JPS61283183A - 原子ビ−ムないし分子ビ−ムの周波数標準の周波数制御方法とその装置 - Google Patents

原子ビ−ムないし分子ビ−ムの周波数標準の周波数制御方法とその装置

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JPS61283183A
JPS61283183A JP61117116A JP11711686A JPS61283183A JP S61283183 A JPS61283183 A JP S61283183A JP 61117116 A JP61117116 A JP 61117116A JP 11711686 A JP11711686 A JP 11711686A JP S61283183 A JPS61283183 A JP S61283183A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電磁波が供給される2つのマイクロ波空洞を
備えた原子ないし分子ビーム装置であって、電磁界の周
波数が、ビームの原子ないし分子の所定遷移の特性周波
数近傍における呼掛は周波数を中心に正弦波信号で時間
変調されており、面′記装置内で空洞を通過するに伴っ
て前記遷移を行ったビームの原子数ないし分子数と比例
する電流が生ずる前記装置を用いて行う方法であって、
前記電流の所定検出特性の関数として制御信号を発生せ
しめ、前記特性周波数と呼掛は周波数との差を減少させ
るべく、前記制御信号の関数として前記電磁界の周波数
を修正することよりなる周波数標準の周波数制御方法に
関する。
尚、呼掛は周波数とは、周波数標準(物性質の測定にお
ける単位となる基準サンプル)が使えるためには、2つ
の共振空洞で電磁界を励起する必要があるが、この電磁
界は、セシウムの特性周波数にできるだけ近似した周波
数を有するものでなけれはならない。この電磁界の周波
数が呼掛は周波数(interrogation fr
equency)とも励起周波数とも言われている。
従来の技術 面性の如きの方法は、例えば米国特許第2.972゜1
15号や第3,354,307号に開示されているセシ
ウムビーム装置で実施されている。
添付図面の第1図にこのような装置を示す。この装置は
、セシウム原子ビーム2を発生し、これを、非常に不均
質な磁界を生ずる第1対の偏向磁極片3 a、3 bを
介して送り出すソース1(オーブン)を備えている。こ
の磁界は、所定方向の磁気モーメントを有して励起状態
にある原子を、反対方向の磁気モーメントを有する原子
から空間的に分離している。
所定の原子2aは、隣接した2つの共振マイクロ波空洞
4 a、 4 bにおいて、前記原子の状態の遷移ない
し変化(「スピン」磁気モーメントの方向の反転)を起
す周波数近傍における周波数νの電磁照射波と相互作用
を行う。
前記照射波の周波数がセシウムの遷移特性周波数(9,
192,631,770Hz)と近ければ近いほど、磁
気モーメントを反転する原子、即ち状態が変る原子の数
が大きい。
第2対の偏向磁極片5 a、 5 bは、磁気モーメン
ト反転を行った原子2bのみが検出器6に達するように
、第2空洞4bから出射した原子2aに影響を及ぼす。
検出器6は公知の態様で、入射原子の数に比例した電流
Iを出力する。
機能的な面から言えば、第1図のセシウムビーム装置は
、出力電流■を入力呼掛は周波数νに関係づける公知の
伝達関数に特徴づけられる「ブロツqJD(第2図)と
、以下の説明でみなすことができる。
前記伝達関数についてはよく知られているところであっ
て、以後に詳述する。
第3図に周波数標準(rrequency 5tand
ard)を示しているが、これには第1図と第2図とを
参照して説明したセシウム管(tube)Dが備わって
いる。
第3図に、電圧制御式発振器(VCO)から供給される
信号の周波数(例えば5 MH2)を変調する位相変調
器lOが示されている。発振器(VCO) 11の周波
数は、方形波発振器12から周波数2fmで始まって得
られる周波数がfmの正弦波により時間変調されるので
ある。
この発振器の出力により、入力周波数を半分にして、出
力端から周波数rmで方形波信号を出力する2つの分周
器13.14が駆動される。分周器13の出力はローパ
スフィルター15に送られ、かくてこのフィルター15
からは、周波数fmにて実用上正弦波である信号が変調
器10に供給される。
変調器10から出力された周波数変調信号は、周波数逓
倍器16はセシウム管りに、セシウムの特性共振周波数
