JPS61250575A - 弱磁場測定装置 - Google Patents
弱磁場測定装置Info
- Publication number
- JPS61250575A JPS61250575A JP61094369A JP9436986A JPS61250575A JP S61250575 A JPS61250575 A JP S61250575A JP 61094369 A JP61094369 A JP 61094369A JP 9436986 A JP9436986 A JP 9436986A JP S61250575 A JPS61250575 A JP S61250575A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- superconducting
- contact
- spring contact
- contact piece
- array
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/035—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using superconductive devices
- G01R33/0354—SQUIDS
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R4/00—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
- H01R4/58—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation characterised by the form or material of the contacting members
- H01R4/68—Connections to or between superconductive connectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、接触パッドを備える基板上に設けられた5
QUIDアレイとグラディオメータ・アレ40間に多数
の超伝導結合が形成されている弱磁場測定装置に関する
ものである。
QUIDアレイとグラディオメータ・アレ40間に多数
の超伝導結合が形成されている弱磁場測定装置に関する
ものである。
〔従来の技術〕
例えば10 ” T以下特に101T以下の変化する微
弱磁場の測定に5QUID (!uperconduc
−Hng quantum 1nterference
device )と呼ばれている量子干渉デバイスを
使用することは公知である。このデバイスは医療の分野
、特に50pTオーダーの心臓磁場を測定する心拍動記
録ならびに0.1pTオーダーの脳磁場を測定する磁気
エンツエファログラフイにおいて有利に使用される。そ
の測定装置の主要部は結合コイルと共7に磁束変成器を
構成し、SQUIDと共にデユア−瓶内の液体ヘリウム
中に置かれる検出器コイルである。5QUIDに対して
は信号の捕捉と処理のために電子口路が設けられる。測
定する磁場が外部の妨害磁場に比べて6衝程度まで低い
ので、それに応じた遮蔽が必要である。二つのジョセフ
ソン接合を含む直流5QUIDはその高感度のためによ
く使用される。検出器コイルは所属する補償コイルと共
にグラディオメータと呼ばれているものを構成する。零
次、1次又は高次のグラディオメータによってグラディ
オメータ領域においても不均質の近接生体磁場も選択捕
捉される(「レビュー・サイエンス・インスツルメンツ
J (Rev、 8ai、 IIn−5tr、53 (
12)、1982年12月、p、1815〜1845参
照)。
弱磁場の測定に5QUID (!uperconduc
−Hng quantum 1nterference
device )と呼ばれている量子干渉デバイスを
使用することは公知である。このデバイスは医療の分野
、特に50pTオーダーの心臓磁場を測定する心拍動記
録ならびに0.1pTオーダーの脳磁場を測定する磁気
エンツエファログラフイにおいて有利に使用される。そ
の測定装置の主要部は結合コイルと共7に磁束変成器を
構成し、SQUIDと共にデユア−瓶内の液体ヘリウム
中に置かれる検出器コイルである。5QUIDに対して
