JPS6134519A - Optical beam scanning device - Google Patents
Optical beam scanning deviceInfo
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- JPS6134519A JPS6134519A JP15627284A JP15627284A JPS6134519A JP S6134519 A JPS6134519 A JP S6134519A JP 15627284 A JP15627284 A JP 15627284A JP 15627284 A JP15627284 A JP 15627284A JP S6134519 A JPS6134519 A JP S6134519A
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- Japan
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- light beam
- lens
- scanning
- deflector
- light
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- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の分野)
本発明は、光ビームにより被走査面上を走査する光ビー
ム走査装置に関し、特に詳細には、偏向器によって光ビ
ームを偏向させて被走査面上を走査させる光ビーム走査
装置における光ビームの偏向システムの改良に関□する
もアモある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of the Invention) The present invention relates to a light beam scanning device that scans a surface to be scanned with a light beam, and more particularly, the present invention relates to a light beam scanning device that scans a surface to be scanned with a light beam. The present invention also relates to an improvement in a light beam deflection system in a light beam scanning device that scans a light beam.
(発明の技術的背景および先行技術)
近年、光ビームを用いて画像の読取りおよび/または記
録を行なうシステムが種々開発されている。このような
システムにおいては、光源から発せられた光ビームは、
回□転多面鏡等の偏向器によって反射偏向されて、一定
速痕で偏向方向に垂直な方向に送られる(副走査される
)被走査面上を走査するようになっている。しかしなが
ら、従来の光ビーム走査装置においては、偏向器は高速
で駆動されているために振動によるウオブリングが生じ
、そのために偏向されて被走査面上を走査する走査線は
副走査方向にゆがみをもったものとなってしまい、その
結果均一な読取りおよび記録ができなくなるという問題
があった。また、特に偏向器として回転多面鏡を用いた
場合には、回転多面鏡の光ビームが入射する各面それぞ
れを回転軸に対して完全に平行にすることは高痕に精密
加工されたものであっても難しく、各偏向反射面に面倒
れが生じてしまい、この面倒れにより走査線のピッチに
むらが生じてしまうという問題もあった。(Technical Background of the Invention and Prior Art) In recent years, various systems for reading and/or recording images using light beams have been developed. In such a system, a light beam emitted from a light source is
It is reflected and deflected by a deflector such as a rotating polygon mirror, and is sent (sub-scanned) in a direction perpendicular to the direction of deflection at a constant speed to scan the surface to be scanned. However, in conventional optical beam scanning devices, since the deflector is driven at high speed, wobbling occurs due to vibration, and as a result, the deflected scanning line that scans the surface to be scanned is distorted in the sub-scanning direction. As a result, there is a problem that uniform reading and recording cannot be performed. In addition, especially when a rotating polygon mirror is used as a deflector, it is not possible to make each surface of the rotating polygon mirror completely parallel to the rotation axis through highly precise processing. Even if there were such a structure, it would be difficult to do so, and there would be a problem in that each deflection/reflection surface would have a surface tilt, and this surface tilt would cause unevenness in the pitch of the scanning lines.
さらに従来の装置では、一定の幅を有した光ビームが斜
め方向から偏向器に入射せしめられて反射偏向されるよ
うになっている(偏向器が走査の中央の角度にある時光
ビームが垂直に入射していない)ため、反射偏向可能な
偏向器の面を十分太きくしようとすると、必然的に偏向
器の反射ミラーが大きなものとなってしまうという問題
もあった。Furthermore, in conventional devices, a light beam with a certain width is incident on a deflector from an oblique direction and is reflected and deflected (when the deflector is at the center angle of the scan, the light beam is vertically Therefore, if the surface of a deflector capable of reflective deflection is made sufficiently thick, there is a problem in that the reflecting mirror of the deflector will inevitably become large.
(発明の目的)、。(Object of the invention).
