JPS61243460A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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Publication number
JPS61243460A
JPS61243460A JP8505985A JP8505985A JPS61243460A JP S61243460 A JPS61243460 A JP S61243460A JP 8505985 A JP8505985 A JP 8505985A JP 8505985 A JP8505985 A JP 8505985A JP S61243460 A JPS61243460 A JP S61243460A
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JP
Japan
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layer
charge
photoreceptor
sensitivity
potential
Prior art date
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Pending
Application number
JP8505985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Yoshihide Fujimaki
藤巻 義英
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP8505985A priority Critical patent/JPS61243460A/en
Publication of JPS61243460A publication Critical patent/JPS61243460A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/0825Silicon-based comprising five or six silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enhance sensitivity in the visible and near IR wavelength regions and to retain acceptance potential by forming an electrostatic charge generating layer composed of the first layer made of amorphous silicon germanium hydride or the like and the second layer made of amorphous silicon or the like. CONSTITUTION:The photosensitive layer is obtained by laminating on a substrate 1 a charge blocking layer 7 made of amorphous silicon carbide or nitride hydride or fluoride (a-SiC,N:H,F) doped with an element of group IIIa or Va of the periodic table, a charge transfer layer 2 made of a-SiC,N:H,F, the charge generating layer 6 composed of the second layer 3 made of a-Si:H,F and the first layer 5 made of a-SiGe:H,F, and a surface modified layer 4 made of a- SiC,N:H,F. The presence of the first layer 5 and the second layer 3 of the layer 6 permits carriers to be generated with high sensitivity in the longer wavelength and visible wavelength regions, respectively, and accordingly, the photosensitive body to be enhanced in sensitivity and improved in charge retentivity of dark decay.

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は感光体、例えば電子写真感光体に関するもので
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A. Field of Industrial Application The present invention relates to a photoreceptor, such as an electrophotographic photoreceptor.

口、従来技術 □ 従来、電子写真感光体として、Se又はSeにAs 、
Te SSb等をドープした感光体、ZnOやCdSを
樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られている。
□ Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se or As in Se,
Photoconductors doped with Te SSb or the like, photoconductors in which ZnO or CdS is dispersed in a resin binder, and the like are known.

しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、熱的安定
性、機械的強度の点で問題がある。
However, these photoreceptors have problems in terms of environmental pollution, thermal stability, and mechanical strength.

一方、アモルファスシリコン(以下、a−3tと称する
。)を母体として用いた電子写真感光体が近年になって
提案されている。a−3iは、5i−3iの結合手が切
れたいわゆるダングリングボンドを有しており、この欠
陥に起因してエネルギーギャップ内に多くの局在準位が
存在する。こめために、熱励起担体のホッピング伝導が
生じて暗抵抗が小さく、また光励起担体が局在準位にト
ラフプされて光導電性が悪くなっている。そこで、上記
欠陥を水素原子(H)で補償してSiにHを結合させる
ことによって、ダングリングボンドを埋めることが行わ
れる。
On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (hereinafter referred to as a-3t) as a matrix have been proposed in recent years. a-3i has a so-called dangling bond in which the bond of 5i-3i is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect. As a result, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in low dark resistance, and photoexcited carriers are troughed to localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, the dangling bonds are filled by compensating the defects with hydrogen atoms (H) and bonding H to Si.

このようなアモルファス水素化シリコン(以下、a−3
t:Hと称する。)は、光感度が良好である上に無公害
性、良耐剛性等の面で注目されている。しかし、a−3
t:Hは750〜800rv  (近赤外)の波長の光
に対しては可視域の光に対するより1ケタ程感度が悪い
ことが知られている。従って、情報信号を電気的に処理
してハードコピーとして出力するための情報末端処理機
において半導体レーザーを記録光源として用いる場合に
は、実用的な情報記録用の半導体レーザーはGaA I
t Asを構成材料としたものであってその発振波長は
760〜820ne+であるから、この種の情報記録に
とってa−3t:Hは感度不十分となり、不適当である
Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-3
It is called t:H. ) is attracting attention for its good photosensitivity, non-polluting properties, and good rigidity. However, a-3
It is known that t:H is about one order of magnitude less sensitive to light with a wavelength of 750 to 800 rv (near infrared) than to light in the visible range. Therefore, when using a semiconductor laser as a recording light source in an information end processor that electrically processes information signals and outputs them as a hard copy, a practical semiconductor laser for information recording is GaA I.
Since it is made of tAs and has an oscillation wavelength of 760 to 820ne+, a-3t:H has insufficient sensitivity and is inappropriate for this type of information recording.

Se系の感光体の場合には、有機光導電材料からなる感
光体に比べて感度が大きいものの、処理速度の高速化に
対応するためには長波長領域での感度がやはり不十分で
ある。
In the case of a Se-based photoreceptor, although the sensitivity is higher than that of a photoreceptor made of an organic photoconductive material, the sensitivity in a long wavelength region is still insufficient to cope with an increase in processing speed.

そこで、a−Si:Hの優れた光導電性又は光感度を生
かしつつ長波長領域の感度を向上させるために、アモル
ファス水素化シリコンゲルマニウム(以下、a−3iG
e:Hと称する。)を光導電層に用いることが考えられ
る。つまり、a−3iGe:Hは600〜850nmの
波長域で光感度が良好である。しかしながら、逆に言え
ば、a−3iGe:H単独では、可視領域での感度がa
−3i:Hに比べて悪い。しかも、a−3iGe:H層
のみでは、暗抵抗は108〜10’Ω−1にすぎず、電
荷保持能に乏しい。しかも、a−SiGe:Hは支持体
(基板)に対する膜付き又は接着性が悪く、また機械的
、熱的性質がa−3i:Hよりも劣るために、電子写真
感光体として実用化する上で難がある。
Therefore, in order to improve the sensitivity in the long wavelength region while taking advantage of the excellent photoconductivity or photosensitivity of a-Si:H, amorphous silicon germanium hydride (hereinafter referred to as a-3iG
It is called e:H. ) may be used in the photoconductive layer. That is, a-3iGe:H has good photosensitivity in the wavelength range of 600 to 850 nm. However, conversely, with a-3iGe:H alone, the sensitivity in the visible region is a
-3i: Worse than H. Moreover, with only the a-3iGe:H layer, the dark resistance is only 10 8 to 10′ Ω −1 and the charge retention ability is poor. Moreover, a-SiGe:H has poor film adhesion or adhesion to the support (substrate), and its mechanical and thermal properties are inferior to a-3i:H, making it difficult to put it to practical use as an electrophotographic photoreceptor. There is a problem.

