JPS61267184A - 文字列の行位置検出方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 行幅が一定な文字列の横方向のヒストグラムを作成し、
この文字列ヒストグラムをスライスレベルを変えてスラ
イスし、そのスライス幅が基準行幅値に等しくなった時
の文字列ヒストグラムのスライス点位置から文字列の行
位置を検出する。これにより、文字列の周辺に高レベル
で且つ大きな汚れが存在していても十分な精度で、且つ
、効率的な文字列の行位置の検出を行うことが出来る。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、活字文字や印字文字等、行幅が一定な文字列
の行位置検出方式、特に文字列の周辺に高レベルで且つ
大きな汚れが存在している場合にも好適な文字列の行位
置検出方式に関する。

〔従来の技術〕

文字認識を行う場合、各文字毎のデータの読み取りを行
う為の前処理として、各文字列についてその行位置の検
出が行われる。

文字列の行位置の検出は、通常文字読取り装置によって
検出される印刷用紙と文字の検出レベル差を利用して行
われていた。そして、印刷用紙に汚れが存在する場合は
、スレショルド回路や雑音除去回路等により汚れ部分を
除去して文字列の行位置検出を行っていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

スレショルド回路や雑音除去回路等により汚れ、部分を
除去して文字列の行位置検出を行う捉方方式は、薄い汚
れや点状の小さな汚れを除去することは可能であるが、
第２図（Ａ）に示すＮ１〜ＮＧ様な、レベルが高く、且
つ、大きさも大きい汚れに対しては、それを除去するこ
とが出来なかった。

第２図（Ａ）は７Ｂフオントの印字文字列の例を示した
ものであるが、この様に、横方向にレベルが高く長く幅
をもった汚れＮ１〜Ｎ６が生じた場合には、従来方式で
は、Ｎ１〜Ｎ３　　、Ｎ４〜Ｎ６の位置を誤って行位置
として検出する危険があった。

〔問題点を解決するための手段〕

従来の文字列の行位置検出方式における前述の問題点を
解決する為に本発明が講じた手段を、第１図を参照して
説明する。

第１図は、本発明の構成をブロック図で示したものであ
る。

第１図において、１１０は印刷用紙で、行幅が一定な文
字列が印刷されている。

１２０は文字読取り手段で、文字列の横方向（文字列と
同じ方向）の走査線上に存在する各文字部分又は汚れ部
分を読取って出力する。

１３０は文字列ヒストグラム作成手段で、文字読取り手
段１２０から入力されたデータに基づいて、文字列の横
方向のヒストグラムを作成する。

１４０は文字列行位置検出手段で、文字列ヒストグラム
をスライスレベルを変えてスライスし、そのスライス幅
が基準行幅値に等しくなった時の文字列ヒストグラムの
スライス点位置から、文字列の行位置の検出を行う。

〔作　用〕

第１図に示す構成を持った本発明の作用を、第２図を参
照して説明する。

第２図（Ａ）は行幅が一定な文字列を示したもので、図
には７Ｂフオントの文字列が例示されている。同図（Ｂ
）は、同図（Ａ）の文字列における横方向の文字列ヒス
トグラムを示したものである。

横方向の文字列ヒストグラムは、横方向の走査線上に存
在する各文字部分又は汚れ部分の長さに比例する量をヒ
ストグラムで示したものである。

第２図（Ｂ）から解る様に、活字文字や印字文字等、行
幅が一定な文字列においては、本来の文字列のヒストグ
ラムＨＧ　（Ｌ）のレベルは、汚れ部分のヒストグラム
ＨＧ　（Ｎｕ）　、　ＨＧ　（ＮＬ　）よりも一般に高
くなっている。又、本来の文字列ヒストグラムＨＧ　（
Ｌ）の行幅ＬＷは略一定である。この性質は、７Ｂフオ
ントの様に、上下端部分に文字構成部分が多い文字形体
の文字列の場合に顕著に現れる。

本発明ぼ、この新規な知見に基づき、横方向の文字列ヒ
ストグラムにおける文字列部分と汚れ部分のヒストグラ
ムのレベル差を利用して、文字列の周囲に高レベルの大
きい汚れが存在する場合でも、文字列の行位置を確実に
検出出来る様にしたものである。

文字読取り手段１２０は、印刷用紙１１０上に印刷され
た文字列の横方向の走査線上に存在する各文字部分又は
汚れ部分を読取って出力する。

文字列ヒストグラム作成手段１３０は、文字読取り手段
１２０が読み取ったデータに基づいて、第２図（Ｂ）に
示す様に、文字列の横方向のヒストグラムを作成する。

文字列行位置検出手段１４０は、文字列ヒストグラム作
成手段１３０が作成した文字列の横方向ヒストグラムを
スライスレベルＳＬを変えてスライスし、そのスライス
幅が本来の文字列ヒストグラムＨＧ　（Ｌ）の行幅値に
基づいて設定された基準行幅値に等しくなった時にの文
字列ヒストグラムのスライス点位置（０２、Ｌ２　）か
ら、文字列の行位置を検出する。