本発明は上記のような問題に鑑みてなされたちのであり
、偏向器のウオブリングによる走査線の位置ずれおよび
面倒れによるピッチむらを除去し、 ・等間隔の
平行な直線による均一な走査を可能にするとともに、偏
向器の反射ミラーとして比較的小さなものを用いても十
分に反射偏向を行なうことができる偏向システムを備え
た光ビーム走査装置を提供することを目的とするもので
ある。The present invention was made in view of the above-mentioned problems, and eliminates the positional deviation of the scanning line due to wobbling of the deflector and the pitch unevenness due to surface tilt, and enables uniform scanning using equally spaced parallel straight lines. Another object of the present invention is to provide a light beam scanning device equipped with a deflection system that can sufficiently reflect and deflect even if a relatively small reflecting mirror of a deflector is used.
(発明の構成)
本発明の光ビーム走査装置は、光ビームを、偏向器が走
査の中央の角度にある時に偏向器の反射ミラーに垂直に
なるように入射させ、この光ビームが、入射した光ビー
ムの光路とほぼ同一平面上に反射偏向されるようにする
とともに、光ビームの光路上に設けられた複数のレンズ
を組合せた光学系によって、前記偏向器にウオブリング
や而倒れが生じてもピッチむらのない等間隔の平行な直
線で走査できるようにしたことを特徴とするものである
。(Structure of the Invention) The light beam scanning device of the present invention makes a light beam incident perpendicularly to the reflection mirror of the deflector when the deflector is at the center angle of scanning, and this light beam The optical system that combines a plurality of lenses provided on the optical path of the optical beam prevents the deflector from wobbling or collapsing, so that the optical beam is reflected and deflected on almost the same plane as the optical path of the optical beam. It is characterized by being able to scan parallel straight lines at equal intervals without pitch irregularities.
本発明の光ビーム走査装置は、まず、直線偏光している
光ビームを入射レンズ系に入射させて集束位置に、主走
査方向にのみ集束して直線状になるように集束させ、ま
たこの偏光方向を有する光ビームを反射する偏光ビーム
スプリッタに入射させて反射させる。この偏光ビームス
プリッタの、反射された光ビームが通過する面には1/
4波長板が設けられており、この1/4波長板を通過し
た前記光ビームは円偏光となる。さらに、前記集束位置
で主走査方向にのみ集束して直線状どな、、った光ビー
ムは、集束位置をすぎると再び広がり、光路上の前記集
束位置から自らの焦点距−1だけはなれて設けられた走
査レンズによって、この走査レンズから走査レンズの焦
点距離だ【プはなれて設けられた偏向器に、偏向器の回
転軸に垂直な線像となって入射し、この人・射した光ビ
ームとほぼ同一平面上に反射偏向される。この反射偏向
された光ビームは再び逆方向から前記走査レンズに入射
した後集束位置において゛、再び主走査方向にのみ集束
し・て直線状に集束する。また光ビームは前記偏光ビー
ムスプリッiりにも再び入射し、この光ビームは偏光ビ
ームスプリッタの入射面に設けられた1/4波長板によ
り再び直線偏光の光ビームにもどるが、この偏光、方向
は前記偏光ビームスプリッタに入射する前の光ビームと
は偏光方向が、90m変化するので、偏光ビームスプリ
ッタは、この光ビームを透過させる。光ビームはさらに
前記集束位置から自らの焦点距離だけはなれて設けられ
た凹シリンドリカルレンズおよびこのシリンドリカルレ
ンズの背後に設けられ前記集束位置と被走査面とを共役
の関係で結ぶ結像レンズに入射して、被走査面を走査す
るようになっている。The light beam scanning device of the present invention first makes a linearly polarized light beam enter an input lens system, focuses it at a focusing position only in the main scanning direction, and focuses the light beam into a straight line. A light beam having a direction is incident on a polarizing beam splitter and is reflected. The surface of this polarizing beam splitter through which the reflected light beam passes has a 1/
A 4-wavelength plate is provided, and the light beam that passes through this 1/4-wavelength plate becomes circularly polarized light. Furthermore, the light beam that is focused only in the main scanning direction at the focusing position, such as a straight line, spreads out again after passing the focusing position, and becomes separated by its own focal length -1 from the focusing position on the optical path. The light incident on this person and the incident light enters a deflector installed at a distance from the scan lens in the form of a line image perpendicular to the axis of rotation of the deflector. It is reflected and deflected almost on the same plane as the beam. This reflected and deflected light beam enters the scanning lens again from the opposite direction, and then, at the focusing position, it is again focused only in the main scanning direction and linearly focused. The light beam also enters the polarized beam splitter again, and this light beam is returned to a linearly polarized light beam by the quarter-wave plate provided on the incident surface of the polarized beam splitter. Since the polarization direction of the light beam differs by 90 m from that of the light beam before entering the polarization beam splitter, the polarization beam splitter transmits this light beam. The light beam further enters a concave cylindrical lens provided at a distance from the focusing position by its own focal length, and an imaging lens provided behind the cylindrical lens that connects the focusing position and the surface to be scanned in a conjugate relationship. The surface to be scanned is then scanned.
