JPS6160610B2 - - Google Patents
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- JPS6160610B2 JPS6160610B2 JP56010928A JP1092881A JPS6160610B2 JP S6160610 B2 JPS6160610 B2 JP S6160610B2 JP 56010928 A JP56010928 A JP 56010928A JP 1092881 A JP1092881 A JP 1092881A JP S6160610 B2 JPS6160610 B2 JP S6160610B2
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- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 7
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F5/00—Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards
- G04F5/04—Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards using oscillators with electromechanical resonators producing electric oscillations or timing pulses
- G04F5/06—Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards using oscillators with electromechanical resonators producing electric oscillations or timing pulses using piezoelectric resonators
- G04F5/063—Constructional details
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H13/00—Measuring resonant frequency
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04D—APPARATUS OR TOOLS SPECIALLY DESIGNED FOR MAKING OR MAINTAINING CLOCKS OR WATCHES
- G04D3/00—Watchmakers' or watch-repairers' machines or tools for working materials
- G04D3/0002—Watchmakers' or watch-repairers' machines or tools for working materials for mechanical working other than with a lathe
- G04D3/0035—Watchmakers' or watch-repairers' machines or tools for working materials for mechanical working other than with a lathe for components of the regulating mechanism
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04D—APPARATUS OR TOOLS SPECIALLY DESIGNED FOR MAKING OR MAINTAINING CLOCKS OR WATCHES
- G04D7/00—Measuring, counting, calibrating, testing or regulating apparatus
- G04D7/12—Timing devices for clocks or watches for comparing the rate of the oscillating member with a standard
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/0072—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks of microelectro-mechanical resonators or networks