近時、半導体レーザー等による記録機能の他に可視光を
光源とする記録機能(例えば通常の電子写真複写機とし
ての機能)も併せ持つ多機能機器が注目されているが、
上記のa−3i:H及びa−3iGe:H共にそうした
要求を満足し得ない。
Recently, multifunctional devices that have a recording function using visible light as a light source (for example, functions as a normal electrophotographic copying machine) in addition to recording functions using semiconductor lasers, etc., have been attracting attention.
Neither a-3i:H nor a-3iGe:H mentioned above can satisfy such requirements.

これを解決するために、支持体上に、電荷保持を行なえ
る充分な厚さのa−3i:H層を形成し、更にこの上に
a−3iGe:H層を形成して、2層構造からなる電荷
発生層(光照射に応じてキャリアを発生する層)とした
感光体が提案されている。
To solve this problem, an a-3i:H layer with a sufficient thickness to retain charge was formed on the support, and an a-3iGe:H layer was further formed on this to form a two-layer structure. A photoreceptor having a charge generation layer (a layer that generates carriers in response to light irradiation) consisting of the following has been proposed.

この構造によればa−3i:H及びa−3iGe:Hの
各層によって可視光及び近赤外光の両領域の感度が良好
となる。しかし、この感光体はいくつかの問題点(特に
次の3点)を有している。
According to this structure, the a-3i:H and a-3iGe:H layers provide good sensitivity in both the visible light and near-infrared light regions. However, this photoreceptor has several problems (particularly the following three points).

(L)、a−3iGe:H層が表面側に存在している構
造であるため、a−3iと比べて化学構造的に弱くなり
、耐剛性が不良となる。
(L), a-3iGe: Since the H layer is present on the surface side, the chemical structure is weaker than that of a-3i, resulting in poor rigidity.

(2)、a−3iGesH層が厚い場合、可視光領域で
の感度が不充分となる。これは、a−3iGe:H層の
存在が、可視光領域におけるa−5t:H層での光キャ
リアの発生を阻害するからであると思われる。
(2) When the a-3iGesH layer is thick, the sensitivity in the visible light region becomes insufficient. This is presumably because the presence of the a-3iGe:H layer inhibits the generation of photocarriers in the a-5t:H layer in the visible light region.

(3)、帯電時に、支持体基板側からa−St:H層へ
の不要な電荷の注入が生、じ易(、これによって表面電
位を良好に保持することができず、しかもa−3i:H
と支持体との接着性も不完       1、分である
。                        
々ハ1発明の目的 本発明の目的は、可視及び近赤外の両領域での感度に優
れ、かつ帯電電位、暗減衰等の電荷保持特性や耐剛性、
機械的強度が良(、耐光疲労に優れて繰返し使用時の電
気的特性が安定であり、しかも電気的・光学的特性が常
時安定して使用環境(温度、湿度等)の影響を受けにく
い感光体を提供することにある。
(3) When charging, unnecessary charge is easily injected from the support substrate side into the a-St:H layer (because of this, the surface potential cannot be maintained well, and the a-3i :H
The adhesion between the film and the support was also incomplete.
The purpose of the present invention is to provide excellent sensitivity in both the visible and near-infrared regions, as well as charge retention characteristics such as charging potential and dark decay, and stiffness resistance.
A photosensitive material with good mechanical strength (and excellent light fatigue resistance, stable electrical properties during repeated use, and always stable electrical and optical properties that are not easily affected by the usage environment (temperature, humidity, etc.) It's about offering your body.

二0発明の構成及びその作用効果 即ち、本発明による感光体は1、 (a)、アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコ
ンゲルマニウムからなる第1層と、アモルファス水素化
及び/又はフッ素化シリコンからなる第2層との積層体
によって構成された電荷発生層と、 山)、この電荷発生層上に形成され、アモルファス水素
化及び/又はフッ素化窒化シリコンからなる表面改質層
と、 (c)、前記電荷発生層下に形成され、アエ)、7アス
水素化及び/又はフッ素化炭化又は窒化シリコンからな
る電荷輸送層と、 (d)、この電荷輸送層下に形成され、アモルファス水
素化及び/又はフッ素化炭化又は窒化シリコンからなり
、かつ周期表第IIIa族又は第Va族元素がドープさ
れた電荷ブロッキング層と を有する感光体である。
20 Structure of the invention and its effects, namely, the photoreceptor according to the invention includes: 1. (a) a first layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon germanium; (c) a charge generation layer constituted by a laminated body of a second layer consisting of a second layer consisting of: (c) (a) a charge transport layer formed under the charge generation layer and made of 7As hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide or silicon nitride; (d) a charge transport layer formed under the charge transport layer and made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon and/or a charge blocking layer made of fluorinated carbide or silicon nitride and doped with an element of group IIIa or group Va of the periodic table.

本発明によれば、電荷発生層がアモルファス水素化及び
/又はフッ素化シリコンゲルマニウムからなる第1層と
、アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンから
なる第2層との積層体で構成されているので、前者によ
る近赤外領域での感度向上と後者による可視域での感度
向上との双方を実現した感光体を提供できる。しかも、
後者を前者の上又は下に形成することができるが、上に
形成した場合には表面側にはa−3iが存在していて可
視域での感度が著しく向上すると同時に、下に形成した
場合でも耐剛性は最上層の表面改質層の存在により良好
となる。かつa−5iGe自体の膜厚を薄くして高感度
が保持される。例えば、a−3iGe:Hの有する比較
的長波長域(例えば600〜850nm)での高感度特
性を生かしながら、安定した電荷保持性及び耐刷性等の
機械的強度を特に表面改質層でかせぎ、かつ高い電荷保
持性や膜付き等を特に電荷輸送層、電荷ブロッキング層
で実現しており、これまで知られているものに比べてす
べての特性を充分に満足した有用な感光体を提供するこ
とができる。
According to the present invention, the charge generation layer is composed of a laminate of a first layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon germanium and a second layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon. Therefore, it is possible to provide a photoreceptor that achieves both improved sensitivity in the near-infrared region due to the former and improved sensitivity in the visible region due to the latter. Moreover,
The latter can be formed above or below the former, but when formed above, a-3i is present on the surface side and the sensitivity in the visible range is significantly improved, while when formed below. However, the stiffness resistance is improved by the presence of the topmost surface-modified layer. In addition, high sensitivity can be maintained by reducing the film thickness of a-5iGe itself. For example, while taking advantage of the high sensitivity characteristics of a-3iGe:H in a relatively long wavelength range (e.g. 600 to 850 nm), it is possible to improve mechanical strength such as stable charge retention and printing durability, especially with a surface-modified layer. We have achieved high charge retention and film attachment, especially in the charge transport layer and charge blocking layer, and provide a useful photoreceptor that fully satisfies all the characteristics compared to those known so far. can do.