(実施態様)
以下、図面を参照して本発明の光ビーム走査装置につい
て詳細に説明する。(Embodiments) Hereinafter, a light beam scanning device of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施態様の概要を示す斜視図であり
、第2図(a)、(b)および(C)はそれぞれ第1図
に示される光路および光学系の一部を第1図中矢印a、
b、c方向からみた概略図であり、光源から発せられた
光ビームが偏向器に入射するまでの光路および光学系を
説明するものである。FIG. 1 is a perspective view showing an overview of one embodiment of the present invention, and FIGS. 2(a), (b), and (C) each illustrate a part of the optical path and optical system shown in FIG. Arrow a in figure 1,
FIG. 3 is a schematic view seen from directions b and c, and is for explaining the optical path and optical system of the light beam emitted from the light source until it enters the deflector.
半導体レーザ1から発せられた光ビーム10は光路を含
み主走査方向と平行な面内で直線偏光しており、入射レ
ンズ系2によって主走査方向にのみ集束せしめられA−
Aで示す集束位置に直線状に集束される。この光ビーム
10は集束位置A−Aにおいて集束した後、入反射光を
含む面に垂直な方向に偏光方向をもつ光ビームを反射し
、該面に平行な方向に偏光方向をもつ光ビームを透過さ
せる性質をもつ偏光ビームスプリッタ3に入射して、こ
の偏光ビームスプリッタ3によって反射されて光路が変
えられ、さらに反射された光ビーム10は、偏光ビーム
スプリッタ3を出ていく際に通過する偏光ビームスプリ
ッタ3の面に設けられた1/4波長板4によって円偏光
に変えられる。The light beam 10 emitted from the semiconductor laser 1 is linearly polarized in a plane that includes the optical path and is parallel to the main scanning direction, and is focused only in the main scanning direction by the incident lens system 2.
It is focused in a straight line at the focusing position indicated by A. After this light beam 10 is focused at the focusing position A-A, a light beam with a polarization direction perpendicular to the plane containing the incident reflected light is reflected, and a light beam with a polarization direction in a direction parallel to the plane is reflected. The light beam 10 enters the polarizing beam splitter 3, which has the property of transmitting the light, is reflected by the polarizing beam splitter 3 to change its optical path, and the reflected light beam 10 becomes the polarized light that passes when exiting the polarizing beam splitter 3. The 1/4 wavelength plate 4 provided on the surface of the beam splitter 3 converts the light into circularly polarized light.
さらに光ビーム10は、前記集束位置から前記偏光ビー
ムスプリッタの反射位置と、この反射位置から自らの位
置までの距離の和が自らの焦点距離f、と等しくなるよ
うに光路上に設けられた走査レンズ5に入射し、この走
査レンズ5からその焦点距離f、だけ離れて設けられた
回転多面16の反射ミラー6a上に主−査方向に垂直な
方向にのみ集束される。従つC反射ミラー6a上には常
に一定の長さの主走査方向と平行な線状の光ビーム10
が入射されることになり、この光ビーム10は反射ミラ
ー6aが走査の中央の角度にある時垂直に入射するよう
になっている。Further, the light beam 10 is directed to a scanning beam provided on the optical path so that the sum of the distance from the focusing position to the reflection position of the polarizing beam splitter and the distance from this reflection position to the own position is equal to its own focal length f. The light enters the lens 5 and is focused only in the direction perpendicular to the main scanning direction onto the reflecting mirror 6a of the rotating polygon 16, which is provided at a distance of focal length f from the scanning lens 5. Therefore, a linear light beam 10 of a constant length parallel to the main scanning direction is always on the C reflection mirror 6a.