- H03H3/0076—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks of microelectro-mechanical resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficients
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
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- Sorting Of Articles (AREA)
- Jigging Conveyors (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁化ステーシヨンと、バイブレータ
装置とバイブレータ装置の吐き出し側に接続され
ている案内レールとから構成されている装入装置
とを含み、棒状で磁性材から構成されている機械
共振子を予め設定された周波数範囲における固有
振動周波数に応じて選別する装置に関する。
装置とバイブレータ装置の吐き出し側に接続され
ている案内レールとから構成されている装入装置
とを含み、棒状で磁性材から構成されている機械
共振子を予め設定された周波数範囲における固有
振動周波数に応じて選別する装置に関する。
機械共振子は、Qが大きくしかも場所をとらな
いので、例えば周波数標準として又はメカニカル
フイルタに広く使用されている。そしてほとんど
の場合、機械共振子の共振周波数をできる限り正
確に所定周波数に一致させることが必要である。
しかし機械共振子の製造では製造誤差が不可避で
ある。そのため機械共振子の共振周波数を正確に
所定周波数に一致させるという要請に充分応える
ことができない。それ故機械共振子の最終的な共
振周波数を製造後に調整する必要が生ずる。この
調整をするため、2つのステツプで機械共振子の
材料を加工することは公知である。例えば第1の
ステツプで研削することにより粗調整し、次いで
第2のステツプで機械共振子をサンドブラストに
より処理するか又はレーザビームで加工すること
により微調整(最終調整)することは、ドイツ連
邦共和国特許第1929994号明細書に記載されてい
る。
いので、例えば周波数標準として又はメカニカル
フイルタに広く使用されている。そしてほとんど
の場合、機械共振子の共振周波数をできる限り正
確に所定周波数に一致させることが必要である。
しかし機械共振子の製造では製造誤差が不可避で
ある。そのため機械共振子の共振周波数を正確に
所定周波数に一致させるという要請に充分応える
ことができない。それ故機械共振子の最終的な共
振周波数を製造後に調整する必要が生ずる。この
調整をするため、2つのステツプで機械共振子の
材料を加工することは公知である。例えば第1の
ステツプで研削することにより粗調整し、次いで
第2のステツプで機械共振子をサンドブラストに
より処理するか又はレーザビームで加工すること
により微調整(最終調整)することは、ドイツ連
邦共和国特許第1929994号明細書に記載されてい
る。
微調整のステツプでは通常機械共振子の共振周
波数を高々300Hz程度しか調整できない。従つて
研削による粗調整の段階で、機械共振子の共振周
波数を目標周波数から300Hz程度の誤差範囲内に
調整しておく必要がある。
波数を高々300Hz程度しか調整できない。従つて
研削による粗調整の段階で、機械共振子の共振周
波数を目標周波数から300Hz程度の誤差範囲内に
調整しておく必要がある。
しかし実際には機械共振子の製造誤差が不可避
のため、前記要請に確実に応えることは容易でな
い。そのためしばしば粗調整の不充分な機械共振
子、即ち共振周波数が前記誤差範囲外にある機械
共振子、が微調整のステツプに供給される。この
場合機械共振子は微調整装置の通過後、不良品と
して取り扱われる。
のため、前記要請に確実に応えることは容易でな
い。そのためしばしば粗調整の不充分な機械共振
子、即ち共振周波数が前記誤差範囲外にある機械
共振子、が微調整のステツプに供給される。この
場合機械共振子は微調整装置の通過後、不良品と
して取り扱われる。
本発明の課題は、上述の欠点を比較的簡単な方
法で解消し、特に微調整できる程度には充分に粗
調整されていない機械共振子を選別するさらに自
動装置であり、かつその動作速度の点で全自動装
置に適合する装置を提供することである。
法で解消し、特に微調整できる程度には充分に粗
調整されていない機械共振子を選別するさらに自
動装置であり、かつその動作速度の点で全自動装
置に適合する装置を提供することである。
この課題は次のようにして解決される。即ち中
央制御装置が設けられており、案内レールが搬送
路中に個別化ステーシヨン及び磁化ステーシヨン
を有し、この磁化ステーシヨンにおいて共振子が
クロツクに応じ1つ1つ導かれまた静止の際制御
