second ion accelerating means comprising a second extraction electrode provided near the collision chamber side end (a DC power source electrically connected to the collision chamber and the second extraction electrode); and the other of the second flight section. This is a time-of-flight collisional dissociation mass spectrometer characterized by comprising a second ion detector which is provided oppositely at one end of the detector and through which flying ions reach.

(ホ)実施例 以下この発明の実施例を図面にて詳述するが、この発明
が以下の実施例に限定されるものではない。
(e) Examples Examples of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings, but the invention is not limited to the following examples.

第1図においてこの発明の2つの飛行時間型質量分析装
置を用いた実施例の構成について説明する。
Referring to FIG. 1, the configuration of an embodiment using two time-of-flight mass spectrometers of the present invention will be described.

(1)は飛行時間型質量分析装置で、イオン化室(2)
と、第一飛行部であるドリフト管(3)と、ドリフト管
(3)のイオン化室(2)側の端部近傍に設けられる第
一引き出し電極(4)と、イオン化室(2)と第一引き
出し電極(4)とに接続されるパルス電圧発生手段(5
)と、ドリフト管(3)の他方端に相対するように設け
られる第一イオン検出器(6)とで構成される。パルス
電圧発生手段(5)は、観測すべき最小質量数のイオン
がトリアド管(3)へ到達する時間より短かいパルス幅
のパルス電圧Voを発生させる。そしてパルス電圧Vo
によりイオン化室(2)にて発生したイオンは、等運動
量加速される。そして上記において第一引き出し電極(
4)とパルス電圧発生手段(5)とが第一イオン加速手
段(7)である。(8)はエネルギー選択手段である電
場セクタで、イオンの持つ運動エネルギの違いにより特
定のイオンを選別し、選別したイオンをヘリウムなどの
希ガスが充満された衝突室(9)へ放出する。QO)は
間隙で飛行時間型質量分析装置(1)の軸(z)と同軸
上に設けられ、特定のイオンを電場セクタ(8)を動作
させない時に通過させるために設けられるものである。
(1) is a time-of-flight mass spectrometer, and the ionization chamber (2)
, a drift tube (3) which is the first flight part, a first extraction electrode (4) provided near the end of the drift tube (3) on the ionization chamber (2) side, and a Pulse voltage generating means (5) connected to one extraction electrode (4)
) and a first ion detector (6) provided opposite to the other end of the drift tube (3). The pulse voltage generating means (5) generates a pulse voltage Vo having a pulse width shorter than the time required for ions of the minimum mass number to be observed to reach the triad tube (3). And the pulse voltage Vo
The ions generated in the ionization chamber (2) are accelerated by constant momentum. And in the above, the first extraction electrode (
4) and the pulse voltage generating means (5) are the first ion accelerating means (7). (8) is an electric field sector which is an energy selection means, which selects specific ions based on the difference in kinetic energy of the ions, and releases the selected ions into a collision chamber (9) filled with a rare gas such as helium. QO) is provided in the gap coaxially with the axis (z) of the time-of-flight mass spectrometer (1), and is provided to allow specific ions to pass through when the electric field sector (8) is not in operation.

曲はもう一つの飛行時間型質量分析装置で、−万端がそ
の衝突室(8)に相対するように設けられるイオンの第
二飛行部であるドリフト管(12と、ドリフト管112
の衝突室(81側端部に設けられる第2引き出し電極(
13と衝突室(8)と第2引き出し電極(13間に直流
電圧を印可する直流電源圓とで構成される第二イオン加
速手段1161と、ドリフト管(12の他方端に相対し
て設けられる第二イオン検出器(151とで構成される
従来公知のものである。
This is another time-of-flight mass spectrometer, in which there is a drift tube (12), which is the second flight part for ions, and a drift tube (112), which is located opposite the collision chamber (8).
The collision chamber (the second extraction electrode provided at the end of the 81 side)
13, a collision chamber (8), a second extraction electrode (a DC power supply circle that applies a DC voltage between 13), and a drift tube (provided opposite to the other end of 12). This is a conventionally known device consisting of a second ion detector (151).

次に第2図もまじえて動作について説明する。Next, the operation will be explained with reference to FIG.

まず最初に等運動量加速について説明する。First, uniform momentum acceleration will be explained.

イオン化室(2)と第一引き出し電極4)との間に距離
をD、イオンの質量をm、イオンの飛行方向を2、イオ
ンの電荷量をe、パルス電圧発生装置手段(5)が出力
するパルス電圧■を(1)とすると、このイオンの運動
方程式は、 ただしE (t)はパルス電圧をV(t )によって発
生する電界である。
The distance between the ionization chamber (2) and the first extraction electrode 4) is D, the mass of the ions is m, the flight direction of the ions is 2, the amount of charge of the ions is e, and the pulse voltage generator means (5) outputs Assuming that the pulse voltage ■ is (1), the equation of motion of this ion is as follows: where E (t) is the electric field generated by the pulse voltage V(t).