This light beam 10 is designed to be incident perpendicularly to the reflecting mirror 6a when it is at the center angle of scanning.
このように光源1から発せられた光ビーム10は、回転
多面鏡6に入射して偏向されるようになるが、次に第1
図、並びに第1図をそれぞれ副走査方向(図中矢印C方
向)および主走査方向(図中矢印a方向)からみた第3
図(a)および(b)を参照して、回転多面鏡6に反射
偏向された光ビーム10が被走査面上を走査するまでの
光学系とその作用について説明する。The light beam 10 emitted from the light source 1 in this way enters the rotating polygon mirror 6 and is deflected.
A third view of Figure 1 and Figure 1 viewed from the sub-scanning direction (direction of arrow C in the diagram) and the main scanning direction (direction of arrow a in the diagram), respectively.
With reference to FIGS. (a) and (b), the optical system and its operation until the light beam 10 reflected and deflected by the rotating polygon mirror 6 scans the surface to be scanned will be described.
まず第3図(a)により光ビーム10の光路および光学
系の主走査方向の状態を説明すると、m方向に高速で回
転する回転多面[6によって光ビーム10は10′から
10″の間を反射偏向された後、前記走査レンズ5に入
射し、走査レンズ5からこの走査レンズ5の焦点距離f
6だけ離れたB−8線上の各位置に主走査方向にのみ集
束する。First, to explain the optical path of the light beam 10 and the state of the optical system in the main scanning direction with reference to FIG. After being reflected and deflected, it enters the scanning lens 5, and from the scanning lens 5 the focal length f of this scanning lens 5.
It focuses only in the main scanning direction at each position on line B-8, which is separated by 6.
またこの光ビーム10は集束に先立って前記偏光ビーム
スプリッタ3に入射するが、光ビーム10は偏光ビーム
スプリッタ3の入射面に設けられた1/4波長板4を最
初に通過して再び直線偏光に戻される。すなわち、光源
から発せられた際には入反射光を含む面と垂直な方向に
直線偏光されていた光ビーム10は90°偏光方向が回
転するので、上記入反射光を含む面内に偏光方向をもつ
ことになり、偏光ビームスプリッタ3はこの光ビーム1
0を透過させることになる。このように走査レンズ5お
よび偏光ビームスプリッタ3を経た後集束した光ビーム
10は再び広がり、集束位置からの自らの焦点距離f、
たけ離れた位置に設けられた凹シリンドリカルレンズ7
に入射する。このシリンドリカルレンズ7は第3図(a
)および(b)に示すとおり、光ビーム10を、主走査
方向にはそのまま透過させ、副走査方向には、あたかも
シリンドリカルレンズ7の焦点から発せられたような光
ビームとするものである。従って第3図(a)に示す光
ビーム10の光路においては、シリンドリカルレンズ7
は光ビーム10を透過させるだけであり、シリンドリカ
ルレンズ7を経た光ビーム10は結像レンズ8に入射し
た後被走査面9上に入射する。この結像レンズ8はその
焦点距離をf9とし、前記B−B線から結像レンズまで
の距離を81結像レンズから被走査面までの距離をbと
すると1 / a + 1 / b 71 / f 9
を満たす位置に配されている。従って光ビーム10は被
走査面9上に点像を結像し、被走査面上を9′から9″
にわたって走査をくり返す。Furthermore, this light beam 10 enters the polarizing beam splitter 3 before being converged, but the light beam 10 first passes through a 1/4 wavelength plate 4 provided on the incident surface of the polarizing beam splitter 3 and becomes linearly polarized again. will be returned to. In other words, the light beam 10, which was linearly polarized in a direction perpendicular to the plane containing the incident reflected light when emitted from the light source, has its polarization direction rotated by 90 degrees, so that the polarization direction changes within the plane containing the incident reflected light. , and the polarizing beam splitter 3 splits this light beam 1
This will allow 0 to pass through. After passing through the scanning lens 5 and the polarizing beam splitter 3, the focused light beam 10 spreads out again, and its own focal length f from the focusing position is
Concave cylindrical lens 7 located far apart
incident on . This cylindrical lens 7 is shown in FIG.