直流電流パルスにより磁化され、案内レールの終
端部において挿入制御可能な阻止ピンにより閉じ
られておりまたはね返り防止部材及び制御送り装
置により共振子を測定ステーシヨンにクロツクに
応じて供給するための待機ステーシヨンが形成さ
れ、測定ステーシヨンが、測定すべき共振子のた
めに減衰の少ない支持装置、共振子の機械振動励
振用の励振コイル、共振子の固有周波数を測定す
るマイクロホン及び送りレバを有するエゼクタを
有しておりまた中央制御装置に接続されており、
この中央制御装置により固有周波数の測定値が予
め設定された周波数限界の限界周波と比較され、
比較結果から相応する制御信号が分配ステーシヨ
ンに対して発生され、分配ステーシヨンは測定さ
れた共振子に対する可制御分配フラツプ板を備え
た分配レール及び分配フラツプ板に所属の個々の
捕捉容器とを有するようにするのである。
央制御装置が設けられており、案内レールが搬送
路中に個別化ステーシヨン及び磁化ステーシヨン
を有し、この磁化ステーシヨンにおいて共振子が
クロツクに応じ1つ1つ導かれまた静止の際制御
直流電流パルスにより磁化され、案内レールの終
端部において挿入制御可能な阻止ピンにより閉じ
られておりまたはね返り防止部材及び制御送り装
置により共振子を測定ステーシヨンにクロツクに
応じて供給するための待機ステーシヨンが形成さ
れ、測定ステーシヨンが、測定すべき共振子のた
めに減衰の少ない支持装置、共振子の機械振動励
振用の励振コイル、共振子の固有周波数を測定す
るマイクロホン及び送りレバを有するエゼクタを
有しておりまた中央制御装置に接続されており、
この中央制御装置により固有周波数の測定値が予
め設定された周波数限界の限界周波と比較され、
比較結果から相応する制御信号が分配ステーシヨ
ンに対して発生され、分配ステーシヨンは測定さ
れた共振子に対する可制御分配フラツプ板を備え
た分配レール及び分配フラツプ板に所属の個々の
捕捉容器とを有するようにするのである。
このように粗調整された機械共振子を共振周波
数毎に選別すれば、粗調整の充分でない機械共振
子を直ちに識別し、再度粗調整することができ
る。また過度に粗調整しそのため目標周波数より
高い共振周波数を有する機械共振子を識別するこ
ともできる。従つて最早微調整不能な機械共振子
又は粗調整の不充分な機械共振子を微調整装置に
送らないようにすることができるので、微調整装
置の負荷を軽減することができる。またこのよう
にすれば不良品を減らし、微調整容量を増すこと
ができる。
数毎に選別すれば、粗調整の充分でない機械共振
子を直ちに識別し、再度粗調整することができ
る。また過度に粗調整しそのため目標周波数より
高い共振周波数を有する機械共振子を識別するこ
ともできる。従つて最早微調整不能な機械共振子
又は粗調整の不充分な機械共振子を微調整装置に
送らないようにすることができるので、微調整装
置の負荷を軽減することができる。またこのよう
にすれば不良品を減らし、微調整容量を増すこと
ができる。
例えば互いに接近した相異る共振周波数の機械
共振子を連続的に製造する場合には、機械共振子
を、一緒に粗調整した後共振周波数毎に複数のグ
ループに選別し、その後微調整する。従つて正確
に粗調整された機械共振子を微調整装置に送るこ
とができる。それ故個々の微調整の所要時間を短
縮し、微調整容量を増すことができる。
共振子を連続的に製造する場合には、機械共振子
を、一緒に粗調整した後共振周波数毎に複数のグ
ループに選別し、その後微調整する。従つて正確
に粗調整された機械共振子を微調整装置に送るこ
とができる。それ故個々の微調整の所要時間を短
縮し、微調整容量を増すことができる。
次に本発明の方法を実施した装置の実施例につ
いて図面により詳細に説明する。
いて図面により詳細に説明する。
図は本発明の装置の実施例を示す。図に示す選
別装置の主要部は、中央制御装置1と基板2と案
内レール4と個別ステーシヨン5と磁化ステーシ
ヨン6と測定ステーシヨン8と分配ステーシヨン
9とから成る。基板2には、選別すべき機械共振
子を案内するためのバイブレータ装置3が固定さ
れる。バイブレータ装置3の吐出し側には案内レ
ール4が連結される。機械共振子は、案内レール
4を介して個別化ステーシヨン5と磁化ステーシ
ヨン6と測定ステーシヨン8と分配ステーシヨン
9に供給される。
別装置の主要部は、中央制御装置1と基板2と案
内レール4と個別ステーシヨン5と磁化ステーシ
ヨン6と測定ステーシヨン8と分配ステーシヨン
9とから成る。基板2には、選別すべき機械共振
子を案内するためのバイブレータ装置3が固定さ
れる。バイブレータ装置3の吐出し側には案内レ
ール4が連結される。機械共振子は、案内レール
4を介して個別化ステーシヨン5と磁化ステーシ
ヨン6と測定ステーシヨン8と分配ステーシヨン
9に供給される。
