JPS6132343A - X線検出管 - Google Patents
X線検出管Info
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- JPS6132343A JPS6132343A JP14692185A JP14692185A JPS6132343A JP S6132343 A JPS6132343 A JP S6132343A JP 14692185 A JP14692185 A JP 14692185A JP 14692185 A JP14692185 A JP 14692185A JP S6132343 A JPS6132343 A JP S6132343A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
- H01J31/506—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output tubes using secondary emission effect
- H01J31/507—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output tubes using secondary emission effect using a large number of channels, e.g. microchannel plates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/49—Pick-up adapted for an input of electromagnetic radiation other than visible light and having an electric output, e.g. for an input of X-rays, for an input of infrared radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は1本質的に互いに平行に延びた延長形陰極と延
長形陽極を内蔵する延長形ハウジングを包含するX線検
出管において、操作の間、陽極・陰極間に電位をかけ、
該管が真空化されたX線検出管に関する。
長形陽極を内蔵する延長形ハウジングを包含するX線検
出管において、操作の間、陽極・陰極間に電位をかけ、
該管が真空化されたX線検出管に関する。
そのようなX線検出管はオランダ国特許出願第79.0
0878号に開示されている。
0878号に開示されている。
従来のX線検出管に特有の欠点は、入射X線に応答して
陰極において放出され陽極へ向けて発せらせる電子の増
強が比較的劣るという点である。
陰極において放出され陽極へ向けて発せらせる電子の増
強が比較的劣るという点である。
その結果1例えば、陽極上に生じる映像の検出のために
陽極においてホトダイオードを用いることができない。
陽極においてホトダイオードを用いることができない。
というのはそのようなダイオードの場合、ノイズと暗電
流が最終信号電流の大きな部分を構成しているからであ
る。陽極で受ける信号の電気的処理の別のやり方も同様
に、信号の強さが極めて弱いため問題である。
流が最終信号電流の大きな部分を構成しているからであ
る。陽極で受ける信号の電気的処理の別のやり方も同様
に、信号の強さが極めて弱いため問題である。
従って本発明の目的は、陰極によって検出されるX線像
の増強が従来のX線検出管のそれよりも非常に大きいx
i検出管を提供することである。
の増強が従来のX線検出管のそれよりも非常に大きいx
i検出管を提供することである。
従って本発明によれば本質的に互いに平行に延びた延長
形陰極と延長形陽極を内蔵する延長形ハウジングを包含
するX線検出管で、操作の間、陽極・陰極間に電位をか
け且つ該検出管が真空化されたX線検出管において、該
ハウジング内の該陰極と該陽極の間にこれらと本質的に
平行して延びるようにチャンネル板が設置されているこ
とを特徴とするX線検出管が提供される。
形陰極と延長形陽極を内蔵する延長形ハウジングを包含
するX線検出管で、操作の間、陽極・陰極間に電位をか
け且つ該検出管が真空化されたX線検出管において、該
ハウジング内の該陰極と該陽極の間にこれらと本質的に
平行して延びるようにチャンネル板が設置されているこ
とを特徴とするX線検出管が提供される。
本発明によ九ば、Xi検出管は、陰極と陽極の間にそれ