) and (b), the light beam 10 is transmitted as it is in the main scanning direction, and is made into a light beam in the sub-scanning direction as if it were emitted from the focal point of the cylindrical lens 7. Therefore, in the optical path of the light beam 10 shown in FIG. 3(a), the cylindrical lens 7
only transmits the light beam 10, and the light beam 10 that passes through the cylindrical lens 7 is incident on the imaging lens 8 and then on the surface to be scanned 9. The focal length of this imaging lens 8 is f9, the distance from the line BB to the imaging lens is 81, and the distance from the imaging lens to the surface to be scanned is b, then 1/a + 1/b 71 / f9
It is placed in a position that satisfies the requirements. Therefore, the light beam 10 forms a point image on the surface to be scanned 9 and travels from 9' to 9'' on the surface to be scanned.
Repeat scanning over
ところで、前述したように、回転多面鏡6は、ウオブリ
ングや面倒れなどを生じることが多いので、これらを前
述した光学系によって補正するシステムを、ウオブリン
グおよび面倒れによる光路のぶれが観察される主走査方
向から見た第3図(b)を参照して説明する。By the way, as mentioned above, the rotating polygon mirror 6 often causes wobbling and surface tilting, so the system that corrects these using the optical system described above is suitable for use when optical path blurring due to wobbling and surface tilting is observed. This will be explained with reference to FIG. 3(b) as seen from the scanning direction.
回転多面鏡6により反射された光ビーム10は、前記走
査レンズ5および偏光ビームスプリッタ3に入射する。The light beam 10 reflected by the rotating polygon mirror 6 enters the scanning lens 5 and the polarizing beam splitter 3.
この時、回転多面鏡7が面倒れがなく、かつウオブリン
グを生じることなく駆動されていれば光ビーム10は図
中の実線で示す光路を通るが、回転多面鏡に面倒れがあ
ったりウオブリングが生じて回転多面鏡の反射ミラー6
aが6 a’の位置にずれた場合には光路は図中破線で
示す位置に移動してしまうことになる。しかし実線で示
す光路中の光ビームも破線で示す光路中の光ビームも走
査レンズ5の焦点距11t f sだ()離れた同一の
点から走査レンズ5に入射しているので、この走査レン
ズ6はどの光路の光ビームも第3図(b)において平行
な光ビームになるように屈折させる。At this time, if the rotating polygon mirror 7 is driven without tilting its surface and causing wobbling, the light beam 10 will pass through the optical path shown by the solid line in the figure. Reflection mirror 6 of rotating polygon mirror
If a is shifted to a position of 6 a', the optical path will move to the position shown by the broken line in the figure. However, both the light beam in the optical path shown by the solid line and the light beam in the optical path shown by the broken line are incident on the scanning lens 5 from the same point, which has a focal length of 11t f s (), which is the focal length of the scanning lens 5. 6 refracts the light beam on any optical path so that it becomes a parallel light beam in FIG. 3(b).
この平行になった光ビーム10は、前記1/4波長板を
経て前記偏光ビームスプリッタ3を通過した後、前記シ
リンドリカルレンズ7に入射する。This parallel light beam 10 passes through the quarter-wave plate and the polarizing beam splitter 3, and then enters the cylindrical lens 7.