は信号の捕捉と処理のために電子口路が設けられる。測
定する磁場が外部の妨害磁場に比べて6衝程度まで低い
ので、それに応じた遮蔽が必要である。二つのジョセフ
ソン接合を含む直流5QUIDはその高感度のためによ
く使用される。検出器コイルは所属する補償コイルと共
にグラディオメータと呼ばれているものを構成する。零
次、1次又は高次のグラディオメータによってグラディ
オメータ領域においても不均質の近接生体磁場も選択捕
捉される(「レビュー・サイエンス・インスツルメンツ
J (Rev、 8ai、 IIn−5tr、53 (
12)、1982年12月、p、1815〜1845参
照)。
空間磁場分布を求めるためには対象区域の各個所を時間
的に順次に測定しなければならないが、この場合必要な
時間に亘っての磁場データの一貫性が得られない外に臨
床的に許し得ない測定時間になるという難問が生ずる。
的に順次に測定しなければならないが、この場合必要な
時間に亘っての磁場データの一貫性が得られない外に臨
床的に許し得ない測定時間になるという難問が生ずる。
これらの点を考えて多数の並列測定チャンネルを備える
装置が使用されるようになった(「フイジカJ (Ph
ysica )、107B(1981)、p、29,3
0、NorthHolland Pub Camp )
。
装置が使用されるようになった(「フイジカJ (Ph
ysica )、107B(1981)、p、29,3
0、NorthHolland Pub Camp )
。
冒頭に挙げた装置の一例では多数例えば少くとも】0個
、特に30個以上のグラディオメータ・コイルを含むグ
ラデイオメータ・アレイが使用され、従って5QLII
Dアレイの結合コイルと結ぶ多数の導体が必要となる直
流5QUIDとして知られている実施形態では5QUI
Dが結合コイルと共に薄膜繁成器として構成され、結合
コイルの平形スパイラル巻線がSQUIDの上に置かれ
ている。この構成により良好な磁気結合が達成される[
アイ・イー・イー・イー・トランサクション・オン・マ
グネチフスJ (IEgE Transact、
on Magetics Vol。
、特に30個以上のグラディオメータ・コイルを含むグ
ラデイオメータ・アレイが使用され、従って5QLII
Dアレイの結合コイルと結ぶ多数の導体が必要となる直
流5QUIDとして知られている実施形態では5QUI
Dが結合コイルと共に薄膜繁成器として構成され、結合
コイルの平形スパイラル巻線がSQUIDの上に置かれ
ている。この構成により良好な磁気結合が達成される[
アイ・イー・イー・イー・トランサクション・オン・マ
グネチフスJ (IEgE Transact、
on Magetics Vol。
MAG−17,1981年1月、p、400−403
)。
)。
この発明の目的は、SQUIDアレイの多数の結合コイ
ルが対応する個数のマグネトメータ・コイル又はグラデ
ィオメータ・コイルと共に狭い空間内に再現性良く、妨
害されることなくしかも低いインダクタンスをもって相
互結合して収められるようにすることである。
ルが対応する個数のマグネトメータ・コイル又はグラデ
ィオメータ・コイルと共に狭い空間内に再現性良く、妨
害されることなくしかも低いインダクタンスをもって相
互結合して収められるようにすることである。
二の目的は特許請求の範囲第1項に特徴として挙げた構
造とすることによって達成される。この構造では超伝導
材料例えばニオブを使用して、特殊な形に作られた多数
の接触ばねが束ねられて位置調整ブロックに作られた溝
に沿って置かれる。
造とすることによって達成される。この構造では超伝導
材料例えばニオブを使用して、特殊な形に作られた多数
の接触ばねが束ねられて位置調整ブロックに作られた溝
に沿って置かれる。
個々の接触ばねは絶縁材料例えば合成樹脂の膜で覆うか
中間に絶縁層をはさむことによって互に絶縁される。こ
の絶縁部分を含む接触ばねの厚さが圧力接触間の間隔を
定める。この圧力接触は基板上の接触パッドの大きさと
形態によって決まるものである。隣り合った接触パッド
を互にずらして配置することによってくし形接触体の実
装密度が高められる。
中間に絶縁層をはさむことによって互に絶縁される。こ
の絶縁部分を含む接触ばねの厚さが圧力接触間の間隔を
定める。この圧力接触は基板上の接触パッドの大きさと
形態によって決まるものである。隣り合った接触パッド
を互にずらして配置することによってくし形接触体の実
装密度が高められる。
