JPS61294378A - Logic integrated circuit - Google Patents

Logic integrated circuit

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JPS61294378A
JPS61294378A JP60137353A JP13735385A JPS61294378A JP S61294378 A JPS61294378 A JP S61294378A JP 60137353 A JP60137353 A JP 60137353A JP 13735385 A JP13735385 A JP 13735385A JP S61294378 A JPS61294378 A JP S61294378A
Authority
JP
Japan
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terminal
scan
flip
flops
flop
Prior art date
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Pending
Application number
JP60137353A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshige Matsumoto
博成 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS61294378A publication Critical patent/JPS61294378A/en
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Abstract

PURPOSE:To write and read contents of flip flops other than faulty flip flops by constituting a logic integrated circuit to that all flip flops in this circuit can be shifted in many directions. CONSTITUTION:If one optional flip flop, for example, 21 out of flip flops 20-22 does not function, the first and the second selecting signal terminals 9 and 10 are set to logical '1' and '0' respectively to constitute a scan path, and contents of the flip flop 22 are read out from a scan output terminal 12, and a signal applied to a scan input terminal 8 is written in the flip flop 20 simultaneously. Further, selecting signal terminals 9 and 10 are set to logical '1' together to constitute a scan path, and a shift register in the order opposite to said order is constituted. The signal applied to the scan input terminal 8 is written in the flip flop 22, and contents of the flip flop 20 are read out from the scan output terminal 12 simultaneously.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は論理集積回路に関し、特にスキャンパスを有す
る論理集積回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a logic integrated circuit, and more particularly to a logic integrated circuit having a scan path.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種の論理集積回路の1例のブロック図を第5
図に示す。第5図の論理集積回路は組合せ論理回路15
と、セレクタ16,17.18と、フリップフロップ2
0,21.22と入力端子1゜2.3.4と、出力端子
5,6.7とクロック入力端子11と第1の選択信号端
子9とスキャンイン端子8とスキャンアウト端子12と
電源入力端子13.14とKより構成されている。
A block diagram of an example of a conventional logic integrated circuit of this type is shown in Figure 5.
As shown in the figure. The logic integrated circuit in FIG. 5 is a combinational logic circuit 15.
, selectors 16, 17, 18, and flip-flop 2
0, 21.22, input terminal 1゜2.3.4, output terminal 5, 6.7, clock input terminal 11, first selection signal terminal 9, scan-in terminal 8, scan-out terminal 12, power input It consists of terminals 13, 14 and K.

第5図の論理集積回路では、通常は入力端子1゜2、 
3. 4からの入力信号は、組合せ論理回路15   
″に入り、組合せ論理回路15がら7リツプ70ツブへ
の信号は信号線31,32.33を介しセレクタ16,
17.18によシ選択されフリップフロック20,21
.22に供給される。フリップフロップ20,21.2
2からの出力は信号線86.87.88を介し組合せ論
理回路15に供給され、組合せ論理回路15からの出力
は出力端子5. 6. 7から出力される。
In the logic integrated circuit shown in FIG. 5, the input terminals are usually 1°2,
3. The input signal from 4 is input to the combinational logic circuit 15.
'', and the signals from the combinational logic circuit 15 to the 7-lip 70 tube are sent to the selector 16,
17. Flip-flocks 20, 21 selected by 18
.. 22. flip flop 20, 21.2
The output from combinational logic circuit 15 is supplied via signal lines 86, 87, 88 to output terminal 5.2. 6. Output from 7.

