JPS61269085A - 電子部品の温度試験装置 - Google Patents

電子部品の温度試験装置

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JPS61269085A
JPS61269085A JP60110320A JP11032085A JPS61269085A JP S61269085 A JPS61269085 A JP S61269085A JP 60110320 A JP60110320 A JP 60110320A JP 11032085 A JP11032085 A JP 11032085A JP S61269085 A JPS61269085 A JP S61269085A
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JP
Japan
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temperature
medium member
heating medium
electronic components
heating
Prior art date
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Pending
Application number
JP60110320A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Tsuya
津谷 英喜
Mitsuhiro Katsuki
香月 光浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、温度試験用の装置技術さらには電子部品の
温度試験装置に適用して特に有効な技術に関するもので
、例えばIC(半導体集積回路装置)のごとき電子部品
の温度特性評価に利用して有効な技術に関するものであ
る。
〔背景技術〕
例えばICなどの電子部品では、その電気的な特性が使
用環境によってどのように変化するかを知ることが大切
である。その中でも、温度による特性の違い、いわゆる
温度特性は特に重要視されている。
ところで、その温度特性を評価するためには、評価しよ
うとする電子部品に所定の温度環境を与える試験装置が
必要である。この温度試験装置としては、一般には、恒
温槽が多く利用されている(例えば、CQ出版社発行「
実用電子回路ハンドブック(5)」昭和57年9月10
日発行、222〜224頁(電子恒温槽)参照)。
しかし、この恒温槽は、当然ながら、その中に入れられ
るものだけにしか利用できない。例えば、大きな装置あ
るいは固定設置された装置に実装された電子部品をその
実装状態のままで温度試験することは、不可能である。
このほかに、この種の、恒温槽には、簡単に持ち運びで
きない、大きな据付スペースが必要である、電力消費が
多い、概して高価である、といったような問題があった
そこで、恒温槽が使えないところでの温度試験を行うた
めに、温風あるいは冷風を吹きつけることにより所定の
温度環境を得ることが一部で行われている。
しかし、これを行うためには、コンプレッサなどの大掛
り装置が必要であって、手軽に使用するという訳にはい
かない。また、その温風あるいは冷風を目的箇所だけに
確寮に当てることが難しく、周囲を不要に加熱して、場
合によっては、試験対象以外の部品を破損してしまうこ
ともあった。さらに、温風あるいは冷風の放出に伴って
熱源あるいは冷熱源も放散されてしまうので、加熱効率
あるいは冷却効率が低い、という問題もあった。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、持ち運び移動が容易で手軽に使用す
ることができるとともに、試験される電子部品が実装状
態あるいは動作状態にあっても、その目的の電子部品だ
けを効率良く加熱あるいは冷却して所定の試験温度環境
を与えることができる温度試験技術を提供することにあ
る。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものを簡単
に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、電子部品に接触させられる熱媒体部材にジュ
ール発熱体と熱電効果素子を一緒に取り付けることKよ
り、持ち運び移動が容易で手軽に使用することができる
とともに、試験される電子部品が実装状態あるいは動作
状態にあっても、その目的の電子部品だけを効率良く加
熱あるいは冷却して所定の試験温度環境を与えることが
できるようにする、という目的を達成するものである。
〔実施例〕
以下、この発明の代表的な実施例を図面を参照しながら
説明する。
なお、図面において同一符号は同一あるいは相当部分を
示す。
第1図はこの発明による温度試験装置の一実施例を示す
同図に示す温度試験装置1は、IC(半導体集積回路装
置)などの電子部品11の温度特性を測定・評価するた
めに使用されるものであって、熱電効果素子2、ジュー
ル発熱体としての抵抗発熱体3、温度センサ4、熱媒体
部材5、断熱部材6、冷却器7、および外装ケース8な
どによって構成されている。
熱電効果素子2はペルチェ素子などの電子冷却素子であ
って、半導体!一対の金職板で挾んで電流を流すことに
より、その一端で吸熱が、その他端で発熱がそれぞれ生