らと本質的に平行に延びるように設置されたいわゆるチ
ャンネル板を備えている。
らと本質的に平行に延びるように設置されたいわゆるチ
ャンネル板を備えている。
近接焦点管(proximity focus tub
es)にそのような板を用いること自体は公知である。
es)にそのような板を用いること自体は公知である。
半導ガラス(semiconductive glas
s)からできており板表面に対し垂直又は実際上垂直に
延びる非常に多くの小さなチャンネルを含むそのような
チャン−ネル板の操作については例えば、フィリップス
テヒニッシュティジシュリフトのヴイー、チャルメトン
著“5エンベエルトフエアシユテルカーメト ピジペン
プラートボーアハルデレントゲンストラーリング″第3
7巻No、5/6、第128−134頁(1977)
(“Hen beeldversterker met
pijpenplaat voor harde r
ontgenstraling”by V、Chalm
eton in Ph1lips Technisch
Tijdschrift、37.No、 5/619
77、 pages 128−134)に記載されてい
る。
s)からできており板表面に対し垂直又は実際上垂直に
延びる非常に多くの小さなチャンネルを含むそのような
チャン−ネル板の操作については例えば、フィリップス
テヒニッシュティジシュリフトのヴイー、チャルメトン
著“5エンベエルトフエアシユテルカーメト ピジペン
プラートボーアハルデレントゲンストラーリング″第3
7巻No、5/6、第128−134頁(1977)
(“Hen beeldversterker met
pijpenplaat voor harde r
ontgenstraling”by V、Chalm
eton in Ph1lips Technisch
Tijdschrift、37.No、 5/619
77、 pages 128−134)に記載されてい
る。
オランダ国特許出願第79.00878号に記載されて
いる型のX線検出管にチャンネル板を使用した時の主要
な利点は、良好な結果を達成するために。
いる型のX線検出管にチャンネル板を使用した時の主要
な利点は、良好な結果を達成するために。
チャンネル板のチャンネル型開口部が公知のチャンネル
板のそれに比べて大きな幅であってよく。
板のそれに比べて大きな幅であってよく。
又チャンネル型開口部は互いにかなりの距離を置いて離
してあってもよい、これによりチャンネル板の製造コス
トが安くなる1本発明の型の検出管 −にチャ
ンネル板を用いる場合、結果として増強度は従来の検出
管の100倍にもなることができる。
してあってもよい、これによりチャンネル板の製造コス
トが安くなる1本発明の型の検出管 −にチャ
ンネル板を用いる場合、結果として増強度は従来の検出
管の100倍にもなることができる。
更に、その使用により像の質が改善される。その理由は
、陰極に面するチャンネル板表面と陰極の間隔は、従来
の検出管における陽極と陰極の間隔より小さいためであ
るが、その間隔は陰極表面上の避けられないでこぼこに
関連して極めて重大である。
、陰極に面するチャンネル板表面と陰極の間隔は、従来
の検出管における陽極と陰極の間隔より小さいためであ
るが、その間隔は陰極表面上の避けられないでこぼこに
関連して極めて重大である。
本発明によるチャンネル板を有する検出管において、従
来の陽極を使用することができる。即ち、 ″陽極支持
体上に蛍光体層を備えたものを用いることができ、その
陽極はのぞきスクリーンとして働く、こののぞきスクリ
ーン上に形成された像は。
来の陽極を使用することができる。即ち、 ″陽極支持
体上に蛍光体層を備えたものを用いることができ、その
陽極はのぞきスクリーンとして働く、こののぞきスクリ
ーン上に形成された像は。
例えば従来の光学手段だけでなくホトダイオードを用い
ても更に処理することができる。
ても更に処理することができる。
陽極は、好ましくはその上に入射する電子の電子的処理
が可能になるように配備され、そ−の電子は増強された
X線像に相当するものである。
が可能になるように配備され、そ−の電子は増強された
X線像に相当するものである。
チャンネル板を有するX線検出管に使用する陽極の幾つ
かの実施態様を、以下添付の図面に参照し更に詳細に説
明する。
かの実施態様を、以下添付の図面に参照し更に詳細に説
明する。
図において同一の構成要素は同一の参照番号で示した。
第1図は、延長形ハウジング1及び、CsIのようなX
