JPS61233349A - プラスチツク成型品のクラツク検査方法 - Google Patents
プラスチツク成型品のクラツク検査方法Info
- Publication number
- JPS61233349A JPS61233349A JP7500285A JP7500285A JPS61233349A JP S61233349 A JPS61233349 A JP S61233349A JP 7500285 A JP7500285 A JP 7500285A JP 7500285 A JP7500285 A JP 7500285A JP S61233349 A JPS61233349 A JP S61233349A
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- Japan
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- recorder
- conductive strip
- time
- crack
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
- G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分計」
本発明はプラスチック成型品の耐ヒートシヨツク試験中
におけるクラックの発生時期を検出する方法に関するも
のである。
におけるクラックの発生時期を検出する方法に関するも
のである。
「従来の技術」
種々の電気、機械部品に使用されるエポキシ樹脂やポリ
エステル樹脂製等のプラスチック成型品は良好な絶縁性
、機械的強度、熱的特性等が要求されるので種々の特性
試験が行なわれるが、熱的特性の試験では熱的変形温度
や耐ヒートショック（耐ヒートサイクル）性が検査され
ていた。
エステル樹脂製等のプラスチック成型品は良好な絶縁性
、機械的強度、熱的特性等が要求されるので種々の特性
試験が行なわれるが、熱的特性の試験では熱的変形温度
や耐ヒートショック（耐ヒートサイクル）性が検査され
ていた。
この耐ヒートシヨツク検査は、試料を高温槽と低温槽に
交互に投入し、あるいは試料を入れた槽内で高温媒体と
低温媒体を交互に入れ換えて試料の加熱と冷却を一定時
間づつ交互に所定のサイクル数繰返し、その所定のサイ
クル数が修了した時点で試料にき裂等異常なりラック発
生の有無を検査するが、このサイクルは通常数サイクル
から数十サイクル、多いものでは数百サイクルにもおよ
び、その所要時間は短くて３０分から２〜３時間、長い
場合には昼夜にわたって長時間継続するので、その操作
は自動運転により行なわれていた。
交互に投入し、あるいは試料を入れた槽内で高温媒体と
低温媒体を交互に入れ換えて試料の加熱と冷却を一定時
間づつ交互に所定のサイクル数繰返し、その所定のサイ
クル数が修了した時点で試料にき裂等異常なりラック発
生の有無を検査するが、このサイクルは通常数サイクル
から数十サイクル、多いものでは数百サイクルにもおよ
び、その所要時間は短くて３０分から２〜３時間、長い
場合には昼夜にわたって長時間継続するので、その操作
は自動運転により行なわれていた。
「発明が解決しようとする問題点」
このようにヒートショック試験は長時間を要するので全
サイクルの自動運転が修了してから試料を取り出してク
ラック発生の有無を検査しており、このためヒートショ
ックのサイクル過程においてクラックが何時発生したか
という正確な発生時点までは知ることができないので、
試料の特性の精緻な点は検査することができないという
問題点があった。
サイクルの自動運転が修了してから試料を取り出してク
ラック発生の有無を検査しており、このためヒートショ
ックのサイクル過程においてクラックが何時発生したか
という正確な発生時点までは知ることができないので、
試料の特性の精緻な点は検査することができないという
問題点があった。
そこで本発明は耐ヒートショックのサイクル過程におけ
るクラック発生の時点を正確に検出することができる方
法を提供するものである。
るクラック発生の時点を正確に検出することができる方
法を提供するものである。
「問題点を解決するための手段」
本発明は、検査試料の表面に導電帯条膜を被着しこれに
導通遮断記録計を接続して通電しながらヒートショック
を施し、導電帯条膜が形成する電路が断路する時点を記
録してクラック発生時期を検出するようにしたものであ
る。
導通遮断記録計を接続して通電しながらヒートショック
を施し、導電帯条膜が形成する電路が断路する時点を記
録してクラック発生時期を検出するようにしたものであ
る。
「作 用」
前記の検査試料の表面に被着した導電帯条膜は試料にク
ラックが発生すると同時に破断し、これによりその導電
帯条膜が形成している電路が断路してその断路時点が導
通遮断記録計に記録されるので、この断路時点の記録か
らクラックの発生時期が検出されることになる。
ラックが発生すると同時に破断し、これによりその導電
帯条膜が形成している電路が断路してその断路時点が導
通遮断記録計に記録されるので、この断路時点の記録か
