JPS6158919B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6158919B2 JPS6158919B2 JP54072980A JP7298079A JPS6158919B2 JP S6158919 B2 JPS6158919 B2 JP S6158919B2 JP 54072980 A JP54072980 A JP 54072980A JP 7298079 A JP7298079 A JP 7298079A JP S6158919 B2 JPS6158919 B2 JP S6158919B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- loop
- bubbles
- chip
- minor
- minor loop
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 11
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 241001347978 Major minor Species 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はメジヤーマイナーループ方式の磁気バ
ブルメモリチツプの検査方法の改良に関する。
ブルメモリチツプの検査方法の改良に関する。
一般に磁性薄膜は面内方向に磁区の磁化容易軸
を持つているが、ある種の磁性薄膜、例えばオル
ソフエライトや磁性ガーネツト等においては磁区
が垂直な磁化容易軸を持つている。この薄膜に垂
直方向の磁界を加えていくと、ある磁界の強さで
円筒磁区（バブルドメイン）となる。このバブル
ドメインは直径が数μｍ以下であり磁界の勾配に
より磁性薄膜内を自由に動かすことができること
から、このバブルドメインをメモリ素子として利
用したのが磁気バブルメモリ装置である。第１図
にこの磁気バブルメモリ装置の１例を示す。これ
について簡単に説明するとチツプ１は絶縁基板２
の上に搭載され、その周囲にはチツプに水平な回
転磁界を与えるための駆動コイル３および４が直
交して設けられ、その上下にはチツプ１にバイア
ス磁界を印加する永久磁石５および６と整磁板７
および８が設けられ、さらに全体がヨークを兼ね
た磁気シールドケース９に装入されている。また
第２図はチツプ１の構成図を示したもので、Ｔバ
ーあるいはハーフデイスクと称されるパーマロイ
パターンを行列させて形成した情報蓄積用のマイ
ナーループ１０と、このマイナーループに情報を
伝播するメジヤーループ１１が設けられ、メジヤ
ーループ１１にはバブルの発生器１２、検出器１
３、消去器１４が設けられ、メジヤーループ１１
とマイナーループ１０との間にはトランスフアゲ
ート１５が設けられている。このようなチツプは
第３図に示すようなメモリ特性をもつている。即
ち図の如く縦軸にバイアス磁界ＨB、横軸に回転
磁界ＨDをとつたとき、メモリ可能範囲は曲線１
６で囲まれた範囲（ハツチングを入れて示す）と
なる。この曲線１６の上側より上方の領域ではバ
ブルが消失し、下側より下方の領域ではバブルが
増える傾向にある。従つてメモリチツプとしては
上下限の幅の広い方が好ましいことになる。従つ
てこの特性は従来より検査されているが、その方
法は第３図のＡ，Ｂ点等においてバイアス磁界Ｈ
Bの強さを変化させ、マイナーループへの書込み
データと読出しデータとを照合して行なわれてい
る。ところがこの検査方法はマイナーループへ情
報を書き込んだのち全ビツトの読出しを順次行な
うため検査所要時間が大となる欠点がある。本発
明はこの欠点を改良するために案出されたもので
ある。
を持つているが、ある種の磁性薄膜、例えばオル
ソフエライトや磁性ガーネツト等においては磁区
が垂直な磁化容易軸を持つている。この薄膜に垂
直方向の磁界を加えていくと、ある磁界の強さで
円筒磁区（バブルドメイン）となる。このバブル
ドメインは直径が数μｍ以下であり磁界の勾配に
より磁性薄膜内を自由に動かすことができること
から、このバブルドメインをメモリ素子として利
用したのが磁気バブルメモリ装置である。第１図
にこの磁気バブルメモリ装置の１例を示す。これ
について簡単に説明するとチツプ１は絶縁基板２
の上に搭載され、その周囲にはチツプに水平な回
転磁界を与えるための駆動コイル３および４が直
交して設けられ、その上下にはチツプ１にバイア
ス磁界を印加する永久磁石５および６と整磁板７
および８が設けられ、さらに全体がヨークを兼ね
た磁気シールドケース９に装入されている。また
第２図はチツプ１の構成図を示したもので、Ｔバ
ーあるいはハーフデイスクと称されるパーマロイ
パターンを行列させて形成した情報蓄積用のマイ
ナーループ１０と、このマイナーループに情報を
伝播するメジヤーループ１１が設けられ、メジヤ
ーループ１１にはバブルの発生器１２、検出器１
３、消去器１４が設けられ、メジヤーループ１１
とマイナーループ１０との間にはトランスフアゲ
ート１５が設けられている。このようなチツプは
第３図に示すようなメモリ特性をもつている。即
ち図の如く縦軸にバイアス磁界ＨB、横軸に回転
磁界ＨDをとつたとき、メモリ可能範囲は曲線１
６で囲まれた範囲（ハツチングを入れて示す）と
なる。この曲線１６の上側より上方の領域ではバ
ブルが消失し、下側より下方の領域ではバブルが
増える傾向にある。従つてメモリチツプとしては
上下限の幅の広い方が好ましいことになる。従つ
てこの特性は従来より検査されているが、その方
法は第３図のＡ，Ｂ点等においてバイアス磁界Ｈ
Bの強さを変化させ、マイナーループへの書込み
データと読出しデータとを照合して行なわれてい
る。ところがこの検査方法はマイナーループへ情
報を書き込んだのち全ビツトの読出しを順次行な
うため検査所要時間が大となる欠点がある。本発
明はこの欠点を改良するために案出されたもので
ある。
このため本発明においては、メジヤーループと
複数個のマイナーループとを有するチツプに情報
を書き込み、その書込データと読出しデータとを