線検出物質の層と光電陰極がそれ自体は公知の方法でそ
の上に備わっている陰極支持体2から成るX線検出管の
断面を示している(該層と光電陰極は図示されていない
)。チャンネル板3は陰極支持体2と実質的に平行して
延びている。このチャンネル板は半導ガラスでできてお
り、この板の表面に本質的に垂直に延びる多数の小さな
チャンネルを含んでいる。例えばチャンネルは100マ
イクロメーターの開口を有していてよく、互いに同じ1
00マイクロメーターの距離だけ離れていてよい。
線検出物質の層と光電陰極がそれ自体は公知の方法でそ
の上に備わっている陰極支持体2から成るX線検出管の
断面を示している(該層と光電陰極は図示されていない
)。チャンネル板3は陰極支持体2と実質的に平行して
延びている。このチャンネル板は半導ガラスでできてお
り、この板の表面に本質的に垂直に延びる多数の小さな
チャンネルを含んでいる。例えばチャンネルは100マ
イクロメーターの開口を有していてよく、互いに同じ1
00マイクロメーターの距離だけ離れていてよい。
チャンネル板は例えばチャンネルの幅の40倍の厚みを
有している。陽極支持体4はチャンネル板3と少し離れ
てチャンネル板と本質的に平行に延びている。
有している。陽極支持体4はチャンネル板3と少し離れ
てチャンネル板と本質的に平行に延びている。
第1図に示されるX線検出管において、電位差は例えば
、+13極2と陰極2に相対しているチャンネル板3表
面の間で100−1000ボルト;陰tli+4に面し
ているチャンネル板3表面と陰極2に面しているチャン
ネル板3表面の間で500−1500ボルト;そして陽
極4と陽極4に面しているチャンネル板3表面の間で5
−1Oキロボルトであってよい。
、+13極2と陰極2に相対しているチャンネル板3表
面の間で100−1000ボルト;陰tli+4に面し
ているチャンネル板3表面と陰極2に面しているチャン
ネル板3表面の間で500−1500ボルト;そして陽
極4と陽極4に面しているチャンネル板3表面の間で5
−1Oキロボルトであってよい。
そのおおいがガラス製である第1図のX@検出管は、好
ましくは1例えば銅の蒸着によってできた伝導被覆を備
えた内側表面を有している。そうでない場合、検出管内
の自由に動き回る電子がガラス管壁に衝突し、ガラス管
壁が局部的に帯電してしまう、そのような帯電は検出管
内の場を乱し、原則的には通常ゆがめられない陽極上に
形成される陰極の像が、実にややゆがめられてしまう程
になり得る。しかも、そのような帯電は管内にフラッシ
ュオーバーを引き起こし得るので、その結果生じる光効
果が像を乱し、コントラストを減少させる。X線検出管
内の内側表面の伝導被覆は自由電子を捕捉しそれらの除
去を行なう。
ましくは1例えば銅の蒸着によってできた伝導被覆を備
えた内側表面を有している。そうでない場合、検出管内
の自由に動き回る電子がガラス管壁に衝突し、ガラス管
壁が局部的に帯電してしまう、そのような帯電は検出管
内の場を乱し、原則的には通常ゆがめられない陽極上に
形成される陰極の像が、実にややゆがめられてしまう程
になり得る。しかも、そのような帯電は管内にフラッシ
ュオーバーを引き起こし得るので、その結果生じる光効
果が像を乱し、コントラストを減少させる。X線検出管
内の内側表面の伝導被覆は自由電子を捕捉しそれらの除
去を行なう。
陰極上のCsI層中に発生する青色光の好ましくない反
射の発生を最小限にするために、伝導被覆は銅であるこ
とが好ましく、銅は青色光をあまり反射しない。
射の発生を最小限にするために、伝導被覆は銅であるこ
とが好ましく、銅は青色光をあまり反射しない。
第1図に示される実施態様において、それ自体は公知の
蛍光体層(図示せず)が陽極支持体4に備わっている。
蛍光体層(図示せず)が陽極支持体4に備わっている。
この層の蛍光体要素は、入射x#lに応答して光電陰極
により発せられ且つチャンネル板によって増強された電
子によって蛍光を発し。
により発せられ且つチャンネル板によって増強された電
子によって蛍光を発し。
その結果X線像が生み出され、それは従来の、技鞘、例
えば光学手段を用いたり又はホトダイオードを用いて走
査することにより更に処理することができる。
えば光学手段を用いたり又はホトダイオードを用いて走
査することにより更に処理することができる。
第2図に示される実施態様においてl+&極支持体4は
ガラス又はセラミック物質のような#!i緑体でできて
おり、その上には第2a図及び第2b図に示すように、
