JPS61268730A - Plasma treatment system - Google Patents

Plasma treatment system

Info

Publication number
JPS61268730A
JPS61268730A JP11067485A JP11067485A JPS61268730A JP S61268730 A JPS61268730 A JP S61268730A JP 11067485 A JP11067485 A JP 11067485A JP 11067485 A JP11067485 A JP 11067485A JP S61268730 A JPS61268730 A JP S61268730A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
reaction chamber
signal
louver
flow rate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11067485A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0528254B2 (en
Inventor
Keiji Fukuhara
福原 啓二
Hiroshi Hayashi
啓 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mazda Motor Corp
Original Assignee
Mazda Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mazda Motor Corp filed Critical Mazda Motor Corp
Priority to JP11067485A priority Critical patent/JPS61268730A/en
Publication of JPS61268730A publication Critical patent/JPS61268730A/en
Publication of JPH0528254B2 publication Critical patent/JPH0528254B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J19/00Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
    • B01J19/08Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
    • B01J19/087Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor employing electric or magnetic energy
    • B01J19/088Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor employing electric or magnetic energy giving rise to electric discharges
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C59/00Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
    • B29C59/14Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by plasma treatment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C37/00Component parts, details, accessories or auxiliary operations, not covered by group B29C33/00 or B29C35/00
    • B29C2037/90Measuring, controlling or regulating

Abstract

PURPOSE:To provide the titled system of no variation in its treatability, with the plasma concentration distribution uniform in the reaction chamber, equipped with reaction chamber having a plural of ducts each fitted with both on-off valve and plamsa flow detector and on-off valve control device so as to equalize plasma flow in each duct. CONSTITUTION:In treating the surface of an object by plasma irradiation on said surface in a plasma reaction chamber, a plural of ducts are connected to said chamber, each duct being equipped with on-off valve and plasma flow detection device. Each on-off valve is controlled, based on signal from said device, so that the amount of the plasma emitted through each duct may be equal one another, thus making the distribution of the plasma gas concentration uniform within the chamber to enable uniform plasma treatment on the surface of the object to be accomplished. Said flow detection device is, e.g., differential pressure type flow meter, illuminance sensor capable of detecting plasma flow from its luminous level, etc.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、例えばポリプロピレンやポリエチレン等のプ
ラスデックでなる被処理物の表面にプラズマを照射して
該被処理物の表面処理を行うプラズマ処理装置に関する
Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to plasma processing in which the surface of a workpiece made of plastic deck such as polypropylene or polyethylene is irradiated with plasma to treat the surface of the workpiece. Regarding equipment.

(従 来 技 術) 近年、例えば自動車においては軽量化等を図るべくポリ
プロピレンやポリエチレン等でなるプラスチック製の部
品ないし製品(例えばプラスチックバンバ)が採用され
る場合が多くなっているが、この種のプラスチックは一
般に塗膜との密着性が比較的悪いことが知られている。
(Prior art) In recent years, for example, plastic parts or products made of polypropylene, polyethylene, etc. (for example, plastic bumpers) have been increasingly used in automobiles to reduce weight. It is known that plastics generally have relatively poor adhesion to paint films.

そのため、上記のようなプラスチック製品の表面を塗装
する場合には、これに先立って該製品の表面に塗膜を密
着させ易くするための処理を予め施しておく必要がある
が、このような表面処理を行うものとしてプラズマ処理
装置が用いられる。該装置は、通例、プラズマガスの導
入口と排気口とが対向状に設けられた円筒状のプラズマ
反応室と、この反応室に供給される処理ガス(主として
酸素ガスが使用される)を予めプラズマ化するマイクロ
波発振器等でなるプラズマ発生装置と、処理効果を高め
るべく上記反応室内を減圧ないし真空状態にする真空ポ
ンプとから主として構成される。そして、上記反応室内
で被処理物に上記プラズマ化された処理ガスを照射して
接触させることにより該被処理物の表面に官能基を形成
し、これにより該表面を活性化して塗膜との密着性を向
上させるようになっている。
Therefore, when painting the surface of a plastic product such as the one mentioned above, it is necessary to apply a treatment in advance to make it easier for the paint film to adhere to the surface of the product. A plasma processing apparatus is used to perform the processing. This device usually includes a cylindrical plasma reaction chamber in which a plasma gas inlet and an exhaust port are provided facing each other, and a processing gas (mainly oxygen gas is used) to be supplied to this reaction chamber in advance. It mainly consists of a plasma generation device such as a microwave oscillator that generates plasma, and a vacuum pump that reduces the pressure or evacuates the inside of the reaction chamber to enhance the processing effect. Then, in the reaction chamber, the object to be treated is irradiated with the plasma processing gas and brought into contact with the object to form a functional group on the surface of the object, thereby activating the surface and forming a bond with the coating film. It is designed to improve adhesion.