となる。そしてこのイオンの時刻tでの速度Vはとなる
。すなわちこのイオンが距離りを飛行する時間により短
い時間のパルス幅Δtをもつパルス電圧Voにて加速さ
れる出、速度■は V = −V oΔt・・・・・・(1−3)D となり、すべてのイオンにおいてイオンのもつ運動量が
等しく eVoΔL/Dになる事を示している。さらに
等運動加速されたイオンのもつ運動エネルギWは、 となる。これは加速されたイオンのもつ運動エネルギW
がイオンの質量によって異なることを示している。した
がってドリフト管(3)を出たイオンは、次式を満足す
る特定のイオンのみが電場セクタ(8)を通過する。
becomes. The velocity V of this ion at time t is then. In other words, since this ion is accelerated by a pulse voltage Vo with a short pulse width Δt due to the time it takes to fly over a distance, the velocity ■ becomes V = −V oΔt (1-3)D. , which shows that the momentum of all ions is equal to eVoΔL/D. Furthermore, the kinetic energy W of uniformly accelerated ions is as follows. This is the kinetic energy W of the accelerated ions
This shows that the difference depends on the mass of the ion. Therefore, among the ions that have exited the drift tube (3), only specific ions that satisfy the following equation pass through the electric field sector (8).

ただしReは電場セクタ(8)内のイオン軌跡の半径、
El  は電場セクタ(8)内の電界である。
However, Re is the radius of the ion trajectory in the electric field sector (8),
El is the electric field in the electric field sector (8).

電場セクタ(8)で選択されたイオンは、その後に配置
された衝突室19)にて希ガスと衝突して衝突解離され
る。衝突解離にて得られる娘イオンの質量をml 、そ
の親イオンの質量をmoとすると、衝突解離はmo  
−+ml  + (mo −ml )と表わせ、それぞ
れイオンの運動エネルギはそれぞれWo=−movo2
・・・・・・(1−6)W 1−ml  v o2− 
(1−7)ただしVoは最初に質量moのイオンが加速
された速度となる。つまり衝突解離されてもイオンの速
度は変化しないものである。したがって飛行時間型質量
分析装置用)においては、等工4ルギ加速をおこなう。
The ions selected in the electric field sector (8) collide with the rare gas in a collision chamber 19) arranged subsequently, and are dissociated by collision. If the mass of the daughter ion obtained by collisional dissociation is ml and the mass of its parent ion is mo, then the collisional dissociation is mo
−+ml + (mo −ml), and the kinetic energy of each ion is Wo=−movo2
・・・・・・(1-6) W 1-ml vo2-
(1-7) However, Vo is the speed at which an ion with mass mo is initially accelerated. In other words, the velocity of the ions does not change even after collisional dissociation. Therefore, in a time-of-flight mass spectrometer), equal engineering 4 Lugi acceleration is performed.

この時親イオンと娘イオンとは、それぞれ次式に示す速
度にてドリフト管(12内を飛行したのち、第二イオン
検出器(151に達するものである。
At this time, the parent ions and daughter ions fly through the drift tube (12) at the speeds shown in the following equations, and then reach the second ion detector (151).

ただし■2は飛行時間型質量分析装置間の加速電圧 上式かられかるように、ドリフト管(I2内を飛行する
時間は、質量に依存するところとなり第二イオン検出器
(151に達する時間からそれぞれのMWの区別が可能
となる。
However, (2) is the acceleration voltage between time-of-flight mass spectrometers.As can be seen from the above equation, the time of flight in the drift tube (I2) depends on the mass, and the time to reach the second ion detector (151) It becomes possible to distinguish between each MW.

ここで親イオンの電場セクタt8)までの飛行時間TI
  と、電場セクタ18)内の飛行時間T2と、娘イオ
ンの飛行時間型質量分析装置曲内の飛行時間T3とを求
めると、 ただしLl は第一引き出し電極4)からの電場セクタ
(8)までの距離、L2は第二引き出し電極113から
第にイオン検出器面までの距離、αは電場セクタ(8)
の入口と出口とのなす角度である。
Here, the flight time TI of the parent ion to the electric field sector t8)
, the flight time T2 within the electric field sector 18), and the flight time T3 of the daughter ion within the time-of-flight mass spectrometer track, where Ll is the distance from the first extraction electrode 4) to the electric field sector (8). , L2 is the distance from the second extraction electrode 113 to the first ion detector surface, α is the electric field sector (8)
It is the angle between the inlet and outlet of

となる。becomes.