多数の互いに絶縁された平行状のストリップ状導体5が
例えば蒸着により備えられている。
ガラス又はセラミック物質のような#!i緑体でできて
おり、その上には第2a図及び第2b図に示すように、
多数の互いに絶縁された平行状のストリップ状導体5が
例えば蒸着により備えられている。
各々のストリップ状導体5は、チャンネル板によりその
数が増やされた電子がその上に集められる独立した陽極
としての作用をする。各々のストリプ状導体5の電荷は
、真空密閉した関連して用いられるブッシングを介して
検出管壁を抜けて延びる多数のリード線により除去され
る。該リード線は第2a図の実施態様の陽極支持体4の
下端部においてストリップ状導体5に接続されるか、第
2b図の実施態様の陽極支持体の下端部と上端部におい
て交互に接続される。
数が増やされた電子がその上に集められる独立した陽極
としての作用をする。各々のストリプ状導体5の電荷は
、真空密閉した関連して用いられるブッシングを介して
検出管壁を抜けて延びる多数のリード線により除去され
る。該リード線は第2a図の実施態様の陽極支持体4の
下端部においてストリップ状導体5に接続されるか、第
2b図の実施態様の陽極支持体の下端部と上端部におい
て交互に接続される。
絶縁陽極支持体のストリップ状導体5の端を担っている
部分を検出管から突出させることも可能である。そうし
た場合更にリード線やブッシング。
部分を検出管から突出させることも可能である。そうし
た場合更にリード線やブッシング。
は必要でなくなり、検出管から突出したストリップ状導
体5の端は、ストリップ状導体が受けた信号を更に処理
するよう作用する電子回路要素に直接接続することがで
きる。
体5の端は、ストリップ状導体が受けた信号を更に処理
するよう作用する電子回路要素に直接接続することがで
きる。
第3図に第2図のX線検出管の一変形を示すが。
これは第2a図のように配列されたズトリップ状導体を
有する陽極支持体を含んでいる。検出管のハウジング7
は管形状を有し、又又線透過する箔8によって覆われた
前端部を有している。該箔は検出管内の真空状態を維持
する。真空密閉しガラス融着したジヨイント9は陽極支
持体4を管状ハウジング7に封止する。
有する陽極支持体を含んでいる。検出管のハウジング7
は管形状を有し、又又線透過する箔8によって覆われた
前端部を有している。該箔は検出管内の真空状態を維持
する。真空密閉しガラス融着したジヨイント9は陽極支
持体4を管状ハウジング7に封止する。
第4図は第3図の実施態様の一変形を示しており、X線
検出管は、第2b図のように配列されたストリップ状導
体を有する陽極支持体を含んでいる。
検出管は、第2b図のように配列されたストリップ状導
体を有する陽極支持体を含んでいる。
これも又、検出管のハウジングは管形状を有しており、
第1ハウジング部分7′と第2ハウジング部分7″およ
びこれらのハウジング部分の間に設けられた陽極支持体
4から成っている。ガラス溶融付けされたジヨイント9
はハウジングと陽極支持体の間の真空密閉封止を確かな
ものとする。
第1ハウジング部分7′と第2ハウジング部分7″およ
びこれらのハウジング部分の間に設けられた陽極支持体
4から成っている。ガラス溶融付けされたジヨイント9
はハウジングと陽極支持体の間の真空密閉封止を確かな
ものとする。
第3図の実施態様において、ストリップ状導体5は検出
管の末端を越えて突出しており、第4図の実施態様にお
いて、ストリップ状導体5は検出管の上端部と下端部を
越えて交互に突出している。
管の末端を越えて突出しており、第4図の実施態様にお
いて、ストリップ状導体5は検出管の上端部と下端部を
越えて交互に突出している。
その結果ストリップ状導体5の各々はハウジングの外側
で接触可能である。第2b図の陽極支持体の実施態様は
第3図に示す検出管にも適用され、第2a図の陽極支持
体は第4図に示す検出管の実施態様にも適用されること
は明らかであろう。
で接触可能である。第2b図の陽極支持体の実施態様は
第3図に示す検出管にも適用され、第2a図の陽極支持
体は第4図に示す検出管の実施態様にも適用されること
は明らかであろう。
陽極支持体上のストリップ状導体5はチャンネルの出口
端の電圧より例えば100ボルト高い電圧に維持される
。陽極のストリップ5の電荷は、検出管の外側に位置す
る電子プリント(electronicprint)上
に設置された電子スイッチを介して引き続き増幅器に適
用すること、ができ、それから更に処理することができ