しかし、上記のような従来のプラズマ処理装置において
は、導入口から反応室内に導入されたプラズマガスが排
気口に向って流れ、該導入口と排気口とを結ぶ直線の近
傍から外れた周辺部にはプラズマガスが十分に行き渡ら
ないため、反応室内におけるプラズマガス分布が均一に
ならない傾向があり、その結果、被処理物に対する処理
性が該被処理物の配置状態や部位によって相違するとい
う欠点があった。
However, in the conventional plasma processing apparatus as described above, the plasma gas introduced into the reaction chamber from the inlet flows toward the exhaust port, and the peripheral part that deviates from the vicinity of the straight line connecting the inlet and exhaust port. Because the plasma gas does not spread sufficiently, the plasma gas distribution within the reaction chamber tends to be uneven.As a result, the processing performance for the object to be processed differs depending on the arrangement and location of the object. there were.

このような問題に対処するものとしては、例えば実開昭
59−28535号公報に開示されたプラズマ処理装置
がある。これは、第4図に示すように、プラズマ反応室
Aに複数の排気口B、・・・。
An example of a plasma processing apparatus that addresses this problem is disclosed in Japanese Utility Model Application Publication No. 59-28535. As shown in FIG. 4, this means that a plasma reaction chamber A has a plurality of exhaust ports B, .

Bを設けると共に、これらの排気口B、・・・、已に開
閉弁C1・・・、Cを夫々備え、反応室Aに設けられた
プラズマ導入口りからジャワ管D′を介して該反応室A
内にプラズマを導入しながら上記多弁C2・・・、Cを
同時に又は間欠的に順次間いていくようにしたものであ
る。これによれば上記導入口りから反応室A内に導入さ
れたプラズマが各排気口B、・・・、Bの数と位置に応
じて多方向に流れるため、反応室A内における被処理物
の配置状態による処理性の差を比較的少なくすることが
できる。
B, and opening/closing valves C1..., C are provided in front of these exhaust ports B, . Room A
The multiple valves C2 . . . , C are sequentially opened simultaneously or intermittently while introducing plasma into the chamber. According to this, the plasma introduced into the reaction chamber A from the above-mentioned inlet flows in multiple directions depending on the number and position of each exhaust port B. Differences in processing performance depending on the arrangement state of the can be made relatively small.

しかし、上記のような構成によっても反応室A内におけ
るプラズマガス分布の不均一さを完全に解消することが
できず、そのため被処理物間又は同一処理物における各
部位間で若干の処理性の差が生じる嫌いがある。
However, even with the above configuration, it is not possible to completely eliminate the non-uniformity of the plasma gas distribution within the reaction chamber A, and as a result, there may be slight differences in processability between objects to be processed or between different parts of the same object. I don't like differences.

(発  明  の  目  的) 本発明は、従来のプラズマ処理装置における上記のよう
な実情に対処するもので、プラズマ反応室内におけるプ
ラズマガスの分布が均一になるプラズマ処理装置を提供
することにより、この種のプラズマガス分布の不均一な
いし偏在化によって生じる被処理物表面に対する処理性
の差を解消し、もって該被処理物表面に対して均一なプ
ラズマ処理が行われるようにすることを目的とする。
(Object of the Invention) The present invention addresses the above-mentioned situation in conventional plasma processing apparatuses, and solves this problem by providing a plasma processing apparatus in which the distribution of plasma gas in a plasma reaction chamber is uniform. The purpose is to eliminate differences in processing performance on the surface of a workpiece caused by uneven or uneven distribution of seed plasma gas, thereby ensuring that uniform plasma processing is performed on the surface of the workpiece. .

