JPS61253555A - Transaction analyzer - Google Patents

Transaction analyzer

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JPS61253555A
JPS61253555A JP61099259A JP9925986A JPS61253555A JP S61253555 A JPS61253555 A JP S61253555A JP 61099259 A JP61099259 A JP 61099259A JP 9925986 A JP9925986 A JP 9925986A JP S61253555 A JPS61253555 A JP S61253555A
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data
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input
change
transaction
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JP61099259A
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Deii Chiyapuman Deebitsuto
デェビット・ディー・チャプマン
Shii Kaakupatoritsuku Donarudo
ドナルド・シー・カークパトリック
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Tektronix Japan Ltd
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Sony Tektronix Corp
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    • GPHYSICS
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    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/25Testing of logic operation, e.g. by logic analysers

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Abstract

PURPOSE:To attain application of a transaction analyzer to various microprocessors without changing the hardware by setting a logic circuit in a programmable state. CONSTITUTION:A transaction analyzer contains a random access memory (logic circuit) 88 and a state machine 80 having a state register 94. The address of the memory 88 is controlled by a control line selected from a microprocessor and the data stored in a state register. The present output state of the machine 80 including the state of the fetch control signal is decided from the contents of the register 94. The contents of the register 94 are controlled by the data stored previously in the memory 88. Therefore the transaction analyzer can be easily programmed by loading previously the proper data to the memory 88.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ロジック・アナライザー特にロジック・アナ
ライザによるデータ取り込みを制御するために、コンピ
ュータ・プロセッサの制御ラインを監視し、このプロセ
ッサが実行するトランザクションの形式を判断し、適切
な信号を発生するトランザクション・アナライザに関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention monitors the control lines of a computer processor to control the data acquisition by a logic analyzer, particularly the logic analyzer. Transaction analyzer that determines the format of the transaction and generates the appropriate signal.

[従来の技術及び問題点コ データ取り込み装置であるロジック・アナライザの典型
的な機能は、マイクロプロセッサ・チップのピンからの
アドレス・パス、データ・バス及び制御ラインを監視し
、このプロセッサの制御ライン、アドレス・バス及びデ
ータ・パスのラインの状態を含むマイクロプロセッサ動
作の一連の経歴をスクリーンに表示することである。典
型的には、ロジック・アナライザは、被試験システムの
マイクロプロセッサ及びそのソケット間に挿入されたプ
ローブにより、このマイクロプロセッサのアドレス、デ
ータ及び制御ラインをアクセスしている。このプローブ
は典型的には、マイクロプロセッサのピン配列に一致す
る1組のプローブ・ピンと、このマイクロプロセッサを
挿入できるプローブ・ソケットとから構成されている。
[Prior Art and Problems] The typical function of a logic analyzer, which is a data acquisition device, is to monitor the address path, data bus, and control lines from the pins of a microprocessor chip; The purpose of the present invention is to display on the screen a history of microprocessor operations, including the status of the address bus and data path lines. Typically, a logic analyzer accesses the address, data, and control lines of a system-under-test microprocessor through a probe inserted between the microprocessor and its socket. The probe typically consists of a set of probe pins that match the pinout of the microprocessor and a probe socket into which the microprocessor can be inserted.

プローブの内部配線により、プローブ・ソケットに挿入
されたマイクロプロセッサのピンを、マザー・ボードに
挿入された適当なプローブ・ピンに接続する。
The probe's internal wiring connects the microprocessor pins inserted into the probe socket to the appropriate probe pins inserted into the motherboard.

これにより、アドレス、データ及び制御ラインをバッフ
ァに導き出すことが可能になり、これらバッファはデー
タをロジック・アナライザの回路に転送する。
This allows address, data and control lines to be routed to buffers, which transfer the data to the logic analyzer's circuitry.

典型的には、ロジック・アナライザのデータ取り込み部
分は、各マイクロプロセッサのトランザクション(tr
ansaction:読み出し又は書込みサイクル、又
は割り込みなど)に関するデータをランダム取り込みメ
モリに蓄積するが、データは、一連のアドレスに順次蓄
積される一連のトランザクションを表わす。マイクロプ
ロセッサのデータ及びアドレス・バスの状態はトランザ
クション・サイクルの部分のみ有効なので、トランザク
ション・アナライザを設けて、マイクロプロセッサの選
択した制御ラインを監視し、有効トランザクションが生
じたときを判断し、書込みストローブ信号を取り込みメ
モリに供給して、マイクロプロセッサのデータ、アドレ
ス及び制御ラインの現在のデータを蓄積させる。
Typically, the data acquisition portion of a logic analyzer processes each microprocessor's transactions (tr
transaction: a read or write cycle, or an interrupt, etc.) is stored in a random capture memory, where the data represents a series of transactions that are stored sequentially at a series of addresses. Because the state of the microprocessor's data and address buses is only valid during a transaction cycle, a transaction analyzer is provided to monitor selected control lines of the microprocessor to determine when a valid transaction has occurred, and to determine when a write strobe has occurred. Signals are provided to the capture memory to store current data on the microprocessor's data, address and control lines.

従来技術において、プ四−ブ、トランザクション・アナ
ライザ及び他の装置を含むロジック・アナライザのほと
んどのデータ取り込み部分は、1つの形式のマイクロプ
ロセッサのみと共に利用するように設計されていた。異
なるマイクロプロセッサには、異なるピン配列、異なる
形式の制御ライン、異なる形式のトランザクション、異
なるタイミングが要求されるので、被試験マイクロプロ
セッサの各形式毎に異なるデータ取り込み装置が必要で
あった。リターゲッタブ/l/ (retargeta
ble)  ・プローブが提案されており、このプロー
ブのピン及びソケット部分を交換して、異なる形式のマ
イクロプロセッサに適応できる。交差接続(cross
−connect)回路も交換可能であり、被試験マイ
クロプロセッサの形式に関係なく同じ一般的配列におい
て適用できるように、制御、データ及びアドレス・ライ
ンを取り込み装置の残りの部分に導くことができる。
In the prior art, most data acquisition portions of logic analyzers, including processors, transaction analyzers, and other devices, were designed for use with only one type of microprocessor. Because different microprocessors require different pin outs, different types of control lines, different types of transactions, and different timing, a different data acquisition device was required for each type of microprocessor under test. Retarget tab/l/ (retargeta
ble) A probe has been proposed whose pin and socket parts can be exchanged to accommodate different types of microprocessors. cross connection
-connect) circuits are also interchangeable and can route control, data and address lines to the rest of the capture device so that they can be applied in the same general arrangement regardless of the type of microprocessor under test.

[発明の目的] したがって本発明の目的は、かかるプローブを用いて、
ハードウェアを変更することなく多くの異なる形式のマ
イクロプロセッサに適用できると共に、取り込みメモリ
の取り込み動作を高速に制御するトランザクション・ア
ナライザの提供にある。
[Object of the invention] Therefore, the object of the present invention is to use such a probe to
An object of the present invention is to provide a transaction analyzer that can be applied to many different types of microprocessors without changing the hardware and that can control the fetching operation of a fetching memory at high speed.