このシリンドリカルレンズ7は、被走査面9に垂直な副
走査方向に平行な光として入射する光ビーム10を自ら
の焦点7′から発せられた光ビームであるかのような光
路をとるように屈折させ、またこの焦点7′は前記B−
B線上にあるため、シリンドリカルレンズ7を経た光ビ
ーム10は前述の位置(1/ a + i / b =
1 / f s )に設けられた結像レンズ9に入射
した光ビーム10は前記波 ・走査面9上の一点
に集束する。このように第3図(b)に示す方向(主走
査方向)から見て前記走=11−
査レンズ5によって平行にされた光ビーム10はシリン
ドリカルレンズ7および結像レンズ8を組み合わせて用
いることによって被走査面9上の一点に結像されるので
、ウオブリングや而倒れによって光路にずれが生じた光
ビームについてもずれのない光路を通った光ビームと同
様の位置における走査を行なわせることができ、矢印C
方向に被走査面を等速副走査させると等間隔な平行な直
線による走査が可能となる。This cylindrical lens 7 refracts a light beam 10, which is parallel to the sub-scanning direction perpendicular to the scanned surface 9, so as to take an optical path as if it were a light beam emitted from its own focal point 7'. and this focal point 7' is
Since it is on line B, the light beam 10 that has passed through the cylindrical lens 7 is at the aforementioned position (1/ a + i / b =
A light beam 10 incident on an imaging lens 9 provided at an angle of 1/f s is focused on a single point on the scanning surface 9 . As seen from the direction (main scanning direction) shown in FIG. 3(b), the light beam 10 made parallel by the scanning lens 5 is used in combination with the cylindrical lens 7 and the imaging lens 8. Since the image is focused on a single point on the surface to be scanned 9, even a light beam whose optical path is shifted due to wobbling or falling can be caused to scan at the same position as a light beam that has passed through an optical path with no shift. Done, arrow C
By sub-scanning the surface to be scanned at a constant speed in the direction, it becomes possible to scan parallel straight lines at equal intervals.
なお、上記実施態様においては偏向器として回転多面鏡
を用い、そのウオブリングおよび而倒れの補正を行なう
ようにしたが、偏向器としてガルバノメータミラーを用
いた際にも本発明の装置によってガルバノメータミラー
のウオブリングの補正が可能である。In the embodiment described above, a rotating polygon mirror is used as a deflector, and its wobbling and tilting are corrected. However, even when a galvanometer mirror is used as a deflector, the wobbling of the galvanometer mirror can be corrected by the apparatus of the present invention. correction is possible.
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明の光ビーム走査装置
によれば、偏向器にウオブリングや而倒れが生じ、その
ために光ビームの光路が主走査方向に垂直な方向にずれ
ても、被走査面までの光路中に設けられた光学系によっ
てそのずれを補正することができ、常に平行かつ等間隔
の直線による走査が可能となる。また本発明ではビーム
スプリッタを用いることにより、光ビームを、偏向器が
走査の中央の角度にある時に、偏向器の反射ミラーに垂
直に入射させるようにしているので、偏向に際して反射
ミラーを有効に使うことができ、その小型化を実現する
ことができる。特に本発明は、上記2点の改良を同一の
光学系によりなし得るものであり、その実用上の価値は
極めて大きい。(Effects of the Invention) As described above in detail, according to the light beam scanning device of the present invention, wobbling or falling occurs in the deflector, and as a result, the optical path of the light beam is shifted in the direction perpendicular to the main scanning direction. However, the deviation can be corrected by an optical system provided in the optical path to the surface to be scanned, and scanning can always be performed in parallel and equally spaced straight lines. Furthermore, in the present invention, by using a beam splitter, the light beam is made to enter the reflection mirror of the deflector perpendicularly when the deflector is at the center angle of scanning, so that the reflection mirror can be used effectively during deflection. can be used, and its miniaturization can be realized. In particular, the present invention allows the above-mentioned two improvements to be made using the same optical system, and has extremely great practical value.
第1図は本発明の一実施態様の概要を示す斜視図、
第2図は第1図に示される実1sM様における光源から
偏向器に至るまでの光ビームの光路および光学系を示す
概略図、
第3図は第1図に示される実施態様における偏向器から
被走査面に至るまでの光ビームの光路お・よび光学系を
示す概略図である。
1・・・光 if! 2・・・入射レ
ンズ、系3・・・偏光ビームスプリッタ
4・・・1/4波長板
5・・・走査レンズ 6・・・回転多面鏡7
・・・シリンドリカルレンズ 8・・・結像レンズ9・
・・被走査面 10・・・光ビーム(自剰
手続補正書
特許庁長官 殿 昭和59年10月
231、発明の名称
光ビーム走査装置
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
任 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
富士写真フィルム株式会社4、代理人
6、補正により増加する発明の数 な し7、補
正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄8、補
正の内容
1)明細書第7頁第18行
「光路を含み」を削除する。
2)同頁同行
「平行な面内で」を「平行な方向に」と訂正する。FIG. 1 is a perspective view showing an overview of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram showing the optical path of the light beam from the light source to the deflector and the optical system in the actual 1sM mode shown in FIG. 1. , FIG. 3 is a schematic diagram showing the optical path of the light beam from the deflector to the surface to be scanned and the optical system in the embodiment shown in FIG. 1. 1... light if! 2...Incidence lens, system 3...Polarizing beam splitter 4...1/4 wavelength plate 5...Scanning lens 6...Rotating polygon mirror 7
...Cylindrical lens 8...Imaging lens 9.