じることを利用する。この熱電効果素子2は、電流の方
向を切り換えることによって冷却と加熱のいずれにも使
うことができる。
抵抗発熱体3は通常の通電によるジェール発熱を利用し
たものであって、上記熱電効果素子2と同一外形上のシ
ースに納められている。
温度センサ4は熱電対などを適当な保護鞘に納めたもの
が使用される。
熱媒体部材5は、例えばアルミニウムなどのように熱導
電性の良い金属片を用いて構成される。
この場合、その金属片は、電子部品11に密着して接触
させられるような形状に加工される。この熱媒体部材5
には上記温度センサ4が埋設される。
また、第2図に示すように、上記熱媒体部材5には、上
述した熱電効果素子2と抵抗発熱体3とがそれぞれ複数
個ずつ互いに市松状に入り組ませられながら一緒に取り
付けられている。
断熱部材5は、第1図に示すようK、熱媒体部材5の側
部および上部の隙間にそれぞれ配設および充填されてい
る。
冷却器7は上記熱電効果素子2の発熱側の放熱を助ける
ためのものであhて、実施例では水冷式のものが使用さ
れている。この水冷式の冷却器7には、ミニポンプある
いはサイホンなどKよって少量の水が通される。
外装ケース8は、第3図にその外観を示すようK、熱電
効果素子2や抵抗発熱体3などの覆いとしての機能のは
かに、全体7手で掴むための把持部としての機能も持た
せられている。また、詳細な図示は省略するが、このケ
ース5と上記熱媒体部材5との間には適当な断熱材が介
在させられ、これにより手で持っても熱くないようにし
ている。
なお、第3図に′j6いて、9は後述する制御ユニッl
[接続するためのケーブルを示す。また、10は冷却水
を通じるためのチューブを示す。
第4図は、上述した温度試験装置lに付属する制御ユニ
ット12の構成例を示す。
同図に示すように、制御ユニット12は一般の商用交流
電源AC100Vを動作電源とする。SWはメインスイ
ッチ、Fは保安用ヒユーズをそれぞれ示す。
この制御ユニット]2は、上記熱電効果素子2に通電さ
れる電流を供給する直流電源装置13、マイクロ・コン
ピュータを使った制御装置14゜上記温度センサ4から
の温度検出信号をデジタルデータに変換するA−D変換
器15、試験温度設定用のキーボード(テンキーボード
)】6、およびこのキーボード16によって設定された
温度(Vr )と上記センサ4によって検出された温度
(V、x)をそれぞれに表示する数値表示器17などを
備えている。
さらに、上記制御ユニット12は、熱電効果素子2への
通電をオン・オフ(ON10f!’F)制御する第1の
リモート・スイッチ手段S1、その熱ト・スイッチ手段
S2、上記抵抗発熱体3への通電をオン−オフ(ONl
oFF)制御する第3のリモート・スイッチ手段S3、
および冷却水供給用のミニポンプモータMの動作をオン
・オフ(ONloFF)制御する第4のリモート−スイ
ッチ手段S4を備えている。i、れらのスイッチ手段S
1〜S4はリレーあるいはサイリスタなどのスイッチン
グ素子により構成され、その動作は上記制御装置14に
よって個々に制御される。(第5図参照) 第5図は上記制御ユニット2の動作例を示す。
同図において、Vrは上記キーボード16によって任意
に設定された温度を、Vxは上記温度センサ4によって
検出された温度をそれぞれ示す。
先ず、設定温度Vrが室温よりも低く設定された場合に
は、スイッチ手段2が「冷却」に設定される。これとと
もに、検出温度Vxが設定温度■「よりも低くなる。ま
でSlがオン(ON)設定される。また、S4がオン(
ON)させられて、Ml水を送るミニポンプモータMが
駆動される。
そして、Vx>VrのときはSlがオ/(ON)K設定
され、Vx<Vrになると81がオフ(OFF)忙設定
される。これにより、温度のフィードバック制御が行わ
れて、上記熱媒体部材5が設定温度V「に冷却される。
この冷却だけが行われるモードでは、S3はオフ(OF
F)のままである。
このあとで、設定温度Vrが室温よりも高く設定される
と、S2が「加熱」に切り換えられるとともに、Slと
83が共にオン(ON)設定されることにより、上記熱
電効果素子2と上記抵抗発熱体3の両方による加熱が行
われるようになる。
これにより、上記熱媒体部材5の温度は、室温以下の低
温から室温以上の高温の設定温度Vrまで急速に上昇さ
せられる。そして、検出温度Vxが一旦設定温度まで達
すると、Slはオフ(OFF)Kされ、S3だけがオン
・オフ(ONloFF)されることKよって、その検出
温度Vxすなわち熱媒体部材5の温度が設定温度Vrに
フィードバック制御されるようKなる。
ここで、設定温度Vrが比較的低い場合(約SOC以下
)の場合には、S3はオフ(OFF)にして、81だけ
をオン・オフ(ONloFF)することによ°ても・つ
まり熱電効果素子2だけ       、、も、その設
定温度Vrまでの加熱を行うことかできる。しかし、設
定温度Vrが比較的高く(約        2(80
C以上)設定された場合には、熱電効果素子     
  ・”2によらずに、抵抗発熱体3による加熱の方が
好ましい。
次に、一旦高温に加熱された熱媒体部材5を室温かそれ
よりも若干高めの設定温度Vrに戻す場合には、S2Y
冷却(ON)にするとともに、81をオン(ON)設定
することにより、その設定温度Vrが直ちに得られるよ
うになる。
以上のようにして、熱媒体部材5が任意の設定温度Vr