(発  明  の  構  成) 即ち、本発明に係るプラズマ処理装置は、プラズマ反応
室に複数の排気通路を接続し且つ各排気通路に該通路を
開閉する開閉弁を夫々備えると共に、各排気通路内を流
れるプラズマの流量を夫々検出する流量検出手段と、上
艷各開閉弁を制御する制御手段とを備えたことを特徴と
する。該制御手段は、上記反応室から各排気通路を介し
て排出されるプラズマの排出量が互いに等しくなるよう
に上記流量検出手段からの信号に基づいて上記各開閉弁
を制御する。ここで、上記流量検出手段としては例えば
差圧式流」計或いは当該プラズマの発光量からその流量
を検出する照度センサ等が用いられ、これらは各排気通
路に対応させて夫々備えられる。
(Structure of the Invention) That is, the plasma processing apparatus according to the present invention connects a plurality of exhaust passages to a plasma reaction chamber, and each exhaust passage is provided with an on-off valve that opens and closes the passage. The present invention is characterized in that it includes a flow rate detection means for detecting the flow rate of plasma flowing through each of the upper and lower opening/closing valves, and a control means for controlling each on-off valve. The control means controls each of the on-off valves based on the signal from the flow rate detection means so that the amount of plasma discharged from the reaction chamber through each exhaust passage is equal to each other. Here, as the flow rate detection means, for example, a differential pressure type flowmeter or an illuminance sensor that detects the flow rate from the amount of light emitted by the plasma is used, and these are provided corresponding to each exhaust passage.

(発  明  の  効  果) 上記の構成によれば、導入口からプラズマ反応室内に導
入されたプラズマが該反応室に接続された複数の排気通
路に向って多方向に流れ、しかも各排気通路から夫々排
出されるプラズマの排出量が互いに等しくなるため、該
反応室内におけるプラズマ1の濃度分布が均一化される
ようになる。これにより、この種の反応室内におけるプ
ラズマ濃度分布の不均一によって生じる各被処理物間又
はその部位間の処理性の差を解消することができ、各被
処理物の表面の全ての部位を均一にプラズマ処理するこ
とができるようになる。
(Effects of the Invention) According to the above configuration, plasma introduced into the plasma reaction chamber from the inlet flows in multiple directions toward the plurality of exhaust passages connected to the reaction chamber, and moreover, plasma is introduced into the plasma reaction chamber from the inlet and flows in multiple directions toward the plurality of exhaust passages connected to the reaction chamber. Since the amount of discharged plasma is equal to each other, the concentration distribution of plasma 1 within the reaction chamber becomes uniform. As a result, it is possible to eliminate differences in processability between each workpiece or its parts caused by non-uniform plasma concentration distribution in this type of reaction chamber, and to make all parts of the surface of each workpiece uniform. It becomes possible to perform plasma treatment.

(実  施  例) 以下、本発明に係るプラズマ処理装置の実施例について
説明する。
(Example) Hereinafter, an example of the plasma processing apparatus according to the present invention will be described.

第1図はプラズマ処理装置の側面を概略的に示すもので
、同図に示すように該処理装[1は、ブラズ蛤導入用の
導入通路2が接続された円筒状のプラズマ反応室3を有
する。このプラズマ反応室3は、第2図にその断面を拡
大して示すように、外壁部4及び内壁部5を有する二重
構造とされ、両壁部4,5間に周方向に略等間隔を有し
て仕切られた複数の排気室6.・・・、6が形成されて
いると共に、これらの排気室6.・・・96に対応させ
て複数の排気通路70〜78が夫々接続された構成とさ
れている。そして、各排気通路70〜78が別途備えら
れた例えばロータリーポンプでなる真空ポンプ8にバイ
ブ9を介して接続されていることにより、上記反応室3
内が該ポンプ8によって減圧されるようになっている。
FIG. 1 schematically shows a side view of a plasma processing apparatus. have The plasma reaction chamber 3 has a double structure having an outer wall 4 and an inner wall 5, as shown in an enlarged cross-section in FIG. A plurality of exhaust chambers partitioned by 6. . . , 6 are formed, and these exhaust chambers 6. ... 96, a plurality of exhaust passages 70 to 78 are connected to each other, respectively. The reaction chamber 3
The pressure inside the chamber is reduced by the pump 8.

ここで、上記導入通路2にはマイクロ波発振器10が備
えられ、該通路2内を通過する酸素ガス等でなる処理ガ
スが該発振器10からのマイクロ波によってプラズマ化
された上で、上記反応室3の内壁部5内に位置されたジ
ャワ管2aを介して該内壁部5内に供給されるようにな
っている。
Here, the introduction passage 2 is equipped with a microwave oscillator 10, and the processing gas such as oxygen gas passing through the passage 2 is turned into plasma by the microwave from the oscillator 10, and then The water is supplied into the inner wall portion 5 of No. 3 through a Java tube 2a located within the inner wall portion 5.