[問題点を解決するための手段及び作用]本発明によれ
ば、トランザクション・アナライザは、ロジック・アナ
ライザ・プローブがアクセスする選択した1組のマイク
ロプロセッサ制御ラインに現われる多くの信号状態パタ
ーンを識別できるロジック装置を具えている。マイクロ
プロセッサ内に生じるトランザクションを表わすような
信号状態パターンの任意の1つを識別すると、トランザ
クション・アナライザはクロック信号を発生する。この
クロック信号により、ロジック・アナライザは、マイク
ロプロセッサの端子に発生するデータを取り込みメモリ
に取り込むことを開始する。異なるマイクロプロセッサ
が、トランザクション発生期間中に発生する制御ライン
・パターンを識別するように、トランザクション・アナ
ライザをプログラムできる。よって、リターゲツタブル
・プローブと共に用いて、種々の異なるマイクロプロセ
ッサのピンに現われるデータをアクセスできる。
SUMMARY OF THE INVENTION In accordance with the present invention, a transaction analyzer is capable of identifying many signal state patterns appearing on a selected set of microprocessor control lines accessed by a logic analyzer probe. It has a logic device. Upon identifying any one of the signal state patterns representative of a transaction occurring within the microprocessor, the transaction analyzer generates a clock signal. This clock signal causes the logic analyzer to begin capturing data occurring at the microprocessor's terminals into the capture memory. The transaction analyzer can be programmed to identify control line patterns that occur during transaction generation by different microprocessors. Thus, it can be used with retargetable probes to access data appearing on pins of a variety of different microprocessors.

また本発明によれば、トランザクション・アナライザは
、ランダム・アクセス・メモリ (ロジック回路)及び
状態レジスタを有するステート・マシーンを具えている
。マイクロプロセッサからの選択した制御ライン及び状
態レジスタに蓄積されたデータが、ランダム・アクセス
・メモリのアドレスを制御する。取り込み制御クロック
信号の状態を含むステート・マシーンの現在の出力状態
を状態レジスタの内容により判断する。次に、この内容
を、以前にランダム・アクセス・メモリに蓄積されたデ
ータにより制御する。よって、適当なデータを前もって
ランダム・アクセス・メモリにロードしておくことによ
り、トランザクション・アナライザを容易にプログラム
できる。
Also in accordance with the invention, the transaction analyzer includes a state machine having a random access memory (logic circuit) and a state register. Selected control lines from the microprocessor and data stored in status registers control the addressing of the random access memory. The current output state of the state machine, including the state of the acquisition control clock signal, is determined by the contents of the state register. This content is then controlled by data previously stored in random access memory. Thus, the transaction analyzer can be easily programmed by preloading the random access memory with appropriate data.

更に本発明によれば、ステート・マシーンは非同期型で
あり、マイクロプロセッサからのクロック信号によらず
、制御ライン状態の変化により、ランダム・アクセス・
メモリの現在の出力データを状態レジスタに蓄積する。
Further, in accordance with the present invention, the state machine is asynchronous and performs random access operations based on changes in the state of control lines, without depending on a clock signal from the microprocessor.
Accumulates the current output data of the memory in the status register.

これにより、トランザクション・アナライザは、タイミ
ング・インタフェースのハードウェアを変更することな
く、データ取り込み装置及び種々の異なるマイクロプロ
セッサ間のタイミング・インタフェースを提供できる。
This allows the transaction analyzer to provide a timing interface between data acquisition devices and various different microprocessors without changing the timing interface hardware.

ま、た本発明によれば、トランザクション・アナライザ
は、マイクロプロセッサが実行するトランザクションの
形式を表わす2進コード・データから成る「トランザク
ション・タグ」を発生する。
Additionally, in accordance with the present invention, the transaction analyzer generates a "transaction tag" consisting of binary coded data representing the type of transaction to be executed by the microprocessor.

ロジック・アナライザは、選択した制御ラインから直接
得たデータの代わりにこのトランザクション・タグを取
り込みかつ蓄積できるので、トランザクション・データ
をよりコンパクトに蓄積できる。
The logic analyzer can capture and store this transaction tag in place of data obtained directly from the selected control line, allowing transaction data to be stored more compactly.

また本発明では、発生するトランザクション・タグは、
マイクロプロセッサの形式とは一般に独立しているので
、異なるマイクロプロセッサに関して取り込むデータを
アクセスするのに用いるソフトウェアを画一化できる。
Further, in the present invention, the generated transaction tag is
Since it is generally independent of the type of microprocessor, the software used to access the data captured for different microprocessors can be standardized.

[実施例] 以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例を説明す
る。第1図は、本発明を含んだロジック・アナライザの
ブロック図である。データ取り込み装置10は、被試験
装置14内で動作するマイクロプロセッサのデータ、ア
ドレス及び選択した制御ライン出力の一連の状態を取り
込み、ランダム・アクセス取り込みメモリ12に蓄積す
る。装置10はプローブ16を具えており、このプロー
ブ16は、内部バッファ及び相互接続配線を介して、被
試験マイクロプロセッサのピンからのデータ・ライン、
アドレス・ライン及び選択した制御ライン部分を夫々デ
ータ・ラッチ18、アドレス・ラッチ20及び制御ラッ
チ22に接続する。このプローブ16は更に、このマイ
クロプロセッサのピンからの他の選択した制御ラインを
、ライン34を介してトランザクション・アナライザ2
6の入力端に接続する。このプローブ16は、マイクロ
プロセッサ及び被試験装置14のソケット間に挿入され
たピン及びソケットを交換し、相互接続配線を変更する
ことにより、異なるマイクロプロセッサに対して「リタ
ーゲット(retarget) Jできる。
[Embodiments] Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram of a logic analyzer incorporating the present invention. Data capture device 10 captures data, addresses, and a series of states of selected control line outputs of a microprocessor operating within device under test 14 and stores them in random access capture memory 12 . The apparatus 10 includes a probe 16 that connects data lines from pins of the microprocessor under test through internal buffers and interconnect wiring.
The address line and selected control line portions are connected to data latch 18, address latch 20, and control latch 22, respectively. The probe 16 also connects other selected control lines from the microprocessor pins to the transaction analyzer 2 via line 34.
Connect to the input terminal of 6. This probe 16 can be "retargeted" to a different microprocessor by replacing the pins and sockets inserted between the microprocessor and the socket of the device under test 14 and changing the interconnect wiring.

トランザクション・アナライザ26は、ライン34の選
択した制御ライン・データの状態に応じて、適当なタイ
ミングで制御出力ライン28.30及び32を介して適
当なラッチ制御信号をラッチ18.20および22に供
給することにより、プローブ16からのデータ、アドレ
ス及び制御情報をラッチ18.20及び22に蓄積する
のを制御する。プローブ16の相互接続配線は、適当な
マイクロプロセッサ制御信号がライン34に現われるよ
うにしているので、トランザクション・アナライザ26
は、発生しているマイクロプロセッサ・トランザクショ
ンの形式及びステージを判断できる。ラッチ18.20
及び22に蓄積されたデータを、これらラッチからデー
タ・バス36、アドレス・バス38及び制御バス40を
夫々介して取り込みメモリ12のデータ入力端子に転送
する。
Transaction analyzer 26 provides appropriate latch control signals to latches 18.20 and 22 via control output lines 28.30 and 32 at appropriate times depending on the state of selected control line data on line 34. This controls the storage of data, address and control information from probe 16 in latches 18, 20 and 22. The interconnect wiring of probe 16 allows the appropriate microprocessor control signals to appear on line 34 so that transaction analyzer 26
can determine the type and stage of microprocessor transactions that are occurring. latch 18.20
and 22 are transferred from these latches to the data input terminals of acquisition memory 12 via data bus 36, address bus 38, and control bus 40, respectively.

