JPS61288065A - タ−ゲツト - Google Patents
タ−ゲツトInfo
- Publication number
- JPS61288065A JPS61288065A JP12801685A JP12801685A JPS61288065A JP S61288065 A JPS61288065 A JP S61288065A JP 12801685 A JP12801685 A JP 12801685A JP 12801685 A JP12801685 A JP 12801685A JP S61288065 A JPS61288065 A JP S61288065A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- plate
- target material
- sputtering
- joining
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、スパッタリング等により基板表面に薄板を形
成する際に用いられるターゲットに関する。
成する際に用いられるターゲットに関する。
ターゲットはイオンによってその表面から原子状に材料
がはじき出されてバイアス電圧により基板上に付着する
。
がはじき出されてバイアス電圧により基板上に付着する
。
(従来の技術)
スパッタリングにおいてターゲットは常に激しいイオン
ボンバードにさらされて、非常な^温になる。
ボンバードにさらされて、非常な^温になる。
通常の低速のスパッタリング時では昇温はさほど激しく
なく、また靭性のある金属材料ターゲット材として使用
される場合が多かったため、ターゲットを支持板に゛ボ
ルトやビスで固定することでことたりた時期もあったが
、最近マグネトロンスパッタリングの適用によるターゲ
ットの局部的なイオンボンバード及びスパッタリング速
度の上昇によりターゲットの冷却は重要な問題となり、
支持板とターゲットの強固な接合は不可避の問題となっ
てきた。
なく、また靭性のある金属材料ターゲット材として使用
される場合が多かったため、ターゲットを支持板に゛ボ
ルトやビスで固定することでことたりた時期もあったが
、最近マグネトロンスパッタリングの適用によるターゲ
ットの局部的なイオンボンバード及びスパッタリング速
度の上昇によりターゲットの冷却は重要な問題となり、
支持板とターゲットの強固な接合は不可避の問題となっ
てきた。
また、ターゲット材についてもセラミック、金B111
化合物などの脆い材料が使用され、冷却なしで使用する
場合破損に至り易くなったこともあり、接合の重要性は
増加した。従来の接合には、インジウム、半田、銀ろう
等による接合が行われてきた。また、これらの材料に0
.2〜15μm程度の裏打ちコーティングを行なうこと
も行われてきている。
化合物などの脆い材料が使用され、冷却なしで使用する
場合破損に至り易くなったこともあり、接合の重要性は
増加した。従来の接合には、インジウム、半田、銀ろう
等による接合が行われてきた。また、これらの材料に0
.2〜15μm程度の裏打ちコーティングを行なうこと
も行われてきている。
(発明が解決しようとする問題点)
従来行われている接合方法のうち、インジウム。
半田、銀ろうを用いる方法は、溶湯状態のこれらの金属
とぬれ性が悪いターゲット材では用いることができない
。特にセラミックや金属間化合物では大部分がぬれ性が
悪い。また、これらに裏打ちを行なった場合でも、セラ
ミックや金属間化合物では裏打材とターゲット材との接
合強度が低く、高速のスパッタリングを行なった場合に
は、接合部よりの剥離や割れが発生した。
とぬれ性が悪いターゲット材では用いることができない
。特にセラミックや金属間化合物では大部分がぬれ性が
悪い。また、これらに裏打ちを行なった場合でも、セラ
ミックや金属間化合物では裏打材とターゲット材との接
合強度が低く、高速のスパッタリングを行なった場合に
は、接合部よりの剥離や割れが発生した。
本発明は、このような問題点を解決し、水冷効果が十分
で割れ発生が少なく、スパッタリング速度の大きいター
ゲットを提供することを目的とする。
で割れ発生が少なく、スパッタリング速度の大きいター
ゲットを提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
薄膜形成に使用されるターゲット材に、camをうず巻
状に巻くか、網状に編んだ布を銅合金で固めて板とした
CU−C板をターゲットと接合させたターゲットを使用
する。接合する手段としては、ターゲット材とCu−C
板を高温で加圧圧接する。または、ターゲット材に適当
な材料(例えばCu −Mn )を衷打ちし、これを介
してCLI −C板と高温で圧接する。
状に巻くか、網状に編んだ布を銅合金で固めて板とした
CU−C板をターゲットと接合させたターゲットを使用
する。接合する手段としては、ターゲット材とCu−C
板を高温で加圧圧接する。または、ターゲット材に適当
な材料(例えばCu −Mn )を衷打ちし、これを介
してCLI −C板と高温で圧接する。
(作 用)
ターゲット材とCu−C板を接合して、ターゲットを形
成することの利点は次の通りである。Cu−Q板はCの
繊維の方向、CuとCの吊の調整により熱膨張係数を変
化させることができる。特に低い側では、4X10−”
/”Cという値が得られ、セラミックや金属間化合物と
ほぼ同等となる。
成することの利点は次の通りである。Cu−Q板はCの
繊維の方向、CuとCの吊の調整により熱膨張係数を変
化させることができる。特に低い側では、4X10−”
/”Cという値が得られ、セラミックや金属間化合物と
ほぼ同等となる。
また、適当な裏打材(例えばCu −Mn )を介する
と、その接合強度は大となり、ターゲット材自身よりも
大きくなる場合が多い。なお、CuとCの複合材料であ
る為、熱伝導も良好である。
と、その接合強度は大となり、ターゲット材自身よりも
大きくなる場合が多い。なお、CuとCの複合材料であ
る為、熱伝導も良好である。
インジウム、半田などの抵触点の材料とぬれ性が良く、
容易に支持板に使用される無酸素銅と低温で接合できる
。これらの特徴は、第一にターゲットと支持板を接合さ
せる場合のターゲットと支持板間、ターゲット材とCU