近傍の呼掛は周波数(interrogationr 
requency)を中心に正弦波的に時間変調された
周波数を有する信号を供給する。
検出器6からの出力電流■は選択増幅器I7に供給され
、そこで前記電流から、周波数から変調器lOに供給さ
れた変調周波数、即ち周波数fmの第−調波である正弦
波成分のみが取り出されて増幅される。
増幅器17と分周器14からの出力は共にコヒレノト位
相復?A418に供給される。この復調器18は公知構
成であって、その出力は発振器11の制御入力端に接続
した積分増幅器19に供給される。
第4図に、公知のセシウムビーム周波数標準と、本発明
による標準との作用を説明するために、一連の波形を示
す。
特に第4図において、周波数「の関数として示しである
Iの曲線は、セシウムビーム管の伝達関数であるいわゆ
るラムゼー曲線(パターン)(Ram5ey curv
e )である。
前記曲線は、F = 3 、mF = OとF=4.m
F=0のノーマン偽サブレベル(ZeeIIan 5u
blevels)間での遷移ニツイテ9,192.63
1.77011Zテある周波数fcsにおいて中心ピー
クを有する。
第4図のラムゼー曲線の上方と下方に示したものは、セ
シウム管りに供給された変調周波数νの時間変化を示す
2つのグラフである。
ラムゼー曲線の下方のダラムには、ν(1)とν(3)
とで夫々示した変調周波数νの2つの異った正弦変動を
示している。いづれにしても1、周波数νの時間変動は
周波数fcsあたりに集中している。そこで、セシウム
管りに供給した信号の周波数が第4図の下方のグラフに
おけるν(1)とν(3)に従って変調されるものと想
定すると、検出器6から出力される電流■は、時間先の
関数として、夫々、第4図の曲線I(1)とI(3)と
で示した波形をとることになる。
よって、変調周波数がラムゼー曲線の中心ピーク近傍に
集中すれば、セシウム管の検出器から生ずる電流は、変
調周波数rmの偶数調波のみ含んだものとなる。従って
、このような場合では、選択増幅器17はゼロ出力信号
を有することになり、発振器11の周波数は修正されな
い。
反対に、変調周波数νが、第4図のラムゼー曲線の上方
のグラフに示されているようにラムゼーパターンの中心
ピーク近傍に集中していない場合では、セシウム管の検
出管から、第4図にて1’(1)とr ’ (1)とで
示した波形の電流が生ずる。
第4図の曲1r’(1)とt’(*)とは、変調周波数
がラムゼー曲線の中心ピークに集中しない場合、検出器
から生ずる電流は、変調周波数の奇数調波の内容を有す
ることを示している。特に、曲線[’(1)は、大部分
が第一調波の内容であることを示している。この場合、
第3図の選択増幅器17は、コヒレント位相復調器18
により振幅と極性とが復調される周波数「mにおける成
分を電流■から抽出するように同調されている。
すると、後者、即ち、位相復調器18の出力端には、周
波数「mを基本的には2倍に波形を整流した正弦波であ
る周波数2rmの信号が出力される。この信号は増幅器
19で増幅、積分された後、発振器11の周波数をステ
アリングするのに使われる。
しかし乍ら、第5図に示した標準(standard)
の前述した作用は、周波数rcsにおけるセシウム遷移
近傍におけるセシウム遷移の作用を考慮に入れていない
が故に、いくらか理想すぎる。
第5図にいわゆるラビ曲線(Rabi curve)を
示すが、これは、管りからの出力電流[が、セシウム遷
移の3つの中心遷移について、横座標上の周波数の関数
であることを示している。
左側の曲線はF=4、mF=−1とF’=3、mF;−
1サブレベル間での遷移に対応しているが、右側の曲線
はF=4、mF=IとF=3、mF=1サブレベル間で
の遷移に対応している。
理想的な場合では、これら2つの側曲線は等しく、中心
曲線を中心として対称をなしており、ラムゼー曲線の中
心ピーク近傍に集中する周波数間隔Fにおいて、側曲線
の「ウィング」ないし「尻座(tai1)J(その周波
数間隔において、おおよそ直線セグメントであられされ
る。)が加重(add up)され、結果として第2図
にてRで示した水平直線セグメントが呈される。
しかし、実際の場合、面記曲線の隣接する遷移に対応す
る尻座は加重して、周波数間隔F内において、一般にゼ
ロとは異った有限傾斜をなす直線セグメントR゛を呈し
ている。
理想的な場合では、隣接する遷移の作用効果は問題には
ならない。前述したようにそれらの組合さった伝達関数
は、管の出力電流の調波成分を変えるには至らない水平