トランザクション・アナライザ26が、ライン34の選
択した制御ライン・データの状態から、被試験装置14
のマイクロプロセッサが実行している読出し、又は書込
み動作の如きトランザクションの形式を判断すると、こ
のトランザクション・アナライザ26は、トランザクシ
ョンの形式を表わす2進コード化されたタグ信号をバス
42に発生する。このバス42は、取り込みメモリ12
の他のデータ入力端子及び取り込みステート・マシーン
46の入力端に接続する。トランザクション・アナライ
ザ26はクロック信号も発生し、このクロック信号によ
り、ラッチ18.20及び22がプローブ16からの新
たなデータを蓄積する。このクロック信号は、ライン4
8を介して更に取り込みステート・マシーン48の入力
端に転送する。
Transaction analyzer 26 determines device under test 14 from the state of selected control line data on line 34.
Upon determining the type of transaction, such as a read or write operation, that the microprocessor is performing, transaction analyzer 26 generates a binary encoded tag signal on bus 42 representative of the type of transaction. This bus 42 connects the acquisition memory 12
and to the input of the acquisition state machine 46. Transaction analyzer 26 also generates a clock signal that causes latches 18, 20 and 22 to store new data from probe 16. This clock signal is on line 4
8 to the input of the acquisition state machine 48.

取す込みステート・マシーン46は、ライン50を介し
て取り込みメモリ12の書込み制御入力端に書込み信号
を転送し、メモリ12の現在のアドレスを1だけインク
リメントし、現在のアドレスにライン36.38及び4
0のデータを蓄積するように、取り込みメモリ12のデ
ータ蓄積動作を制御する。現在のメモリ・アドレスが最
大数を過ぎて、更にインクリメントされると、このアド
レスie最少数にリセットし、メモリのこのアドレスに
以前蓄積されたデータの上に現在のデータを書込む。
Acquisition state machine 46 transfers a write signal to the write control input of acquisition memory 12 via line 50, increments the current address of memory 12 by one, and writes the current address to lines 36, 38 and 38. 4
The data storage operation of the capture memory 12 is controlled so that data of 0 is stored. When the current memory address passes the maximum number and is further incremented, this address ie resets to the minimum number and writes the current data over the previously stored data at this address in memory.

また、取り込みステート・マシーン46は、クオリファ
イ・ビットを発生し、ライン52を介してメモリ12に
転送する。メモリ12に蓄積された一連のデータがギャ
ザを含むようにするため、トランザクション・アナライ
ザ26からのクロック信号を受ける度毎に、ステート・
マシーン46が書込み信号を発生しないように、取り込
みステート・マシーン46を、プログラムしてもよい。
Acquisition state machine 46 also generates and transfers qualifying bits to memory 12 via line 52. In order to ensure that the series of data stored in memory 12 includes gathers, each time a clock signal from transaction analyzer 26 is received, a state
Capture state machine 46 may be programmed such that machine 46 does not generate a write signal.

ここで、1つ以上の連続したマイクロプロセッサ・トラ
ンザクションを表わすデータは、メモリ12に蓄積され
なかった。現在のデータを蓄積する直前に、データ蓄積
にギャザが生じたとき、ライン36.38.40及び4
2の現在のデータと共にクオリファイア・ビットをセッ
トし、蓄積する。
Here, data representing one or more consecutive microprocessor transactions was not stored in memory 12. Lines 36, 38, 40 and 4 when a gather occurs in the data accumulation immediately before accumulating the current data.
The qualifier bit is set and stored with the current data of 2.

ワード・レコグナイザ(ワード認識器)54をプログラ
ムして、ライン36.38又は40にデータ又はアドレ
ス・ビットの特定のパターンが発生したとき、ライン5
6を介して指示信号を取り込みステート・マシーン46
に転送する。取す込みステート・マシーン46をプログ
ラムして、ワード・レコグナイザ54からの選択した指
示信号を受けた際、又はトランザクション・アナライザ
26から選択したタグ信号を受けた際に、書込み信号の
発生を開始、又は停止できる。
Word recognizer 54 can be programmed to detect line 5 when a particular pattern of data or address bits occurs on lines 36, 38 or 40.
The state machine 46 receives the instruction signal through the state machine 46.
Transfer to. programming the capture state machine 46 to begin generating write signals upon receipt of a selected instruction signal from the word recognizer 54 or upon receipt of a selected tag signal from the transaction analyzer 26; Or it can be stopped.

更に、取り込みステート・マシーン46をプログラムし
て、制御ライン60を用い、カウンタ及びタイマ58の
動作をセットし、開始できる。カウンタ及びタイマが所
定の限界に達すると、ライン62を介して、適当な限界
信号を取り込みステート・マシーン46に転送する。す
ると、このステート・マシーン46は、この限界情報を
用いて書込み信号を開始又は停止する。例えば、選択し
たアドレスがライン38に現われた後、100のマイク
ロプロセッサ・トランザクションの間、取り込みメモリ
12にデータをセーブするのを停止するのが望ましい。
Additionally, the acquisition state machine 46 can be programmed to use control lines 60 to set and initiate the operation of the counter and timer 58. When the counters and timers reach predetermined limits, the appropriate limit signals are captured and transferred to state machine 46 via line 62. The state machine 46 then uses this limit information to start or stop the write signal. For example, it may be desirable to stop saving data in acquisition memory 12 for 100 microprocessor transactions after the selected address appears on line 38.

この場合、この選択したアドレスが現われたとき、ライ
ン38上の選択したアドレスを認識して、指示信号をス
テート・マシーン46に供給するように1つのワード・
レコグナイザ54をプログラムする。また、ライン60
の100のパルスを検出した後に、ライン62に限界信
号を発生するように1つのカウンタ58をプログラムす
る。ステート・マシーン46は、指示信号を受けると、
クロック・パルスを受ける度にライン60を介した計数
パルスの転送を開始する。また、ステート・マシーン4
6は、ライン62の限界信号を検出すると、メモリ12
に書込み信号を供給するので、データ蓄積が終了する。
In this case, one word line is activated to recognize the selected address on line 38 and provide an indication signal to state machine 46 when this selected address appears.
Program the recognizer 54. Also, line 60
One counter 58 is programmed to generate a limit signal on line 62 after detecting 100 pulses of . When the state machine 46 receives the instruction signal,
Each time a clock pulse is received, the transfer of count pulses over line 60 is initiated. Also, state machine 4
6 detects the limit signal on line 62, and the memory 12
Since the write signal is supplied to , data storage is completed.

タグ信号、クロック信号、限界信号及びワード・レコグ
ナイザ56の指示信号の選択したロジック組合せによる
書込み信号の発生の他に、取り込みステート・マシーン
46は、被試験装置14からのライン63の1つ以上の
外部入力の状態に応じて、書込み信号を発生するように
プログラムされる。これら入力は、例えば、押釦又はリ
レー動作の如く被試験装置14内で生じた種々の事象の
状態を表わすデジタル信号であってもよい。この特長に
より、取り込み装置10は、外部事象の発生した前又は
後の選択したサイクル数内に発生するデータをメモリ1
2に蓄積できる。
In addition to generating write signals through selected logic combinations of tag signals, clock signals, limit signals, and word recognizer 56 indication signals, acquisition state machine 46 also generates one or more signals on lines 63 from device under test 14 . It is programmed to generate a write signal depending on the state of an external input. These inputs may be digital signals representing the status of various events occurring within the device under test 14, such as push buttons or relay operations. This feature allows the capture device 10 to capture data that occurs within a selected number of cycles before or after the external event occurs in the memory 10.
It can be stored in 2.

データ取り込み装置10は更にl10(入出力)メモリ
・マツプ68を具えており、このメモリ・マツプは、読
出し動作中にある選択されたアドレスがアクセスされる
と、被試験マイクロプロセッサのデータ・ラインに選択
したデータを出力する。
The data acquisition device 10 further includes an I10 (input/output) memory map 68 which registers the data lines of the microprocessor under test when a selected address is accessed during a read operation. Output the selected data.