る。ストリップ状導体5の間の絶縁支持体4の帯電を防
ぐため、絶縁支持体は非常に導電率の小さい物質ででき
ているか、又はストリップ4体を支持している面に導電
率の小さい層を設けなくてはいけない。
端の電圧より例えば100ボルト高い電圧に維持される
。陽極のストリップ5の電荷は、検出管の外側に位置す
る電子プリント(electronicprint)上
に設置された電子スイッチを介して引き続き増幅器に適
用すること、ができ、それから更に処理することができ
る。ストリップ状導体5の間の絶縁支持体4の帯電を防
ぐため、絶縁支持体は非常に導電率の小さい物質ででき
ているか、又はストリップ4体を支持している面に導電
率の小さい層を設けなくてはいけない。
ストリップ状導体の長さは例えば10+n+aであって
よく、陽極支持体上に例えば0.51の間隔で設置、し
てよい。ストリップ状導体は、導体と同じ高さの例えば
CsIのストリップ、これは陰極支持体に配置されてい
るが、これに起因する電荷すべてを集める。
よく、陽極支持体上に例えば0.51の間隔で設置、し
てよい。ストリップ状導体は、導体と同じ高さの例えば
CsIのストリップ、これは陰極支持体に配置されてい
るが、これに起因する電荷すべてを集める。
第5図に示す実施態様において、陽極は、例えばガラス
又はセラミック物質でできた絶縁支持体4からできてお
り、該支持体4を介して伝導ピン10が延びている。ピ
ン10は電荷が検出管の外に除去されるのを可能にする
。この実施態様において支持体4は同時に管状ハウジン
グ7の真空シールとして作用する。ピン10は2次元パ
ターンに加えて1次元パターンを形成し、2次元パター
ンは第5図に示されている。ハウジング7の内側におい
てピンは1次元パターンの場合には電気伝導性ストリッ
プに接続され、2次元パターンの場合には第5図の10
′のような電気伝導性アイランドに接続される。
又はセラミック物質でできた絶縁支持体4からできてお
り、該支持体4を介して伝導ピン10が延びている。ピ
ン10は電荷が検出管の外に除去されるのを可能にする
。この実施態様において支持体4は同時に管状ハウジン
グ7の真空シールとして作用する。ピン10は2次元パ
ターンに加えて1次元パターンを形成し、2次元パター
ンは第5図に示されている。ハウジング7の内側におい
てピンは1次元パターンの場合には電気伝導性ストリッ
プに接続され、2次元パターンの場合には第5図の10
′のような電気伝導性アイランドに接続される。
そのようなストリップやアイランドはチャンネル板3に
よって増大された電子流用のコレクタとして作用する。
よって増大された電子流用のコレクタとして作用する。
検出管の外側において、ピンが電気スイッチを介して1
つかそれ以上の増幅器に接続される。この接続は、例え
ば、ピン10のパターンに対応するパターンで配列され
た接点12を備えた板によって達成できる。又、第5図
の実施態様において、ストリップ間又はアイランド間の
領域において陽極支持体に衝突する電荷は除去されなけ
らばならない。
つかそれ以上の増幅器に接続される。この接続は、例え
ば、ピン10のパターンに対応するパターンで配列され
た接点12を備えた板によって達成できる。又、第5図
の実施態様において、ストリップ間又はアイランド間の
領域において陽極支持体に衝突する電荷は除去されなけ
らばならない。
第6図は陽極の一変形体を示しており、これによって2
次元像が形成される。この目的のために第2a図のよう
に陽極支持体4の上にストリップ状導体13が蒸着され
た。しかし、各々のストリップ状導体13は積層され且
つ中間絶縁層によって分離されている多数の導体から成
っており、各々の導体はその下の導体よりも長さが短く
、陰極の対応する領域からの電子を受けるアイランド1
3′を限定している、アイランド13′で受けた電子は
コンタクトスポット13″を介してストリップ状導体1
3の下端部から除去することができる。
次元像が形成される。この目的のために第2a図のよう
に陽極支持体4の上にストリップ状導体13が蒸着され
た。しかし、各々のストリップ状導体13は積層され且
つ中間絶縁層によって分離されている多数の導体から成
っており、各々の導体はその下の導体よりも長さが短く
、陰極の対応する領域からの電子を受けるアイランド1
3′を限定している、アイランド13′で受けた電子は
コンタクトスポット13″を介してストリップ状導体1
3の下端部から除去することができる。
第6図の実施態様を更に明解にするために第6a図に第
6図のVIa−VIaljfの断面図を示す、この中で