スキャンパスを構成する場合には、第1の選択信号端子
9に制御信号を供給することによってセレクタ16,1
7.18を制御して信号線80゜81.82からの信号
を選択し、スキャンイン端子8を入力としスキャンアウ
ト端子12を出力とするシフトレジスタを構成し、フリ
ップフロップ20.21.22の内容をシフトすること
によシスキャンアウト端子12から読出すこと、及び7
リツプ70ツブ20,21.22にスキャンイン端子8
からの信号を書込むことができる1以上の構成によシ、
組合せ論理回路15を介さすに直接フリップフロップ2
0,21.22を読み書きすることができ、この論理集
積回路の機−能試験を効率よく行なうことができる。
When configuring a scan path, by supplying a control signal to the first selection signal terminal 9, the selectors 16, 1
7.18 to select signals from signal lines 80, 81, 82, configure a shift register with scan-in terminal 8 as input and scan-out terminal 12 as output, and select signals from signal lines 80, 81, 82. 7 reading from the system scanout terminal 12 by shifting the contents;
Scan-in terminal 8 on lip 70 knob 20, 21.22
one or more configurations capable of writing signals from;
Flip-flop 2 directly via combinational logic circuit 15
0, 21, and 22 can be read and written, and the function test of this logic integrated circuit can be carried out efficiently.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来のスキャンパスを有する論理集積回路では
、スキャンパスを構成した場合、スキャンパスを入力と
しスキャンアウト端子を出力とするシフトレジスタが構
成されるが、このシフトレジスタの内容がシフトする方
向は一方向のみである為に、シフトレジスタを構成する
フリップフロップのうち任意の一個のみが機能しない場
合でもスキャンイン端子からの信号をフリップフロップ
にセットしかつそのセットした内容をスキャンアウト端
子から読出すという機能が全く果せなくなる欠点がある
In the above-mentioned conventional logic integrated circuit having a scan path, when a scan path is configured, a shift register is configured with the scan path as an input and the scan out terminal as an output, but the direction in which the contents of this shift register are shifted is Since it is only unidirectional, even if only one of the flip-flops that make up the shift register does not function, the signal from the scan-in terminal can be set to the flip-flop, and the set contents can be read from the scan-out terminal. There is a drawback that this function cannot be fulfilled at all.

本発明の目的は、上記欠点を除去し、複数のフリップフ
ロップのうちの一個のみが機能しない場合でも、その機
能しないフリップフロップ以外の7リツプ70ツブにつ
いてその内容をスキャンアウト端子から読出し、または
キャンイン端子から論理信号を書込むことができる論理
集積回路を提供することにある。
An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, and to read out the contents of 70 flip-flops other than the non-functioning flip-flop from the scan-out terminal even if only one of the flip-flops does not function. An object of the present invention is to provide a logic integrated circuit into which logic signals can be written from terminals.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の論理集積回路は、組合せ論理回路と、スキャン
イン端子と、スキャンアウト端子と、前記組合せ論理回
路の出力端に入力端が接続するセレクタを介して前記ス
キャンイン端子とスキャンアウト端子との間に接続され
る複数のフリップフロップと、第1の選択信号の供給に
応答して前記複数のフリップフロップを前記スキャンイ
ン端子を入力端子とし前記スキャンアウト端子を出力端
子トスるシリアルシフトレジスタに構成する第1の構成
手段と、第2の選択信号の供給に応答して前記複数のフ
リップフロップを前記スキャンイン端子を入力端子とし
前記スキャンアウト端子を出力端子とし前記第1の構成
手段と逆方向にシフトするシリアルシフトレジスタに構
成する第2の構成手段とを含んで構成される。
The logic integrated circuit of the present invention includes a combinational logic circuit, a scan-in terminal, a scan-out terminal, and a selector whose input terminal is connected to the output terminal of the combinational logic circuit. a plurality of flip-flops connected between the plurality of flip-flops, and a serial shift register configured to toss the scan-in terminal as an input terminal and the scan-out terminal as an output terminal in response to supply of a first selection signal. and a first configuration means for controlling the plurality of flip-flops with the scan-in terminal as an input terminal and the scan-out terminal as an output terminal in a direction opposite to that of the first configuration means in response to supply of a second selection signal. and second configuration means configured as a serial shift register for shifting.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described using the drawings.