然して、上記内壁部5には、その内部を各排気室6.・
・・、6を介して各排気通路7o、・・・、78に連通
させる排気口5a、・・・、5aが夫々設けられている
と共に、これらの排気口6a。・・・、 6aには各排
気室6.・・・、6つまり排気通路70〜78を夫々開
閉するルーバー(開閉弁)110〜118が夫々備えら
れている。そして、これらのルーバー110〜118の
うち、導入通路2aの略対向位置に接続された排気通路
7oを開閉するルーバー(以下、マスタールーバーとい
う)11゜には、これを駆動するサーボモータ12と該
ルーバー11oの開度を検出するマスタールーバー位置
検出器13とが連結され、またそれ以外の各ルーバー(
以下、スレイブルーバーという)111〜118には同
じく駆動用のステッピングモータ141〜148と該ル
ーバーの開度検出用のスレイブルーバー位置検出器15
1〜158とが夫々連結されている。また、上記各排気
通路70〜78には差圧式流量計16o〜168が夫々
設けられているが、これらの流量計は各排気通路70〜
78に夫々設けられたオリフィス7a、・・・、 7a
の上流側と下流側の圧力差を検出することにより該通路
70〜78内を通過するプラズマの流量を検知するよう
になっている。そして、上記各ルーバー11o〜118
は、反応室3内から各排気通路70〜78を介して排出
されるプラズマの排出量が互いに等しくなるように、第
3図に示す制御回路17によって制御される。
However, the inside of the inner wall portion 5 has respective exhaust chambers 6.・
. . , 6 are provided with exhaust ports 5a, . . . , 5a that communicate with the exhaust passages 7o, . ..., 6a has each exhaust chamber 6. ..., 6, that is, louvers (opening/closing valves) 110 to 118 for opening and closing the exhaust passages 70 to 78, respectively, are provided. Among these louvers 110 to 118, a louver (hereinafter referred to as a master louver) 11° that opens and closes the exhaust passage 7o connected to a position substantially opposite to the introduction passage 2a is equipped with a servo motor 12 that drives it and A master louver position detector 13 that detects the opening degree of the louver 11o is connected, and each other louver (
Stepping motors 141 to 148 (hereinafter referred to as slave louvers) 111 to 118 also have stepping motors 141 to 148 for driving, and a slave louver position detector 15 for detecting the opening degree of the louvers.
1 to 158 are connected to each other. Further, differential pressure flowmeters 16o-168 are provided in each of the exhaust passages 70-78, respectively.
Orifices 7a, . . . , 7a provided in 78, respectively.
The flow rate of plasma passing through the passages 70 to 78 is detected by detecting the pressure difference between the upstream and downstream sides of the passages 70 to 78. And each of the above louvers 11o to 118
are controlled by a control circuit 17 shown in FIG. 3 so that the amount of plasma discharged from the reaction chamber 3 through each of the exhaust passages 70 to 78 is equal to each other.

次に、この第3図に示す制御回路17について説明する
と、該制御回路17は、マスタールーバー開度設定器1
8からの信号a及び上記マスタールーバー位置検出器1
3からの信号すが夫々入力される第1減算器19と、上
記マスタールーバー用差圧式流量計16oからの信号C
及び各スレイブルーバー用差圧式流吊計161〜168
からの信号d1〜d8が夫々入力される複数(スレイブ
ルーバーと同数)の第2減算器201〜208とを有す
る。このうち第1減算器19は上記信号aによって示さ
れる値から信号すによって示される値を減算すると共に
、その結果を信号eとして第3減算器21及びサーボア
ンプ22を介して上記マスタールーバー11oの駆動用
サーボモータ12に出力し、これにより該モータ12を
サーボアンプ出力の極性及び電流値に応じて回動させて
マスタールーバー11oを上記開度設定器18による設
定位置で停止させるようになっている。また、上記第2
減算器201 (以下、他の第2減算器202〜208
についても同様に構成されている)は、上記信号Cによ
って示される値から信号dによって示される値を減算す
ると共に、その結果を信号「1として極性判別器231
及び絶対値増幅器241に出力するようになっている。
Next, the control circuit 17 shown in FIG. 3 will be explained. The control circuit 17 includes the master louver opening setting device 1.
Signal a from 8 and the master louver position detector 1
3, and the signal C from the master louver differential pressure flow meter 16o.
and differential pressure type flowmeters 161 to 168 for each slave louver.
It has a plurality of second subtracters 201 to 208 (same number as slave Louvers) to which signals d1 to d8 from the subtractors 201 to 208 are respectively input. Of these, the first subtractor 19 subtracts the value indicated by the signal I from the value indicated by the signal a, and sends the result as a signal e to the master louver 11o via the third subtractor 21 and the servo amplifier 22. The output is output to the drive servo motor 12, which rotates the motor 12 according to the polarity and current value of the servo amplifier output to stop the master louver 11o at the position set by the opening setting device 18. There is. In addition, the second
Subtractor 201 (hereinafter, other second subtracters 202 to 208
(also configured in the same way for
and is output to the absolute value amplifier 241.

