JPS6138250B2 - - Google Patents
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- JPS6138250B2 JPS6138250B2 JP2717981A JP2717981A JPS6138250B2 JP S6138250 B2 JPS6138250 B2 JP S6138250B2 JP 2717981 A JP2717981 A JP 2717981A JP 2717981 A JP2717981 A JP 2717981A JP S6138250 B2 JPS6138250 B2 JP S6138250B2
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- Japan
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- slag
- microwave
- reflectance
- converter
- blowing
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は鋼の精錬においてスラグの滓化状況を
経時的に検知する方法に関する。
経時的に検知する方法に関する。
精錬炉、例えば転炉における溶鋼の精錬は転炉
の炉口から炉内にランスを鉛直挿入し、該ランス
から純酸素ガスを溶鋼に吹付けて溶鋼を撹拌しつ
つ脱炭し又は炉底から酸素ガスを吹込むととも
に、更に転炉内に投入された造滓剤が滓化して生
成した溶融スラグとの反応によつて脱燐、脱硫作
用を営ませることにより行われる。従つてスラグ
の滓化状況の良否は精錬期間中の脱燐反応の進行
状況に大きく影響し、脱燐制御を適確に行うため
には、スラグの滓化制御を適正に行う必要があ
る。このため精錬期間中のスラグ滓化状況の経時
的且つ定量的検知が不可欠である。而して従来の
スラグ滓化検知はサブランスにより精錬期間中欠
的にスラグをサンプリングし、スラグ中の各成分
濃度、特にFeOの濃度を分析することによつて
FeO量の多少により滓化状況を検知する方法、及
び酸素吹錬中のランスの振動を計測し、スラグの
揺動による運動エネルギーをランスの振動エネル
ギーとして計測することにより滓化状況を間接的
に検知する方法等により行われていた。然るにこ
れらの方法は以下に示す如き難点を有する。即ち
前者は間欠的なデータしか得られず、またサンプ
ル彩取及びその後の分析にある程度の時間を要す
るため、得られたデータは精錬反応の進行に追随
し得ず時間に遅れが著しくて滓化制御時点のスラ
グ滓化状況を表していない等、この方法は燐濃度
のダイナミツク制御には適用し難い。後者は間接
的な滓化検知方法であるため検知精度が低く、特
にスラグ量を低く設定する転炉操業の場合及び複
合吹錬操業のように本来スラグ量が少い場合等に
おいてはランスとスラグとの接触がなくこの方法
ではスラグの滓化状況を検知し得ない。
の炉口から炉内にランスを鉛直挿入し、該ランス
から純酸素ガスを溶鋼に吹付けて溶鋼を撹拌しつ
つ脱炭し又は炉底から酸素ガスを吹込むととも
に、更に転炉内に投入された造滓剤が滓化して生
成した溶融スラグとの反応によつて脱燐、脱硫作
用を営ませることにより行われる。従つてスラグ
の滓化状況の良否は精錬期間中の脱燐反応の進行
状況に大きく影響し、脱燐制御を適確に行うため
には、スラグの滓化制御を適正に行う必要があ
る。このため精錬期間中のスラグ滓化状況の経時
的且つ定量的検知が不可欠である。而して従来の
スラグ滓化検知はサブランスにより精錬期間中欠
的にスラグをサンプリングし、スラグ中の各成分
濃度、特にFeOの濃度を分析することによつて
FeO量の多少により滓化状況を検知する方法、及
び酸素吹錬中のランスの振動を計測し、スラグの
揺動による運動エネルギーをランスの振動エネル
ギーとして計測することにより滓化状況を間接的
に検知する方法等により行われていた。然るにこ
れらの方法は以下に示す如き難点を有する。即ち
前者は間欠的なデータしか得られず、またサンプ
ル彩取及びその後の分析にある程度の時間を要す
るため、得られたデータは精錬反応の進行に追随
し得ず時間に遅れが著しくて滓化制御時点のスラ
グ滓化状況を表していない等、この方法は燐濃度