第1図は本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

この実施例は、組合せ論理回路15と、スキャンイン端
子8と、スキャンアウト端子12と5組合せ論理回路1
5の出力端に入力端が接続するセレクタ16.17.1
8をそれぞれ介してかつスキャンイン端子8とスキャン
アウト端子12との間に接続される複数のフリップフロ
ップ20,21゜22と、第1の選択信号端子9に供給
される第1の選択信号に応答してフリップフロップ20
.21゜22をスキャンイン端子8を入力端子としスキ
ャンアウト端子12を出力端子とするシリアルシフトレ
ジスタに構成する第1の構成手段としてのセレクタ19
.第1の選択信号端子9とセレクタ16.17.18の
入力端とを接続する信号線と、スキャンイン端子8から
セレクタ16.フリップフロップ20を通ってセレクタ
19まで順に送る信号#27.28,29.30と、第
2の選択信号端子10に供給される第2の選択信号に応
答して複数のフリップフロップを、スキャンイン端子8
を入力端子としスキャンアウト端子12を出力端子とし
、第1の構成手段と逆方向にシフトするシリアルシフト
レジスタに構成する第2の構成手段としてのセレクタ1
9、第2の選択信号入力端子10とセレクタ16.17
,18.19の入力端とを接続する信号線、スキャンイ
ン端子8に入力された信号を最後段のフリップフロップ
22へ送るための信号線25、フリップフロップの出力
を前段に戻して入力させるための信号線24.23、最
前段のフリップフロップ20の出力をスキャンアウト端
子12に送るための信号線26とを含んで構成される。
This embodiment has a combinational logic circuit 15, a scan-in terminal 8, a scan-out terminal 12, and a combinational logic circuit 1.
Selector 16.17.1 whose input terminal is connected to the output terminal of 5
A plurality of flip-flops 20, 21 and 22 are connected via the respective terminals 8 and 12 between the scan-in terminal 8 and the scan-out terminal 12, and a first selection signal is supplied to the first selection signal terminal 9. Flip-flop 20 in response
.. Selector 19 as a first configuration means that configures 21 and 22 into a serial shift register with scan-in terminal 8 as an input terminal and scan-out terminal 12 as an output terminal.
.. A signal line connecting the first selection signal terminal 9 and the input terminal of the selector 16, 17, 18, and a signal line connecting the scan-in terminal 8 to the selector 16. A plurality of flip-flops are scanned in response to signals #27, 28, 29, and 30 that are sequentially sent through the flip-flop 20 to the selector 19, and a second selection signal that is supplied to the second selection signal terminal 10. terminal 8
a selector 1 as a second configuration means configured into a serial shift register that shifts in the opposite direction to the first configuration means, with the input terminal being the input terminal and the scan-out terminal 12 being the output terminal;
9. Second selection signal input terminal 10 and selector 16.17
, 18 and 19, a signal line 25 for sending the signal input to the scan-in terminal 8 to the flip-flop 22 at the last stage, and a signal line 25 for returning the output of the flip-flop to the previous stage for input. , and a signal line 26 for sending the output of the front-stage flip-flop 20 to the scan-out terminal 12.

次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

本実施例の論理集積回路は、通常は第1の選択信号端子
9を論理10“にして使用する。このときは入力端子1
. 2. 3. 4からの入力信号は組合せ論理回路1
5に入り、組合せ論理回路15からフリップフロップへ
の信号は信号線31,32゜33経てセレクタ16,1
7.18によって選択されフリップフロップ20,21
.22に供給される。これらのフリップフロップ20.
21.22はクロック入力端子11から供給されるクロ
ック信号に同期し7て動作する。フリップフロップ20
゜21.22からの出力は信号線34,35.36を介
し組合せ論理回路15に供給され、出力信号は出力端子
5,6.7から出力される。このように、この論理集積
回路は、通常は、組合せ論理回路とフリップフロップを
含む論理回路として動作する。
The logic integrated circuit of this embodiment is normally used with the first selection signal terminal 9 set to logic 10". In this case, the input terminal 1
.. 2. 3. The input signal from 4 is the combinational logic circuit 1
5, the signal from the combinational logic circuit 15 to the flip-flop is passed through the signal lines 31, 32, 33 to the selectors 16, 1.
7. Flip-flops 20, 21 selected by 18
.. 22. These flip-flops20.
21 and 22 operate in synchronization with the clock signal supplied from the clock input terminal 11. flip flop 20
The output from 21.22 is supplied to the combinational logic circuit 15 via signal lines 34, 35.36, and the output signals are output from output terminals 5, 6.7. Thus, the logic integrated circuit typically operates as a logic circuit including combinational logic circuits and flip-flops.