このうち極性判別器231は信号「1が正の、値を示す
時、即ち排気通路7o内のプラズマ流量よりも排気通路
71内のプラズマ流量の方が少ない時はスレイブルーバ
ー111を開動させるべくその駆動用ステッピングモー
タ141に開動信号g1を、また信号f1が負の値を示
す時、即ち排気通路7o内のプラズマ流量よりも排気通
路71内のプラズマ流量の方が多い時は該ルーバー11
1を閉動させる閉動信号h1を夫々ステッピングモータ
アンプ251を介して出力すると共に、信号f1が零な
いし所定範囲内で零とみなされる値を示す時はインバー
タ261に停止信号11を出力するようになっている。
Among these, the polarity discriminator 231 outputs a signal "1" to open the slave louver 111 when the value of "1" is positive, that is, when the plasma flow rate in the exhaust passage 71 is smaller than the plasma flow rate in the exhaust passage 7o. When the opening signal g1 is sent to the driving stepping motor 141, and when the signal f1 shows a negative value, that is, when the plasma flow rate in the exhaust passage 71 is larger than the plasma flow rate in the exhaust passage 7o, the louver 11
1 through the stepping motor amplifiers 251, and outputs a stop signal 11 to the inverter 261 when the signal f1 is zero or a value considered to be zero within a predetermined range. It has become.

一方、上記絶対値増幅器241は、上記第2減算器20
1からの信号f1の示す絶対値を増幅した上で電圧−周
波数変換器271に送出するが、この変換器271は、
上記増幅された信号f1′ (電圧信号)の出力に応じ
て周波数が高くなるように該信号r1′を周波数に変換
した上で、角度指令パルスf1″としてアンド回路28
1に出力するように構成されている。その場合、該アン
ド回路281は、これに入力される上記インバータ26
1からの信号11′ (信号iの反転信号)がONの時
に限り、上記角度指令パルスf1“の入力を受けてステ
ッピングモータアンプ251を介してスレイブルーバー
111の駆動用モータ141に角度パルスj1を出力し
、これにより該モータ141が該信号j1の周波数に応
じた速度で回転駆動されるようになっている。つまり、
上記第2減算器201の出力信号f1の極性が零又はこ
れに近い値の時はアンド回路281から角度パルスj1
が出力されなくなって上記ステッピングモータ251の
動作が停止するように構成されている。
On the other hand, the absolute value amplifier 241 is connected to the second subtracter 20
The absolute value of the signal f1 from 1 is amplified and sent to the voltage-frequency converter 271.
After converting the signal r1' into a frequency so that the frequency becomes higher according to the output of the amplified signal f1' (voltage signal), the signal r1' is converted into a frequency and then outputted to the AND circuit 28 as an angle command pulse f1''.
1. In that case, the AND circuit 281 inputs the inverter 26
Only when the signal 11' (inverted signal of signal i) from 1 is ON, the angle pulse j1 is sent to the driving motor 141 of the slave louver 111 via the stepping motor amplifier 251 in response to the input of the angle command pulse f1''. As a result, the motor 141 is driven to rotate at a speed corresponding to the frequency of the signal j1.
When the polarity of the output signal f1 of the second subtracter 201 is zero or a value close to zero, the angle pulse j1 is output from the AND circuit 281.
is no longer output and the operation of the stepping motor 251 is stopped.