また、本発明の感光体は、電荷発生層と電荷輸送層とを
分離した機能分離型のものであり、特にアモルファス水
素化及び/又はフッ素化炭化又は窒化シリコン層がブロ
ッキング層として基体側に存在することから基体からの
キャリアの注入を効果的に防止でき、かつ他の層の暗抵
抗を不純物ドーピングによって高くすれば帯電電位の保
持、暗減衰の減少を図れる。更に、電荷輸送層も同様の
炭化又は窒化シリコン層で形成されているので、電荷輸
送能等が良好となり、最表面のアモルファス窒化シリコ
ン表面改質層の存在によって耐久性、安定性等が向上す
る。
Further, the photoreceptor of the present invention is of a functionally separated type in which a charge generation layer and a charge transport layer are separated, and in particular, an amorphous hydrogenated and/or fluorinated carbide or silicon nitride layer is present as a blocking layer on the substrate side. Therefore, injection of carriers from the substrate can be effectively prevented, and if the dark resistance of other layers is increased by doping with impurities, the charged potential can be maintained and dark decay can be reduced. Furthermore, since the charge transport layer is also formed of a similar silicon carbide or nitride layer, the charge transport ability is good, and the presence of the amorphous silicon nitride surface modification layer on the outermost surface improves durability, stability, etc. .

なお、本発明に使用する上記のアモルファス窒化シリコ
ンは、酸化物や炭化物に比べ、低熱膨張係数、高熱伝導
率のために熱衝撃に強く、機械的強度や硬度は高温でも
低下が少ない。また、溶融NaOH4’HF以外の薬品
に対してはきわめて高“い耐食性を示す。
The amorphous silicon nitride used in the present invention has a low coefficient of thermal expansion and high thermal conductivity compared to oxides and carbides, so it is resistant to thermal shock, and its mechanical strength and hardness do not decrease much even at high temperatures. Furthermore, it exhibits extremely high corrosion resistance against chemicals other than molten NaOH4'HF.

ホ、実施例 以下、本発明による感光体を詳細に説明する。E, Example Hereinafter, the photoreceptor according to the present invention will be explained in detail.

本発明による感光体は、例えば第1図に示す如く、導電
性支持基板1上に、a−3iC:H又はa−3iN:H
からなる電荷ブロッキング層7、a−3iC:H又はa
−3iN:Hからなる電荷輸送層2、a−3i:H層3
及びa−3iGe:H層5からなる積層構造の電荷発生
層6、a−3iN:H層からなる表面改質層4が順次積
層せしめられたものからなっている。
For example, as shown in FIG.
Charge blocking layer 7 consisting of a-3iC:H or a
-3iN:H charge transport layer 2, a-3i:H layer 3
A charge generation layer 6 having a laminated structure consisting of an a-3iGe:H layer 5 and a surface modification layer 4 consisting of an a-3iN:H layer are sequentially laminated.

電荷ブロッキング層7は基板1からのキャリアの注入を
防止して表面電位を充分に保持するのに大いに寄与し、
そのためにVa族元素の含有によってN型導電特性を、
或いはIIIa族元素の含有によってP型導電特性を示
すことが重要である。また、その厚みは400人〜2μ
mであるのが望ましい。電荷輸送層2は主として電位保
持、電荷輸送機能を有し、10〜30μmの厚みに形成
されるのがよい。
The charge blocking layer 7 greatly contributes to preventing injection of carriers from the substrate 1 and maintaining a sufficient surface potential.
For this purpose, the inclusion of Va group elements improves N-type conductivity.
Alternatively, it is important to exhibit P-type conductivity characteristics by containing a group IIIa element. Also, its thickness is 400 to 2μ
It is desirable that it be m. The charge transport layer 2 mainly has potential holding and charge transport functions, and is preferably formed to have a thickness of 10 to 30 μm.

一方、電荷発生層6を形成するa−3iGe:H層5は
光照射に応じて電荷担体(キャリア)を発生させるもの
であって、特に600〜850nmの長波長域で高感度
を示し、その厚みは1μm以上であればよい。この層6
は全体の厚みが2〜10μmであるのが望ましい。一方
、a−3isH層3は可視光域で高感度を示すキャリア
発生層として機能し、1μm以上の厚みに設けられてい
る。
On the other hand, the a-3iGe:H layer 5 forming the charge generation layer 6 generates charge carriers in response to light irradiation, and exhibits high sensitivity particularly in the long wavelength range of 600 to 850 nm. The thickness may be 1 μm or more. This layer 6
It is desirable that the total thickness is 2 to 10 μm. On the other hand, the a-3isH layer 3 functions as a carrier generation layer exhibiting high sensitivity in the visible light region, and is provided with a thickness of 1 μm or more.

更に、a−3iNsH層4はこの感光体の表面電位特性
の改善、長期に亘る電位特性の保持、耐環境性の維持(
湿度や雰囲気、コロナ放電で生成される化学種の影響防
止)、炭素含有による結合エネルギーの向上で表面硬度
が高くなることによル機械的強度及び耐剛性の向上、感
光体使用時の耐熱性の向上、熱転写性(特に粘着転写性
)の向上等の機能を有し、いわば表面改質層として働く
ものである。そして、このa−5iN:H層4の厚みを
400〜5000人に選択することが重要である。
Furthermore, the a-3iNsH layer 4 improves the surface potential characteristics of this photoreceptor, maintains the potential characteristics over a long period of time, and maintains environmental resistance (
Preventing the effects of chemical species generated by humidity, atmosphere, and corona discharge), increasing surface hardness due to improved bonding energy due to carbon content, improving mechanical strength and rigidity, and improving heat resistance when using photoreceptors. It has functions such as improving heat transfer properties (particularly adhesive transfer properties), and functions as a surface modification layer. It is important to select the thickness of this a-5iN:H layer 4 to be 400 to 5,000.

