JPS61294304A - Lead bend detector - Google Patents

Lead bend detector

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JPS61294304A
JPS61294304A JP13551385A JP13551385A JPS61294304A JP S61294304 A JPS61294304 A JP S61294304A JP 13551385 A JP13551385 A JP 13551385A JP 13551385 A JP13551385 A JP 13551385A JP S61294304 A JPS61294304 A JP S61294304A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
optical fiber
fiber array
pins
detecting
Prior art date
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Pending
Application number
JP13551385A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Tsujimura
秀之 辻村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP13551385A priority Critical patent/JPS61294304A/en
Publication of JPS61294304A publication Critical patent/JPS61294304A/en
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Abstract

PURPOSE:To discriminate intervals of center positions of pins with a high precision independently of the number of IC pins by detecting leads of a passing IC for every two pins adjacent to each other. CONSTITUTION:An IC 1 is slid in the direction of an arrow DIR, and optical fiber arrays FAR and FAL are attached in such positions at right angles to the lengthwise direction of leads that parts near front end parts of lead end faces of the IC 1 can be detected. When the lead of the IC 1 traverses the array FAR in accordance with sliding of the IC 1, the light incident on optical fibers corresponding to the lead passing part is intercepted, and a detecting part DT is black in a part corresponding to this interception. Passing of the lead is monitored in an optional position PM of the detecting part to obtain the interval between two pins adjacent to each other by a discriminating part 2.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路(以下ICと略す)パッケージの外
観検査内の、特にリードの横方同曲シを検査する装置に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an apparatus for inspecting the appearance of integrated circuit (hereinafter abbreviated as IC) packages, particularly for inspecting lateral concurrence of leads.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の検出装置としては、第4図に示す様に矢
印DIR方向に移動してくるICIを一旦止めてリード
1αの側面に備えたラインセンナを使用したカメラ又は
エリアセンナを使用したカメラCAでリードlcLの全
体像をとらえ、画像処理による方法でリードの横方向白
シを検出していた。
Conventionally, this type of detection device uses a camera that uses a line sensor or an area sensor that temporarily stops the ICI moving in the direction of the arrow DIR as shown in Fig. 4 and is provided on the side of the lead 1α. CA captured the entire image of the lead lcL, and image processing was used to detect horizontal white spots on the lead.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来の検出装置では、カメラを使用して全リー
ドを一度に有効に撮る為、ICのピン数が少ない時は1
ピン分のリードが大きく撮れ、ICのピン数が多い時は
1ビン分のリードが小さく撮れることになる。
The conventional detection device described above uses a camera to effectively photograph all leads at once, so when the number of pins on an IC is small,
The lead corresponding to a pin can be taken larger, and when the number of IC pins is large, the lead corresponding to one bin can be taken smaller.

このことはICのピン数が多くなると、1ビン分にしめ
る画素の数が少なくなり精度が悪く、最悪では測定不能
になる。 mI]ち多ピンICの検出ができないという
欠点がある。
This means that as the number of pins on an IC increases, the number of pixels that can fit into one bin decreases, resulting in poor accuracy and, in the worst case, impossibility of measurement. [mI] This method has the disadvantage of not being able to detect multi-pin ICs.

本発明は通過するICのリードを互いに隣り合つた2ビ
ン分ずつ処理を行い検査するリード曲り検出装置を提供
するものである。
The present invention provides a lead bending detection device that processes and inspects passing IC leads for two adjacent bins at a time.

〔問題点を解決するための手段〕一 本発明は一本の光ファイバーを一直線上に等間隔にN本
(但し、Nは整数)並べた構造を持つ光ファイバーアレ
ーをICのパッケージのリードの長手方向に対して直角
に配置した装置において、光ファイバーアレー内の任意
の光ファイバーM本(但しMは1以上の整数)によりリ
ードの有無を検出する手段と、リードを検出した時に、
ファイバーアレー内の各々の光ファイバーに対し、光の
有無を検出する手段と、各々の光ファイバーの光の有無
より得られた出力より、互いに隣り合ったリードを対象
に各々の中心位置を求め、各々の中心位置の間隔を判定
する手段とを有することを特徴とするリード曲り検出装
置である。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides an optical fiber array having a structure in which N optical fibers are arranged in a straight line at equal intervals (N is an integer) in the longitudinal direction of the leads of an IC package. A means for detecting the presence or absence of a lead using M arbitrary optical fibers (M is an integer of 1 or more) in an optical fiber array in a device arranged perpendicular to the optical fiber array;
For each optical fiber in the fiber array, we use a means to detect the presence or absence of light, and from the output obtained from the presence or absence of light from each optical fiber, we calculate the center position of each adjacent lead. A lead bending detection device is characterized in that it has means for determining an interval between center positions.

〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を図により説明する。〔Example〕 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

1本の光ファイバーAを一直線上に等間隔に並べて構成
される光ファイバーアレーFAの実施例を第3図に示す
。このファイバーアレーで投光に対しては一般に行われ
ている透過型又は反射型どちらでもよい。
FIG. 3 shows an embodiment of an optical fiber array FA constructed by arranging one optical fiber A in a straight line at equal intervals. For light projection in this fiber array, either the commonly used transmission type or reflection type may be used.

今、DIP (DUAL IN PA幻弘GE)型IC
の横方同曲りを例にとって説明する。その外観が第1図
である。
Now, DIP (DUAL IN PA Genhiro GE) type IC
This will be explained by taking the lateral same bending as an example. Its appearance is shown in Figure 1.

工C1がDIRの方向に滑走し、そのICIのリード側
面の先端部付近が検出出来る位置で、IJ −ドの長手
方向に対して直角に光ファイバーアレーFAR,FAL
を左右に取り付ける。又このファイバーアレーFAR,
FALは透過型ファイバーとし、光源LTは第1図の様
にICIの内側に位置するものとする。
The optical fiber arrays FAR and FAL are installed at right angles to the longitudinal direction of the IJ-C at a position where the optical fiber array C1 slides in the direction of the DIR and the vicinity of the tip of the side surface of the ICI lead can be detected.
Attach to the left and right. Also, this fiber array FAR,
FAL is assumed to be a transmission type fiber, and light source LT is assumed to be located inside the ICI as shown in FIG.

この状態で本発明の動作原理を説明する。The operating principle of the present invention will be explained in this state.

第1図の向かって右側のファイバーアレーFARの動作
について説明する。第1図の平面図を第2図に示す、又
ファイバーアレーFARの検出部DTは、図面上外部よ
り光が入射されている時は白とし、光が遮断された時は
黒とする°。ICがファイバーアレーFAR部にない時
は、光源LTよシ出た光はすべてファイバーアレーFA
R部に入り、検出部DTはすべて白になっている。とこ
ろがICIがDIRの方向に滑走し、ICIのリードが
ファイバーアレーFAR部を横切ると、リードの通過部
に相当する光ファイバーへの入射光は遮断されそれに対
応した検出部DTは黒になる。
The operation of the fiber array FAR on the right side of FIG. 1 will be explained. The plan view of FIG. 1 is shown in FIG. 2, and the detection section DT of the fiber array FAR is shown as white when light is incident from the outside in the drawing, and as black when the light is blocked. When the IC is not in the fiber array FAR section, all light emitted from the light source LT is sent to the fiber array FA.
It enters the R section, and all of the detection sections DT are white. However, when the ICI slides in the direction of the DIR and the ICI lead crosses the fiber array FAR section, the incident light to the optical fiber corresponding to the lead passage section is blocked and the corresponding detection section DT becomes black.

そこで検出部の任意の位置(第2図のPM)に注目し、
その位置をモニタするものとする。即ち、その位置PM
をリードが通過するのをモニタする。
Therefore, paying attention to the arbitrary position of the detection part (PM in Fig. 2),
Its position shall be monitored. That is, the position PM
Monitor the lead as it passes.

第2図でICIがDIRの方向に滑走し、ICの最初の
リードPIRがモニタ位置PMを通過した時、検出部D
Tは第2図のDT、の様にリードPlR及びリードP2
Rで遮光された部分が黒く検出されることになる。即ち
このデータを−Hラッチする。
In Fig. 2, when the ICI slides in the direction of DIR and the first lead PIR of the IC passes the monitor position PM, the detection part D
T is DT in Fig. 2, lead PlR and lead P2.
The portion blocked by R will be detected as black. That is, this data is latched at -H.

ここで得られたデータに基づき判定部2でリードPER
に相当する部分PBIの中心位置Pc0、リードP2R
に相当する部分Pniの中心位置P(*を求めその距離
PLを求めることによって、リードPIRとリードP2
Rの間隔PLが求まる。次に2番目のり一ドP2Bがモ
ニタ位置PMを通過する時の検出器DTのデータよりリ
ードP2RとリードP3Rのリード間隔が求まる。以下
同様にしてすべてのリード間隔を求めることが出来る。
Based on the data obtained here, the determination unit 2 determines the lead PER.
Center position Pc0 of portion PBI corresponding to lead P2R
By finding the center position P(* of the part Pni corresponding to the distance PL), lead PIR and lead P2
The interval PL of R is found. Next, the lead interval between the lead P2R and the lead P3R is determined from the data of the detector DT when the second lead P2B passes the monitor position PM. Thereafter, all lead intervals can be found in the same manner.