次に、スキャンパスを構成しフリップフロップの内容の
読出し及び書込みを行なうときには、第1の選択信号端
子9を論理%1#、第2の選択信号端子10を論理10
′にする。この場合にはセレクタ16.17.18.1
9は、信号線27゜28.29.30からの信号を選択
し、フリップフロップ20.21.22は、スキャンイ
ン端子8を入力としスキャンアウト端子12を出力とす
るシフトレジスタとして構成される。この場合クロック
入力端子11にクロック信号が入力される毎にフリップ
フロップ22,21.20の内容がこの順にスキャンア
ウト端子12から出力され。
Next, when configuring the scan path and reading and writing the contents of the flip-flop, the first selection signal terminal 9 is set to logic %1#, and the second selection signal terminal 10 is set to logic 10.
’. In this case selector 16.17.18.1
The flip-flops 20, 21, and 22 are configured as shift registers having the scan-in terminal 8 as an input and the scan-out terminal 12 as an output. In this case, each time a clock signal is input to the clock input terminal 11, the contents of the flip-flops 22, 21, and 20 are output from the scan-out terminal 12 in this order.

同時にスキャンイン端子8に印加され良信号はフリップ
フロップ20.21.22の順にシフトしていく、この
様にして論理集積回路内部のフリップフロップの内容を
読出し7たシ、フリップフロップに任意の論理値を書込
むことができる。ここで説明し念構成、すなわちフリッ
プフロップ20の内容がフリップフロップ21ヘシフト
し、フリップフロップ21の内容が7リツプ70ツブ2
2へとシフトするシフトレジスタの構成を第1の構成と
する。
At the same time, the good signal applied to the scan-in terminal 8 is shifted in the order of flip-flops 20, 21, and 22. In this way, the contents of the flip-flops inside the logic integrated circuit are read 7, and an arbitrary logic signal is applied to the flip-flops. Values can be written. The concept explained here is that the contents of the flip-flop 20 are shifted to the flip-flop 21, and the contents of the flip-flop 21 are changed to 7, 70, 2.
The configuration of the shift register that shifts to 2 is assumed to be the first configuration.

次に、スキャンパスを構成し前記第1の構成とは逆順に
フリップフロップの内容の読出し及び書込みを行なう場
合は、第1の選択信号端子9を論理111.第2の選択
信号端子10を論理111にする。このときにはセレク
タ16.17.18゜19は、信号線23.24.25
.26からの信号を選択し、フリップフロップ22,2
1.20はスキャンイン端子8を入力としスキャンアウ
ト端子12を出力とするシフトレジスタとして構成され
るが前記第1の構成とは逆Jl!iにシフトする第2の
構成のシフトレジスタに構成される。すなわち、クロッ
ク入力端子11にクロック信号が入力される毎にフリッ
プフロップ20.21.22の内容がこの順にスキャン
アウト端子12から出力され、同時にスキャンイン端子
8に印加された信号は7リツプ70ツブ22.21.2
0の順にシフトしていく。この様にして論理集積回路内
部のフリップフロップの内容を前記第1の構成とは逆順
に読出したり任意の論理値を書込むことができる。
Next, when configuring a scan path and reading and writing the contents of the flip-flops in the reverse order of the first configuration, the first selection signal terminal 9 is connected to the logic 111. The second selection signal terminal 10 is set to logic 111. At this time, the selectors 16, 17, 18, 19 are connected to the signal lines 23, 24, 25.
.. 26 and selects the signal from flip-flop 22,2.
1.20 is configured as a shift register with the scan-in terminal 8 as an input and the scan-out terminal 12 as an output, but it is the opposite of the first configuration Jl! The second configuration shift register is configured to shift to i. That is, every time a clock signal is input to the clock input terminal 11, the contents of the flip-flops 20, 21, and 22 are outputted from the scan-out terminal 12 in this order, and the signal applied to the scan-in terminal 8 at the same time is 7 rip 70 bits. 22.21.2
Shifts in the order of 0. In this way, the contents of the flip-flops inside the logic integrated circuit can be read out in the reverse order of the first configuration, and arbitrary logical values can be written therein.