一つのくし形接触体内で隣り合せたばね接触片にも同様
にしてそのグラディオメータ導線に向った終端部に互に
長さの異った接続片を設けることができる。更に超伝導
導体への接続片もその高さを互にずらしておくことが可
能である。これによって隣り合せた接触ばねの間に超伝
導導体を収める場所が作られる。
にしてそのグラディオメータ導線に向った終端部に互に
長さの異った接続片を設けることができる。更に超伝導
導体への接続片もその高さを互にずらしておくことが可
能である。これによって隣り合せた接触ばねの間に超伝
導導体を収める場所が作られる。
この発明の一つの実施形態では、半導体基板を支持する
超伝導体が位置調整ブロックの下にまで拡がりばね接触
片の下側の磁気遮蔽となっている。この遮蔽体は基底面
と同時に形成させることができる。
超伝導体が位置調整ブロックの下にまで拡がりばね接触
片の下側の磁気遮蔽となっている。この遮蔽体は基底面
と同時に形成させることができる。
支持体にとりつけた薄膜導体路から成るコイルを備える
グラデイオメータ・アレイ又はマグネトメータ・アレイ
を含む実施形態においては、ばね接触片と薄膜導体路の
間に超伝導体の渡り結合が設けられ、超伝導体とばね接
触の結合の外に超伝導体と薄膜導体路の間の結合を可能
にする。
グラデイオメータ・アレイ又はマグネトメータ・アレイ
を含む実施形態においては、ばね接触片と薄膜導体路の
間に超伝導体の渡り結合が設けられ、超伝導体とばね接
触の結合の外に超伝導体と薄膜導体路の間の結合を可能
にする。
刃面に示したこの発明の実施例についてこの発明を更に
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図に示した実施例では、旦として示した5QLII
Dの少くとも10個がその結合コイルならびに場合によ
っては更に変調コイルと共に基板4の表面に薄膜構造と
して設けられる。基板4は半導体特にシリコンで作るの
が有利である。5QUIDの接続線と結合コイルはそれ
ぞれ超伝導結合導体6を通して大面積の超伝導接触部8
に結ばれる。
Dの少くとも10個がその結合コイルならびに場合によ
っては更に変調コイルと共に基板4の表面に薄膜構造と
して設けられる。基板4は半導体特にシリコンで作るの
が有利である。5QUIDの接続線と結合コイルはそれ
ぞれ超伝導結合導体6を通して大面積の超伝導接触部8
に結ばれる。
この接触部は接触パッドと呼ばれているもので、例えば
ニオブで作られる。
ニオブで作られる。
この接触パッド8にはくし形接触体10のばね接触片1
2が所属する。はぼU字形のばね接触片12の下側の脚
13はその自由端にラグ14を備え、その尖端は接触パ
ッド8に対する圧力接触となっている。接触片12の中
央脚15はラグ14と同じ方向に突起X6を備え、ばね
接触片12の平坦面に対して垂直で接触パッド8の面に
平行に伸びる絶縁材料製の位置調製ブロックの溝21に
押しつけられている。ばね接触片12の第三の脚17の
末端には、ばね接触片12の平坦面に平行で接触パッド
8の表面に垂直である力Fが作用する。位置調整ブロッ
ク20はプリント板24の上に設けられ、プリント板2
4の下面には超伝導体例えばニオブから成る磁気遮蔽2
6が設けられている。基板4はプリント板24の切り込
みに差し込まれている。
2が所属する。はぼU字形のばね接触片12の下側の脚
13はその自由端にラグ14を備え、その尖端は接触パ
ッド8に対する圧力接触となっている。接触片12の中
央脚15はラグ14と同じ方向に突起X6を備え、ばね
接触片12の平坦面に対して垂直で接触パッド8の面に
平行に伸びる絶縁材料製の位置調製ブロックの溝21に
押しつけられている。ばね接触片12の第三の脚17の
末端には、ばね接触片12の平坦面に平行で接触パッド
8の表面に垂直である力Fが作用する。位置調整ブロッ
ク20はプリント板24の上に設けられ、プリント板2
4の下面には超伝導体例えばニオブから成る磁気遮蔽2
6が設けられている。基板4はプリント板24の切り込
みに差し込まれている。
コイルが超伝導導体路あるいは超伝導性の積層薄膜導体
路から成るグラディオメータ又はマグネトメータ・アレ
イを使用する実施例においては、一般にニオブで作られ
た超伝導ばね接触片12と薄膜導体路32の結合が困難
である。この薄膜導体路は例えばポリイミド【カプトン
)又はガラス繊維で補強された合成樹脂例えばエポキシ