これにより、文字列の周辺に高レベルで且つ大きな汚れ
が存在している場合でも、その文字列の行位置を十分な
精度で、且つ、効率良く検出することが出来る。

〔実施例〕

本発明の一実施例を、第２図及び第３図を参照して説明
する。

第３図において、印刷用紙１１０、文字読取り手段１２
０、文字列ヒストグラム作成手段１３０、及び行位置検
出手段１４０については、既に第１図で説明した通りで
ある。

文字読取り手段１２０として例えば公知の光学的文字読
取り装置が用いられ、印刷用紙１１０上の文字列を読み
取って得られた文字画像から、横方向の走査線上に存在
する各文字部分又は汚れ部分のデータが黒ビツト列の形
で出力される。

文字列ヒストグラム作成手段１３０において、１３１は
カウンタで、文字読取り器１２０から入力された横方向
の走査線上に存在する各文字部分又は汚れ部分のデータ
である黒ビット数をカウントする。

１３２はヒストグラム作成部で、カウンタ１３１から入
力されたカウント値及び文字読取り手段１２０から入力
された横方向走査線の縦方向の座標データに基づいて、
文字列の横方向のヒストグラムを作成する。

文字列行位置検出手段１４０−において、１４１はスラ
イスレベル設定部で、文字列ヒストグラムのスライスレ
ベルＳＬ（第２図（Ｂ）参照）を設定する。１４２は行
幅検出部で、スライスレベルＳＬでスライスされた文字
列ヒストグラムの上下のスライス点位置Ｕ、Ｌより文字
列の行幅（ＬＷ：ＵＬの距離）を検出する。

１４３は基準行幅設定部で、文字列の行幅の基準値が設
定される。この基準行幅値は、文字列の行幅のバラツキ
や、文字列の配列方向と文字読取り器１２１の走査方向
のバラツキ等を考慮して、ある幅を持って設定される。

１４４は比較部で、行幅検出部１４２から入力された文
字列の行幅値ＬＷと基準行幅設定部１４３から入力され
た基準行幅値ＳＬＷを比較する。

ＬＷ＞ＳＬＷの時は、スライスレベル設定部１４１に制
御信号を送ってそのスライスレベルを上げる様に制御す
る。ＬＷ＝ＳＬＷになった時は、行位置検出部１４５に
制御信号を送って、行位置の検出を行わせる。

行位置検出部１４５は、比較部１４４から制御信号を受
けると、行幅検出部１４２からの座標データから、文字
列の行位置の検出を行う。

（動作の説明） 第３図の実施例の動作を、第２図を参照して説明する。

文字読取り手段１２０は、印刷用紙１１０上に印刷され
た文字列を横方向に走査して文字列の各文字の読み取り
を行い、その出力をカウンタ１３１に加える。

文字列を横方向に走査することにより、文字読取り器１
２１からは、その横歩行の走査線上に存在する各文字部
分又は汚れ部分のデータが黒ビツト列の形で出力される
。黒ビツト列の黒ビット数は、対応する文字部分又は汚
れ部分の長さに比例する。

カウンタ１３１は、文字読取り手段１２０から入力され
た黒ビツト列の黒ビット数をカウントすることにより、
各横方向の走査線上に存在する全ての文字部分又は汚れ
部分の長さ示すカウント値を出力して、ヒストグラム作
成部１３２に加える。

ヒストグラム作成部１３２は、カウンタ１３１から入力
された各軸方向走査線に対するカウント値及び文字読取
り手段１２０から入力された各横方向走査線の座標デー
タに基づいて、第２図（Ｂ）に示す、文字列の横方向の
ヒストグラムを作成する。このヒストグラムは、本来の
文字列ヒストグラムＨＧ　（Ｌ）と汚れ部分のヒストグ
ラムＨＧ（Ｎｕ）、ＨＧ　（ＮＬ　）で形成されている
。

行幅検出部１４２は、スライスレベル設定部１４１より
入力されたスライスレベルＳＬでヒストグラム作成部１
３２から入力されたヒストグラムをスライスし、スライ
スされた文字列ヒストグラムの上下のスライス、（Ｕ、
Ｌ）より文字列の行幅ＬＷを検出する。行幅ＬＷのデー
タは比較的１４４に加えられ、上下のスライス点Ｕ、Ｌ
の座標データは行位置検出部１４５に加えられる。