にすみやかに冷却あるいは加熱されるようになっている
。従−て、第1図あるいは第3図にしめすように;装置
1を手で持つなどして、その熱媒体部材5の下側露出面
を目的の電子部品11に密着して接触させることKより
、その電子部品11を任意の温度に冷却あるいは加熱す
ることができる。このとき、注目すべきことは、その冷
却あるいは加熱が、熱媒体部材5の下側露出面を電子部
品11に当てかうだけの非常に簡単な操作でもって行う
ことができるということである。これにより、その電子
部品11の温度特性試験を非常圧手軽に行うことができ
る。また、装置1は手に持って簡単かつ自在に移動させ
られるので、試験しようとする電子部品11が実装状態
あるいは動作状態にあ−ても、なんの妨げもなく、目的
とする電子部品11だけに所定の試験温度環境を与える
ことができる。さらに、所定の試験温度環境を与えるた
めの冷却あるいは加熱が、熱媒体部材5から電子部品1
1への直接の熱伝導によって行われるため、その熱源あ
るいは冷熱源は、周囲に多く逸脱することなく、目的ガ
ミ子部品1】の加熱あるいは冷却だけのために有効に使
われるようになる。これにより、小規模な構成および少
ない消費電力でもって、電子部品などに所定の試験温度
環境を簡単かつ効率良く与えることができる。
〔効果〕
+11  電子部品に接触させられる熱媒体部材にジュ
ール発熱体と熱電効果素子を一緒に取り付けることによ
り、持ち運び移動が容易で手軽に使用することができる
とともに、試験される電子部品が実装状態あるいは動作
状態にあっても、その目的の電子部品だけを効率良く加
熱あるいは冷却して所定の試験温度環境を与えることが
できるようKなる、という効果が得られる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能であることはいうまでもない。例えば、第6図に示
すように、上記冷却器7は、放熱フィン7aを備えた空
冷式のものであってもよい。
〔利用分野〕
以上、本発明者によってなされた発明をその背景となっ
た利用分野である電子部品の温度試験技術に適用した場
合について説明したが、それに限定されるものではなく
、例えば水晶発振子などの恒温装置などにも適用できる
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による電子部品の温度試験装置の一実
施例を示す断面図、 第2図はその要部を取り出して示す斜視図、第3図はそ
の外観を示す斜視図、 第4図は上記装置を使うための制御ユニットの一例を示
す回路図、 第5図は上記正御ユニットの動作例を示すタイミングチ
ャート、 第6図は上記装置の別の実施例を示す断面図である。 l・・・温度試験装置、2・・・熱電効果素子、3・・
・ジュール発熱体である抵抗発熱体、4・・・温度セン
サ、5・・・熱媒体部材、6・・・断熱部材、7・・・
冷却器、8・・・外装ケース、11・・・電子部品。 代理人 弁理士  小 川 勝 男   −\N− 第   1  図 第  2  図 第  3  図 第  5  図 第  6  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電子部品に所定の温度環境を与える温度試験装置で
    あって、電子部品に接触させられるように構成された熱
    媒体部材にジュール発熱体と熱電効果素子とが一緒に取
    り付けられたことを特徴とする電子部品の温度試験装置
    。 2、上記熱媒体部材が熱伝導性の良好な金属片からなる
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子部品
    の温度試験装置。 3、上記ジュール発熱体が抵抗発熱体であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の電子部
    品の温度試験装置。 4、上記熱媒体部材に該部材の温度を検出する温度セン
    サが埋設されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項から第3項までのいずれかに記載の電子部品の温度
    試験装置。
JP60110320A 1985-05-24 1985-05-24 電子部品の温度試験装置 Pending JPS61269085A (ja)

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JPS61269085A true JPS61269085A (ja) 1986-11-28

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384377B1 (en) * 1999-07-23 2002-05-07 Sony Corporation Aging socket, aging cassette and aging apparatus
CN100418190C (zh) * 2005-04-28 2008-09-10 富士通株式会社 温度控制方法和温度控制装置
JP2008309710A (ja) * 2007-06-15 2008-12-25 Sumitomo Electric Ind Ltd デバイス評価装置およびデバイス評価方法

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