よって、I10メモリ・マツプ68は、被試験装置14
に存在しないキーボード又は他の入力装置をシュミレー
トするのに用いてもよい。被試験装置14からのデータ
・バスをプローブ16内の双方向性バッファに接続して
、このプローブ16内のバッファを介して被試験装置1
4のデータ・バスからのデータ・ラッチ18に通過させ
てもよいし、このプローブ・バッファを介してI10メ
モリ・マツプ68からのデータを被試験装置14のデー
タ・バスに逆方向に通過させてもよい。発生したマイク
ロプロセッサ・トランザクションの形式に基ずく制御ラ
イン72を介したトランザクション・アナライザ26か
らの信号により、プローブ16内の双方向性バッファの
方向検知を制御する。
Therefore, the I10 memory map 68 is
It may also be used to simulate a keyboard or other input device that does not exist in the computer. A data bus from the device under test 14 is connected to a bidirectional buffer in the probe 16 so that the data bus from the device under test 14 is connected to the device under test 1 through the buffer in the probe 16.
Data from the I10 memory map 68 may be passed from the I10 memory map 68 through the probe buffer to the data bus of the device under test 14 in the reverse direction. Good too. Signals from transaction analyzer 26 via control line 72 based on the type of microprocessor transaction occurring control the direction sensing of the bidirectional buffer within probe 16.

データ取り込みを開始する前に、ワード・レコグナイザ
54、ステート・マシーン46及びトランザクション・
アナライザ26のすべてをプログラム制御装置64によ
りプログラムしてもよい。
Before starting data capture, the word recognizer 54, state machine 46 and transaction
All of analyzer 26 may be programmed by program controller 64.

このプログラム制御装置64は、被制御ブロックの各々
に結合された制御ライン、アドレス°ライン及びデータ
・ラインを有するマイクロプロセッサ・システムで構成
してもよい。
The program controller 64 may comprise a microprocessor system having control lines, address lines, and data lines coupled to each of the controlled blocks.

トランザクション・アナライザ26は、以下に述べる機
能を実行できるプログラマブル・ロジック装置である。
Transaction analyzer 26 is a programmable logic device capable of performing the functions described below.

好適な実施例において、このトランザクション・アナラ
イザ26は、第2図のブロック図に示す如く非同期ステ
ート・マシーン80を。
In the preferred embodiment, transaction analyzer 26 includes an asynchronous state machine 80 as shown in the block diagram of FIG.

具えている。この形式の非同期ステート・マシーンの動
作は、1985年5月6日に出願された米国特許出願第
730920号に開示されている。
It is equipped with The operation of this type of asynchronous state machine is disclosed in US Patent Application No. 730,920, filed May 6, 1985.

第2図のブロック図に示すステート・マシーン80ば、
現在のマシーン状態(Sn)期間中の入力状態lの変化
に応答して、選択した新たなマシーン状態(Sn+1)
に変化する。よって、Sn+1はI及びSnの関数、即
ち S n +1 = f (S n 、 I )である。
The state machine 80 shown in the block diagram of FIG.
A selected new machine state (Sn+1) in response to a change in input state l during the current machine state (Sn)
Changes to Therefore, Sn+1 is a function of I and Sn, ie, Sn+1 = f (S n , I ).

現在のマシーン状態Snは、ステート・マ“シーン80
のマシーン状態レジスタ82に蓄積された2進数であり
、Snの各ビットは2進マシーン状態変数を表わす。状
態レジスタ82の各ビットが状態レジスタ出力バス84
の独立したラインに現われる。同様に、入力状態Iも2
進数であり、この各ビットはプローブ16からの入力バ
ス34の独立した制御ラインの状態を表わす。
The current machine state Sn is state machine “80”.
is a binary number stored in machine state register 82 of Sn, where each bit of Sn represents a binary machine state variable. Each bit of status register 82 is connected to status register output bus 84.
appears in a separate line. Similarly, the input state I is also 2
A base number, each bit of which represents the state of an independent control line on input bus 34 from probe 16.

出力バス84及び入力バス34の両方の信号を、入力と
して組合せロジック回路88に供給する。
The signals on both output bus 84 and input bus 34 are provided as inputs to combinational logic circuit 88.

この組合せロジック回@SSは、Sn及び■から得た適
当なS n + 1出力を発生できる任意のプログラマ
ブル装置でよい。しかし、好適な実施例においては、組
合せロジック回路88は、ランダム、アクセス・メモリ
(RAM)で構成する。そして、このRAMをアドレス
指定するようにSn及びIを供給する。また、Sn及び
Iの任意の可能な組合せがこのRAMをアドレス指定し
たとき、組合せロジック回路88のデータ出力バス90
に適当なSn+1が現われるようにRAMに蓄積された
データで、Sn+1を構成する。
This combinational logic circuit @SS may be any programmable device capable of generating the appropriate S n + 1 output derived from Sn and ■. However, in the preferred embodiment, combinational logic circuit 88 comprises random access memory (RAM). Then, Sn and I are supplied to address this RAM. Also, when any possible combination of Sn and I addresses this RAM, the data output bus 90 of the combinational logic circuit 88
Sn+1 is composed of data stored in the RAM so that an appropriate Sn+1 appears in the .

組合せロジック回路88は、マシーン状態変数S n 
+ 1の他に、関数 On + 1 = g (S n 、 I )により、
出力変数On + 1も発生する。各On+1は、対応
するS n + 1と同じRAM記憶位置に蓄積されて
おり、Sn+1がデータ・バス90に現われるのと同時
に出力データ・バス92に現われる。
Combinatorial logic circuit 88 generates machine state variables S n
In addition to + 1, by the function On + 1 = g (S n , I),
An output variable On+1 is also generated. Each On+1 is stored in the same RAM storage location as its corresponding Sn+1 and appears on output data bus 92 at the same time that Sn+1 appears on data bus 90.

データ・バス90を状態レジスタ82の入力ゲート端子
に接続するので、この状態レジスタ82のクロック端子
が変化パルスによりストローブされると、かかるパルス
の後縁においてデータ・バス90の内容Sn+1がSn
として状態レジスタ82に蓄積される。よって、ステー
ト・マシーン80の状態が1ステツプだけ進む。同様に
、データ・バス92を出力状態レジスタ94の入力ゲー
ト端子に接続するので、このレジスタ94のクロック端
子が変化パルスによりストローブされると、データ・バ
ス92の内容On+1がOnとして出力状態レジスタに
蓄積される。第1図のタグ信号ライン42、クロック信
号ライン48、ラッチ制御ライン28.30及び32、
又は方向制御ライン72を、形成の必要に応じて配列し
、グループ化した出力ラインと共に独立したレジスタ出
力ラインに、出力状態レジスタ94に蓄積された各ビッ
トを出力する。
Data bus 90 is connected to the input gate terminal of status register 82 so that when the clock terminal of status register 82 is strobed by a transition pulse, the contents of data bus 90, Sn+1, become Sn+1 on the trailing edge of such pulse.
It is stored in the status register 82 as . Therefore, the state of state machine 80 advances by one step. Similarly, data bus 92 is connected to the input gate terminal of output status register 94, so that when the clock terminal of this register 94 is strobed by a change pulse, the contents of data bus 92, On+1, are set as On to the output status register. Accumulated. Tag signal line 42, clock signal line 48, latch control lines 28, 30 and 32 of FIG.
Alternatively, the direction control lines 72 can be arranged as desired to form each bit stored in the output status register 94 on a separate register output line along with grouped output lines.