比較部１４４は、行幅検出部１４２から入力された文字
列の行幅値ＬＷと基準行幅設定部１４３から入力された
基準行幅値ＳＬＷを比較する。ＬＷ＞ＳＬＷの時は、ス
ライスレベル設定部１４１のスライスレベルを上げる様
に制御し、ＬＷ−３ＬＷになった時に、行位置検出部１
４５に制御信号を送って行位置の検出を行わせる。

スライスレベル設定部１４１のスライスレベルは、最初
は第２図（Ｂ）に示す様に、汚れＮ１〜Ｎ６のヒストグ
ラムＨＧ（Ｎｕ、）及びＨＧ（ＮＬ）よりも低いスライ
スレベルＳＬ＋に設定されている。従って、行幅検出部
１４２によって検出された行幅値ＬＷ１　はＳＷＬより
も大きくなるので、比較部１４４は、スライスレベルＳ
Ｌのレベルを上げる。

スライスレベル設定部１４１の設定するスライスレベル
の値が増大し、そのスライスレベルＳＬ２が本来の文字
列ヒストグラムＨＧ　（Ｌ）をスライスする様になると
、検出される行幅値ＬＷ２は基準行幅値ＳＬＷと等くな
る。この時、比較部１４４は行位置検出部１４５に制御
信号を送って、行位置検出を行わせる。又、行幅検出部
１４２からは、スライスレベルＳＬ２が文字列ヒストグ
ラムＨＧ　（Ｌ）をスライスした時の上下のスライス点
（Ｕ２　　、　Ｌ２　）の座標データが行位置検出部１
４５に加えられる。

行位置検出部１４５は、比較部１４４から制御信号を受
けると、行幅検出部１４２から入力された上下のスライ
ス点（Ｕ２　　、Ｌ２　）の座標データより、文字列の
行位置を検出する。文字列の行位置は、文字列ヒストグ
ラムＨＧ　（Ｌ）の上側のスライス点Ｕ２、下側のスラ
イス点Ｌ２、又は両者を平均することにより得られる文
字列の中央位置の座標によって示される。

（他の実施例） 本発明は、更に次の様な態様で実施することが出来る。

前Ｍの実施例は、スライスレベルＳＬの大きさが変化し
ても文字列ヒストグラムＨＧ（Ｌ）の行幅は一定してい
る場合の実施例であるが、もし、文字列ヒストグラムＨ
Ｇ　（Ｌ）の行幅が一定せず、文字列ヒストグラムのレ
ベルによって変化する場合は、第３図に点線で示す様に
スライスレベル設定手段１４１が出力するスライスレベ
ルＳＬを基準幅設定部１４３に加え、スライスレベルＳ
Ｌの大きさに対応して基準幅設定部１４３が出力する基
準幅値を変化させる様にする。これにより、文字列ヒス
トグラムＨＧ　（Ｌ）のレベルに対応してその行幅が変
化する場合でも、汚れ部分を除いた本来の文字列の行位
置を確実に検出することが出来る。

なお、スライスレベルＳＬと文字列ヒストグラムＧＨ（
Ｌ）の行幅値の対応関係は、その文字列に用いられてい
る文字形体から統計的に決められる。

〔発明の効果〕

以上説明した様に、本発明によれば、文字列の周辺に高
レベルで且つ大きな汚れが存在している場合でも、十分
な精度でもって本来の文字列の行位置の検出を行うこと
が出来る。又、スライスレベルを、変え、得られた文字
列の行幅値と基準行幅値を比較することにより本来の文
字列の行位置の検出が可能となるので、行位置の検出を
効率良（行うことが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図・・・本発明の構成のブロック説明図、第２図・
・・本発明の文字列ヒストグラムの説明図、第３図・・
・本発明の一実施例の説明図。 第１図において、 １１０・・・印刷用紙 １２０・・・文字読取り手段 １３０・・・文字列ヒストグラム作成手段１４０・・・
文字列行位置検出手段 特許出願人　　　富　士　通　株式会社不ｉト朗の一宸
丘べ列の悦ｆＪＰＩ口 第３図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）行幅が一定な文字列の行位置検出方式において、 （ａ）文字列の横方向のヒストグラムを作成する文字列
   ヒストグラム作成手段（１３０）と、（ｂ）文字列ヒス
   トグラムをスライスレベルを変えてスライスし、そのス
   ライス幅が基準行幅値に等しくなった時の文字列ヒスト
   グラムのスライス点（Ｕ、Ｌ）の位置から文字列の行位
   置を検出する文字列行位置検出手段（１４０）、 を設けたことを特徴とする文字列の行位置検出方式。
2. （２）文字列行位置検出手段（１４０）において、基準
   行幅値がスライスレベルに対応して可変であることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載の文字列の行位置検
   出方式。