また、この制御回路17には、上記各第2減算器201
〜208からの全ての信号f1〜r8を加算する加算器
29が設けられている。この加算器29はモード切換ス
イッチ30を介して上記第3減算器21に接続されてお
り、その出力信号にの極性が正の場合にはマスタールー
バー110側に、また負の場合にはスレイブルーバー1
11〜118側に夫々過剰のプラズマガスが流れている
ことを示し、極性が零の場合には両ルーパー110及び
111〜118側に流れているプラズマガスの量が互い
に吊り合っていることを示すようになっている。その場
合、該加算器29の出力の絶対値が上記プラズマガスの
偏在量を示す。そして、この制御回路17においては、
上記切換スイッチ30が加算器29側に選択されている
場合、第3減算器21で第1減算器19の出力信号eか
ら加算器29の出力信号kを減算して、その結果を信号
1としてサーボアンプ22を介してサーボモータ12に
送出することにより、上記マスタールーバー開度設定器
18で設定したマスタールーバー11oの初期開度を補
正し、これにより該初期開度量の如何に拘らず常時各ル
ーパー11o〜118側に流れる(つまり、各排気通路
70〜78に流入する)プラズマの流量を互いに等しく
し得るように構成されている。
The control circuit 17 also includes each of the second subtracters 201 and 201.
An adder 29 is provided which adds all the signals f1-r8 from ~208. This adder 29 is connected to the third subtracter 21 via a mode changeover switch 30, and when the polarity of the output signal is positive, it is sent to the master louver 110 side, and when it is negative, it is sent to the slave louver 110 side. 1
This indicates that excessive plasma gas is flowing to each of the loopers 11 to 118, and when the polarity is zero, it indicates that the amounts of plasma gas flowing to both loopers 110 and 111 to 118 are suspended from each other. It looks like this. In that case, the absolute value of the output of the adder 29 indicates the uneven distribution amount of the plasma gas. In this control circuit 17,
When the selector switch 30 is set to the adder 29 side, the third subtracter 21 subtracts the output signal k of the adder 29 from the output signal e of the first subtracter 19, and uses the result as signal 1. By sending the signal to the servo motor 12 via the servo amplifier 22, the initial opening degree of the master louver 11o set by the master louver opening degree setting device 18 is corrected. The configuration is such that the flow rates of plasma flowing toward the loopers 11o to 118 (that is, flowing into each of the exhaust passages 70 to 78) can be made equal to each other.

次に、上記実施例の作用を説明する。Next, the operation of the above embodiment will be explained.

被処理物X、・・・、Xが所定位置に配置された状態で
予め真空ポンプ8によって所定圧まで減圧したプラズマ
反応室3の内壁部5内に導入通路2からプラズマを導入
することにより、被処理物X。
By introducing plasma from the introduction passage 2 into the inner wall 5 of the plasma reaction chamber 3, which has been previously depressurized to a predetermined pressure by the vacuum pump 8, with the objects to be processed X, . . . , X placed at predetermined positions, Object to be processed X.

・・・、Xの表面を処理するのであるが、その場合、先
ず、第3図に示すマスタールーバー開度設定器18によ
ってマスタールーバー11oの初期開度が設定される。
.

つまり、上記開度設定器18の出力信号aが第1.第3
減算器19.21及びサーボアンプ22を介してマスタ
ールーバー駆動用サーボモータ12に入力されることに
より、該モータ12がサーボアンプ22の出力信号の極
性及び電流値に従って回転され、その結果、マスタール
ーバー11oの開度が変化すると共に、その変化量に応
じた出力信号すがマスタールーバー位置検出器13から
第1減算器19に入力される。そして、該信号すが上記
開度設定器18の信号aによる設定値に一致して第1減
算器19の出力信号eが零になった時に、上記サーボモ
ータ12が停止することにより、マスタールーバー11
0が上記開度設定器18による所定の開度位置で停止さ
れる。
That is, the output signal a of the opening degree setter 18 is the first. Third
By inputting the signal to the master louver driving servo motor 12 via the subtractor 19.21 and the servo amplifier 22, the motor 12 is rotated according to the polarity and current value of the output signal of the servo amplifier 22, and as a result, the master louver As the opening degree of the louver 11o changes, an output signal corresponding to the amount of change is input from the master louver position detector 13 to the first subtractor 19. Then, when the output signal e of the first subtractor 19 becomes zero in accordance with the setting value of the signal a of the opening setting device 18, the servo motor 12 is stopped, so that the master louver is 11
0 is stopped at a predetermined opening position set by the opening setting device 18.

ところで、このようにしてマスタールーバー110が開
かれている状態で例えば第3図に鎖線で示すようにスレ
イブルーバー111〜118が閉じられている場合には
、上記プラズマが該マスタールーバー11oに向って流
れてプラズマ反応室3a内における該プラズマの分布が
不均一となるが、上記構成によれば、各スレイブルーバ
ー111〜118に対応させて排気通路71〜78が接
続され、該排気通路71〜78内を流れるプラズマの流
量とマスタールーバー11oによって開閉される排気通
路7o内を流れるプラズマの流量とが互いに等しくなる
ように、各ルーバー11o〜118が制御回路17によ
って開閉制御されることになる。
By the way, when the master louver 110 is opened in this way and the slave louvers 111 to 118 are closed as shown by the chain lines in FIG. 3, the plasma is directed toward the master louver 11o. However, according to the above configuration, the exhaust passages 71 to 78 are connected to correspond to each of the slave blue bars 111 to 118, and the distribution of the plasma in the plasma reaction chamber 3a becomes non-uniform. The opening and closing of each louver 11o to 118 is controlled by the control circuit 17 so that the flow rate of plasma flowing therein and the flow rate of plasma flowing inside the exhaust passage 7o opened and closed by the master louver 11o are equal to each other.