のダイナミツク制御には適用し難い。後者は間接
的な滓化検知方法であるため検知精度が低く、特
にスラグ量を低く設定する転炉操業の場合及び複
合吹錬操業のように本来スラグ量が少い場合等に
おいてはランスとスラグとの接触がなくこの方法
ではスラグの滓化状況を検知し得ない。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであ
つて、転炉精錬期間中に実時間で経時的にスラグ
の滓化状況を検知し得て、検知結果を燐濃度等の
ダイナミツク制御にも供し得、また複合吹錬等の
スラグ量が少い場合にも高精度で滓化状況を検知
し得る転炉精錬におけるスラグ滓化検知方法を提
供することを目的とする。
つて、転炉精錬期間中に実時間で経時的にスラグ
の滓化状況を検知し得て、検知結果を燐濃度等の
ダイナミツク制御にも供し得、また複合吹錬等の
スラグ量が少い場合にも高精度で滓化状況を検知
し得る転炉精錬におけるスラグ滓化検知方法を提
供することを目的とする。
本発明に係るスラグ滓化検知方法は、精練炉炉
口の上方に設置したアンテナからスラグに向けて
マイクロ波を投射し、またスラグからの反射波を
検出してスラグにおけるマイクロ波の反射率を測
定し、この測定結果に基いてスラグ滓化の状況を
検知することを特徴とする。なお本発明でいうマ
イクロ波とは1GHzから1000GHz程度までの電磁
波をいう。
口の上方に設置したアンテナからスラグに向けて
マイクロ波を投射し、またスラグからの反射波を
検出してスラグにおけるマイクロ波の反射率を測
定し、この測定結果に基いてスラグ滓化の状況を
検知することを特徴とする。なお本発明でいうマ
イクロ波とは1GHzから1000GHz程度までの電磁
波をいう。
以下本発明方法を図面に基いて具体的に説明す
る。第１図は本発明方法の実施状態を示す模式図
である。転炉１はその上部開口の炉口１ａから酸
素吹錬用のランス２が鉛直挿入され、また炉口上
方はフード５により覆われていて、転炉精錬にて
発生した廃ガスがフード５に案内されて廃ガス回
収システム等へ供給され、又はフード５から廃棄
されるようになつている。４は転炉精錬開始時に
転炉内に装入された溶銑及びスクラツプ等の主原
料がランス２からの酸素吹錬等により精錬されつ
つある溶鋼であり、３は酸素吹錬開始後転炉内に
投入された石灰石、生石灰、螢石等の造滓剤が滓
化して生成したスラグである。
る。第１図は本発明方法の実施状態を示す模式図
である。転炉１はその上部開口の炉口１ａから酸
素吹錬用のランス２が鉛直挿入され、また炉口上
方はフード５により覆われていて、転炉精錬にて
発生した廃ガスがフード５に案内されて廃ガス回
収システム等へ供給され、又はフード５から廃棄
されるようになつている。４は転炉精錬開始時に
転炉内に装入された溶銑及びスクラツプ等の主原
料がランス２からの酸素吹錬等により精錬されつ
つある溶鋼であり、３は酸素吹錬開始後転炉内に
投入された石灰石、生石灰、螢石等の造滓剤が滓
化して生成したスラグである。
而して本発明方法においては転炉炉口１ａの上
方にその送受信方向を鉛直下方として、スラグ３
に向けてマイクロ波を投射すべくアンテナ６を設
置する。このアンテナ６の設置は、例えば転炉開
口部の直上域におけるフード５に円筒状のジヤケ
ツト７をその軸方向を鉛直にして貫入設置し、ジ
ヤケツト７の上端にアンテナ６を取付けることに
より行う。なお転炉１からの火炎、粉塵、地金飛
散によるアンテナ６の損耗を防止し、また滓化検
知精度の悪化を回避するため、アンテナ６は水冷
構造とし、ジヤケツト７の内部はN2ガス等によ
りパージするのが好ましい。アンテナ６は図示し
ない導波管、マイクロ波回路１０を介してマイク
ロ波発生装置２０及び信号処理装置３０に接続さ
れており、マイクロ波発生装置２０から発せられ
たマイクロ波信号はアンテナ６から転炉内のスラ
グ３に向けてマイクロ波となつて投射され、スラ
グ３にて反射したマイクロ波はアンテナ６にて受
信され、マイクロ波回路１０にて投射波と反射波
との混合波が得られる。この混合波（うなり波）
に関する信号は信号処理装置３０に入力されてス
ラグ３におけるマイクロ波の反射率に相当する信
号が得られ、これに基いてスラグの滓化状況が検
知される。
方にその送受信方向を鉛直下方として、スラグ３