次に、本発明による感光体の各層を更に詳しく説明する
Next, each layer of the photoreceptor according to the present invention will be explained in more detail.

−り二SiN:H1 このa−3iN:H層4は感光体の表面を改質してa−
St系悪感光体実用的に優れたものとするために必須不
可欠なものである。即ち、表面での電荷保持と、光照射
による表面電位の減衰という電子写真感光体としての基
本的な動作を可能とするものである。従って、帯電、光
減衰の繰返し特性が非常に安定となり、長期間(例えば
1力月以上)放置しておいても良好な電位特性を再現で
きる。これに反し、a−3i:Hを表面とした感光体の
場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気等の影響を受は易
く、電位特性の経時変化が著しくなる。また、a−3i
N:Hは表面硬度が高いために、現像、転写、クリーニ
ング等の工程における耐摩耗性に優れ、数十万回の耐刷
性があり、更に耐熱性も良いことから粘着転写等の如く
熱を付与するプロセスを適用することができる。
-ri2SiN:H1 This a-3iN:H layer 4 is formed by modifying the surface of the photoreceptor.
This is indispensable in order to make the St-based photoreceptor practically excellent. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation become very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having a-3i:H as its surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. Also, a-3i
N:H has a high surface hardness, so it has excellent abrasion resistance in processes such as development, transfer, and cleaning, and can withstand several hundred thousand printings.It also has good heat resistance, so it can be used in hot applications such as adhesive transfer. can be applied.

このような優れた効果を総合的に奏するためには、a−
3iN:H層4の膜厚を上記した400〜5000人の
範囲内に選択することが重要である。即ち、その膜厚を
5000人を越えた場合には、残留電位が高くなりすぎ
かつ感度の低下も生じ、a−5tt感光体としての良好
な特性を失なうことがある。
In order to achieve such excellent effects comprehensively, a-
It is important to select the thickness of the 3iN:H layer 4 within the above-mentioned range of 400 to 5,000. That is, if the film thickness exceeds 5,000 layers, the residual potential becomes too high and the sensitivity decreases, which may result in the loss of good characteristics as an a-5tt photoreceptor.

また、膜厚を400人未満とした場合には、暗減衰の増
大や光感度の低下が生じてしまう。
Furthermore, if the film thickness is less than 400, dark attenuation increases and photosensitivity decreases.

また、このa−3iN:H層4については、上記した効
果を発揮する上でその炭素組成を選択することも重要で
あることが分った。組成比をa−3t、−xNx:Hと
表わせば、Xを0.1〜0.7とすること(St +N
=100 atos+ie%としたときに窒素原子含有
量が10atomic%〜70atomic%であるこ
と)が望ましい。
It has also been found that it is important to select the carbon composition of the a-3iN:H layer 4 in order to achieve the above-described effects. If the composition ratio is expressed as a-3t, -xNx:H, then X should be 0.1 to 0.7 (St +N
= 100 atos+ie%, the nitrogen atom content is preferably 10 atomic % to 70 atomic %).

なお、このa−3kNzH層は、他の層と同様に水素を
含有することが必須であり、その水素含有量は通常1〜
40atomic%、更に10〜30atoa+ic%
とするのがよい。
Note that this a-3kNzH layer must contain hydrogen like other layers, and its hydrogen content is usually 1 to 1.
40 atomic%, further 10-30 atoa+ic%
It is better to

、この層2は電位保持及び電荷輸送の両機能を担い、暗
所抵抗率が10”Ω−1以上であって、耐高電界性を有
し、単位膜厚光りに保持される電位が太き(、しかも感
光層6から注入される電子又はホールが大きな移動度と
寿命を示すので、電荷担体を効率良く支持体1側へ輸送
する。また、炭素又は窒素の組成によってエネルギーギ
ャップの大きさを調整できるため、感光層6において光
照射に応じて発生した電荷担体に対し障壁を作ることな
く、効率良く注入させることができる。従って、このa
−3iC:H又はa−8tN:H層2は実用レベルの高
い表面電位を保持し、感光層6で発生した電荷担体を効
率良く速やかに輸送し、高感度で残留電位のない感光体
とする働きがある。
, this layer 2 has both the functions of potential retention and charge transport, has a dark resistivity of 10"Ω-1 or more, has high electric field resistance, and has a large potential retained per unit film thickness. (Moreover, since the electrons or holes injected from the photosensitive layer 6 exhibit high mobility and lifetime, charge carriers are efficiently transported to the support 1 side. Also, the size of the energy gap can be changed depending on the composition of carbon or nitrogen. Therefore, it is possible to efficiently inject charge carriers generated in response to light irradiation in the photosensitive layer 6 without creating a barrier.
-3iC:H or a-8tN:H layer 2 maintains a high surface potential at a practical level and efficiently and quickly transports charge carriers generated in photosensitive layer 6, resulting in a photoreceptor with high sensitivity and no residual potential. There is work.

こうした機能を果すために、層2の膜厚は、例えばカー
ルソン方式による乾式現像法を適用するためには10〜
30μmであることが望ましい、この膜厚が10pm未
満であると現像に必要な表面電位が得られず、また、3
0μmを越えると電荷発生層で       、発生し
たキャリアの基板への到達率が低下してしまう、但、こ
のa−8iC:H又はa −S i N :H層の膜厚
は、Se感光惨と比較して薄くしても(、例えば十数μ
m)実用レベルの表面電位が得られる。
In order to achieve these functions, the film thickness of layer 2 is, for example, 10 to
Desirably, the film thickness is 30 μm; if the film thickness is less than 10 pm, the surface potential necessary for development cannot be obtained;
If the thickness exceeds 0 μm, the rate of carriers generated in the charge generation layer reaching the substrate will decrease. Even if it is comparatively thin (for example, tens of microns)
m) Practical level surface potential can be obtained.

また、この層2をa−3t、−xCx:H又はa−3i
t  yNy:Hと表わしたとき、0.05≦X≦  
     □。
Also, this layer 2 is a-3t, -xCx:H or a-3i
When expressed as t yNy:H, 0.05≦X≦
□.