照合するメジヤーマイナーループ方式の磁気バブ
ルメモリの検査方法において、前記書込データは
マイナーループのビツト数の５％以下の“１”バ
ブルを適当な間隔をあけて書き込み、読み出しは
該“１”バブルを全べて読み出し、次いでトラン
スフアーゲートを連続的に動作させて“０”バブ
ルを読み出すことを特徴とするものである。
複数個のマイナーループとを有するチツプに情報
を書き込み、その書込データと読出しデータとを
照合するメジヤーマイナーループ方式の磁気バブ
ルメモリの検査方法において、前記書込データは
マイナーループのビツト数の５％以下の“１”バ
ブルを適当な間隔をあけて書き込み、読み出しは
該“１”バブルを全べて読み出し、次いでトラン
スフアーゲートを連続的に動作させて“０”バブ
ルを読み出すことを特徴とするものである。
以下添付図面に基づいて本発明の実施例につき
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第４図に実施例を示す。これは第２図と同様に
構成されたチツプであつて、１０はマイナールー
プ、１１はメジヤーループ、１２はバブル発生
器、１３は検出器、１４は消去器、１５はトラン
スフアゲートである。本検査方法は図の如くマイ
ナーループ１０にそのビツト数の５％以下の
“１”バブル１７-1，１７-2，１７-3，１７-4を適
当の間隔を離して書き込み、読み出す場合には先
ずこの“１”バブル１７-1，１７-2，１７-3，１
７-4を読み出し、次いでトランスフアゲートを連
続動作させて“０”バブルを読み出す。読み出さ
れた“１”バブルと“０”バブルは書込データと
比較照合されて誤りの有無を検査されるのであ
る。このように本発明方法は“０”バブルを読出
すときトランスフアゲートを連続的に動作せしめ
ることができるので検査時間の短縮が可能となる
のである。
構成されたチツプであつて、１０はマイナールー
プ、１１はメジヤーループ、１２はバブル発生
器、１３は検出器、１４は消去器、１５はトラン
スフアゲートである。本検査方法は図の如くマイ
ナーループ１０にそのビツト数の５％以下の
“１”バブル１７-1，１７-2，１７-3，１７-4を適
当の間隔を離して書き込み、読み出す場合には先
ずこの“１”バブル１７-1，１７-2，１７-3，１
７-4を読み出し、次いでトランスフアゲートを連
続動作させて“０”バブルを読み出す。読み出さ
れた“１”バブルと“０”バブルは書込データと
比較照合されて誤りの有無を検査されるのであ
る。このように本発明方法は“０”バブルを読出
すときトランスフアゲートを連続的に動作せしめ
ることができるので検査時間の短縮が可能となる
のである。
次に１例としてマイナーループ数142、マイナ
ーループのビツト数587のメモリチツプについて
従来の検査方法と本発明の検査方法による読み出
し時間を比較して見る。ただしメジヤーループに
は接続されたマイナーループ間に１ビツトのあき
があるものとし、また１ビツトの転送所要時間は
10μｓとする。
ーループのビツト数587のメモリチツプについて
従来の検査方法と本発明の検査方法による読み出
し時間を比較して見る。ただしメジヤーループに
は接続されたマイナーループ間に１ビツトのあき
があるものとし、また１ビツトの転送所要時間は
10μｓとする。
従来の検査方法では各マイナーループの１ビツ
トはトランスフアーゲートの動作により一斉にメ
ジヤーループに移され、それが順次検査器によつ
て読み出される。従つて次の各マイナーループの
１ビツトは142×２ビツト目にトランスフアーゲ
ートを開いてメジヤーループに移される。このよ
うにして全ビツトを読み出すには 142×２×587×10μｓ≒1.67秒を要する。
トはトランスフアーゲートの動作により一斉にメ
ジヤーループに移され、それが順次検査器によつ
て読み出される。従つて次の各マイナーループの
１ビツトは142×２ビツト目にトランスフアーゲ
ートを開いてメジヤーループに移される。このよ
うにして全ビツトを読み出すには 142×２×587×10μｓ≒1.67秒を要する。
これに対し本発明方法によれば、最初の“１”
バブルの書込みをマイナーループのビツト数の５
％として30ビツトとすれば、この30ビツトの読出
しは 142×２×30×10μｓ≒0.085秒となり、
“０”バブルの読出しはトランスフアーゲートを
連続して動作することができるため、（570−30）
×10μｓ≒0.005秒となり、合計0.085＋0.005＝
0.09秒となる。
バブルの書込みをマイナーループのビツト数の５
％として30ビツトとすれば、この30ビツトの読出
しは 142×２×30×10μｓ≒0.085秒となり、
“０”バブルの読出しはトランスフアーゲートを
連続して動作することができるため、（570−30）
×10μｓ≒0.005秒となり、合計0.085＋0.005＝
0.09秒となる。
以上は１回の所要時間であるが１枚のチツプを
検査するには、第３図のＡ，Ｂ点で夫々30回程度
の測定を必要とするため従来方法では1.67×60≒
100秒となり、本発明方法では、0.09×60＝5.4秒
となる。このように本発明方法の検査所要時間は
従来方法に比して著しく短縮される。
検査するには、第３図のＡ，Ｂ点で夫々30回程度
の測定を必要とするため従来方法では1.67×60≒
100秒となり、本発明方法では、0.09×60＝5.4秒
となる。このように本発明方法の検査所要時間は
従来方法に比して著しく短縮される。
なお本検査方法は“０”バブルの多い情報パタ
ーンが最悪であるバイアス磁界の低い場合、即ち
第３図に示すメモリ特性の下限を検査する場合に
特に有効である。
ーンが最悪であるバイアス磁界の低い場合、即ち
第３図に示すメモリ特性の下限を検査する場合に
特に有効である。
第１図は磁気バブルメモリ装置の１例の斜視
図、第２図はメジヤーマイナーループ方式のチツ
プの構成図、第３図はそのメモリ特性図、第４図
は本発明方法の実施例の説明図である。 １……チツプ、１０……マイナーループ、１１
……メジヤーループ、１２……バブル発生器、１