らクラックの発生時期が検出されることになる。
「発明の概要」
本発明は、検査試料の表面に被着した導電帯条膜により
形成した電路に導通遮断記録計を接続してこれに通電し
ながら加熱、冷却を繰返すヒートショックを施し、導電
帯条膜がクラック発生とともに破断することによる断路
時点を記録してクラック発生時期を検出するものである
。
形成した電路に導通遮断記録計を接続してこれに通電し
ながら加熱、冷却を繰返すヒートショックを施し、導電
帯条膜がクラック発生とともに破断することによる断路
時点を記録してクラック発生時期を検出するものである
。
「実施例」
以下本発明の実施例を図面により説明する。図において
、１は本発明の方法による検査試料のプラスチック成型
品であり、図示の例は埋込み金属２を有する例を示す。
、１は本発明の方法による検査試料のプラスチック成型
品であり、図示の例は埋込み金属２を有する例を示す。
この試料１の耐ヒートシヨツク検査を行なうに当り、ま
ず、試料１の肩囲表面に導電帯条膜３を被着する。この
導電帯条膜３は、微小電流が流れる程度の４０〜５ｏ
２ｃｍ以下、好ましくは数Ω１以下の抵抗値とし、たと
えばエポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹
脂等に適当量のＡｇ、Ｇｕ、ＡＪ等の金属粉末を混入し
た導電塗料を用い、これを試料１の局面に図示のように
帯状に塗布して被膜を形成する。４は導電帯条膜３の端
縁間の微細間隙であり、この間隙４を挾む両端縁に２個
のリード線接続点５．６を設け、この両接続点５．６の
間にリード線７で導通遮断記録計８を接続する。この導
通遮断記録計８は、連続して送り出される記録紙に時々
刻々の通電状態を記録する記録部９を有し、時間の経過
に対応して通電状態を絶えず記録し、通電が断たれたと
きには直ちにその時点の通電の遮断を記録するものであ
り、このような記録計として電流記録計を利用すればそ
の記録針が通電状態から電流ゼロ点に変化した時点が記
録されることになる。
ず、試料１の肩囲表面に導電帯条膜３を被着する。この
導電帯条膜３は、微小電流が流れる程度の４０〜５ｏ
２ｃｍ以下、好ましくは数Ω１以下の抵抗値とし、たと
えばエポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹
脂等に適当量のＡｇ、Ｇｕ、ＡＪ等の金属粉末を混入し
た導電塗料を用い、これを試料１の局面に図示のように
帯状に塗布して被膜を形成する。４は導電帯条膜３の端
縁間の微細間隙であり、この間隙４を挾む両端縁に２個
のリード線接続点５．６を設け、この両接続点５．６の
間にリード線７で導通遮断記録計８を接続する。この導
通遮断記録計８は、連続して送り出される記録紙に時々
刻々の通電状態を記録する記録部９を有し、時間の経過
に対応して通電状態を絶えず記録し、通電が断たれたと
きには直ちにその時点の通電の遮断を記録するものであ
り、このような記録計として電流記録計を利用すればそ
の記録針が通電状態から電流ゼロ点に変化した時点が記
録されることになる。
このリード線７に定電流電源１０、抵抗１１を接続して
導電帯条膜３の電路に通電する。
導電帯条膜３の電路に通電する。
このように表面に導電帯条膜３を設けて導通遮断記録計
８に接続した試料１を、図に鎖線で示した試験槽球内に
セットし、導電帯条膜３にｈ＋ｎｓ〜数十ａｍアンペア
の微小電流を通電しこれを記録計８に記録しながら試料
１に加熱と冷却を繰返すヒートショックを施す。このヒ
ートショックは所定の回数を修了するまで行なうが、そ
の途中の時点において試料１にクラックが発生したとき
には、試料表面の導電帯条膜３に破断が生じてその電路
が遮断されこの断路時点が導通遮断記録計８に記録され
ることになり、したがってこの導通遮断記録計８に記録
された電路遮断時点によって試料１のクラック発生時点
を知ることができる。
８に接続した試料１を、図に鎖線で示した試験槽球内に
セットし、導電帯条膜３にｈ＋ｎｓ〜数十ａｍアンペア
の微小電流を通電しこれを記録計８に記録しながら試料
１に加熱と冷却を繰返すヒートショックを施す。このヒ
ートショックは所定の回数を修了するまで行なうが、そ
の途中の時点において試料１にクラックが発生したとき
には、試料表面の導電帯条膜３に破断が生じてその電路
が遮断されこの断路時点が導通遮断記録計８に記録され
ることになり、したがってこの導通遮断記録計８に記録
された電路遮断時点によって試料１のクラック発生時点
を知ることができる。
なお、導電帯条膜３の両端縁間の微細間隙４は１１ｎ程
度の細隙とするのでこの微細間隙４にクラックが発生す
る確率はきわめて少ないが、導電帯条膜３を上下に平行
に２条設けてそれぞれの微細間隙４をずらせて配置する
か、もしくは導電帯条膜３を試料１の表面に螺旋状に巻
回することにより一奉箱→ｄ試料１の周面のいずれの箇
所のクラックでも検出することができる。また導電帯条
膜３は、前記したように導電塗料を帯条に塗布した被膜
で形成するかわりに、導電体の帯条箔や薄いテープ、も
しくはクラックの発生とともに容易に断線するような微
細導線等を試料局面に直接にもしくは絶縁帯膜を介して