0.3.0.05≦y≦o、、a  <炭素又は窒素原
子含有量       1毛がSi+C(又はN) −
100atomic%としたときに5〜3.)atom
ic%、より好ましくは10〜20aton+ic%)
とするのが望ましい、 0.05≦X、0.05≦yと
すれば層2の電気的、光学的特性をa−3iGe:H層
5とは全1く異なったものにできるox>o、a、y>
o、aのときは層の電荷輸送能が低下するので、X≦0
.3 、y≦0.3とするのがよい。
0.3.0.05≦y≦o,, a <carbon or nitrogen atom content 1 hair is Si+C (or N) −
5 to 3 when set to 100 atomic%. ) atom
ic%, more preferably 10-20aton+ic%)
If 0.05≦X and 0.05≦y, the electrical and optical properties of the layer 2 can be completely different from those of the a-3iGe:H layer 5, ox>o. , a, y>
When o, a, the charge transport ability of the layer decreases, so X≦0
.. 3, it is preferable that y≦0.3.

また、電荷輸送層には、ホウ素等、周期表第IIIa族
元素をドープして光感度の向上を計るのが良い。
Further, the charge transport layer is preferably doped with an element of group IIIa of the periodic table, such as boron, in order to improve photosensitivity.

l五ズ旦り先4 この層7はブロンキング及び下びき層として用いられ、
その膜厚は400人〜2μmとすることが望ましい。即
ち、400人未満では電荷のブロッキング効果が少なく
、また膜付き及び基板との接着性を良くするにも400
Å以上にするのがよい。他方、膜厚が2μmを越えると
、ブロンキング効果は良いが、逆に感光体全体としての
光感度が悪くなり、また製膜時間が長くなり、コスト的
にみて不利である。
This layer 7 is used as a bronching and underlay layer,
The film thickness is preferably 400 to 2 μm. In other words, if the number is less than 400, the charge blocking effect will be small, and if the number is less than 400, the charge blocking effect will be small.
It is better to set it to Å or more. On the other hand, if the film thickness exceeds 2 μm, although the bronking effect is good, the photosensitivity of the photoreceptor as a whole becomes worse, and the film forming time becomes longer, which is disadvantageous from a cost standpoint.

このブロッキング層の炭素又は窒素含有量も層2と同じ
< 5〜30atomic%、好ましくは10〜20a
tomic%とするのがよい。
The carbon or nitrogen content of this blocking layer is also the same as layer 2 <5-30 atomic%, preferably 10-20a
It is preferable to set it as tomic%.

a−3iGe:H層5は、近赤外波長の光に対しして第
2図の如く高い光導電性を示すことが分っており、a−
3t:Hに比べると、特に750〜800nmの光に対
して充分な光感度(半減露光量(erg/cjの逆数)
を有している。他方、a−3i:H層3は可視光に対し
て第2図の如(充分な感度を示すものである。従って、
これら両層(a−3iGe:H,a−3i:H)を積層
すると、第2図の如く、近赤外及び可視の両層に亘2っ
て広く高感度を示す感光体が得られ、所期の目的を達成
することができる。これら両層の積層順序は、上記のよ
うにa−3iGe:Hが上、a−3i:Hが下であって
よいし、或いはその逆であってもよい、a−3iGe:
Hが上にあっても、その膜厚を薄くすれば可視域の光は
a−3t:Hへ効果的に到達する。
It is known that the a-3iGe:H layer 5 exhibits high photoconductivity for near-infrared wavelength light as shown in FIG.
Compared to 3t:H, it has sufficient photosensitivity (half exposure amount (reciprocal of erg/cj), especially for light of 750 to 800 nm).
have. On the other hand, the a-3i:H layer 3 has sufficient sensitivity to visible light as shown in FIG.
When both of these layers (a-3iGe:H, a-3i:H) are laminated, a photoreceptor is obtained that exhibits a wide range of high sensitivity in both near-infrared and visible layers, as shown in Figure 2. It is possible to achieve the intended purpose. The stacking order of these two layers may be as described above, with a-3iGe:H on top and a-3i:H on bottom, or vice versa.
Even if H is on top, if the film thickness is made thin, visible light can effectively reach a-3t:H.

電荷発生層6の厚みは、特に2〜10μmとするのがよ
い。膜厚が2μm未満であると、照射された光は効率良
く吸収されず、一部分は下地の層2に到達するため光感
度が低下する。またa  5ide:H及びa−St:
H層自体は電位保持性を有していなくてよいから感光層
6としては必要以上の厚さにする必要はなく、上限は1
0μmあれば充分である。a−3iGe:H5及びa−
3i:H3は夫々、1μm以上の厚みにしないと光を充
分に吸収できない。
The thickness of the charge generation layer 6 is preferably 2 to 10 μm. If the film thickness is less than 2 μm, the irradiated light will not be absorbed efficiently and a portion will reach the underlying layer 2, resulting in a decrease in photosensitivity. Also a5ide:H and a-St:
Since the H layer itself does not need to have potential retention properties, there is no need to make it thicker than necessary for the photosensitive layer 6, and the upper limit is 1.
0 μm is sufficient. a-3iGe: H5 and a-
3i:H3 cannot absorb light sufficiently unless the thickness is 1 μm or more.

また、この電荷発生層(上記した層2.4も同様)には
その電荷保持性を高めるために、その製膜時に例えば周
期表第IIIa族元素(B、AI、Ga、In等)をド
ープして抵抗を高めておくのが有効である。a−SiG
esH層5の膜特性は、後述する製造方法における基板
温度、高周波放電パワー等の製膜条件によって大きく異
なる。組成的にみれば、Ge含有量は0.1〜50at
oa+ic%(Si+Ge=100 atomic%)
に設定するのがよい。即ち、0.1atomic%未満
では長波長感度がそれ程向上せず、50atomic%
を越えると感度低下が生じ、膜の機械的特性、熱的特性
が劣化する。また、a−5iGe:H及びa−3t:H
のSiとHの結合についてい。Stと結合するHの量は
Stに対して1〜40atomic%であるのがよい。
In addition, this charge generation layer (same as layer 2.4 described above) is doped with, for example, Group IIIa elements of the periodic table (B, AI, Ga, In, etc.) during film formation in order to enhance its charge retention. It is effective to increase the resistance by a-SiG
The film characteristics of the esH layer 5 vary greatly depending on film forming conditions such as substrate temperature and high frequency discharge power in the manufacturing method described below. In terms of composition, the Ge content is 0.1 to 50 at
oa+ic% (Si+Ge=100 atomic%)
It is recommended to set it to . That is, when it is less than 0.1 atomic%, the long wavelength sensitivity does not improve much, and when it is less than 50 atomic%.
Exceeding this will result in a decrease in sensitivity and the deterioration of the mechanical and thermal properties of the film. Also, a-5iGe:H and a-3t:H
About the bond between Si and H. The amount of H combined with St is preferably 1 to 40 atomic% relative to St.