直線セグメントによりあられされる。
現実には、互いに隣接するウィングの組合さった伝達関
数は、一般にゼロ以外の傾斜を示す。それ故、そのよう
な遷移により、変調周波数νが実際に励起された遷移の
特性周波数上で集中したとしても、管の出力電流■に第
一調波成分が生じる。
一般に、基準として用いた遷移に近い遷移により、標準
の周波数にバイアス誤りが生ずる。このようなバイアス
誤りは時間経過に伴って変るので、標準の精度と長期に
わたる安定性とが限られている。
発明の目的 本発明の目的は、精度が高く、再現性もよく、かつ長期
にわたって安定しうるとともに、周囲条件に対しては非
常に影響されることのない周波数標準を実現することに
ある。特に周囲条件に影響されるものとしては、ラビラ
イン、例えば空洞におけるマイクロ波電磁界のパワーに
よりラビラインの形状が変ることが考えられる。
本発明によれば前述した目的はC呼掛は周波数νを変調
する周波数の第一次よりも高い奇数調波である周波数を
有する成分を前記管の出力電流を抽出し、この成分を振
幅と極性とにおいて一貫して(coherently)
復調することにより出力信号を発生させるように、周波
数標準の周波数制御方法を工夫することによって達成し
うる。更に、本発明は前述の方法を実施する周波数制御
装置にも係わるものである。
また、本発明は、斯る制御装置を備えた周波数elfに
も係わるものである。
以後、添付図面を参照しながら、本発明の実施例を詳述
する。
第6図において、発振器12と分周器13との間に入力
信号の周波数を3で分周する分周器+00が介在されて
いる。それ故、分周器100の出力端からは、周波数が
rm/3である対称的な方形波が出力される。
従って、変調器10にはフィルター15から、周波数が
fm/3の正弦波変調信号が出力される。
また、この場合、セシウム管の出力端と接続した選択増
幅器17は、周波数fI11の成分を取出すように同調
されている。しかしながら、この場合では前記周波数は
、変調周波数の第三次調波である。
セシウム管りに供給される被変調周波数が実際に特性周
波数rcsに集中すれば、選択増幅器17の出力端から
は、実用上ゼロである信号が出力される。事実、電流I
は選択増幅器17により除波された偶数調波のみの内容
と、これまた増幅器17により除波された。隣接した遷
移により起生ずる変調周波数fm/3における小さい成
分とを何している。
反対に、管りに供給した被変調周波数が周波数rcsに
集中していないとすれば、電流■は、第4図において曲
線r ’ (i)で示した如きの波形を有し、周波数f
mにおける強力な成分が変調周波数の第三調波に対応し
ている。この第三調波成分は、−貫して復調され、積分
されて、発振器11に供給すべき制御信号を発生する。
また、この場合、互いに隣接する遷移による影響は、選
択増幅器17により除波される周波数「m/3における
電流Iの成分であるから、はとんど問題とならない。
傾斜しているバックグラウンド信号による問題を克服す
べく第三g?lILを検出す多ことはすでに堤案されて
いるとともに、他の分野、特に飽和吸収分光におけるレ
ーザーの周波数安定化に使われている。
原子ビーム周波数標準という特定の分野では、第三調波
の検出は行なわれることがなかったばかりか、反対に、
実行不可能なものと考えられていた。何故ならば、第三
調波を検出したとしても、それは、検出した基本周波数
の振幅に比べて振幅が非管に小さすぎること、それ故に
S/N比の損失が受は入れ難い程であるからである。
これが当該分野で専門家が抱いている一般的な考えであ
り、本願発明者でさえ、例えば「メトロロシア(Met
rologia)J20.37−47(1984)にて
公表した論文rPulling by neighbo
uring transi−tions and it
s e[Tects on the performa
nce orCesium beam frequer
lcy 5tandardsJで報告されているように
、そう考えていた位である。
このような考えを批判的に見ていたら、本願発明者は、
第三調波ループで得られるS/N比が第一調波ループで
得られるS/N比と実用上同一であることを分析し、か
つ実験的に確認することかできた。
【図面の簡単な説明】
第1図は、セシウムビーム周波数標準の概略説明図、第
2図と第3図とは、第1図のセシウムビーム管の機能的
な図解であって、セシウムビーム管を含む従来の周波数
標準のブロック図であり、第4図は、セシウムビーム管