... Surface to be scanned 10 ... Light beam (Written amendment of self-procedural procedure Mr. Commissioner of the Patent Office, October 1982, 231, Title of invention: Light beam scanning device 3, Relationship with the case of person making the amendment. Appointment of patent applicant. 210 Nakanuma, Minamiashigara City, Kanagawa Prefecture Name
Fuji Photo Film Co., Ltd. 4, Agent 6, Number of inventions increased by amendment None 7, Subject of amendment Column 8 of “Detailed Description of the Invention” of the specification, Contents of the amendment 1) Page 7 of the specification Delete line 18, "Includes optical path." 2) Correct "in parallel planes" to "in parallel directions" on the same page.
Claims (1)
、偏向器により反射偏向された光ビームを主走査方向に
走査させる光ビーム走査装置において、直線偏光された
光ビームを発するビーム光源、この光ビームを受ける位
置に設けられこの光ビームを直線状の集束位置に集束さ
せる入射レンズ系、この入射レンズ系を通過した光ビー
ムを反射し、反射された光ビームが通過する面に1/4
波長板を備えた偏光ビームスプリッタ、前記光ビームの
反射後の光路上に、光ビームの前記集束位置から自らの
焦点距離だけ離れて設けられた走査レンズ、この走査レ
ンズから、該走査レンズの焦点距離だけ離れて設けられ
、光ビームを入射前の光路とほぼ同一平面上に反射偏向
する偏向器、この偏向器により反射偏向された光ビーム
が前記走査レンズに再び入射して集束する集束位置から
自らの焦点距離だけ離れて設けられたシリンドリカルレ
ンズ、および前記偏光ビームスプリッタと前記シリンド
リカルレンズを通過した光ビームを被走査面上に集束さ
せる結像レンズを備えたことを特徴とする光ビーム走査
装置。A beam light source that emits a linearly polarized light beam in a light beam scanning device that scans a light beam reflected and deflected by a deflector in the main scanning direction on a scanned surface that is continuously sent at a constant speed in the sub-scanning direction. , an input lens system provided at a position to receive this light beam and focus the light beam to a linear focusing position; /4
a polarizing beam splitter with a wavelength plate; a scanning lens provided on the optical path of the reflected light beam at a distance of its own focal length from the focusing position of the light beam; a deflector that is provided at a distance and reflects and deflects the light beam onto substantially the same plane as the optical path before it enters; a focusing position where the light beam reflected and deflected by this deflector re-enters the scanning lens and focuses it; A light beam scanning device comprising: a cylindrical lens that is separated by the focal length thereof; and an imaging lens that focuses the light beam that has passed through the polarizing beam splitter and the cylindrical lens onto a surface to be scanned. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15627284A JPS6134519A (en) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | Optical beam scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15627284A JPS6134519A (en) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | Optical beam scanning device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6134519A true JPS6134519A (en) | 1986-02-18 |
Family
ID=15624182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15627284A Pending JPS6134519A (en) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | Optical beam scanning device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6134519A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6319617A (en) * | 1986-07-14 | 1988-01-27 | Minolta Camera Co Ltd | Surface tilt correction scanning optical system |
-
1984
- 1984-07-26 JP JP15627284A patent/JPS6134519A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6319617A (en) * | 1986-07-14 | 1988-01-27 | Minolta Camera Co Ltd | Surface tilt correction scanning optical system |
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