樹脂製の支持板の両方の平坦面にとりつけられる。この
種の導体路は公知の構造化技術、例えばフォトレジスト
・エツチング技術により金属被覆合成樹脂板から作るこ
とができる。幅が例えば50乃至300μ亀で厚さが例
えば10乃至50μ風の導体路はマンガニン、銅又は青
銅から成るもので、例えば鉛・スズはんだの超伝導表面
層を備える。
路から成るグラディオメータ又はマグネトメータ・アレ
イを使用する実施例においては、一般にニオブで作られ
た超伝導ばね接触片12と薄膜導体路32の結合が困難
である。この薄膜導体路は例えばポリイミド【カプトン
)又はガラス繊維で補強された合成樹脂例えばエポキシ
樹脂製の支持板の両方の平坦面にとりつけられる。この
種の導体路は公知の構造化技術、例えばフォトレジスト
・エツチング技術により金属被覆合成樹脂板から作るこ
とができる。幅が例えば50乃至300μ亀で厚さが例
えば10乃至50μ風の導体路はマンガニン、銅又は青
銅から成るもので、例えば鉛・スズはんだの超伝導表面
層を備える。
この導体路32は金属線36にはんだ結合される。この
金属線は例えば青銅から成り、鉛・スズの超伝導被覆を
備える。ばね接触片12にはこの場合例えばニオブの超
伝導線42が溶接結合38によって結合され、又クリッ
プ接触によって金属線36が結合される。このクリップ
接触は超伝導材料、例えばニオブのスリーブ44をかぶ
せて行う。
金属線は例えば青銅から成り、鉛・スズの超伝導被覆を
備える。ばね接触片12にはこの場合例えばニオブの超
伝導線42が溶接結合38によって結合され、又クリッ
プ接触によって金属線36が結合される。このクリップ
接触は超伝導材料、例えばニオブのスリーブ44をかぶ
せて行う。
第2図に示したくし形接触体10の実施形態では、図に
は8枚だけ示されているが実際は多数のばね接触片12
がその平坦面を向い合せ間に絶縁層をはさんで並べられ
て一つのばね板東を形成している。その下脚のラグ14
は遮蔽26の上に置かれている基板4の表面に設けられ
た接触パッド(これは因に示されていなIr%)に接し
ている。中央脚15の突起16は例えば半円形に成形さ
れている。位置調整ブロック20の溝はこの実施例では
三角形プロフィルである。調整ブロック20は第1図の
24に対応するプリント板の上で二つの矢印で示すよう
にばね接触片12の脚13と17の方向に平行にも又ば
ね板の平坦面に垂直にも移動可能である。ばね接触片1
2のラグ14がそれに対応する接触パッド(これも図に
示されていない)に接触すると、位置調整ブロックはく
し形接触体10と共に位置合せ装置により固定される。
は8枚だけ示されているが実際は多数のばね接触片12
がその平坦面を向い合せ間に絶縁層をはさんで並べられ
て一つのばね板東を形成している。その下脚のラグ14
は遮蔽26の上に置かれている基板4の表面に設けられ
た接触パッド(これは因に示されていなIr%)に接し
ている。中央脚15の突起16は例えば半円形に成形さ
れている。位置調整ブロック20の溝はこの実施例では
三角形プロフィルである。調整ブロック20は第1図の
24に対応するプリント板の上で二つの矢印で示すよう
にばね接触片12の脚13と17の方向に平行にも又ば
ね板の平坦面に垂直にも移動可能である。ばね接触片1
2のラグ14がそれに対応する接触パッド(これも図に
示されていない)に接触すると、位置調整ブロックはく
し形接触体10と共に位置合せ装置により固定される。
この固定位置において上脚17の上に圧力板46が作用
し、接触パッド8に対するばね接触片12の接触圧を規
定する。
し、接触パッド8に対するばね接触片12の接触圧を規
定する。
ばね接触片12はその中央脚15に互に異る長さの接続
端18を゛備え、ここに超伝導線42を溶接することが
できる。接続端18を互に異った長さとすることによっ
て溶接結合のための場所が作られる。
端18を゛備え、ここに超伝導線42を溶接することが
できる。接続端18を互に異った長さとすることによっ
て溶接結合のための場所が作られる。
ばね接触片12の下脚13の長さLは例えば15詩とし
、その中央脚の高さHの平均は約3−とすることができ
る。絶縁被覆を含めた接触片の厚さは例えばQ、5mと
することができるが、この厚さは基板4上の接触パッド
8の幅によって決まる。
、その中央脚の高さHの平均は約3−とすることができ
る。絶縁被覆を含めた接触片の厚さは例えばQ、5mと