バイブレータ装置3としては市販の搬送・選別
装置「ソルテイマート」が使用される。この型の
バイブレータ装置の主要部は、電磁式バイブレー
タを具備するバイブレータ基体と選別容器と独立
に設けられた制御装置から成る。この制御装置を
用いて機械共振子の送り速度を制御することがで
きる。
装置「ソルテイマート」が使用される。この型の
バイブレータ装置の主要部は、電磁式バイブレー
タを具備するバイブレータ基体と選別容器と独立
に設けられた制御装置から成る。この制御装置を
用いて機械共振子の送り速度を制御することがで
きる。
バイブレータ装置3の選別容器から研削された
壁部により下方向における所定方向に送出された
機械共振子100,101は、適当な案内レール
4から成るシユートを介して連続して個別化ステ
ーシヨン5に供給される。機械共振子100,1
01の流れは個別化ステーシヨン5で一旦止ま
る。そして中央制御装置1で形成されるクロツク
に応じて個別化され、個別化ステーシヨン5から
送出される。個別化ステーシヨン5は旋回磁石1
2と棒状レバー7と保持ピン11,13から成
る。レバー7は旋回磁石12の旋回軸に対し半径
方向に配置され、旋回磁石12により旋回可能で
ある。保持ピン11,13はそれぞれレバー7の
相対向する端部の側に設けられ、案内路に挿入さ
れる。レバー7の個々の端部の側の保持ピン1
1,13の端部には切欠部が形成される。これら
の切欠部にはレバー7の端部がそれぞれ係合す
る。従つて保持ピン11,13は、レバー7の旋
回により制御され、軸線方向に可動である。
壁部により下方向における所定方向に送出された
機械共振子100,101は、適当な案内レール
4から成るシユートを介して連続して個別化ステ
ーシヨン5に供給される。機械共振子100,1
01の流れは個別化ステーシヨン5で一旦止ま
る。そして中央制御装置1で形成されるクロツク
に応じて個別化され、個別化ステーシヨン5から
送出される。個別化ステーシヨン5は旋回磁石1
2と棒状レバー7と保持ピン11,13から成
る。レバー7は旋回磁石12の旋回軸に対し半径
方向に配置され、旋回磁石12により旋回可能で
ある。保持ピン11,13はそれぞれレバー7の
相対向する端部の側に設けられ、案内路に挿入さ
れる。レバー7の個々の端部の側の保持ピン1
1,13の端部には切欠部が形成される。これら
の切欠部にはレバー7の端部がそれぞれ係合す
る。従つて保持ピン11,13は、レバー7の旋
回により制御され、軸線方向に可動である。
個別化ステーシヨン5が初期位置にある際、第
1の保持ピン11の一端は、案内レール4の切欠
部を介して機械共振子の搬送路に挿入される。従
つてシユートは保持ピン11により遮断される。
次いで旋回磁石12が電流パルスにより操作され
る。その際保持ピン11はレバー7により持ち上
げられ、保持ピン11により保持されていた機械
共振子29は個別に釈放される。保持されていた
機械共振子29が釈放される直前に、第2の保持
ピン13がレバー7により案内レール4の第2の
切欠部に挿入される。そして保持ピン13の端部
により後続の機械共振子30が保持される。第1
の保持ピン11が初期位置に戻ると、直ちに第2
の保持ピン13が持ち上げられる。次いで後続の
機械共振子30が第1の保持ピン11に当接する
位置まで進む。
1の保持ピン11の一端は、案内レール4の切欠
部を介して機械共振子の搬送路に挿入される。従
つてシユートは保持ピン11により遮断される。
次いで旋回磁石12が電流パルスにより操作され
る。その際保持ピン11はレバー7により持ち上
げられ、保持ピン11により保持されていた機械
共振子29は個別に釈放される。保持されていた
機械共振子29が釈放される直前に、第2の保持
ピン13がレバー7により案内レール4の第2の
切欠部に挿入される。そして保持ピン13の端部
により後続の機械共振子30が保持される。第1
の保持ピン11が初期位置に戻ると、直ちに第2
の保持ピン13が持ち上げられる。次いで後続の
機械共振子30が第1の保持ピン11に当接する
位置まで進む。
個別化ステーシヨン5には磁化ステーシヨン6
が後置して設けられる。磁化ステーシヨン6は中
央制御装置1により制御される。磁化ステーシヨ
ン6に個別に送られる機械共振子は磁化ステーシ
ヨン6において可動な保持ピン14により保持さ
れる。保持ピン14は制御磁石141により制御
され、案内レール4から成るシユートを開放・遮
断する。磁化ステーシヨン6は絶縁された2つの
接触ピン15を有する。磁化電流は2つの接触ピ
ン15を介して流れる。接触ピン15はそれぞれ
旋回磁石31により操作され、保持ピン14によ
り保持される機械共振子に当接する。所定方向に
電子制御可能な磁化電流を流して磁化した後、保
持ピン14は制御磁石141により原位置に復帰
する。そして機械共振子は、測定ステーシヨン8