に向けてマイクロ波を投射すべくアンテナ６を設
置する。このアンテナ６の設置は、例えば転炉開
口部の直上域におけるフード５に円筒状のジヤケ
ツト７をその軸方向を鉛直にして貫入設置し、ジ
ヤケツト７の上端にアンテナ６を取付けることに
より行う。なお転炉１からの火炎、粉塵、地金飛
散によるアンテナ６の損耗を防止し、また滓化検
知精度の悪化を回避するため、アンテナ６は水冷
構造とし、ジヤケツト７の内部はN2ガス等によ
りパージするのが好ましい。アンテナ６は図示し
ない導波管、マイクロ波回路１０を介してマイク
ロ波発生装置２０及び信号処理装置３０に接続さ
れており、マイクロ波発生装置２０から発せられ
たマイクロ波信号はアンテナ６から転炉内のスラ
グ３に向けてマイクロ波となつて投射され、スラ
グ３にて反射したマイクロ波はアンテナ６にて受
信され、マイクロ波回路１０にて投射波と反射波
との混合波が得られる。この混合波（うなり波）
に関する信号は信号処理装置３０に入力されてス
ラグ３におけるマイクロ波の反射率に相当する信
号が得られ、これに基いてスラグの滓化状況が検
知される。
次に本発明方法による滓化状況の検知原理につ
いて説明する。アンテナ６からスラグ３に向けて
投射されたマイクロ波はスラグ３にて反射した後
アンテナ６に受信される。一般に物体に対して投
射されるマイクロ波を u1＝U1cos（ω1t） 但し、 U1：投射波振幅 ω１：投射波角周波数 ｔ：時間 と表わした場合、物体からの反射波u2は下記のよ
うに表わされる。
いて説明する。アンテナ６からスラグ３に向けて
投射されたマイクロ波はスラグ３にて反射した後
アンテナ６に受信される。一般に物体に対して投
射されるマイクロ波を u1＝U1cos（ω1t） 但し、 U1：投射波振幅 ω１：投射波角周波数 ｔ：時間 と表わした場合、物体からの反射波u2は下記のよ
うに表わされる。
u2＝U2cos（ω2t）
但し、
U2：反射波振幅
ω２：反射波角周波数
而して物体に対するマイクロ波の反射率ｋ＝
（u2／u1）が物体の凹凸等の表面状態並びに物体の
電気伝導度及び密度等の物性により変化するた
め、反射率ｋを捉えることによつて物体の表面状
態及び性状を検知することができる。ところで転
炉精錬の進行につれて溶鋼湯面上に浮遊している
スラグ３の量が増大し、スラグ３がフオーミング
（foaming）状態となりその表面が泡立つてきた
場合は、溶鋼と物性が異なるスラグの浴深さが増
加し、表面状態が変化するため、転炉内のスラグ
３の滓化状況もスラグ３にマイクロ波を投射して
スラグ３におけるマイクロ波の反射率ｋを測定す
ることによつて、滓化状況の進行を反射率ｋの減
少として検知することができる（第４図参照）。
本発明は上述の如き見地に立つてスラグにおける
マイクロ波反射率ｋとスラグ滓化状況との対応関
係を求めておき、例えばスラグ滓化状況の良否を
マイクロ波反射率が基準値（第４図の一点鎖線）
より低下するか否かで判定するものである。なお
この反射率ｋは前記混合波Ｐの振幅に比例する電
圧として捉えることができる。これは混合波Ｐは
投射波u1及び反射波u2から下記のように表わさ
れ、 Ｐ＝１／２｛Ｕ２ １＋Ｕ２ ２＋2U1U2cos（ω１−ω２）ｔ｝ 投射波u1の振幅U1が一定である場合は、混合波
Ｐの振幅U1U2が反射波u2の振幅U2に比例するの
で、反射率ｋは混合波Ｐの振幅に対応するからで
ある。
（u2／u1）が物体の凹凸等の表面状態並びに物体の
電気伝導度及び密度等の物性により変化するた
め、反射率ｋを捉えることによつて物体の表面状
態及び性状を検知することができる。ところで転
炉精錬の進行につれて溶鋼湯面上に浮遊している
スラグ３の量が増大し、スラグ３がフオーミング
（foaming）状態となりその表面が泡立つてきた
場合は、溶鋼と物性が異なるスラグの浴深さが増
加し、表面状態が変化するため、転炉内のスラグ
３の滓化状況もスラグ３にマイクロ波を投射して
スラグ３におけるマイクロ波の反射率ｋを測定す
ることによつて、滓化状況の進行を反射率ｋの減
少として検知することができる（第４図参照）。
本発明は上述の如き見地に立つてスラグにおける
マイクロ波反射率ｋとスラグ滓化状況との対応関
係を求めておき、例えばスラグ滓化状況の良否を
マイクロ波反射率が基準値（第４図の一点鎖線）
より低下するか否かで判定するものである。なお