−C板間の発生応力を大巾に減少させる。また同様に、
スパッタリング時の冷却効果を大ならしめ、ターゲット
材の発生応力もCu −Cの緩衝作用をあわせて小さく
なる。一方、Cu −C板をターゲット材に複数個使用
してターゲット材の面を埋めることも考えられる。これ
によれば、冷却時の熱応力の緩和はより有効となり、効
果が増大する。特に大径のターゲットに有効である。
容易に支持板に使用される無酸素銅と低温で接合できる
。これらの特徴は、第一にターゲットと支持板を接合さ
せる場合のターゲットと支持板間、ターゲット材とCU
−C板間の発生応力を大巾に減少させる。また同様に、
スパッタリング時の冷却効果を大ならしめ、ターゲット
材の発生応力もCu −Cの緩衝作用をあわせて小さく
なる。一方、Cu −C板をターゲット材に複数個使用
してターゲット材の面を埋めることも考えられる。これ
によれば、冷却時の熱応力の緩和はより有効となり、効
果が増大する。特に大径のターゲットに有効である。
(実施例1)
スパッタリング装置は第1図に示すようなものである。
真空槽1の中にカソード2とアノード3がある。カソー
ド2には薄膜の材料となるターゲット4が支持板5に取
り付けてあり、アノード3には薄膜を形成するべき基板
6が置いである。電極類は外部よりアノード3とカソー
ド2の間に1〜2KVの直流電圧7が印加できる構造と
なっている。真空槽1は高真空排気孔8とガス導入バル
ブ9が設けである。
ド2には薄膜の材料となるターゲット4が支持板5に取
り付けてあり、アノード3には薄膜を形成するべき基板
6が置いである。電極類は外部よりアノード3とカソー
ド2の間に1〜2KVの直流電圧7が印加できる構造と
なっている。真空槽1は高真空排気孔8とガス導入バル
ブ9が設けである。
スパッタリングを始める場壺は、先ず槽内を充分な高真
空に排気する。これは槽内の残留ガスが、スパッタリン
グ時に製作する膜の不純物材料とならないようにするた
めである。次に真空槽1を排気系に接続したままガス導
入バルブ9よりArガスを導入し、真空槽内部がスパッ
タリング可能な圧力になるようコントロールする。この
ような状態で、カソード2とアノード3の間に直流の高
電圧を印加する。こうするとカソード2とアノード3の
間に存在するガスに電界がかかるようになる。
空に排気する。これは槽内の残留ガスが、スパッタリン
グ時に製作する膜の不純物材料とならないようにするた
めである。次に真空槽1を排気系に接続したままガス導
入バルブ9よりArガスを導入し、真空槽内部がスパッ
タリング可能な圧力になるようコントロールする。この
ような状態で、カソード2とアノード3の間に直流の高
電圧を印加する。こうするとカソード2とアノード3の
間に存在するガスに電界がかかるようになる。
100−―φのターゲットを使用するスパッタリング装
置に使用するターゲット材10011fflφ×6丁を
第1表に示す条件で、無酸素銅よりなる支持板と接着し
た。用いたCu−C板は熱膨張係数4X10−’/’C
のものでターゲット材と近い値となっている。また、形
状は、100mmφ×11111である。Cu−Cとタ
ーゲットの接合は裏打された面とCU−C板を接触させ
、ホットプレス炉中で加圧圧接により行なった。ターゲ
ットと支持板との接着は真空炉中で真空状態で行なった
。これらにつき接合強度の比較を行なったところ、第1
表に示す番号1〜8の本発明の方法では、接合強度が従
来方法に比較して飛躍的に向上した。また、実際のスパ
ッタ時において、破損することなく使用された。
置に使用するターゲット材10011fflφ×6丁を
第1表に示す条件で、無酸素銅よりなる支持板と接着し
た。用いたCu−C板は熱膨張係数4X10−’/’C
のものでターゲット材と近い値となっている。また、形
状は、100mmφ×11111である。Cu−Cとタ
ーゲットの接合は裏打された面とCU−C板を接触させ
、ホットプレス炉中で加圧圧接により行なった。ターゲ
ットと支持板との接着は真空炉中で真空状態で行なった
。これらにつき接合強度の比較を行なったところ、第1
表に示す番号1〜8の本発明の方法では、接合強度が従
来方法に比較して飛躍的に向上した。また、実際のスパ
ッタ時において、破損することなく使用された。
一方、第1表に示す番号8〜12の比較例のものは、タ
ーゲットの消耗以前に割れを生じた。
ーゲットの消耗以前に割れを生じた。
(実施例2)
220φのMO8i2ターゲット材を、実施例1と同様
の方法で111B厚さのCu−C板と接合した。この際
、CU−C板は60+g+x60+uaの板を組み合わ
せて使用し、ターゲット材の円周部分はそれにそって切
断し、全体として220φとなるようにした。本ターゲ
ットも実施例1と同様にインジウムを介して支持板に接
着した。、このターゲットは10KWの電力を投入して
も割れなく使用できた。
の方法で111B厚さのCu−C板と接合した。この際
、CU−C板は60+g+x60+uaの板を組み合わ
せて使用し、ターゲット材の円周部分はそれにそって切
断し、全体として220φとなるようにした。本ターゲ
ットも実施例1と同様にインジウムを介して支持板に接
着した。、このターゲットは10KWの電力を投入して
も割れなく使用できた。
(発明の効果)
本発明は、以上述べたように、ターゲット材への十分な
冷却効果、接合部の強度、インジウム。
冷却効果、接合部の強度、インジウム。
半田などの良好な接合によりターゲット材、支持板間の
応力の減少をも伴ってスパッタリング速度の高速化、条
件の安定化をもたらし、成膜効率の大巾な向上をもたら
した。
応力の減少をも伴ってスパッタリング速度の高速化、条
件の安定化をもたらし、成膜効率の大巾な向上をもたら
した。
第1図は、スパッタリング装置の一例の要部断面図であ
る。 1・・・真空槽、2・・・カッ、−ド、3・・・アノー
ド、4・・・ターゲット、5・・・支持板、6・・・基
板。
る。 1・・・真空槽、2・・・カッ、−ド、3・・・アノー
ド、4・・・ターゲット、5・・・支持板、6・・・基
板。
Claims (2)
- (1)ターゲット材に銅−炭素繊維複合材の板を接合し
たことを特徴とするターゲット。 - (2)銅−炭素繊維複合材の板が複数個に分割されてい