に前置して設けられた待機ステーシヨン16に送
られる。
が後置して設けられる。磁化ステーシヨン6は中
央制御装置1により制御される。磁化ステーシヨ
ン6に個別に送られる機械共振子は磁化ステーシ
ヨン6において可動な保持ピン14により保持さ
れる。保持ピン14は制御磁石141により制御
され、案内レール4から成るシユートを開放・遮
断する。磁化ステーシヨン6は絶縁された2つの
接触ピン15を有する。磁化電流は2つの接触ピ
ン15を介して流れる。接触ピン15はそれぞれ
旋回磁石31により操作され、保持ピン14によ
り保持される機械共振子に当接する。所定方向に
電子制御可能な磁化電流を流して磁化した後、保
持ピン14は制御磁石141により原位置に復帰
する。そして機械共振子は、測定ステーシヨン8
に前置して設けられた待機ステーシヨン16に送
られる。
待機ステーシヨン16は、案内レール4の水平
方向に延在する終端領域に設けられる。待機ステ
ーシヨン16は機械共振子を測定ステーシヨン8
に円滑に供給する働きをする。待機ステーシヨン
16は終端ストツパとはね返り防止部材18と送
り装置181から成る。終端ストツパは阻止ピン
17から成る。阻止ピン17の挿入は可制御であ
る。はね返り防止部材18には爪が設けられる。
送り装置181は旋回磁石19と旋回磁石19に
連結された送りレバー191から成る。機械共振
子が待機ステーシヨン16に供給される際、はね
返り防止部材18の爪が機械共振子により持ち上
げられる。そして機械共振子が通過すると、板ば
ねの作用により爪は原位置に戻る。このようにす
れば、機械共振子のはね返りを防止することがで
きる。
方向に延在する終端領域に設けられる。待機ステ
ーシヨン16は機械共振子を測定ステーシヨン8
に円滑に供給する働きをする。待機ステーシヨン
16は終端ストツパとはね返り防止部材18と送
り装置181から成る。終端ストツパは阻止ピン
17から成る。阻止ピン17の挿入は可制御であ
る。はね返り防止部材18には爪が設けられる。
送り装置181は旋回磁石19と旋回磁石19に
連結された送りレバー191から成る。機械共振
子が待機ステーシヨン16に供給される際、はね
返り防止部材18の爪が機械共振子により持ち上
げられる。そして機械共振子が通過すると、板ば
ねの作用により爪は原位置に戻る。このようにす
れば、機械共振子のはね返りを防止することがで
きる。
測定ステーシヨン8はシユート21と2本のプ
ラスチツク線22とエゼクタ24と励振コイルと
マイクロホン26から成る。シユート21は垂直
方向に可動であり、ストツパ23を有する。エゼ
クタ24には送りレバーが設けられる。シユート
21は垂直方向案内機構により案内され、旋回磁
石により駆動される偏心板32の上側に配置され
る。
ラスチツク線22とエゼクタ24と励振コイルと
マイクロホン26から成る。シユート21は垂直
方向に可動であり、ストツパ23を有する。エゼ
クタ24には送りレバーが設けられる。シユート
21は垂直方向案内機構により案内され、旋回磁
石により駆動される偏心板32の上側に配置され
る。
機械共振子が測定ステーシヨン8に供給される
際、阻止ピン17は制御装置1のクロツクに応じ
て制御磁石により操作され、後退する。またシユ
ート21は待機ステーシヨン16と同じ高さの位
置まで移動する。そして送り装置181が働く。
機械共振子は送り装置181により測定ステーシ
ヨン8のシユート21に送られ、終端ストツパ2
3に当接する。その際送りレバー191は数ミリ
秒間その位置にとどまるので、機械共振子の動き
はとまり安定する。送りレバー191が原位置に
戻ると、阻止ピン17は案内レール4の案内路を
遮断する。
際、阻止ピン17は制御装置1のクロツクに応じ
て制御磁石により操作され、後退する。またシユ
ート21は待機ステーシヨン16と同じ高さの位
置まで移動する。そして送り装置181が働く。
機械共振子は送り装置181により測定ステーシ
ヨン8のシユート21に送られ、終端ストツパ2
3に当接する。その際送りレバー191は数ミリ
秒間その位置にとどまるので、機械共振子の動き
はとまり安定する。送りレバー191が原位置に
戻ると、阻止ピン17は案内レール4の案内路を
遮断する。
可動シユート21には垂直方向の2つのスリツ
ト28が設けられる。スリツト28は上方向に向
かつて開口しかつ機械共振子の送り方向に対し垂
直方向に延在する。スリツト28は更に、ストツ
パ23に当接する機械共振子20の振動節点の下
側に配置される。シユート21を持ち上げる際、
2本のプラスチツク線22はスリツト28を通る。
プラスチツク線22は測定ステーシヨン8の2つ
の固定点間に水平に張つてある。シユート21を
持ち上げた状態では、プラスチツク線22は終端
ストツパ23に当接する機械共振子20の直下に