ここで、フリップフロップ20.21.22のうちの任
意の1個が機能しない場合、例えばフリップフロップ2
1が機能しない場合でも、第1の選択信号端子9を論理
%11.第2の選択信号端子10を論理101にしてス
キャンパスを構成し第1の構成のシフトレジスタを構成
してフリップフロップ22の内容をスキャンアウト端子
12から読出し、同時にスキャンイン端子8に印加した
信号をフリップフロップ20に書込むことができ、さら
に、第1の選択信号端子9を論理11〃、第2の選択信
号端子10を論理11′にしてスキャンパスを構成し第
2の構成の第1の構成のシフトレジスタとは逆順にシフ
トするシフトレジスタな構成することによシ、フリップ
フロップ22にスキャンイン端子8に印加した信号を書
込み、同時にフリップフロップ20の内容をスキャンア
ウト端子12から読出すことができる。すなわち、フリ
ップフロップ21が機能しなくてもそれ以外の7リツプ
70ツブ20.22についてその内容をスキャンアウト
端子12から読出したりスキャンイン端子8に印加され
た信号を書込むことができる。
Here, if any one of the flip-flops 20.21.22 does not function, for example, the flip-flop 2
1 does not function, the first selection signal terminal 9 is set to logic %11. A scan path is configured by setting the second selection signal terminal 10 to logic 101, a shift register of the first configuration is configured, and the contents of the flip-flop 22 are read from the scan-out terminal 12, and at the same time a signal is applied to the scan-in terminal 8. can be written to the flip-flop 20, and the first selection signal terminal 9 is set to logic 11, and the second selection signal terminal 10 is set to logic 11' to form a scan path, and the first selection signal terminal of the second configuration is set to logic 11'. By configuring the shift register as a shift register that shifts in the reverse order, the signal applied to the scan-in terminal 8 is written to the flip-flop 22, and at the same time, the contents of the flip-flop 20 are read from the scan-out terminal 12. be able to. That is, even if the flip-flop 21 does not function, the contents of the other 7-lip 70-tubes 20, 22 can be read from the scan-out terminal 12, and the signal applied to the scan-in terminal 8 can be written.

第2図は第1図に示すフリップフロップの詳細回路の一
例の回路図である。参照数字41,51゜54がそれぞ
れ入力端子、出力端子、クロック入力端子である。
FIG. 2 is a circuit diagram of an example of a detailed circuit of the flip-flop shown in FIG. 1. Reference numbers 41, 51, and 54 are an input terminal, an output terminal, and a clock input terminal, respectively.

第3図は第1図に示すセレクタ19の詳細回路の一例の
回路図である。参照数字42.43が入力端子、参照数
字52が出力端子、参照数字55が選択信号端子である
。選択信号端子55に論理11′が供給されるときは入
力端子42に供給される信号が選択され、論理ゝOlが
供給されるときには入力端子43に供給される信号が選
択される。
FIG. 3 is a circuit diagram of an example of a detailed circuit of the selector 19 shown in FIG. 1. Reference numerals 42 and 43 are input terminals, reference numeral 52 is an output terminal, and reference numeral 55 is a selection signal terminal. When the logic 11' is supplied to the selection signal terminal 55, the signal supplied to the input terminal 42 is selected, and when the logic "O1" is supplied, the signal supplied to the input terminal 43 is selected.

第4図は第1図に示すセレクタ16.17.18の詳細
回路の一例の回路図である。参照数字44゜45.46
が入力端子、参照数字53が出力端子。
FIG. 4 is a circuit diagram of an example of a detailed circuit of the selectors 16, 17, and 18 shown in FIG. Reference number 44°45.46
is the input terminal, and reference number 53 is the output terminal.