蒸着されたストリップの厚みはわかりやすくするために
相当誇張されている。 − 第7図に示す実施態様において、陽−極は、第2図の実
施態様と似て、相互に平行なストリップ状導体5の備え
られた絶縁陽極支持体に設置された蛍光体層から成って
いる。これらのストリップ状導体は、しかしながら、蛍
光体中に発生した光を透過する6アルミニウム箔の層1
5が蛍光体スクリーンの上に備えられており、該アルミ
ニウム箔層はストリップ状導体に対して電気的に絶縁さ
れていなければならない。アルミニウム箔を通過して蛍
光体層に侵入する電子は、励起核(excited c
en−ters)を生じるので運動エネルギーを放出し
、励起核は再結合の後光を発する。蛍光体層を通過する
のに十分なエネルギーを有する電子は下に横たわる伝導
性ストリップ5に到達し、第2図に参照して上記で述べ
たように処理することができる。アルミニウム箔15と
伝導性ストリップ5の電位差は小さいことが望ましいが
、必ずしも小さい必要はない。
6図のVIa−VIaljfの断面図を示す、この中で
蒸着されたストリップの厚みはわかりやすくするために
相当誇張されている。 − 第7図に示す実施態様において、陽−極は、第2図の実
施態様と似て、相互に平行なストリップ状導体5の備え
られた絶縁陽極支持体に設置された蛍光体層から成って
いる。これらのストリップ状導体は、しかしながら、蛍
光体中に発生した光を透過する6アルミニウム箔の層1
5が蛍光体スクリーンの上に備えられており、該アルミ
ニウム箔層はストリップ状導体に対して電気的に絶縁さ
れていなければならない。アルミニウム箔を通過して蛍
光体層に侵入する電子は、励起核(excited c
en−ters)を生じるので運動エネルギーを放出し
、励起核は再結合の後光を発する。蛍光体層を通過する
のに十分なエネルギーを有する電子は下に横たわる伝導
性ストリップ5に到達し、第2図に参照して上記で述べ
たように処理することができる。アルミニウム箔15と
伝導性ストリップ5の電位差は小さいことが望ましいが
、必ずしも小さい必要はない。
チャンネル板を有し且つ第7図に示す陽極を有するX線
検出管は光学的2次元像、及びそれと同時に電気的1次
元像を生み出すことができる。
検出管は光学的2次元像、及びそれと同時に電気的1次
元像を生み出すことができる。
第1図は、チャンネル板と従来の蛍光体層陽極を有する
本発明による検出管を示す。 第2図は、チャンネル板及び陽極信号の電子的処理に適
合させた第1の型の陽極を有する本発明の検出管を示す
。 第2a図は、第2図の検出管に用いることができる陽極
の一変形を示す。 第2b図は、第2図の検出管に用いることができる陽極
の別の一変形を示す6 第3図は、チャンネル板を有するX線検出管の別の型の
側面図を示し、この検出管中に第2a図の陽極が設置さ
れている。 第4図は、チャンネル板を有する更に別の型のX線検出
管の側面図であり、この検出管中に第2b図の陽極が設
置されている。 第5図は、別の型の陽極を含む第3図のxm検出管の側
面図を示す。 第6図は、第5図の実施態様に用いることができる陽極
の一変形の正面図である。 第6a図は、第6図のVIa−VIaIIAの断面図で
ある。 第7図は、更に別の型の陽極の側面図である。 1.7・・ハウジング、2・・陰極支持体、3・・チャ
ンネル板、4・・陽極支持体、5.13・・ストリップ
状導体6・・ブッシング、8・・箔、9・・ジヨイント
、10・・ピン、12・・接点、13・・アイランド、
13′・・コンタク1〜スポツト、14・・蛍光体層。
本発明による検出管を示す。 第2図は、チャンネル板及び陽極信号の電子的処理に適
合させた第1の型の陽極を有する本発明の検出管を示す
。 第2a図は、第2図の検出管に用いることができる陽極
の一変形を示す。 第2b図は、第2図の検出管に用いることができる陽極
の別の一変形を示す6 第3図は、チャンネル板を有するX線検出管の別の型の
側面図を示し、この検出管中に第2a図の陽極が設置さ
れている。 第4図は、チャンネル板を有する更に別の型のX線検出
管の側面図であり、この検出管中に第2b図の陽極が設
置されている。 第5図は、別の型の陽極を含む第3図のxm検出管の側
面図を示す。 第6図は、第5図の実施態様に用いることができる陽極
の一変形の正面図である。 第6a図は、第6図のVIa−VIaIIAの断面図で
ある。 第7図は、更に別の型の陽極の側面図である。 1.7・・ハウジング、2・・陰極支持体、3・・チャ