即ち、上記マスタールーバー11oによって開閉される
排気通路7o内のプラズマ流量と、各スレイブルーバー
111〜118によって開閉される排気通路71〜78
内のプラズマ流量とが各排気通路7o及び71〜78に
設けられた差圧式流量計16o及び161〜167によ
って夫々検出された上で各第2減算器201〜20aに
おいて比較される。そして、前者のプラズマ流量が後者
のプラズマ流量よりも多い場合には、各極性判別器23
1〜238から開動信号g1〜g8が夫々出力されて当
該スレイブルーバーが当初位置よりも更に開方向に、逆
に少ない場合には、各極性判別器231〜238から閉
動信号h1〜h8が夫々出力されて当該スレイブルーバ
ーが開方向に夫々回転駆動されることにより、各排気通
路70〜78内を流れるプラズマ流量が互いに等しくさ
れ、その結果としてプラズマ反応室3内のプラズマ分布
が均一化されることになる。これにより、上記したよう
なプラズマ反応室内におけるプラズマ分布の不均一によ
って生じる各被処理物X、・・・、X問又はその部位間
の処理性の差が解消され、各被処理物X、・・・、Xの
表面の全ての部位が均一にプラズマ処理されることにな
る。
That is, the plasma flow rate in the exhaust passage 7o opened and closed by the master louver 11o, and the exhaust passages 71-78 opened and closed by each slave louver 111-118.
The plasma flow rate within is detected by differential pressure type flowmeters 16o and 161-167 provided in each exhaust passage 7o and 71-78, respectively, and compared in each second subtractor 201-20a. If the former plasma flow rate is greater than the latter plasma flow rate, each polarity discriminator 23
When the opening signals g1 to g8 are output from the polarity discriminators 231 to 238, respectively, and the slave bar is moved further in the opening direction than the initial position, or vice versa, the closing signals h1 to h8 are output from the polarity discriminators 231 to 238, respectively. By outputting the output and rotating the slave louvers in the opening direction, the flow rates of plasma flowing through each of the exhaust passages 70 to 78 are made equal to each other, and as a result, the plasma distribution in the plasma reaction chamber 3 is made uniform. It turns out. This eliminates the difference in processability between each workpiece X,..., ..., all parts of the surface of X will be uniformly plasma treated.