の作用を説明するグラフ、第5図は、実際に使用した中
心遷移と隣接する遷移とに対応する、セシウム管のラビ
曲線を示す特性図、第6図は、本発明による周波数標準
を示すブロック図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)電磁界が供給される2つの空洞(4a、4b)を備
    えた原子ないし分子ビーム装置(D)であって、電磁界
    の周波数がほぼ正弦波の如く、ビーム(2a)の原子な
    いし分子の所定遷移の特性周波数(fcs)近傍におけ
    る呼掛け周波数(ν)を中心に時間変調されており、前
    記装置内で空洞(4a、4b)を通過するに伴って前記
    遷移を行ったビームの原子数ないし分子数と比例する電
    流(I)が生ずる前記装置を用いて行う方法であって、
    前記電流(I)の所定検出特性の関数として制御信号を
    発生せしめ、前記特性周波数(fcs)と呼掛け周波数
    (ν)との間の差を減少させるべく、前記制御信号の関
    数として前記電磁界の周波数を修正することよりなる周
    波数標準の周波数制御方法において、前記電流(I)か
    ら、一次よりも高い奇数調波であるとともに、呼掛け周
    波数(ν)を変調させる周波数の成分を取出し、該成分
    を振幅と極性とにおいて一貫して復調することによって
    前記制御信号を発生させるようにしたことを特徴とする
    周波数標準の周波数制御方法。 2)特許請求の範囲第(1)項に記載の方法であって、
    前記電流(I)から取出された成分の周波数が、呼掛け
    周波数を変調させる周波数の第三次調波であること。 3)2つのマイクロ波空洞(4a、4b)と、ビーム(
    2a)の原子ないし分子の所定遷移の特性周波数(fc
    s)近傍における可変呼掛け周波数を中心に正弦波で周
    期的に時間変調した周波数で、前記空洞(4a、4b)
    に電磁界を供給しうる制御式発生手段(10、11、1
    6)と、前記空洞(4a、4b)を介して原子ないし分
    子のビーム(2a)を供給するビーム供給源(1)と、
    前記遷移を行った原子ないし分子(B)の数と比例する
    電流(I)を発生する検出器(6)とからなり、前記電
    流(I)の所定検出特性の関数である制御信号であって
    、特性周波数(fcs)と呼掛け周波数(ν)との差を
    減少させるように、前記電磁界の周波数を修正するのに
    用いる前記制御信号の発生手段(17、18)をも備え
    た制御装置において、前記制御信号発生手段が、呼掛け
    周波数を変調させる周波数であって、一次よりも高い所
    定奇数調波の周波数を有する成分を前記電流(I)から
    取出す検出回路(17)と、該検出回路(17)に接続
    してあって、前記成分を振幅と極性とにおいて復調する
    復調器(18)とから構成されていることを特徴とする
    原子ないし分子ビーム周波数標準の周波数制御装置。 4)特許請求の範囲第(3)項に記載の装置であって、
    前記検出回路(17)が、呼掛け周波数(ν)を変調さ
    せる周波数の第三次調波である周波数の成分を前記電流
    (I)から取出すように同調されていること。 5)特許請求の範囲第(1)項から第(4)項のいづれ
    かに記載した制御装置を含む原子ないし分子ビーム周波
    数標準。
JP61117116A 1985-05-20 1986-05-20 原子ビ−ムないし分子ビ−ムの周波数標準の周波数制御方法とその装置 Expired - Lifetime JPH0744297B2 (ja)

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JPS61283183A true JPS61283183A (ja) 1986-12-13
JPH0744297B2 JPH0744297B2 (ja) 1995-05-15

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JP (1) JPH0744297B2 (ja)
CH (1) CH669874A5 (ja)
DE (1) DE3616967C2 (ja)
FR (1) FR2582172B1 (ja)
IT (1) IT1185571B (ja)

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