変化パルスは、非同期タイミング回路96が発生する。The change pulse is generated by an asynchronous timing circuit 96.

このタイミング回路96は、バス34に現われ、タイミ
ング回路96の入力端に供給されるステート・マシーン
80の入力状態Iを監視し、■の変化を検出した後の適
当な遅延時間後に、変化パルスを発生してステート・マ
シーンの状態を進める。組合せロジック回路88が1の
変化に応じて新たなSn+1出力を発生するのに十分な
時間を与えるために、この時間遅延はある程度必要であ
る。ロジック回路88のアクセス・サイクル時間をD2
で示す。
This timing circuit 96 monitors the input state I of the state machine 80 appearing on the bus 34 and supplied to the input terminal of the timing circuit 96, and outputs a change pulse after an appropriate delay time after detecting a change in . Occurs and advances the state of the state machine. This time delay is necessary to some extent to allow combinational logic circuit 88 sufficient time to generate a new Sn+1 output in response to a 1 change. The access cycle time of logic circuit 88 is D2
Indicated by

レジスタ82及び94をストローブする前に■の変化を
確実に終わらせるためにも、タイミング回路96に関連
した時間遅延が必要である。ステート・マシーン80は
、多入力変化ステート・マシーンであり、■のいくつか
の2進変数は、Dlで示す期間にわたって変化するかも
しれず、ステート・マシーンの次の状態を決定するため
に依然「同時」に発生したものとして扱う。よって、■
の任意の変数の最初の変化を検出した後、ステート・マ
シーンの状態を進めるために変化パルスを発生するまで
に、タイミング回路96は少なくとも期間t =D 1
+D 2だけ待たなければならない。
A time delay associated with timing circuit 96 is also required to ensure that the change in ■ is completed before strobing registers 82 and 94. State machine 80 is a multi-input changing state machine, in which several binary variables of ■ may change over a period of time denoted Dl, and still require "simultaneous input" to determine the next state of the state machine. ” shall be treated as having occurred. Therefore, ■
After detecting the first change in any variable of , timing circuit 96 operates for at least a period of time t = D 1 before generating a change pulse to advance the state of the state machine.
+D You have to wait 2.

この応用において、■の変化が確実に完了するのに必要
な最小待ち時間D1は、ステート・マシーンの現在の状
態Snによって、異なるかもしれず、異なるマイクロプ
ロセッサのトランザクションには、状態の最初及び最後
の制御ライン変化の間に種々の遅延時間がある。本発明
によれば、タイミング回路96の多入力変化待ち時間は
、一定ではなく可変であり、現在の状態Snを変化させ
る。
In this application, the minimum waiting time D1 required to ensure that the change in ■ is completed may vary depending on the current state Sn of the state machine, and for different microprocessor transactions, the first and last There are various delay times between control line changes. According to the present invention, the multi-input change waiting time of the timing circuit 96 is not constant but variable and changes the current state Sn.

よって、第2図の組合せロジック回路88は、データ・
バス98からレジスタ99に2進数出力変数Tを更に発
生する。タイミング回路96から変化パルスを受けると
、とのT変数をレジスタ99にクロックし、タイミング
回路96に供給する。少な(ともSnの関数である変数
Tを用いて、ステート・マシーンの現在の状態Snに応
じて遅延時間t=D1+D2を変更する。よって、Sn
の任意の変化により、組合せロジック回路88はTを適
当に変化させるので、遅延時間D1が現在の状態におけ
る適当な動作のために最小必要時間を設定する。したが
って、各マシーン状態から、可能な次の状態に最高速で
進むのが可能となる。
Therefore, the combinational logic circuit 88 of FIG.
A binary output variable T is also generated from bus 98 to register 99. When the change pulse is received from the timing circuit 96, the T variable of is clocked into the register 99 and supplied to the timing circuit 96. The delay time t=D1+D2 is changed depending on the current state Sn of the state machine using a variable T which is a function of Sn.
Any change in causes the combinational logic circuit 88 to change T appropriately so that the delay time D1 sets the minimum required time for proper operation in the current state. Thus, it is possible to advance from each machine state to the next possible state at the fastest possible speed.

更にステート・マシーン80は、マシーン状態Sn及び
出力状態Onのシーケンスが単一の入力I状態変化に追
従するのを可能にする。非同期ステート・マシーンの実
施例80の連続した出力の特徴により、トランザクショ
ン・アナライザ26は、動作のシーケンスを、例えば、
まずラッチ制御及びタグ信号の発生から成るシーケンス
として制御できる。なお、これら信号は、ラッチ18.
20及び22に現在のプローブ出力を蓄積させる。
Furthermore, state machine 80 allows the sequence of machine states Sn and output states On to follow a single input I state change. The sequential output feature of asynchronous state machine embodiment 80 allows transaction analyzer 26 to determine the sequence of operations, e.g.
First, it can be controlled as a sequence consisting of latch control and tag signal generation. Note that these signals are transmitted to the latch 18.
20 and 22 to store the current probe output.

一連の出力の特徴を得るために、ロジック回路88が、
現在の状態Snの関数である単一ビットの状態変数SE
Qを発生する。シーケンス変数ビットがロジック1のと
き、これは、現在の状態Snがシーケンスの一部であり
、入力状態Iの変化がなくてもこのシーケンスの他の状
態が続くことを示す。シーケンス変数がロジック0のと
き、これは、現在の状態Snがシーケンスの一部ではな
いか、又は状態のシーケンスの最終状態であるかを示し
、入力状態Iが変化するまで更にこの状態は続かない。
To obtain a series of output characteristics, logic circuit 88:
a single-bit state variable SE that is a function of the current state Sn
Generate Q. When the sequence variable bit is logic 1, this indicates that the current state Sn is part of a sequence and other states of this sequence will continue even without a change in input state I. When the sequence variable is logic 0, this indicates that the current state Sn is not part of the sequence, or is the final state of a sequence of states, and will not continue until the input state I changes. .

このシーケンス変数をJKフリップ・フロップ100の
J及びに入力端に供給する。このフリップ・フロップ1
00は、タイミング回路96からの変化パルスによりク
ロックされる。シーケンス変数がロジック1ならば、変
化パルスの後縁においてフリップ・プロップ100の出
力は状態を変化する。シーケンス変数がロジックOなら
ば、フリップ・フロップ100の出力は、変化パルスを
受けても状態を変化しない。Offで示すフリップ・フ
ロップ100の出力を他の入力としてタイミング回路9
6に供給する。
This sequence variable is applied to the J and input terminals of the JK flip-flop 100. This flip flop 1
00 is clocked by a change pulse from timing circuit 96. If the sequence variable is a logic 1, then on the trailing edge of the transition pulse the output of flip flop 100 changes state. If the sequence variable is a logic O, the output of flip-flop 100 will not change state upon receiving a change pulse. The timing circuit 9 uses the output of the flip-flop 100 shown as Off as another input.
Supply to 6.