この反射率ｋは前記混合波Ｐの振幅に比例する電
圧として捉えることができる。これは混合波Ｐは
投射波u1及び反射波u2から下記のように表わさ
れ、 Ｐ＝１／２｛Ｕ２ １＋Ｕ２ ２＋2U1U2cos（ω１−ω２）ｔ｝ 投射波u1の振幅U1が一定である場合は、混合波
Ｐの振幅U1U2が反射波u2の振幅U2に比例するの
で、反射率ｋは混合波Ｐの振幅に対応するからで
ある。
以下この反射率ｋを計測するためのマイクロ波
回路１０、マイクロ波発生装置２０及び信号処理
装置３０について更に具体的に説明する。第２図
はこれら電気回路系を模式的に示すブロツク図で
ある。周波数変調器２２からの変調信号を受けて
マイクロ波発振器２１が角周波数ω１（ω１／２
π＝１〜1000GHz）程度のマイクロ波信号を出
力し、このマイクロ波信号はマイクロ波回路１０
のマジツクＴ１１及びサーキユレータ１２を経て
アンテナ６に与えられ、アンテナ６からマイクロ
波が発せられる。そしてスラグ３からの反射波は
アンテナ６にて受信されこの反射波に係るマイク
ロ波信号はマイクロ波回路１０のサーキユレータ
１２に入力せしめられる。マイクロ波回路１０は
微弱な反射波信号を高感度で捉え得べく構成され
たものであつて、マジツクＴ１１、サーキユレー
タ１２、ミキサ−１３及び可変減衰器１４による
ブリツジ回路からなるものであり、ミキサ−１３
にて投射波信号と反射波信号とが混合され、混合
波信号が信号処理装置３０の前記増幅器３１に入
力される。混合波信号は前置増幅器３１にて増幅
された後フイルタ３２に入力せしめられ、ここで
直流分、即ち１／２（Ｕ２ １＋Ｕ２ ２）等が除去された
後波 形整形回路３３に入力せしめられる。波形整形回
路３３には変調発振器２２からマイクロ波の変調
信号も入力されており、混合波信号は波形整形回
路３３にて整流され、平滑化されてその振幅
U1U2に対応する電圧がレコーダ３４に出力され
記録される。この混合波信号の振幅U1U2は投射
波u1の振幅U1が一定である場合は反射率ｋに比
例するから、レコーダ３４に記録された混合波信
号の振幅電圧によつてマイクロ波のスラグ３にお
ける反射率ｋが捉えられる。
回路１０、マイクロ波発生装置２０及び信号処理
装置３０について更に具体的に説明する。第２図
はこれら電気回路系を模式的に示すブロツク図で
ある。周波数変調器２２からの変調信号を受けて
マイクロ波発振器２１が角周波数ω１（ω１／２
π＝１〜1000GHz）程度のマイクロ波信号を出
力し、このマイクロ波信号はマイクロ波回路１０
のマジツクＴ１１及びサーキユレータ１２を経て
アンテナ６に与えられ、アンテナ６からマイクロ
波が発せられる。そしてスラグ３からの反射波は
アンテナ６にて受信されこの反射波に係るマイク
ロ波信号はマイクロ波回路１０のサーキユレータ
１２に入力せしめられる。マイクロ波回路１０は
微弱な反射波信号を高感度で捉え得べく構成され
たものであつて、マジツクＴ１１、サーキユレー
タ１２、ミキサ−１３及び可変減衰器１４による
ブリツジ回路からなるものであり、ミキサ−１３
にて投射波信号と反射波信号とが混合され、混合
波信号が信号処理装置３０の前記増幅器３１に入
力される。混合波信号は前置増幅器３１にて増幅
された後フイルタ３２に入力せしめられ、ここで
直流分、即ち１／２（Ｕ２ １＋Ｕ２ ２）等が除去された
後波 形整形回路３３に入力せしめられる。波形整形回
路３３には変調発振器２２からマイクロ波の変調
信号も入力されており、混合波信号は波形整形回
路３３にて整流され、平滑化されてその振幅
U1U2に対応する電圧がレコーダ３４に出力され
記録される。この混合波信号の振幅U1U2は投射
波u1の振幅U1が一定である場合は反射率ｋに比
例するから、レコーダ３４に記録された混合波信
号の振幅電圧によつてマイクロ波のスラグ３にお
ける反射率ｋが捉えられる。
次に本発明方法を160T（トン）転炉に適用し
た場合の実施例について説明する。第３図は横軸
に吹錬時間を全吹錬期間に対する百分率で表して
とり、縦軸にマイクロ波反射率をとつて、吹錬期
間中のマイクロ波反射率の変化をチヤージ（実
線）及びチヤージ（破線）の２チヤージについ
て示したグラフである。チヤージはマイクロ波
反射率が吹錬の初期から減少傾向を示し、吹錬中
期以後は極めて低い値に安定しているのに対し、