ンネル板、4・・陽極支持体、5.13・・ストリップ
状導体6・・ブッシング、8・・箔、9・・ジヨイント
、10・・ピン、12・・接点、13・・アイランド、
13′・・コンタク1〜スポツト、14・・蛍光体層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、本質的に互いに平行に延びた延長形陰極と延長形陽
極を内蔵する延長形ハウジングを包含するX線検出管で
、操作の間、陽極・陰極間に電位をかけ且つ該検出管が
真空化されたX線検出管において、該ハウジング内の該
陰極と該陽極の間にこれらと本質的に平行して延びるよ
うにチャンネル板が設置されていることを特徴とするX
線検出管。 2、該ハウジングが管形状を有しており且つX線を透過
する金属箔によって覆われた前端部を有し、陽極支持体
がハウジングの後端部に対して真空密閉の様式で設置さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
検出管。 3、該ハウジングが管形状を有しており且つX線を透過
する金属箔によって覆われた前端部を有し、該支持体が
管状ハウジングの前端部と後端部の間に真空密閉の様式
で設置されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の検出管。 4、陽極が、蛍光体層をその上に設けた支持体を包含す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1〜3項のいずれ
かに記載の検出管。 5、該陽極が、その上に多数のストリップ状電気導体を
備えた絶縁体の支持体を包含し、該導体はハウジングの
長さ方向の軸に本質的に垂直に延びており、各々が第1
の端及び第2の端を有することを特徴とする特許請求の
範囲第1〜3項のいずれかに記載の検出管。 6、該ストリップ状導体がハウジング内に位置しており
、その各々が空密ブッシングを介して検出管壁を通って
延びているリード線に接続されていることを特徴とする
特許請求の範囲第5項記載の検出管。 7、ストリップ状導体すべての第1の端が陽極支持体の
一端に隣接して位置しており、ストリップ状導体の第2
の端が陽極支持体の反対の端から少し離れて位置してい
ることを特徴とする特許請求の範囲第5項記載の検出管
。 8、第1の端が陽極支持体の一端に隣接して位置してい
るストリップ状導体と第1の端が陽極支持体の同じ端か
ら少し離れて位置しているストリップ状導体が交互にな
っており、第2の一端が陽極支持体の反対側の端から少
し離れて位置しているストリップ状導体と第2の端が陽
極支持体の同じ反対側の端に隣接して位置しているスト
リップ状導体が交互になっていることを特徴とする特許
請求の範囲第5項記載の検出管。 9、該ストリップ状電気導体が、蒸着により段階的に積
層させることによって設けられた多数の電気伝導層から
成り、絶縁層が電気伝導層の間に置かれていることを特
徴とする特許請求の範囲第5項記載の検出管。 10、該ストリップ状電気導体が管状ハウジングから突
出していることを特徴とする特許請求の範囲第7〜9項
のいずれかに記載の検出管。 11、該陽極支持体が、陽極支持体を通ってハウジング
から突出するように延びている多数の電気伝導ピンを含
み、該ピンがハウジング内において電気導体エレメント
に接続されていることを特徴とする特許請求の範囲第2
項又は第3項記載の検出管。 12、該電気導体エレメントが点形状であることを特徴
とする特許請求の範囲第11項記載の検出管。 13、該電気導体エレメントがストリップ状であること
を特徴とする特許請求の範囲第11項記載の検出管。 14、該陽極が、互いに平行に且つハウジングの長さ方
向の軸に本質的に垂直に延びた多数の電気伝導性透明ス
トリップ状エレメントをその上に備えた陽極支持体を包
含し、該エレメントが、チャンネル板に面し且つアルミ
ニウム箔の層を有する表面を持つ蛍光体層を備えている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1〜3項のいずれか
に記載の検出管。 15、該陽極支持体が、導電率の小さい物質でできてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第5項又は第11項
記載の検出管。 16、該陽極支持体が、チャンネル板に面し導電率の小
さい物質の層を持つ表面を有していることを特徴とする