入力Iが状態を変化すると、タイミング回路96がこの
状態変化を検出し、その後、変化パルスを発生して、ス
テート・マシーンの状態Snを進める。この状態がシー
ケンスの最初ならば、ロジック回路88が発生するシー
ケンス状態変数はロジック1である。よって、フリップ
・フロップ100に加わる状態パルスの立ち下がり縁に
より、このフリップ・フロップ100の出力は状態を変
化する。変化パルスの立ち下がり縁を利用すると、フリ
ップ・フロップ100をり四ツクする前に状態レジスタ
82は確実に新たなSnを蓄積し、非同期タイミング回
路96はフリップ・フロップ100の出力を受ける準備
を確実にできる。タイミング回路96がフリップ・フロ
ップ出力Off状態のこの変化を検出し、次の変化パル
スを発生するので、Sn状態のシーケンスを第2状態に
進める。
When input I changes state, timing circuit 96 detects this state change and then generates a change pulse to advance the state Sn of the state machine. If this state is the first of the sequence, the sequence state variable generated by logic circuit 88 is a logic one. Thus, the falling edge of the state pulse applied to flip-flop 100 causes the output of flip-flop 100 to change state. Utilizing the falling edge of the change pulse ensures that status register 82 stores a new Sn before flip-flop 100 is turned off and that asynchronous timing circuit 96 is ready to receive the output of flip-flop 100. Can be done. Timing circuit 96 detects this change in the flip-flop output Off state and generates the next change pulse, thus advancing the sequence of Sn states to the second state.

ステート・マシーンは、シーケンスの最終状態snに達
するまで、状態シーケンスを進め続け、シーケンス変数
をロジック0にセットする。このロジック0がフリップ
・フロップ100のJ及びに入力端に供給されると、フ
リップ・フロップ100の出力状態は変化パルスの後縁
において変化しない。
The state machine continues to advance through the state sequence and sets the sequence variable to logic 0 until it reaches the final state sn of the sequence. If this logic 0 is applied to the J input of flip-flop 100, the output state of flip-flop 100 will not change on the trailing edge of the transition pulse.

よって、タイミング回路96はOff入力の変化を検出
せず、ステート・マシーン80は入力状態Iの変化を検
出するまで休止状態となる。
Therefore, timing circuit 96 does not detect a change in the Off input, and state machine 80 remains dormant until it detects a change in input state I.

第3図は、第2図の非同期タイミング回路96の実施例
のブロック図であり、変化検出回路104及び可変時間
遅延回路106から構成されている。変化検出回路10
4は、入力状態I又はフリップ・フロップ100の出力
状態Offの任意の変化を検出し、遅延回路106の入
力端に結合されたライン108にロジック1(高)出力
信号DIFFを発生する。変化検出回路104は、遅延
回路106が発生した高変化信号を受けるまで、■又は
Offの任意の次の変化に関係な(D I FF信号は
高を維持する。変化検出回路104からのDIFF入力
信号が高になった後の選択した遅延時間後、遅延回路1
06の出力信号である変化信号が高に切り替わる。変化
信号が高になると、変化検出回路104のDIFF出力
がロジック0(低)にリッセトされ、変化検出回路10
4がI又はOffの次の変化を検出するまで低を維持す
る。
FIG. 3 is a block diagram of an embodiment of the asynchronous timing circuit 96 of FIG. 2, which is comprised of a change detection circuit 104 and a variable time delay circuit 106. Change detection circuit 10
4 detects any change in the input state I or the output state Off of flip-flop 100 and generates a logic 1 (high) output signal DIFF on line 108 coupled to the input of delay circuit 106. The change detection circuit 104 maintains the DIFF input from the change detection circuit 104, regardless of any next change of ■ or Off, until the delay circuit 106 receives the generated high change signal. After a selected delay time after the signal goes high, delay circuit 1
The change signal, which is the output signal of 06, switches high. When the change signal goes high, the DIFF output of change detection circuit 104 is reset to logic 0 (low), causing change detection circuit 10
4 remains low until it detects the next change in I or Off.

DIFF信号が0に戻ると、遅延回路106の変化信号
は直ちにOになる。よって、遅延回路106が発生する
変化パルスは比較的狭く、その幅は、変化パルスの前縁
を受けた際の変化検出回路104のリセッティング時間
及びDIFF信号の後縁を受けた際の遅延回路106の
りッセティング時間で決まる。従来技術においては、第
3図に示したのと同様なトポロジーを用いたが、遅延回
路106はDIFF信号の前縁及び後縁の両方を同じ固
定遅延時間だけ遅延させたので、ステート・マシーンの
応答時間が伸びた。この実施例では、遅延回路106は
、DIFF信号の前縁のみを遅延させ、後縁は遅延させ
ない。更に、上述のごとく、組合せロジック回路88が
発生し、遅延回路106に転送したタイミング入力変数
Tの状態に応じて、前縁遅延時間は可変である。
When the DIFF signal returns to 0, the change signal of the delay circuit 106 immediately becomes 0. Therefore, the change pulse generated by the delay circuit 106 is relatively narrow, and its width is determined by the reset time of the change detection circuit 104 when receiving the leading edge of the change pulse and the delay circuit 106 when receiving the trailing edge of the DIFF signal. Determined by glue setting time. In the prior art, a topology similar to that shown in FIG. 3 was used, but because the delay circuit 106 delayed both the leading and trailing edges of the DIFF signal by the same fixed delay time, the state machine Response time has increased. In this embodiment, delay circuit 106 delays only the leading edge of the DIFF signal and not the trailing edge. Additionally, as discussed above, the leading edge delay time is variable depending on the state of the timing input variable T generated by the combinational logic circuit 88 and transferred to the delay circuit 106.

DIFF信号の前縁の遅延は、このDIFF信号の前縁
の後、 t=D1+D2=D3+D4 の時点に変化パルスの前縁が発生するようにする。
The delay of the leading edge of the DIFF signal is such that the leading edge of the transition pulse occurs at a time t=D1+D2=D3+D4 after the leading edge of the DIFF signal.

なお、Dlは上述した入力I変化時ち時間であり、D2
も上述した組合せロジック回路88のサイクル時間であ
り、D3は遅延回路106の可変遅延であり、D4は変
化パルスの固定パルス幅である。
Note that Dl is the time when the input I changes as described above, and D2
is also the cycle time of the combinational logic circuit 88 described above, D3 is the variable delay of the delay circuit 106, and D4 is the fixed pulse width of the changing pulse.

時間D3は、ロジック回路88が供給した時間変数Tに
より適切に制御され、D4は固定なので、時間tは各マ
シーン状態Snに対し最小時間となる。
Since time D3 is suitably controlled by a time variable T provided by logic circuit 88 and D4 is fixed, time t is the minimum time for each machine state Sn.

第4図は、変化検出回路104の実施例のブロック図で
あり、j+1ビット・ラッチ回路110と、G1ψGj
+1で示すj+1組の排他的オア(XOR)ゲート11
2と、オア・ゲート114とを具えている。変数jは、
入力状態■を形成する2進状態変数の数である。各入力
変数Ixをラッチ回路110の対応する入力端Ax及び
対応するXORゲー)Gxの一方の入力端に供給する。
FIG. 4 is a block diagram of an embodiment of the change detection circuit 104, including the j+1 bit latch circuit 110 and the G1ψGj
j+1 sets of exclusive OR (XOR) gates 11 denoted by +1
2 and an or gate 114. The variable j is
is the number of binary state variables forming input state ■. Each input variable Ix is supplied to a corresponding input terminal Ax of the latch circuit 110 and one input terminal of a corresponding XOR gate Gx.

同様に、第2図のフリップ・フロップ100からのCf
f変数をラッチ回路110のAj+1入力端及びXOR
ゲー)Gj+1の一方の入力端に供給する。ラッチ回路
110の各出力Bxを対応するXORゲー)Gxの第2
入力端に供給し、XORゲート112の全出力端をオア
・ゲート114の各入力端に接続する。遅延回路106
からの変化信号が、ラッチ回路110のクロック入力端
を制御する。
Similarly, Cf from flip-flop 100 of FIG.
The f variable is connected to the Aj+1 input terminal of the latch circuit 110 and the XOR
Gj+1. Each output Bx of the latch circuit 110 is
All outputs of XOR gate 112 are connected to respective inputs of OR gate 114. Delay circuit 106
A change signal from the latch circuit 110 controls the clock input of the latch circuit 110.