チヤージはマイクロ波反射率の減少が少く、全
吹錬期間に亘り高値を保持している。而して従
来、スラグの滓化状況の判定指標とされていたス
ラグ中のT.Feの濃度（サブランス計測により間
欠的に測定される）は、チヤージについては吹
錬期間中高値を保持して滓化状況が良好であつた
が、チヤージはT.Fe濃度が低く滓化不良であ
つた。即ち反射率が低いチヤージはT.Fe濃度
が高く滓化良好、反射率が高いチヤージはT.
Fe濃度が低い滓化不良と、反射率と滓化状況と
の間には極めて良い対応関係が得られた。
た場合の実施例について説明する。第３図は横軸
に吹錬時間を全吹錬期間に対する百分率で表して
とり、縦軸にマイクロ波反射率をとつて、吹錬期
間中のマイクロ波反射率の変化をチヤージ（実
線）及びチヤージ（破線）の２チヤージについ
て示したグラフである。チヤージはマイクロ波
反射率が吹錬の初期から減少傾向を示し、吹錬中
期以後は極めて低い値に安定しているのに対し、
チヤージはマイクロ波反射率の減少が少く、全
吹錬期間に亘り高値を保持している。而して従
来、スラグの滓化状況の判定指標とされていたス
ラグ中のT.Feの濃度（サブランス計測により間
欠的に測定される）は、チヤージについては吹
錬期間中高値を保持して滓化状況が良好であつた
が、チヤージはT.Fe濃度が低く滓化不良であ
つた。即ち反射率が低いチヤージはT.Fe濃度
が高く滓化良好、反射率が高いチヤージはT.
Fe濃度が低い滓化不良と、反射率と滓化状況と
の間には極めて良い対応関係が得られた。
また第４図は横軸にマイクロ波反射率をとり、
縦軸にスラグ中のT.Fe濃度をとつて両者の関係
を示したグラフである。図から明らかなようにマ
イクロ波反射率が一点鎖線にて示した基準値以下
になるとT.Fe濃度が増大し、従つてスラグの滓
化が良好に行われていることがわかる。このよう
にマイクロ波反射率の大、小とスラグ中のT.Fe
濃度の低、高従つて滓化状況の悪、良とは極めて
強い相関関係があり、吹錬期間中スラグにおける
マイクロ波反射率を測定することにより、スラグ
の滓化状況を経時的且つ定量的に検知することが
できる。本発明のマイクロ波とはミリ波領域を含
むものであり、この実施例は18GHz〜26GHzの
マイクロ波を投射したものである。更にこの実施
例では転炉を例にとつて説明したが、鋼を精錬す
る炉であればどのような炉でもよく、特に限定す
るものではない。
縦軸にスラグ中のT.Fe濃度をとつて両者の関係
を示したグラフである。図から明らかなようにマ
イクロ波反射率が一点鎖線にて示した基準値以下
になるとT.Fe濃度が増大し、従つてスラグの滓
化が良好に行われていることがわかる。このよう
にマイクロ波反射率の大、小とスラグ中のT.Fe
濃度の低、高従つて滓化状況の悪、良とは極めて
強い相関関係があり、吹錬期間中スラグにおける
マイクロ波反射率を測定することにより、スラグ
の滓化状況を経時的且つ定量的に検知することが
できる。本発明のマイクロ波とはミリ波領域を含
むものであり、この実施例は18GHz〜26GHzの
マイクロ波を投射したものである。更にこの実施
例では転炉を例にとつて説明したが、鋼を精錬す
る炉であればどのような炉でもよく、特に限定す
るものではない。
以上詳述した如く本発明方法は、吹錬期間中転
炉内スラグに向けてマイクロ波を投射し、反射波
を検出してマイクロ波のスラグにおける反射率を
測定し、この反射率によつてスラグの滓化状況を
検知するものであるから、スラグ量が少い場合に
おいても吹錬期間中経時的に且つ精度良くスラグ
の滓化状況を検知することができ、滓化不良の場
合は螢石等の造滓剤を転炉内に投入して滓化促進
を図ることが可能となるとともに、この滓化状況
に関するデータを吹錬のダイナミツク制御系に供
することにより、より精細な吹錬制御を行うこと
が可能となり、吹錬中の滓化制御、脱燐制御等を
適正に行わしめ得る等、本発明は転炉操業技術の
向上に多大の貢献をなすものである。
炉内スラグに向けてマイクロ波を投射し、反射波
を検出してマイクロ波のスラグにおける反射率を
測定し、この反射率によつてスラグの滓化状況を
検知するものであるから、スラグ量が少い場合に
おいても吹錬期間中経時的に且つ精度良くスラグ
の滓化状況を検知することができ、滓化不良の場