参照数字55.57が選択信号端子である。選択信号端
子57に論理10′が供給されると入力端子46に供給
される信号が選択され、選択信号端子57に論理111
9選択信選択子56に論理10′が供給されると入力端
子45に供給される信号が選択され、選択信号端子57
に論理′11゜選択信号端子56に論理%11が供給さ
れると入力端子44に供給される信号が選択される。
Reference numerals 55 and 57 are selection signal terminals. When logic 10' is supplied to selection signal terminal 57, the signal supplied to input terminal 46 is selected, and logic 111 is supplied to selection signal terminal 57.
When logic 10' is supplied to the 9 selection signal selector 56, the signal supplied to the input terminal 45 is selected, and the selection signal terminal 57
When the logic %11 is supplied to the logic '11° selection signal terminal 56, the signal supplied to the input terminal 44 is selected.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明は、論理集積回路内のすべ
てのフリップフロップを双方向にシフトすることができ
るシリアルシフトレジスタに構成できるようにして、複
数のフリップフロップのうちの任意の一個が機能しない
場合でも、その機能しないフリップフロップ以外のフリ
ップフロップについてその内容をスキャンアウト端子か
ら読出しまたスキャンイン端子から論理信号を書込むこ
とができるという効果がある。
As explained above, the present invention enables all flip-flops in a logic integrated circuit to be configured into a serial shift register capable of shifting in both directions, so that any one of the plurality of flip-flops can function. Even if the flip-flop does not function, the contents of the flip-flops other than the non-functioning flip-flop can be read from the scan-out terminal and logic signals can be written from the scan-in terminal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図に示すフリップフロップの詳細回路図、第3図は
第1図に示すセレクタ19の詳細回路図、第4Fは第1
図に示すセレクタ16,17゜18の詳細回路図、第5
図は従来の論理集積回路の一例のブロック図である。 1.2,3.4・・・・・・入力端子、5. 6. 7
・・・・・・出力端子、8・・・・・・スキャンイン端
子、9・・・・・・第1の選択信号端子、10・・・・
・・第2の選択信号端子、11・・・・・・クロック入
力端子、12・・・・・・スキャンアウト端子、13.
14・・・・・・電源入力端子、15・・・・・・組合
せ論理回路、16.17,18.19・・・・・・セレ
クタ、20.21.22・・・・・・フリップフロップ
、23〜36・・・・・・信号線、41〜46・川・・
入力端子、51,52.53・・・・・・出力端子、5
4・・・・・・クロック入力端子、55,56.57・
・・・・・選択信号入力端子、80〜88・・・・・・
信号線。 第3図 55′ろ  57 第4図
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the flip-flop shown in FIG. 1, FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the selector 19 shown in FIG. 1st
Detailed circuit diagram of selectors 16, 17 and 18 shown in the figure, No. 5
The figure is a block diagram of an example of a conventional logic integrated circuit. 1.2, 3.4... Input terminal, 5. 6. 7
...Output terminal, 8...Scan-in terminal, 9...First selection signal terminal, 10...
. . . second selection signal terminal, 11 . . . clock input terminal, 12 . . . scan out terminal, 13.
14...Power input terminal, 15...Combinational logic circuit, 16.17, 18.19...Selector, 20.21.22...Flip-flop , 23-36... Signal line, 41-46 River...
Input terminal, 51, 52.53...Output terminal, 5
4... Clock input terminal, 55, 56.57.
...Selection signal input terminal, 80 to 88...
Signal line. Figure 3 55'ro 57 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 組合せ論理回路と、スキャンイン端子と、スキャンアウ
ト端子と、前記組合せ論理回路の出力端に入力端が接続
するセレクタを介して前記スキャンイン端子とスキャン
アウト端子との間に接続される複数のフリップフロップ
と、第1の選択信号の供給に応答して前記複数のフリッ
プフロップを前記スキャンイン端子を入力端子とし前記
スキャンアウト端子を出力端子とするシリアルシフトレ
ジスタに構成する第1の構成手段と、第2の選択信号の
供給に応答して前記複数のフリップフロップを、前記ス
キャンイン端子を入力端子とし前記スキャンアウト端子
を出力端子とし前記第1の構成手段と逆方向にシフトす
るシリアルシフトレジスタに構成する第2の構成手段と
を含むことを特徴とする論理集積回路。
A combinational logic circuit, a scan-in terminal, a scan-out terminal, and a plurality of flip-flops connected between the scan-in terminal and the scan-out terminal via a selector whose input terminal is connected to the output terminal of the combinational logic circuit. and first configuration means for configuring the plurality of flip-flops into a serial shift register having the scan-in terminal as an input terminal and the scan-out terminal as an output terminal in response to supply of a first selection signal; In response to supply of a second selection signal, the plurality of flip-flops are configured as a serial shift register with the scan-in terminal as an input terminal, the scan-out terminal as an output terminal, and shifting in the opposite direction to the first configuration means. and second configuration means for configuring the logic integrated circuit.
JP60137353A 1985-06-24 1985-06-24 Logic integrated circuit Pending JPS61294378A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01171312A (en) * 1987-12-25 1989-07-06 Nec Corp Flip-flop circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01171312A (en) * 1987-12-25 1989-07-06 Nec Corp Flip-flop circuit

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