ラッチ回路110は、クロックが高のとき入力信号を出
力端に転送し、クロックが低のとき出力信号を固定する
。よって、変化信号が低になると、■及びOffの最終
状態がラッチ回路に蓄積され、他の変化信号の前縁がク
ロック入力端に達するまで、これら最終状態が出力端B
xに現われている。
The latch circuit 110 transfers the input signal to the output when the clock is high and fixes the output signal when the clock is low. Therefore, when the change signal goes low, the final states of ■ and Off will be stored in the latch circuit, and these final states will remain at the output B until the leading edge of the other change signal reaches the clock input.
It appears in x.

任意のIx又はOffに変化が生じると、対応するXO
Rゲートの入力が異なるので、とのXORゲートの出力
がロジック1に切り替わって、ORゲート114の出力
であるDIFF信号が高になる。変化信号の前縁がラッ
チ回路110のクロック端に達すると、Ix及びOff
の現在の状態をラッチ回路の出力端に転送し、このラッ
チ回路のBx出力端を介して対応するXORゲート11
2の入力端に供給するので、すべてのXORゲートの両
方の入力が等しくなる。これにより、すべてのXORゲ
ートの出力が0に切り替わるので、オア・ゲート114
のDIFF出力も0に戻る。よって、遅延回路106が
変化信号を低に駆動するので、入力検出サイクルが終了
し、マシーン状態変化が開始する。その後、■又はOf
fの任意の続く変化により、他の検出サイクルが開始す
る。
When any Ix or Off changes, the corresponding XO
Since the inputs of the R gates are different, the outputs of the XOR gates switch to logic 1 and the DIFF signal, which is the output of OR gate 114, goes high. When the leading edge of the change signal reaches the clock edge of latch circuit 110, Ix and Off
transfer the current state of the latch circuit to the output terminal of the latch circuit, and transfer the current state of
2 inputs, so both inputs of all XOR gates are equal. This switches the output of all XOR gates to 0, so OR gate 114
The DIFF output also returns to 0. Thus, delay circuit 106 drives the change signal low, thus ending the input detection cycle and beginning a machine state change. After that, ■ or Of
Any subsequent change in f initiates another detection cycle.

第5図は、第3図の遅延回路106の実施例のブロック
図であり、i段のシフト・レジスタ116と、i個の入
力端を有するマルチプレクサ(MUX)118と、発振
器(O20)120とを具えている。シフト・レジスタ
116のリセット入力端(R)にDIFF信号を供給し
、データ入力端(D)にロジック1を供給する。発振器
120によりシフト・レジスタ116をクロックする。
FIG. 5 is a block diagram of an embodiment of the delay circuit 106 of FIG. It is equipped with A DIFF signal is provided to the reset input (R) of shift register 116 and a logic 1 is provided to the data input (D). Oscillator 120 clocks shift register 116 .

B1ψBiで示すシフト・レジスタ116の出力端をマ
ルチプレクサ118の対応する入力端A1ψAiに接続
する。更にDIFF信号をマルチプレクサ118のエネ
ーブル入力端(EN)に供給し、第2図のロジック回路
88からのT変数をマルチプレクサ118の切換制御入
力端(SEL)に供給する。
The output of shift register 116, designated B1ψBi, is connected to the corresponding input A1ψAi of multiplexer 118. Additionally, the DIFF signal is provided to the enable input (EN) of multiplexer 118 and the T variable from logic circuit 88 of FIG. 2 is provided to the switching control input (SEL) of multiplexer 118.

DIFF信号の前縁を受けると、シフト・レジスタ11
8のすべての出力端Bxが0にリセットされる。よって
、発振器120からの各クロック・サイクル毎に、シフ
ト・レジスタ116はデータ入力端に供給されたロジッ
ク1を連続した出力端Bxにシフトするので、リセット
後の第1クロツク・サイクルによりB1が高になり、リ
セット後の第2クロツク・サイクルによりB2が高にな
り、リセット後のX番目のクロック・サイクルによりB
xが高になる。シフト・レジスタ116のエネーブル端
子に供給されたDIFF信号が低のとき、変化信号であ
るマルチプレクサ118の出力Bは常に低である。DI
FF信号が高になると、マルチプレクサ118の出力端
Bは1つの選択された入力端Axに接続される。なお、
この選択は、選択制御入力端に供給された変数Tにより
制御される。
Upon receiving the leading edge of the DIFF signal, shift register 11
All outputs Bx of 8 are reset to 0. Thus, on each clock cycle from oscillator 120, shift register 116 shifts the logic 1 provided at the data input to successive outputs Bx, so that the first clock cycle after reset causes B1 to go high. , the second clock cycle after reset causes B2 to go high, and the Xth clock cycle after reset causes B2 to go high.
x becomes high. When the DIFF signal applied to the enable terminal of shift register 116 is low, the change signal, output B of multiplexer 118, is always low. D.I.
When the FF signal goes high, output B of multiplexer 118 is connected to one selected input Ax. In addition,
This selection is controlled by a variable T applied to the selection control input.

好適な実施例では、発振器120は100MH2で動作
する。よって、シフト・レジスタ116の連続した出力
端Bxは、10ナノ秒毎に高になる。マルチプレクサ1
18がシフト・レジスタ116の適当なりx出力をマル
チプレクサ118の出力端已に通過させるように変数T
Je調整して、遅延回路106の可変遅延時間D3を設
定する。
In the preferred embodiment, oscillator 120 operates at 100 MH2. Thus, successive output Bx of shift register 116 goes high every 10 nanoseconds. Multiplexer 1
18 is a variable T such that the appropriate x output of shift register 116 is passed across the output of multiplexer 118.
The variable delay time D3 of the delay circuit 106 is set by adjusting Je.

シフト・レジスタ116の段数iが16の場合、遅延時
間D3ば10ナノ秒ステップでlθナノ秒から160ナ
ノ秒まで変化する。シフト・レジスタ116の段数iを
変更し、発振器12(1)周波数を調整することにより
、B3の範囲及び分解能を変更できる。
When the number of stages i of the shift register 116 is 16, the delay time D3 changes from lθ nanoseconds to 160 nanoseconds in steps of 10 nanoseconds. By changing the number of stages i of shift register 116 and adjusting the oscillator 12(1) frequency, the range and resolution of B3 can be changed.

DIFFパルスの前縁を受けると、シフト・レジスタ1
16のすべての出力がOにセットされ、マルチプレクサ
118がエネーブルされる。シフト・レジスタ116の
連続した出力端Bxが、発振器120の各サイクル毎に
高になる。シフト・レジスタ116からの選択したAx
が高になると、選択した時間D3後に、マルチプレクサ
118の変化出力が高になる。次にこの変化出力信号に
より、第3図の変化検出回路104はDIFF信号を0
にリセットする。DIFF信号がOになるので、シフト
・レジスタ106はクリアされ、マルチプレクサ118
のエネーブル入力が0となるため、マルチプレクサ11
8の変化出力信号を0にリセットして、変化検出サイク
ルを完了すると共に、マシーン状態変化を開始する。
Upon receiving the leading edge of the DIFF pulse, shift register 1
All 16 outputs are set to O and multiplexer 118 is enabled. Successive output Bx of shift register 116 goes high on each cycle of oscillator 120. Selected Ax from shift register 116
goes high, the transition output of multiplexer 118 goes high after a selected time D3. Next, this change output signal causes the change detection circuit 104 in FIG. 3 to change the DIFF signal to 0.
Reset to . Since the DIFF signal goes to O, shift register 106 is cleared and multiplexer 118
Since the enable input of multiplexer 11 becomes 0,
The change output signal of 8 is reset to 0 to complete the change detection cycle and initiate a machine state change.