尚、この実施例においては各排気通路70〜78内を流
れるプラズマの流量を検出する手段として差圧式流量計
16o〜168を用りたが、処理ガスに窒素を混合した
上で該窒素のプラズマの発光量を照度検出器によって検
出し、これにより上記プラズマの流量を検出するように
しても良い。
In this embodiment, differential pressure flowmeters 16o to 168 are used as a means for detecting the flow rate of plasma flowing in each exhaust passage 70 to 78, but after mixing nitrogen with the processing gas, The amount of light emitted may be detected by an illuminance detector, and the flow rate of the plasma may be detected thereby.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1〜3図は本発明の実施例を示すもので、第1図は該
実施例に係るプラズマ処理装置の概略側面図、第2図は
第1図II−II線で切断した拡大縦断面図、第3図は
制御回路を示すブロック図である。また、第4図は従来
のプラズマ処理装置を示す正面図である。 1・・・プラズマ処理装置、3・・・プラズマ反応室、
6.70〜78・・・排気通路(6・・・排気室)、1
1・・・WUr11弁(11o・・・マスタールーパー
、111〜118・・・スレイブルーバー)、16゜〜
168・・・流量検出手段(差圧式流量計)、17・・
・制御手段(制御回路)。 出願人   マツダ・ 株式会社 第4図
1 to 3 show an embodiment of the present invention, FIG. 1 is a schematic side view of a plasma processing apparatus according to the embodiment, and FIG. 2 is an enlarged longitudinal section taken along line II-II in FIG. 1. 3 are block diagrams showing the control circuit. Moreover, FIG. 4 is a front view showing a conventional plasma processing apparatus. 1... Plasma processing device, 3... Plasma reaction chamber,
6.70-78...exhaust passage (6...exhaust chamber), 1
1...WUr11 valve (11o...master looper, 111-118...slave blue bar), 16°~
168...Flow rate detection means (differential pressure flowmeter), 17...
- Control means (control circuit). Applicant Mazda Corporation Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プラズマ反応室内で被処理物の表面にプラズマを
照射して該被処理物表面を処理するプラズマ処理装置で
あって、上記反応室に接続された複数の排気通路と、各
排気通路に夫々設けられて該通路を開閉する複数の開閉
弁と、上記各排気通路内を流れるプラズマの流量を夫々
検出する流量検出手段と、上記各排気通路から排出され
るプラズマの排出量が互いに等しくなるように上記流量
検出手段からの信号に基づいて上記各開閉弁を制御する
制御手段とを有することを特徴とするプラズマ処理装置
(1) A plasma processing apparatus that processes the surface of a workpiece by irradiating plasma onto the surface of the workpiece in a plasma reaction chamber, the apparatus comprising a plurality of exhaust passages connected to the reaction chamber, and a plurality of exhaust passages connected to the reaction chamber. A plurality of on-off valves are provided to open and close the passages, a flow rate detection means detects the flow rate of plasma flowing in each of the exhaust passages, and an amount of plasma discharged from each of the exhaust passages is equal to each other. and control means for controlling each of the on-off valves based on a signal from the flow rate detection means.
JP11067485A 1985-05-22 1985-05-22 Plasma treatment system Granted JPS61268730A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11067485A JPS61268730A (en) 1985-05-22 1985-05-22 Plasma treatment system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11067485A JPS61268730A (en) 1985-05-22 1985-05-22 Plasma treatment system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61268730A true JPS61268730A (en) 1986-11-28
JPH0528254B2 JPH0528254B2 (en) 1993-04-23

Family

ID=14541580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11067485A Granted JPS61268730A (en) 1985-05-22 1985-05-22 Plasma treatment system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61268730A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0658416A2 (en) * 1993-11-23 1995-06-21 Dyconex Patente Ag Method for texturing polymer foils
CN114701154A (en) * 2021-12-27 2022-07-05 南京苏曼等离子科技有限公司 Device and method for continuously treating inner and outer surfaces of high polymer material pipeline

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0658416A2 (en) * 1993-11-23 1995-06-21 Dyconex Patente Ag Method for texturing polymer foils
EP0658416A3 (en) * 1993-11-23 1995-07-26 Heinze Dyconex Patente
CN114701154A (en) * 2021-12-27 2022-07-05 南京苏曼等离子科技有限公司 Device and method for continuously treating inner and outer surfaces of high polymer material pipeline
CN114701154B (en) * 2021-12-27 2023-12-01 南京苏曼等离子科技有限公司 Device and method for continuously treating inner and outer surfaces of high polymer material pipeline

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0528254B2 (en) 1993-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2003078838B1 (en) Vacuum pump control device, and vacuum device
JP3038052B2 (en) Atmospheric pressure gradient controller
JPS61268730A (en) Plasma treatment system
KR20020088487A (en) An apparatus for continuous plasma polymerizing with a vertical chamber
US4653387A (en) Method of operating an air-feed type spray booth
KR20080108463A (en) Method and apparatus for the fluorination of plastics
CA1290992C (en) Method of operating an air-supplied type coating booth
JPS61281132A (en) Plasma treating apparatus
US4840116A (en) Controlling method for operation of painting booth
JP2003053223A (en) Method for controlling gas supply and discharge for coating booth equipped with gas supply means
JP3743697B2 (en) Supply and exhaust control method for continuous drying furnace for painting
JP3780097B2 (en) Exhaust control device for painting booth with air supply and recording medium recording exhaust control program
JPS62253634A (en) Plasma treatment
JPH04128379A (en) Atmospheric pressure cvd device
JPH0315531Y2 (en)
JPS6399243A (en) Plasma treating apparatus
JP4313470B2 (en) Plasma processing apparatus and plasma processing method
JPS62535A (en) Continuous plasma treatment apparatus
JPH11197565A (en) Air feed/discharge controller of coating booth
JPS61222573A (en) Method for operating painting booth
JPH01282380A (en) Connection type package dyeing device
JP2001170529A (en) Coating booth
JPH04110467A (en) Method and device for producing functional film
JP2892980B2 (en) Dry process treatment method
JPS6289736A (en) Equipment for plasma treatment