この場合の分解能は、等間隔で並んでいる一本の光ファ
イバーの間隔で決まる。
The resolution in this case is determined by the distance between the optical fibers, which are arranged at equal intervals.

同様に右側のファイバーアレー跪についても同様である
・又モニタ位置PMを任意の1点としたが、雑音の影響
をさける為隣り合う2点、又は間隔をおいて数点選択し
てもよい。
The same is true for the fiber array knee on the right side. Although the monitor position PM is set to one arbitrary point, two adjacent points or several points spaced apart may be selected to avoid the influence of noise.

又実施例では投光を外部に設け、ファイバーアレーを透
過型として使用したが、一本の光ファイバーを反射型と
して反射型ファイバーアレーを構成し、リードよりの反
射光を検出器で検出し、処理する方法を用いても良い。
In addition, in the example, the light projection was provided externally and the fiber array was used as a transmission type, but a reflection type fiber array was constructed using a single optical fiber as a reflection type, and the reflected light from the lead was detected by a detector and processed. You may also use the method of

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は通過してくるICのリード
を互いに隣り合った2ピン分づつ処理しているため、I
Cのビン数に無関係に、又一旦ICを停止させる必要も
なく、又一本の光ファイバーの断面を小さくすることに
よシ高精度に測定でき、処理も簡単であるため測定時間
の短縮及び低価で実現できる効果がある。
As explained above, in the present invention, the leads of the passing IC are processed for two adjacent pins at a time.
Regardless of the number of C bins, there is no need to temporarily stop the IC, and by reducing the cross section of a single optical fiber, highly accurate measurement is possible, and processing is simple, reducing measurement time and reducing costs. There are effects that can be achieved at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例に使用したファイバーアレーの
配置図、第2図は第1図の上面図、第3図は本発明の実
施例に使用されるファイバーアレーの斜視図、第4図は
従来装置の正面図である。 1・・・IC,2・・・判定部、F・・・1本の光ファ
イバー、FA 、 FAR、FAL・・・光ファイバー
アレー、PIR,P2R。 P3R,P4R,PNR・・・ICのリード端子、DT
、DTI・・・検出部 特許出願人  日本電気株式会社 ■ DIR第2図
FIG. 1 is a layout diagram of a fiber array used in an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a top view of FIG. 1, FIG. 3 is a perspective view of a fiber array used in an embodiment of the present invention, and FIG. The figure is a front view of a conventional device. 1...IC, 2...judgment unit, F...one optical fiber, FA, FAR, FAL...optical fiber array, PIR, P2R. P3R, P4R, PNR...IC lead terminal, DT
, DTI...detection section patent applicant NEC Corporation ■ DIR Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)一本の光ファイバーを一直線上に等間隔にN本(
但しNは整数)並べた構造を持つ光ファイバーアレーを
集積回路のパッケージのリードの長手方向に対して直角
に配置した装置において、光ファイバーアレー内の任意
の光ファイバーM本(但しMは1以上の整数)によりリ
ードの有無を検出する手段と、リードを検出した時にフ
ァイバーアレー内の各々の光ファイバーに対し、光の有
無を検出する手段と、各々光ファイバーの光の有無より
得られた出力より、互いに隣り合つたリードを対象に各
々の中心位置を求め、各々の中心位置の間隔を判定する
手段とを有することを特徴とするリード曲り検出装置。
(1) N pieces of one optical fiber (
(where N is an integer) In a device in which an optical fiber array with an array structure is arranged perpendicular to the longitudinal direction of the leads of an integrated circuit package, any M optical fibers in the optical fiber array (where M is an integer greater than or equal to 1) means for detecting the presence or absence of a lead, means for detecting the presence or absence of light for each optical fiber in the fiber array when a lead is detected, and a means for detecting the presence or absence of light for each optical fiber in the fiber array. What is claimed is: 1. A lead bending detection device comprising means for determining the center position of each of the twisted leads and determining the interval between the respective center positions.
JP13551385A 1985-06-21 1985-06-21 Lead bend detector Pending JPS61294304A (en)

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