る特許請求の範囲第1項記載のターゲット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12801685A JPS61288065A (ja) | 1985-06-14 | 1985-06-14 | タ−ゲツト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12801685A JPS61288065A (ja) | 1985-06-14 | 1985-06-14 | タ−ゲツト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61288065A true JPS61288065A (ja) | 1986-12-18 |
Family
ID=14974400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12801685A Pending JPS61288065A (ja) | 1985-06-14 | 1985-06-14 | タ−ゲツト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61288065A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997007258A1 (en) * | 1995-08-16 | 1997-02-27 | Materials Research Corporation | Sputter target/backing plate assembly and method of making same |
WO2001092594A2 (en) * | 2000-05-31 | 2001-12-06 | Honeywell International Inc. | Fiber-metal-matrix composite for physical vapor deposition target backing plates |
KR100315556B1 (ko) * | 1996-11-20 | 2002-01-12 | 니시무로 타이죠 | 스퍼터링타겟,그를이용하여형성한반강자성체막및자기저항효과소자 |
WO2002036846A3 (en) * | 2000-10-30 | 2003-03-06 | Honeywell Int Inc | Sputtering target assemblies |
-
1985
- 1985-06-14 JP JP12801685A patent/JPS61288065A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997007258A1 (en) * | 1995-08-16 | 1997-02-27 | Materials Research Corporation | Sputter target/backing plate assembly and method of making same |
US5857611A (en) * | 1995-08-16 | 1999-01-12 | Sony Corporation | Sputter target/backing plate assembly and method of making same |
US6183613B1 (en) | 1995-08-16 | 2001-02-06 | Praxair S.T. Technology, Inc. | Sputter target/backing plate assembly and method of making same |
KR100315556B1 (ko) * | 1996-11-20 | 2002-01-12 | 니시무로 타이죠 | 스퍼터링타겟,그를이용하여형성한반강자성체막및자기저항효과소자 |
WO2001092594A2 (en) * | 2000-05-31 | 2001-12-06 | Honeywell International Inc. | Fiber-metal-matrix composite for physical vapor deposition target backing plates |
WO2001092594A3 (en) * | 2000-05-31 | 2002-03-21 | Honeywell Int Inc | Fiber-metal-matrix composite for physical vapor deposition target backing plates |
US6596139B2 (en) | 2000-05-31 | 2003-07-22 | Honeywell International Inc. | Discontinuous high-modulus fiber metal matrix composite for physical vapor deposition target backing plates and other thermal management applications |
US6815084B1 (en) | 2000-05-31 | 2004-11-09 | Honeywell International Inc. | Discontinuous high-modulus fiber metal matrix composite for thermal management applications |
WO2002036846A3 (en) * | 2000-10-30 | 2003-03-06 | Honeywell Int Inc | Sputtering target assemblies |
US6596131B1 (en) * | 2000-10-30 | 2003-07-22 | Honeywell International Inc. | Carbon fiber and copper support for physical vapor deposition target assembly and method of forming |
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