位置する。そこでシユート21を下降させると、
機械共振子20の振動節点がプラスチツク線22
の上にのる。このようにすれば、副共振による測
定上の障害を防止し、振動の減衰を低減すること
ができる。
ト28が設けられる。スリツト28は上方向に向
かつて開口しかつ機械共振子の送り方向に対し垂
直方向に延在する。スリツト28は更に、ストツ
パ23に当接する機械共振子20の振動節点の下
側に配置される。シユート21を持ち上げる際、
2本のプラスチツク線22はスリツト28を通る。
プラスチツク線22は測定ステーシヨン8の2つ
の固定点間に水平に張つてある。シユート21を
持ち上げた状態では、プラスチツク線22は終端
ストツパ23に当接する機械共振子20の直下に
位置する。そこでシユート21を下降させると、
機械共振子20の振動節点がプラスチツク線22
の上にのる。このようにすれば、副共振による測
定上の障害を防止し、振動の減衰を低減すること
ができる。
次に測定について説明する。機械共振子20は
励磁コイル25により励振され、固有周波数の振
動をする。この振動はマイクロホン26により検
出される。この検出は、第1図の実施例の場合に
は、約40msの間続けられる。そして検出値は制
御装置1に供給され、制御装置1でセツトされた
所定周波数領域の限界値と比較される。この比較
結果に応じて分配ステーシヨン9の制御信号Sが
制御装置1から送出される。
励磁コイル25により励振され、固有周波数の振
動をする。この振動はマイクロホン26により検
出される。この検出は、第1図の実施例の場合に
は、約40msの間続けられる。そして検出値は制
御装置1に供給され、制御装置1でセツトされた
所定周波数領域の限界値と比較される。この比較
結果に応じて分配ステーシヨン9の制御信号Sが
制御装置1から送出される。
測定が終ると、機械共振子20はエゼクタ24
により分配ステーシヨン9に供給される。エゼク
タ24には旋回レバーが設けられる。分配ステー
シヨン9は制御装置1により制御される。分配ス
テーシヨン9には分配レール91と捕捉容器10
が設けられる。分配レール91には可制御の分配
フラツプ板27が設けられる。捕捉容器10は
個々の分配フラツプ板27に配属される。測定の
終つた機械共振子が分配ステーシヨン9に供給さ
れる間に、中央制御装置1からの相応の制御信号
Sが分配ステーシヨン9に供給される。この制御
信号Sに応じて相応の分配フラツプ板27が操作
される。そして測定の終つた機械共振子は、測定
により確認された周波数領域に相応する捕捉容器
10に送られる。
により分配ステーシヨン9に供給される。エゼク
タ24には旋回レバーが設けられる。分配ステー
シヨン9は制御装置1により制御される。分配ス
テーシヨン9には分配レール91と捕捉容器10
が設けられる。分配レール91には可制御の分配
フラツプ板27が設けられる。捕捉容器10は
個々の分配フラツプ板27に配属される。測定の
終つた機械共振子が分配ステーシヨン9に供給さ
れる間に、中央制御装置1からの相応の制御信号
Sが分配ステーシヨン9に供給される。この制御
信号Sに応じて相応の分配フラツプ板27が操作
される。そして測定の終つた機械共振子は、測定
により確認された周波数領域に相応する捕捉容器
10に送られる。
図は本発明の方法を実施する装置の実施例の略
図である。 1……中央制御装置、2……基板、3……バイ
ブレータ装置、4……案内レール、5……個別化
ステーシヨン、6……磁化ステーシヨン、7……
棒状レバー、8……測定ステーシヨン、9……分
配ステーシヨン、100,101……機械ステー
シヨン、11,13……保持ピン、12……旋回
磁石、14……保持ピン、15……接触ピン、1
6……待機ステーシヨン、17……阻止ピン、1
8……はね返り防止部材、21……シユート、2
2……プラスチツク線、23……ストツパ、24
……エゼクタ、26……マイクロホン、28……
スリツト、29,30……機械共振子、19,3
1……旋回磁石、32……偏心板、141……制
御磁石、181……送り装置、191……送りレ
バー。
図である。 1……中央制御装置、2……基板、3……バイ
ブレータ装置、4……案内レール、5……個別化
ステーシヨン、6……磁化ステーシヨン、7……
棒状レバー、8……測定ステーシヨン、9……分
配ステーシヨン、100,101……機械ステー
シヨン、11,13……保持ピン、12……旋回
磁石、14……保持ピン、15……接触ピン、1
6……待機ステーシヨン、17……阻止ピン、1
8……はね返り防止部材、21……シユート、2
2……プラスチツク線、23……ストツパ、24
……エゼクタ、26……マイクロホン、28……
スリツト、29,30……機械共振子、19,3
1……旋回磁石、32……偏心板、141……制
御磁石、181……送り装置、191……送りレ
バー。