この飛行時間型衝突解離質量分析装置において2、  
は、まず電場セクタ(8)を作動させずに、飛行時間型
質量分析装置]1)にて飛行時間(T、+T2)を測定
し親イオンの質量を求める。このとき、親イオンは間隙
1101を通過し、電場セクタ(8)内のイオン飛行時
間距離と同−距離離れた位置に設けられる第一イオン検
出器(6)に達するものである。このとき観測されるス
ペクトルS、を第2図に示す。そして娘イオンの1は、
電場セクタ(8)に親イオンが通過するように電圧を印
加し、第二イオン検出器(151にて飛行時間T3を測
定して求める。この場合に親イオンが完全に解離しない
場合には、第二イオン検出器(15)にて観測される最
高質量イオンすなわちもっとも飛行時間の長いイオンが
親イオンであるので、上記の娘イオンだけを単独で測定
する操作は不必要となる。このときに観測されるスペク
トルS2を第2図に示す。
In this time-of-flight collisional dissociation mass spectrometer, 2.
First, without operating the electric field sector (8), the time of flight (T, +T2) is measured using a time-of-flight mass spectrometer]1) to determine the mass of the parent ion. At this time, the parent ions pass through the gap 1101 and reach the first ion detector (6) located at a distance equal to the ion flight time distance within the electric field sector (8). The spectrum S observed at this time is shown in FIG. And daughter Ion 1 is
A voltage is applied to the electric field sector (8) so that the parent ion passes through, and the flight time T3 is measured by the second ion detector (151). In this case, if the parent ion is not completely dissociated, Since the highest mass ion observed by the second ion detector (15), that is, the ion with the longest flight time, is the parent ion, it is unnecessary to measure only the daughter ions mentioned above.At this time, The observed spectrum S2 is shown in FIG.

次にこの発明の他の実施例につい第3図に説明する。Next, another embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG.

この実施例では上記実施例のドリフト管(3)と電場セ
クタ(8)を用いずに、かわりに偏向板11E+l 1
151を用いたものである。すなわちイオン化室(2)
のイオンは、第一引き出し電極4)とパルス電圧発生手
段(5)とで構成される第一イオン加速手段(7)にて
等運動量加速されたのち、偏向板j+6! f151に
て形成される電界により特定のイオンが選択されて衝突
室(9)へ導かれるものである。ここで偏向板f161
 f161と、電界を形成するために偏向板061 [
151に接続される直流電源(図示しない)とがエネル
ギ選択手段を構成する。
In this embodiment, the drift tube (3) and electric field sector (8) of the above embodiment are not used, but instead the deflection plate 11E+l 1
151 is used. i.e. ionization chamber (2)
The ions are accelerated by a constant momentum in the first ion accelerating means (7) composed of the first extraction electrode 4) and the pulse voltage generating means (5), and then the deflection plate j+6! Specific ions are selected by the electric field formed at f151 and guided to the collision chamber (9). Here, deflection plate f161
f161 and a deflection plate 061 to form an electric field [
A DC power supply (not shown) connected to 151 constitutes energy selection means.

そして衝突室(9)にて衝突解離したイオンは、飛行時
間型質量分析装置111)にて測定されるものである。
The ions collided and dissociated in the collision chamber (9) are measured by a time-of-flight mass spectrometer 111).