これらの条件が満たされたとき、ρD/ρ1の大きい感
光体となるので望ましい。
When these conditions are met, a photoreceptor with a large ρD/ρ1 is obtained, which is desirable.

なお、上記において、ダングリングボンドを補償するた
めには、a−3tに対しては上記したHの代りに、或い
はHと併用してフッ素を導入し、a−3iGe: Fs
 a−3ide: H: F、a−St:F% a−3
t :H:F、a−3iC:F、a−8iC:H:F等
とすることもできる。この場合のフッ素量は0.01〜
20atomic%がよ<、0.5〜10a tolI
Ii c%が更によい。
In the above, in order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced into a-3t instead of the above-mentioned H or in combination with H, and a-3iGe: Fs
a-3ide: H: F, a-St:F% a-3
It can also be t:H:F, a-3iC:F, a-8iC:H:F, etc. In this case, the amount of fluorine is 0.01~
20atomic%, 0.5~10a tolI
Iic% is even better.

次に、本発明による感光体を製造するのに使用可能な装
置、例えばグロー放電分解装置を第3図について説明す
る。
An apparatus, such as a glow discharge decomposition apparatus, which can be used to manufacture photoreceptors according to the present invention will now be described with reference to FIG.

この装置61の真空槽62内では、ドラム状の基板1が
垂直に回転可能にセットされ、ヒーター65で基板1を
内側から所定温度に加熱し得るようになっている。基板
1に対向してその周囲に、ガス導出口63付きの円筒状
高周波電極67が配され、基板1との間に高周波電源6
6によりグロー放電が生ぜしめられる。なお、図中の7
2はS i Ha又はガス状シリコン化合物の供給源、
73はN2、NH3等の窒素化合物ガスの供給源、74
はCH。
In a vacuum chamber 62 of this device 61, a drum-shaped substrate 1 is set so as to be vertically rotatable, and a heater 65 can heat the substrate 1 from the inside to a predetermined temperature. A cylindrical high-frequency electrode 67 with a gas outlet 63 is disposed around and facing the substrate 1, and a high-frequency power source 6 is connected between the substrate 1 and the cylindrical high-frequency electrode 67.
6 causes a glow discharge. In addition, 7 in the figure
2 is a source of S i Ha or a gaseous silicon compound;
73 is a supply source of nitrogen compound gas such as N2 and NH3, 74
is CH.

等の炭化水素ガスの供給源、75はAr等のキャリアガ
ス供給源、76は不純物ガス(例えばBgH6又はPH
3)供給源、77は各流量計である。このグロー放電装
置において、まず支持体である例えばAI基板1の表面
を清浄化した後に真空槽62内に配置し、真空槽62内
のガス圧が10−’Torrとなるように調節して排気
し、かつ基板1を所定温度、゛特に100〜350℃(
望ましくは150〜300・℃)に加熱保持する。次い
で、高純度の不活性ガスをキャリアガスとして、S i
 Ha又はガス状シリコン化合物、GeH,又はガス状
ゲルマニウム化合物、B*Hh(又はP)13 ) 、
CH,、又はN3を適宜真空槽62内に導入し、例えば
0.01〜10Torrの反応圧下で高周波電源66に
より高周波電圧(例えば13.56 MHz)を印加す
る。これによって、上記各反応ガスを電極67と基板1
との間でグロー放電分解し、ボロン又はリンドープドa
−3iC:H1ボロンドープドa−stc:H,ボロン
ドープドa−5t : Hsボロンドープドロ−3iG
e:HSa−3iN:Hを上記の層7.2.3.5.4
として基板上に連続的に(即ち、第1図の例に対応して
)堆積させる。
75 is a carrier gas supply source such as Ar, 76 is an impurity gas (e.g. BgH6 or PH
3) Supply source 77 is each flow meter. In this glow discharge device, first, the surface of the support, for example, the AI substrate 1, is cleaned, and then placed in a vacuum chamber 62, and the gas pressure in the vacuum chamber 62 is adjusted to 10-' Torr, and the air is evacuated. and keep the substrate 1 at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (
Preferably, the temperature is maintained at a temperature of 150 to 300°C. Next, using a high purity inert gas as a carrier gas, Si
Ha or gaseous silicon compound, GeH or gaseous germanium compound, B*Hh (or P)13),
CH, or N3 is appropriately introduced into the vacuum chamber 62, and a high frequency voltage (for example, 13.56 MHz) is applied by the high frequency power supply 66 under a reaction pressure of, for example, 0.01 to 10 Torr. This allows each of the reaction gases to be transferred between the electrode 67 and the substrate 1.
Glow discharge decomposes between boron or phosphorous doped a
-3iC: H1 boron doped a-stc: H, boron doped a-5t: Hs boron doped a-3iG
e:HSa-3iN:H in the above layer 7.2.3.5.4
(i.e., corresponding to the example of FIG. 1) on the substrate.

このようにグロー放電分解で各層を形成するに際し、ジ
ボラン又はホスフィンガスとシリコン化合物(例えばモ
ノシラン)の流量比を適切に選ぶことが必要である。負
帯電用の感光体とする場合、a−3iC:H電荷ブロッ
キング層7の形成に際し、PH3(ホスフィン)とSi
gn(モノシラン)との流量比を変えた場合、PH3に
よるリンドープの結果、N型の導電性が安定化する領域
に於いて、上記した基板からのキャリアの注入を充分に
防止できるブロッキング層とするにはPH。
When forming each layer by glow discharge decomposition in this way, it is necessary to appropriately select the flow rate ratio of diborane or phosphine gas and silicon compound (for example, monosilane). When forming a negatively charged photoreceptor, when forming the a-3iC:H charge blocking layer 7, PH3 (phosphine) and Si
When the flow rate ratio with gn (monosilane) is changed, as a result of phosphorous doping with PH3, the blocking layer can sufficiently prevent carrier injection from the substrate in the region where N-type conductivity is stabilized. PH.