３……検出器、１４……消去器、１５……トラン
スフアゲート、１７-1，１７-2，１７-3，１７-4
……“１”バブル。
図、第２図はメジヤーマイナーループ方式のチツ
プの構成図、第３図はそのメモリ特性図、第４図
は本発明方法の実施例の説明図である。 １……チツプ、１０……マイナーループ、１１
……メジヤーループ、１２……バブル発生器、１
３……検出器、１４……消去器、１５……トラン
スフアゲート、１７-1，１７-2，１７-3，１７-4
……“１”バブル。
Claims (1)
- １ メジヤーループと複数個のマイナーループと
を有するチツプに情報を書き込み、その書込デー
タと読出しデータとを照合するメジヤーマイナー
ループ方式の磁気バブルメモリチツプの検査方法
において、前記書込データはマイナーループのビ
ツト数の５％以下の“１”バブルを適当な間隔を
あけて書き込み、読み出しは該“１”バブルを全
べて読み出し、次いでトランスフアーゲートを連
続的に動作させて“０”バブルを読み出すことを
特徴とする磁気バブルメモリ検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7298079A JPS5684A (en) | 1979-06-12 | 1979-06-12 | Inspection method of magnetic bubble memory |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7298079A JPS5684A (en) | 1979-06-12 | 1979-06-12 | Inspection method of magnetic bubble memory |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5684A JPS5684A (en) | 1981-01-06 |
| JPS6158919B2 true JPS6158919B2 (ja) | 1986-12-13 |
Family
ID=13505036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7298079A Granted JPS5684A (en) | 1979-06-12 | 1979-06-12 | Inspection method of magnetic bubble memory |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5684A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4709150A (en) * | 1986-03-18 | 1987-11-24 | Burough Irvin G | Method and apparatus for detecting gas |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5341950A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-15 | Fujitsu Ltd | Stability continuous testing method for bubble information |
| JPS5342632A (en) * | 1976-09-30 | 1978-04-18 | Fujitsu Ltd | Stability continous test method of bubble information |
| JPS5352373A (en) * | 1976-10-25 | 1978-05-12 | Agency Of Ind Science & Technol | Automatic insepctor of shift register type memory chips of major-minor loop system |
| JPS5451428A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Hitachi Ltd | Test method for magnetic bubble memory |
-
1979
- 1979-06-12 JP JP7298079A patent/JPS5684A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5341950A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-15 | Fujitsu Ltd | Stability continuous testing method for bubble information |
| JPS5342632A (en) * | 1976-09-30 | 1978-04-18 | Fujitsu Ltd | Stability continous test method of bubble information |
| JPS5352373A (en) * | 1976-10-25 | 1978-05-12 | Agency Of Ind Science & Technol | Automatic insepctor of shift register type memory chips of major-minor loop system |
| JPS5451428A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Hitachi Ltd | Test method for magnetic bubble memory |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5684A (en) | 1981-01-06 |
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