特許請求の範囲第5項又は第11項記載の検出管。 17、該ハウジングの内壁が銅の層で被覆されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1〜3項のいずれかに
記載の検出管。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8402140A NL8402140A (nl) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | Detectorbuis voor roentgenstraling. |
NL8402140 | 1984-07-05 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6132343A true JPS6132343A (ja) | 1986-02-15 |
Family
ID=19844178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14692185A Pending JPS6132343A (ja) | 1984-07-05 | 1985-07-05 | X線検出管 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0168883A1 (ja) |
JP (1) | JPS6132343A (ja) |
NL (1) | NL8402140A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1990009681A1 (en) * | 1989-02-08 | 1990-08-23 | B.V. Optische Industrie 'de Oude Delft' | Particle detector |
GB9223818D0 (en) * | 1992-11-13 | 1993-01-06 | De Beers Ind Diamond | Body scanning system |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2896088A (en) * | 1954-11-26 | 1959-07-21 | Westinghouse Electric Corp | Regenerating scintillation counter |
FR1411133A (fr) * | 1963-08-01 | 1965-09-17 | Tektronix Inc | Cible d'emmagasinage pour tube à rayon cathodique et son procédé photographique de fabrication |
DE1764095A1 (de) * | 1968-04-02 | 1971-04-22 | Acker Norbert Karl | Bildverstaerker- oder Bildwandlerroehre |
US4186302A (en) * | 1976-11-12 | 1980-01-29 | Diagnostic Information, Inc. | Panel type X-ray image intensifier tube and radiographic camera system |
NL183914C (nl) * | 1979-02-02 | 1989-02-16 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Roentgenbeeldversterker. |
-
1984
- 1984-07-05 NL NL8402140A patent/NL8402140A/nl not_active Application Discontinuation
-
1985
- 1985-07-04 EP EP85201095A patent/EP0168883A1/en not_active Withdrawn
- 1985-07-05 JP JP14692185A patent/JPS6132343A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0168883A1 (en) | 1986-01-22 |
NL8402140A (nl) | 1986-02-03 |
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