合は螢石等の造滓剤を転炉内に投入して滓化促進
を図ることが可能となるとともに、この滓化状況
に関するデータを吹錬のダイナミツク制御系に供
することにより、より精細な吹錬制御を行うこと
が可能となり、吹錬中の滓化制御、脱燐制御等を
適正に行わしめ得る等、本発明は転炉操業技術の
向上に多大の貢献をなすものである。
第１図は本発明方法の実施状態を示す模式図、
第２図は同じく電気回路系のブロツク図、第３
図、第４図は本発明の効果を示すグラフである。 １……転炉、３……スラグ、４……溶鋼、６…
…アンテナ、１０……マイクロ波回路、２０……
マイクロ波発生装置、３０……信号処理装置。
第２図は同じく電気回路系のブロツク図、第３
図、第４図は本発明の効果を示すグラフである。 １……転炉、３……スラグ、４……溶鋼、６…
…アンテナ、１０……マイクロ波回路、２０……
マイクロ波発生装置、３０……信号処理装置。
Claims (1)
- １ 精錬炉炉口の上方に設置したアンテナからス
ラグに向けてマイクロ波を投射し、またスラグか
らの反射波を検出してスラグにおけるマイクロ波
の反射率を測定し、この測定結果に基いてスラグ
滓化の状況を検知することを特徴とする、鋼精錬
におけるスラグ滓化検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2717981A JPS57140812A (en) | 1981-02-25 | 1981-02-25 | Detection for forming slag |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2717981A JPS57140812A (en) | 1981-02-25 | 1981-02-25 | Detection for forming slag |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57140812A JPS57140812A (en) | 1982-08-31 |
| JPS6138250B2 true JPS6138250B2 (ja) | 1986-08-28 |
Family
ID=12213842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2717981A Granted JPS57140812A (en) | 1981-02-25 | 1981-02-25 | Detection for forming slag |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57140812A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61150121U (ja) * | 1985-03-09 | 1986-09-17 | ||
| JPS6422556U (ja) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60230929A (ja) * | 1984-04-27 | 1985-11-16 | Nippon Steel Corp | 転炉操業方法 |
| US4749171A (en) * | 1984-09-06 | 1988-06-07 | Nippon Steel Corporation | Method and apparatus for measuring slag-foam conditions within a converter |
-
1981
- 1981-02-25 JP JP2717981A patent/JPS57140812A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61150121U (ja) * | 1985-03-09 | 1986-09-17 | ||
| JPS6422556U (ja) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57140812A (en) | 1982-08-31 |
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