論理的なマイクロプロセッサ・トランザクションを表わ
すプローブ16からのライン34上の選択した制御信号
のこれら組合せのみにより、クロック信号、I10方向
制御信号、タグ信号又はラッチ制御信号が状態を変化す
るごとく、トランザクション・アナライザの状態に変化
が生じるように、第2図の組合せロジック回路88のラ
ンダム・アクセス・メモリにデータをロードしてもよい
。よって、トランザクション・アナライザ26はプログ
ラム可能であり、被試験マイクロプロセッサの形式に応
じて、ロジック回路88のRAMに異なるデータをロー
ドできる。したがって、上述のごとく、プログラム可能
なトランザクション・アナライザ26を用いることは、
リターゲッタブル・プローブ16の利用と共に最も望ま
しく、被測定装置14に関連したマイクロプロセッサの
形式に関連なく、ライン34に選択した制御信号が現わ
れるように、変更可能である。
Only those combinations of selected control signals on lines 34 from probe 16 that represent logical microprocessor transactions cause a transaction to occur such that a clock signal, I10 direction control signal, tag signal, or latch control signal changes state. Data may be loaded into the random access memory of the combinational logic circuit 88 of FIG. 2 so that a change in the state of the analyzer occurs. Thus, transaction analyzer 26 is programmable and can load different data into the RAM of logic circuit 88 depending on the type of microprocessor under test. Therefore, as mentioned above, using programmable transaction analyzer 26
Most preferably with the use of retargetable probe 16, the selected control signal can be varied to appear on line 34 regardless of the type of microprocessor associated with device under test 14.

しかし、トランザクション・アナライザが発生するタグ
信号は、すべてのマイクロプロセッサに対し、これらタ
グ信号が同じ形式のトランザクションを表わす範囲に標
準化できる。更に、このように標準化されたとき、取り
込みメモリ12がより圧縮した形でトランザクションの
形式に関連したデータを蓄積できるように、トランザク
ション・アナライザ26が発生したタグ信号により、メ
モリ12に蓄積されたデータを利用するソフトウェアの
標準化の程度を高くできる。これは、実行すべきトラン
ザクションの形式を決定するために、被試験マイクロプ
ロセッサの形式を調べるソフトウェアが必要ないためで
ある。
However, the tag signals generated by the transaction analyzer can be standardized to the extent that these tag signals represent the same type of transaction for all microprocessors. Additionally, when standardized in this manner, the tag signals generated by transaction analyzer 26 may cause data stored in memory 12 to be stored in memory 12 such that acquisition memory 12 can store data related to the type of transaction in a more compressed form. It is possible to increase the degree of standardization of software that uses This is because no software is required to examine the type of microprocessor under test to determine the type of transaction to be executed.

トランザクション・アナライザ26は、ライン72にI
10方向信号を発生できるので、かかるトランザクショ
ン・アナライザは、上述のI10メモリ・マツプ68を
利用でき、双方向性データ・バッファを有するプローブ
16と関連して用いたとき、入力装置を装置14にシミ
ュレートできる。
Transaction analyzer 26 indicates I on line 72.
Capable of generating 10-way signals, such a transaction analyzer can utilize the I10 memory map 68 described above, and when used in conjunction with probe 16 having a bidirectional data buffer, can simulate an input device into device 14. You can

被試験装置から受けたクロック信号によりクロックされ
る非同期ステート・マシーンを有するトランザクション
・アナライザを利用する際時々必要なる如きタイミング
・ハードウェアを変化させることなく、トランザクショ
ン・アナライザ26の非同期タイミングを利用すること
により、異なる被試験マイクロプロセッサ用に、トラン
ザクション・アナライザをプログラムできる。
To take advantage of the asynchronous timing of the transaction analyzer 26 without changing the timing hardware as is sometimes required when utilizing a transaction analyzer having an asynchronous state machine clocked by a clock signal received from the device under test. allows you to program the transaction analyzer for different microprocessors under test.

[発明の効果] 上述のごとく本発明によれば、ロジック回路がプログラ
ム可能なので、ハードウェアを変更することなく糎々の
マイクロプロセッサにトランザクション・アナライザを
適用できる。また、タイミング回路は、非同期で動作し
、入力データの変化を検出してから変化信号を発生する
までの遅延時間は、現在の状態に応じて最適に変化する
ので、高速動作が可能なる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, since the logic circuit is programmable, a transaction analyzer can be applied to a basic microprocessor without changing the hardware. Further, the timing circuit operates asynchronously, and the delay time from detecting a change in input data to generating a change signal changes optimally depending on the current state, so high-speed operation is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のトランザクション・アナライザ及びデ
ータ取り込み装置のブロック図、第2図は第1図で用い
るトランザクション・アナライザのブロック図、第3図
は第2図で用いるタイミング回路のブロック図、第4図
は第3図で用いる変化検出回路の回路図、第5図は第3
図で用いる遅延回路の回路図である。 図において、10はデータ取り込み装置、26はトラン
ザクション・アナライザ、82及び94はレジスタ、8
8はロジック回路、96はタイミング回路である。
FIG. 1 is a block diagram of the transaction analyzer and data acquisition device of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of the transaction analyzer used in FIG. 1, FIG. 3 is a block diagram of the timing circuit used in FIG. Figure 4 is a circuit diagram of the change detection circuit used in Figure 3, and Figure 5 is a circuit diagram of the change detection circuit used in Figure 3.
FIG. 3 is a circuit diagram of a delay circuit used in the figure. In the figure, 10 is a data acquisition device, 26 is a transaction analyzer, 82 and 94 are registers, and 8
8 is a logic circuit, and 96 is a timing circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 入力データを取り込むデータ取り込み装置と共に用いる
トランザクション・アナライザにおいて、現在の状態を
表わす現在状態データを蓄積するレジスタと、 該レジスタに蓄積された現在状態データと上記入力デー
タ又は該入力データに関連したデータとに応じて次の状
態を表わす次状態データを発生すると共に、少なくとも
上記現在状態データに応じて遅延時間制御データを発生
するプログラム可能なロジック回路と、 上記入力データの変化を検出後、上記ロジック回路から
の遅延時間制御データに応じた遅延時間経過後に変化信
号を発生するタイミング回路とを具え、 該タイミング回路からの変化信号により上記レジスタは
上記ロジック回路からの次状態データを現在状態データ
として蓄積し、該現在状態データに応じて上記データ取
り込み装置の取り込み動作を制御することを特徴とする
トランザクション・アナライザ。
[Scope of Claim] A transaction analyzer used with a data capture device that captures input data, comprising: a register that accumulates current state data representing a current state; and a register that stores current state data that represents the current state, and the current state data accumulated in the register and the input data or the input. a programmable logic circuit that generates next state data representing a next state in response to data associated with the data, and generates delay time control data in response to at least the current state data; and a timing circuit that generates a change signal after a delay time corresponding to the delay time control data from the logic circuit has elapsed after detection, and the register receives the next state data from the logic circuit in response to the change signal from the timing circuit. A transaction analyzer that stores current state data and controls the fetching operation of the data fetching device according to the current state data.
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