/5iHa(D流量比は1〜1000容量ppa+ ニ
するのがよい。この比は、a−3iN:H電荷ブロッキ
ング層の場合には1〜10容量ppmとするのがよい。
/5iHa (D flow rate ratio is preferably 1 to 1000 ppm by volume. This ratio is preferably from 1 to 10 ppm by volume for an a-3iN:H charge blocking layer.

また、ボロンドープによる正帯電用のP型化の場合、B
 z H& / S i Ha −20〜5000容量
ppa+  (a−3i C: H(F)とキ)、10
3〜10&容量ppa+(a−3iN:Hのとき)とし
てグロー放電分解するのがよい。
In addition, in the case of P-type for positive charging by boron doping, B
z H&/S i Ha -20 to 5000 capacity ppa+ (a-3i C: H(F) and Ki), 10
It is preferable to perform glow discharge decomposition with a capacity of 3 to 10 ppa+ (when a-3iN:H).

一方、上記の層2.6の形成時に行なうボロンドーピン
グ量については、所望の暗抵抗値を得るために適切に選
択する必要があり、ジボランの流量で表わしたときに層
2ではB*Hh/5iHa= 1〜20容量ppm  
(a−3iC:Hのとき)、1〜1000容量pps+
  (a−3iN:Hのとき)であるのが望ましく、層
6ではBlHi / S i Ha =0.1〜10容
量ppmとしてよい。層5と3とでドーピング量が異な
っていてよい、また、表面改質層4にも、同様にボロン
ドープをBlHi / S i Ha −0,1〜10
容量ppn+で行なうこともできる。
On the other hand, the amount of boron doping performed during the formation of layer 2.6 needs to be appropriately selected in order to obtain the desired dark resistance value. 5iHa = 1-20 capacity ppm
(When a-3iC:H), 1 to 1000 capacity pps+
(at the time of a-3iN:H), and in the layer 6, BlHi/S i Ha may be set to 0.1 to 10 ppm by volume. The doping amount may be different between layers 5 and 3. Also, the surface modified layer 4 is similarly doped with boron.
It can also be done with a capacitance ppn+.

但し、上記した不純物ドーピング量の最適範囲は、層の
N、C,H含有量に依存するので、上記゛□した範囲に
必ずしも限定されるものではない。
However, since the optimum range of the impurity doping amount described above depends on the N, C, and H contents of the layer, it is not necessarily limited to the above range.

なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、蒸着法やスパッタリング法、イオンブレーティ
ング法等によっても上記感光体の製造が可能である。使
用する反応ガスはSiH。
Although the above manufacturing method is based on a glow discharge decomposition method, the photoreceptor can also be manufactured by a vapor deposition method, a sputtering method, an ion blating method, or the like. The reaction gas used is SiH.

以外にもSigHa 、5iHFs 、5iFs又はそ
の誘導体ガス、CH,以外のCxHb 、CsHm等の
低級炭化水素ガスが使用可能である。更にドーピングさ
れる不純物は上記ボロン、アルミニウム以外にもガリウ
ム、インジウム等の他の周期表第■a族元素、リン以外
のヒ素、アンチモン等の他の周期表第Va族元素が使用
可能である。
In addition, lower hydrocarbon gases such as SigHa, 5iHFs, 5iFs or derivative gases thereof, and CxHb and CsHm other than CH can be used. Further, as impurities to be doped, in addition to the above-mentioned boron and aluminum, other elements of group 1a of the periodic table such as gallium and indium, and other elements of group Va of the periodic table such as arsenic and antimony other than phosphorus can be used.

グロー放電分解法によりAIl支持体上に第1図   
   =゛次に、本発明を電子写真感光体に適用した例
を具体的に説明する。
Figure 1 was deposited on an AIl support by glow discharge decomposition method.
=゛Next, an example in which the present invention is applied to an electrophotographic photoreceptor will be specifically explained.

の構造の電子写真感光体を作製した。先ず平滑な   
    、:表面を持つ清浄なAJ!支持体をグロー放
電装置の       ゛′反応(真空)槽内に設置し
た。反応槽内を10− ’Torr台の高真空度に排気
し、支持体温度を200℃に加熱した後、高純度Arガ
スを導入し、Q、5 Torrの前圧のもとて周波数1
3.56 MHz、電力密度0.04W/c11の高周
波電力を印加し、15分間の予備放電を行った0次いで
、S i HaとCHaからなる反応ガスを導入し流量
比3 : 1 : 0.5〜0.05の(Ar+S i
Hn +CHa’)混合ガス及びPH,又はBtHhガ
スをグロー放電分解することにより、キャリア注入を防
止するa−3iCsH層、更には電位保持及び電荷輸送
機能を担うa−3iC:H層を1000人人hLの堆積
速度で製膜した。反応槽を一旦排気した後、CH4は供
給せず、ArをキャリアガスとしてSiH,及び/又は
GeH,及びB、H,を放電分解し、ボロンドープドa
−3t:H及びa−SiGe:H感光層を形成した(a
 −3i sH層ではAr : S iHa =5 :
 1、a−3iGe:H層ではAr : S i H4
: GeH4=25:4:1)。しかる後、N、を供給
し、今度は流量比5:1:4〜0.5の(Ar +S 
i Ha +Na)混合ガス及びB z Hhをグロー
放電分解し、a−3iN:H表面改質層を更に設け、電
子写真感光体を完成させた。このa−3iN:H表面改
質層の光学的エネルギーギャップは2.5〜2.OeV
であった。また、窒素組成が40〜60atomic%
であることが分析によりわかった。
An electrophotographic photoreceptor with the structure was fabricated. first smooth
, :Clean AJ with surface! The support was placed in a reaction (vacuum) chamber of a glow discharge device. After evacuating the inside of the reaction tank to a high vacuum level of 10-' Torr and heating the support to 200°C, high-purity Ar gas was introduced, and under a pre-pressure of Q, 5 Torr, a frequency of 1 was applied.
A high frequency power of 3.56 MHz and a power density of 0.04 W/c11 was applied, and a preliminary discharge was performed for 15 minutes.Next, a reaction gas consisting of SiHa and CHa was introduced at a flow rate ratio of 3:1:0. 5 to 0.05 (Ar+S i
By glow discharge decomposition of Hn + CHa') mixed gas and PH or BtHh gas, 1,000 people created an a-3iCsH layer that prevents carrier injection, and an a-3iC:H layer that has potential holding and charge transport functions. The film was formed at a deposition rate of hL. After the reaction tank is once evacuated, SiH and/or GeH, B, and H are discharge decomposed using Ar as a carrier gas without supplying CH4, and boron-doped a
-3t:H and a-SiGe:H photosensitive layers were formed (a
-3i sH layer Ar: SiHa = 5:
1, a-3iGe: In the H layer, Ar: Si H4
: GeH4=25:4:1). After that, N was supplied, and then (Ar + S) was supplied at a flow rate ratio of 5:1:4 to 0.5.
i Ha +Na) mixed gas and B z Hh were decomposed by glow discharge, and an a-3iN:H surface modification layer was further provided to complete an electrophotographic photoreceptor. The optical energy gap of this a-3iN:H surface modification layer is 2.5-2. OeV
Met. In addition, the nitrogen composition is 40 to 60 atomic%.
Analysis revealed that.