Claims (1)
- 1 磁化ステーシヨンと、バイブレータ装置とバ
イブレータ装置の吐出し側に接続されている案内
レールとから構成されている装入装置とを含み、
棒状で磁性材から構成されている機械共振子を予
め設定された周波数範囲における固有振動周波数
に応じて選別する装置において、中央制御装置1
が設けられており、案内レール4が搬送路中に個
別化ステーシヨン5及び磁化ステーシヨン6を有
し、この磁化ステーシヨン6において共振子がク
ロツクに応じて1つ1つ導かれまた静止の際制御
直流電流パルスにより磁化され、案内レールの終
端部において挿入制御可能な阻止ピン17により
閉じられており、またはね返り防止部材18及び
制御送り装置181により共振子を測定ステーシ
ヨン8に供給するための待機ステーシヨン16が
形成され、測定ステーシヨン8が、測定すべき共
振子のために減衰の少ない支持装置、共振子の機
械振動励振用の励振コイル25、共振子の固有周
波数を測定するマイクロホン26及び送りレバを
有するエゼクタ24を有しておりまた中央制御装
置1に接続されており、この中央制御装置1によ
り固有周波数の測定値が予め設定された周波数範
囲の限界周波と比較され、比較結果から相応する
制御信号Sが分配ステーシヨン9に対して発生さ
れ、分配ステーシヨン9は測定された共振子に対
する可制御分配フラツプ板27とを備えた分配レ
ール及び分配フラツプ板に所属の個々の捕捉容器
10とを有することを特徴とする機械共振子選別
装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2504034A DE2504034C3 (de) | 1975-01-31 | 1975-01-31 | Vorrichtung zum Sortieren von mechanischen Resonatoren nach ihrer Eigenfrequenz |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56166430A JPS56166430A (en) | 1981-12-21 |
JPS6160610B2 true JPS6160610B2 (ja) | 1986-12-22 |
Family
ID=5937780
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1092881A Granted JPS56166430A (en) | 1975-01-31 | 1981-01-29 | Selection of mechanical resonator according to proper vibration frequency |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56166430A (ja) |
AT (1) | AT345349B (ja) |
CA (1) | CA1023701A (ja) |
DE (1) | DE2504034C3 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5669912A (en) * | 1979-10-23 | 1981-06-11 | Fujitsu Ltd | Automatic adjusting method for frequency of mechanical resonator |
-
1975
- 1975-01-31 DE DE2504034A patent/DE2504034C3/de not_active Expired
- 1975-12-16 AT AT954275A patent/AT345349B/de not_active IP Right Cessation
- 1975-12-18 CA CA242,048A patent/CA1023701A/en not_active Expired
-
1981
- 1981-01-29 JP JP1092881A patent/JPS56166430A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2504034C3 (de) | 1979-02-08 |
CA1023701A (en) | 1978-01-03 |
JPS56166430A (en) | 1981-12-21 |
DE2504034A1 (de) | 1976-08-05 |
DE2504034B2 (de) | 1978-06-01 |
AT345349B (de) | 1978-09-11 |
ATA954275A (de) | 1978-01-15 |
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