(ハ)効果 この発明によれば、飛行時間型質量分析装置と電場セク
タとを用いているため、磁場セクタによるものにある制
約がないので、分析質量数域に制限のない飛行時間型衝
突解離質量分析装置が得られる。またスリットなどをも
ちいる必要がないため、イオン光学系が開放的であり高
感度測定が可能である。さらに走査の必要がない全量測
定であるため、高速測定が可能で、しかも試料が微量で
よいものである。このことは高分子量有機化合物などに
おいて、試料が多量に得られない場合に特に有効である
(C) Effects According to the present invention, since a time-of-flight mass spectrometer and an electric field sector are used, there are no restrictions imposed by the magnetic field sector, so time-of-flight collisional dissociation has no limitations on the analysis mass number range. A mass spectrometer is obtained. Furthermore, since there is no need to use a slit, the ion optical system is open and highly sensitive measurement is possible. Furthermore, since it is a total volume measurement that does not require scanning, high-speed measurement is possible and only a small amount of sample is required. This is particularly effective when a large amount of sample cannot be obtained, such as for high molecular weight organic compounds.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の実施例構成略図、第2図は実施例に
よって観測されるスペクトル図、第3図は他実施例の構
成略図、第4図A、 Bは2つの質量分析装置を直結し
たものと、二重収束型質量分析装置による従来例構成略
図である。 12)・・・イオン化室、 (3)・・・ドリフト管(第一飛行部)、(6)・・・
第一イオン検出器、 (7)・・・第一イオン加速手段、 (8)・・・電場セクタ(エネルギ選択手段)、(9)
・・・衝突室、 11′2・・・ドリフト管(第二飛行部)、(15)・
・・第二イオン検出器、 1171・・・第二イオン加速手段。
Figure 1 is a schematic diagram of the configuration of an embodiment of this invention, Figure 2 is a spectrum diagram observed in this embodiment, Figure 3 is a schematic diagram of the configuration of another embodiment, and Figures 4A and B are two mass spectrometers directly connected. This is a schematic diagram of the configuration of a conventional example using a dual convergence mass spectrometer. 12)...Ionization chamber, (3)...Drift tube (first flight section), (6)...
First ion detector, (7)...First ion acceleration means, (8)...Electric field sector (energy selection means), (9)
...Collision chamber, 11'2... Drift tube (second flight section), (15)
...Second ion detector, 1171...Second ion acceleration means.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、試料をイオン化するイオン化室と、一方端をそのイ
オン化室に相対させるとともに一部に電圧印可時に内部
を飛行するイオンをその運動エネルギーの差違によって
選択するエネルギー選択手段の組み込まれたイオンの第
一飛行部と、第一飛行部のイオン化室側端部近傍に設け
られる第一引き出し電極とイオン化室とに電気的に接続
されるパルス電圧発生手段とで構成されるイオンを等運
動加速する第一イオン加速手段と、第一飛行部その他方
端に相対するように設けられ上記エネルギー選択手段の
非電圧印可時に飛行イオンの至る第一検出器と、同じく
第一飛行部の他方端に第一飛行部の軸方向において偏心
する位置において相対するように設けられ内部に希ガス
が充填され上記エネルギー選択手段の電圧印可時に飛行
イオンの至る衝突室と、一方端でその衝突室に相対する
よう設けられるイオンの第二飛行部と、衝突室と第二飛
行部の衝突室側端部近傍に設けられる第二引き出し電極
と衝突室と第二引き出し電極とに電気的に接続される直
流電源とで構成される第二イオン加速手段と、第二飛行
部の他方端に相対するように設けられ飛行イオンの至る
第二イオン検出器とからなることを特徴とする飛行時間
型衝突解離質量分析装置。
1. An ionization chamber that ionizes the sample, and an ion chamber with one end facing the ionization chamber and an energy selection means that selects ions flying inside when a voltage is applied based on the difference in their kinetic energies. A first flight section that uniformly accelerates ions, and a pulse voltage generating means that is electrically connected to the ionization chamber and a first extraction electrode provided near the end of the first flight section on the ionization chamber side. a first detector which is provided opposite to the other end of the first flying section and to which the flying ions reach when no voltage is applied to the energy selection means; A collision chamber is provided at an eccentric position in the axial direction of the flight section and is filled with a rare gas, and the collision chamber reaches which the flying ions reach when a voltage is applied from the energy selection means; a second flight section for ions to be flown, a second extraction electrode provided near the collision chamber side end of the second flight section, and a DC power supply electrically connected to the collision chamber and the second extraction electrode. What is claimed is: 1. A time-of-flight collision dissociation mass spectrometer, comprising: a second ion accelerating means; and a second ion detector, which is disposed opposite to the other end of the second flight section and through which flying ions reach.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1989006044A1 (en) * 1987-12-24 1989-06-29 Unisearch Limited Mass spectrometer
EP0403965A2 (en) * 1989-06-23 1990-12-27 Bruker-Franzen Analytik GmbH MS-MS-flight time mass spectrometer
EP0456517A2 (en) * 1990-05-11 1991-11-13 Kratos Analytical Limited Time-of-flight mass spectrometer
EP0584262A1 (en) * 1991-05-16 1994-03-02 Univ Johns Hopkins Tandem time-of-flight mass spectrometer.
JP2006511912A (en) * 2002-12-20 2006-04-06 パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド Time-of-flight mass analyzer with multiple flight paths

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1989006044A1 (en) * 1987-12-24 1989-06-29 Unisearch Limited Mass spectrometer
EP0403965A2 (en) * 1989-06-23 1990-12-27 Bruker-Franzen Analytik GmbH MS-MS-flight time mass spectrometer
EP0456517A2 (en) * 1990-05-11 1991-11-13 Kratos Analytical Limited Time-of-flight mass spectrometer
EP0584262A1 (en) * 1991-05-16 1994-03-02 Univ Johns Hopkins Tandem time-of-flight mass spectrometer.
EP0584262A4 (en) * 1991-05-16 1994-08-31 The Johns Hopkins University
JP2006511912A (en) * 2002-12-20 2006-04-06 パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド Time-of-flight mass analyzer with multiple flight paths

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