こうした感光体について、各層の組成を第4図の如くに
変化させ、夫々次の測定を行なった。
Regarding such a photoreceptor, the composition of each layer was changed as shown in FIG. 4, and the following measurements were carried out.

帯電電位Vo(V):感光体流れ込み電流200μA、
露光なしの条件で360 SX型 電位針(トレソク社製)で 測定した現像直前の感光体 表面電位。
Charging potential Vo (V): photoreceptor inflow current 200 μA,
The surface potential of the photoreceptor immediately before development was measured with a 360 SX type potential needle (manufactured by Toresok Co., Ltd.) under the condition of no exposure.

半減露光量   二強度1μW/cd、波長750nm
E% (erg/cffl)   の光照射により表面
電圧を500 Vから250 Vに半減す るのに必要な露光量。
Half-decreased exposure amount: dual intensity 1μW/cd, wavelength 750nm
Exposure amount required to halve the surface voltage from 500 V to 250 V by light irradiation of E% (erg/cffl).

残留電位V、(V):露光後、400na+にピークを
持つ光除電光30 II ux−sec照射後の表面電
位。
Residual potential V, (V): Surface potential after exposure and irradiation with 30 II ux-sec of photostatic discharge light having a peak at 400 na+.

画 質     :感光体に10.crW/aJ、波長
750nmの露光を行ない、静 電潜像を形成した後、帯電 極性に対応して、負あるい は正極性トナーで2成分磁 気ブラシ現像し、転写紙に 転写、定着したところ、画 像濃度が高くカプリのない 鮮明な画像を得ることがで きた。繰り返しコピー操作 を20万回行なった後のコピ ーの画質を判定した。
Image quality: 10. After forming an electrostatic latent image by exposing it to crW/aJ at a wavelength of 750 nm, it was developed with a two-component magnetic brush using negative or positive toner depending on the charge polarity, and when it was transferred and fixed on transfer paper, the image I was able to obtain clear images with high density and no capri. The image quality of copies after repeated copying operations were performed 200,000 times was determined.

◎ 画像濃度が十分高く、解像 度、階調性がよく、鮮明で 画像上に白スジや白ポチが ない。即ち、画像極めて良 好。◎ Image density is sufficiently high and resolution Clear, with good contrast and gradation. There are white streaks and white spots on the image. do not have. In other words, the image is very good. Good.

○ 画像良好。○ Good image.

Δ 画像実用上採用可能。Δ Can be used for practical purposes.

× 画像実用上採用不可能。× Image cannot be used for practical purposes.

本発明に基く感光体は、第4図のように、露光時の半減
露光量は少なく、残留電位は少なく、帯電・露光の繰返
し特性も非常に良好であった。
As shown in FIG. 4, the photoreceptor according to the present invention had a small amount of half-decreased exposure during exposure, had a small residual potential, and had very good charging/exposure repetition characteristics.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面は本発明を例示するものであって、第1図は電子写
真感光体の一部分の断面図、第2図は光の波長による各
感光体の光感度を示すグラフ、 第3図は上記感光体を製造するグロー放電装置の概略断
面図、 第4図は電子写真感光体の特性を比較して示すである。 なお、図面に示されている符号において、1 −−−−
−−−一・・支持体(基板)2 ・−−−−−・−電荷
輸送層 3−・−−−−−−−・a−3i:H層4−一一一一・
−表面改質層 5−−−−−−−−−a −S i Ge : H層6
−・−−−−一・・・電荷発生層 7 ・・−・−電荷ブロッキング層 である。
The drawings illustrate the present invention; FIG. 1 is a cross-sectional view of a portion of an electrophotographic photoreceptor, FIG. 2 is a graph showing the photosensitivity of each photoreceptor depending on the wavelength of light, and FIG. 3 is a graph showing the photosensitivity of each photoreceptor according to the wavelength of light. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of a glow discharge apparatus for manufacturing the electrophotographic photoreceptor. In addition, in the symbols shown in the drawings, 1 ----
---1...Support (substrate) 2--Charge transport layer 3----------a-3i: H layer 4-111-
-Surface modified layer 5-------a -S i Ge: H layer 6
---Charge generation layer 7 ---Charge blocking layer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 (a)、アモルファス水素化及び/又はフッ素化シ
リコンゲルマニウムからなる第1層と、アモルファス水
素化及び/又はフッ素化シリコンからなる第2層との積
層体によって構成された電荷発生層と、 (b)、この電荷発生層上に形成され、アモルファス水
素化及び/又はフッ素化窒化シリコンからなる表面改質
層と、 (c)、前記電荷発生層下に形成され、アモルファス水
素化及び/又はフッ素化炭化又は窒化シリコンからなる
電荷輸送層と、 (d)、この電荷輸送層下に形成され、アモルファス水
素化及び/又はフッ素化炭化又は窒化シリコンからなり
、かつ周期表第IIIa族又は第Va族元素がドープされ
た電荷ブロッキング層と を有する感光体。
[Claims] 1 (a) Consisting of a laminate of a first layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon germanium and a second layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon (b) a surface modification layer formed on the charge generation layer and made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon nitride; (c) a surface modification layer formed under the charge generation layer and made of amorphous silicon nitride; (d) a charge transport layer formed below the charge transport layer and consisting of an amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide or nitride and comprising a hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide or nitride; A photoreceptor comprising a charge blocking layer doped with a group IIIa or group Va element.
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US4738912A (en) * 1985-09-13 1988-04-19 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Photosensitive member having an amorphous carbon transport layer
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