することができるが、この厚さは基板4上の接触パッド
8の幅によって決まる。
くし形接触体10の幅は基板4の上で接触パッド8を互
にずらして置くことにより縮小することができる。この
実施形態ではくし形接触体10のばね接触片12がit
図に破線で示すように交互に異った長さの下脚13を持
っている。この実施形態によれば基板4の幅を同じにし
てより多数の接触パッド8をそれぞればね接触片12の
一つを通してグラディオメータ30の一つのコイルの1
11Mft導体路32に結合することができる。
にずらして置くことにより縮小することができる。この
実施形態ではくし形接触体10のばね接触片12がit
図に破線で示すように交互に異った長さの下脚13を持
っている。この実施形態によれば基板4の幅を同じにし
てより多数の接触パッド8をそれぞればね接触片12の
一つを通してグラディオメータ30の一つのコイルの1
11Mft導体路32に結合することができる。
くし形接触体10のばね接触片12には補助の遮蔽50
を設けると効果的である。この遮蔽を同時にグラウンド
ブレーンとして使用する実施形態も可能である。この場
合遮蔽は同時にグラディオメータ・コイルの復帰導線に
対する接続線として使用される。遮蔽を単にこの復帰導
線に対する集合接触としてばね接触片12を通して基板
4の接触パッド8に接続し、そこで接地することも可能
である。補助遮蔽50は圧力板46と共にくし形接触体
10に固定するのが効果的であるが、この結合部は図を
簡単にするため示されていない。
を設けると効果的である。この遮蔽を同時にグラウンド
ブレーンとして使用する実施形態も可能である。この場
合遮蔽は同時にグラディオメータ・コイルの復帰導線に
対する接続線として使用される。遮蔽を単にこの復帰導
線に対する集合接触としてばね接触片12を通して基板
4の接触パッド8に接続し、そこで接地することも可能
である。補助遮蔽50は圧力板46と共にくし形接触体
10に固定するのが効果的であるが、この結合部は図を
簡単にするため示されていない。
この発明の特殊の実施形態では5QUIDに対して結合
導線と接触パッドの外に別の遮蔽52が追加される。こ
の遮蔽は因に破線で示したように基板4の上方に設けら
れる。
導線と接触パッドの外に別の遮蔽52が追加される。こ
の遮蔽は因に破線で示したように基板4の上方に設けら
れる。
図面はこの発明の実施例を固成的に示すもので、′M1
図は5QUIDアレイとグラデイオメータ・アレイの間
の結合導体、第2因はくし形接触体である。 10・・・ くし形接触体、 12・・・ ばね接触
片、20・・・位置調整ブロック、 8・・・接触パッ
ド。
図は5QUIDアレイとグラデイオメータ・アレイの間
の結合導体、第2因はくし形接触体である。 10・・・ くし形接触体、 12・・・ ばね接触
片、20・・・位置調整ブロック、 8・・・接触パッ
ド。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)少くとも部分的に超伝導体から成るほぼU字形のば
ね接触片(12)が互に絶縁され、その平坦面を接触パ
ッド(8)の面に垂直にして束ねられているくし形接触
体(10)が超伝導結合用として設けられていること、
ばね接触片(12)の一つの脚(13)が接触パッド(
8)に対して圧力接触を形成するラグ(14)を備えて
いること、中央脚(15)がラグ(14)と同じ方向の
突起(16)を備え、この突起が電気絶縁材料から成る
位置調整ブロック(20)に作られたばね接触片(8)
の平坦面に垂直に伸び接触パッド(8)の表面に平行す
る溝(21)に押しつけられていること、第三の脚(1
7)に対してばね接触片(12)の平坦面に平行し接触
パッド(8)の表面に対して垂直方向に力を加える圧力
板(46)が設けられていることを特徴とする接触パッ
ド(8)を備える基板(4)上に設けられたSQUID
・アレイとグラデイオメータ・アレイの間に多数の超伝
導結合を備える弱磁場測定装置。 2)交互に異る長さ(L)のばね接触片(12)が設け
られ、そのラグが接触片の平坦面平面内で接触パッド(
8)の表面に平行に互に位置をずらして配置されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の装置。 3)ばね接触片(12)の下側に基板(4)を取りつけ
た超伝導体(26)から成る磁気遮蔽が設けられ、この
磁気遮蔽が位置調整ブロック(20)の下まで拡がつて
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項
記載の装置。 4)ばね接触片(12)の上にも超伝導材料から成る補
助の磁気遮蔽(50)が設けられ、圧力板(46)と共
に固定されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項乃至第3項の一つに記載の装置。 5)補助の磁気遮蔽(50)がばね接触片(12)を介
して接触パッド(8)の一つに結合されている超伝導結
合の一部に対するグラウンドプレーンとなつていること
を特徴とする特許請求の範囲第4項記載の装置。 6)各ばね接触片(12)と薄膜導体路(32)の間に
超伝導線(42)による渡り結合が設けられ、この超伝
導線がクリップ接触によつて常伝導体(36)と薄膜導
体路(32)にろう付け(34)された超伝導層とに接
続されていることを特徴とするグラデイオメータ・アレ
イ又はマグネトメータ・アレイのコイルが超伝導薄膜導
体路で構成されている特許請求の範囲第1項乃至第5項
の一つに記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853515217 DE3515217A1 (de) | 1985-04-26 | 1985-04-26 | Vorrichtung zur messung schwacher magnetfelder |
DE3515217.6 | 1985-04-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61250575A true JPS61250575A (ja) | 1986-11-07 |
Family
ID=6269258
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61094369A Pending JPS61250575A (ja) | 1985-04-26 | 1986-04-23 | 弱磁場測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4733180A (ja) |
EP (1) | EP0200956B1 (ja) |
JP (1) | JPS61250575A (ja) |
DE (2) | DE3515217A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4894906A (en) * | 1987-12-23 | 1990-01-23 | Nicolet Instrument Corporation | Superconductive joint for multifilament superconducting and method of forming |
ZA89202B (en) * | 1988-01-15 | 1989-09-27 | Hoffmann La Roche | Recombinant human interleukin-1 alpha polypeptides |
DE4227877A1 (de) * | 1992-08-22 | 1994-02-24 | Philips Patentverwaltung | Miniaturisiertes SQUID-Modul, insbesondere für Vielkanal-Magnetometer |
US6270686B1 (en) * | 1995-12-27 | 2001-08-07 | Ap One System Co., Ltd. | Method of making a weak-field magnetic field sensor having etched circuit coils |
US8000767B2 (en) * | 2004-01-20 | 2011-08-16 | Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Magneto-optical apparatus and method for the spatially-resolved detection of weak magnetic fields |
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