貼着することによって形成してもよく、前記のように導
電帯条膜３を利用してクラックの発生を検出する試料１
は塑造成型されるプラスチックなものであればよいので
、ガラス成型品等のような試料にも適用できる。
度の細隙とするのでこの微細間隙４にクラックが発生す
る確率はきわめて少ないが、導電帯条膜３を上下に平行
に２条設けてそれぞれの微細間隙４をずらせて配置する
か、もしくは導電帯条膜３を試料１の表面に螺旋状に巻
回することにより一奉箱→ｄ試料１の周面のいずれの箇
所のクラックでも検出することができる。また導電帯条
膜３は、前記したように導電塗料を帯条に塗布した被膜
で形成するかわりに、導電体の帯条箔や薄いテープ、も
しくはクラックの発生とともに容易に断線するような微
細導線等を試料局面に直接にもしくは絶縁帯膜を介して
貼着することによって形成してもよく、前記のように導
電帯条膜３を利用してクラックの発生を検出する試料１
は塑造成型されるプラスチックなものであればよいので
、ガラス成型品等のような試料にも適用できる。
「発明の効果」
本発明は前述のように、試料１の表面に導電帯条膜３を
設けてこれに導通遮断記録計８を接続し、クラック発生
により導電帯条膜３の電路が遮断される時点を導通遮断
記録計８に記録させてクラック発生時点を検出するよう
にしたので、ヒートショック検査の過程において発生す
るクラックでもその発生の時点を正確に検出することが
できる。
設けてこれに導通遮断記録計８を接続し、クラック発生
により導電帯条膜３の電路が遮断される時点を導通遮断
記録計８に記録させてクラック発生時点を検出するよう
にしたので、ヒートショック検査の過程において発生す
るクラックでもその発生の時点を正確に検出することが
できる。
図面は本発明の方法を示す斜視図である。
１：検査試料 ３：導電帯条膜
８：導通遮断記録計
特許出願人 古河電気工業株式会社
代 理 人 弁理士 岡１）喜久治
（ほか１名）
Claims (1)
- プラスチック成型試料の表面に導電帯条膜を被着して導
通遮断記録計に接続し、この導電帯条膜で形成される電
路に通電しながら前記試料の加熱、冷却を繰返し、前記
試料のクラック発生とともに導電帯条膜が破断すること
による前記電路の断路時点を導通遮断記録計に記録して
クラック発生時期を検出することを特徴とするプラスチ
ック成型品のクラック検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7500285A JPS61233349A (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | プラスチツク成型品のクラツク検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7500285A JPS61233349A (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | プラスチツク成型品のクラツク検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61233349A true JPS61233349A (ja) | 1986-10-17 |
Family
ID=13563560
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7500285A Pending JPS61233349A (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | プラスチツク成型品のクラツク検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61233349A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0450000A1 (en) * | 1989-10-17 | 1991-10-09 | Bell Helicopter Textron Inc | ELECTRICAL PIN CANCEL EVALUATION. |
| CN103837572A (zh) * | 2012-11-27 | 2014-06-04 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | 带金属嵌件塑料壳体的测试方法以及测试系统 |
| CN104713916A (zh) * | 2015-03-23 | 2015-06-17 | 中国人民解放军空军工程大学 | 一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法 |
-
1985
- 1985-04-09 JP JP7500285A patent/JPS61233349A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0450000A1 (en) * | 1989-10-17 | 1991-10-09 | Bell Helicopter Textron Inc | ELECTRICAL PIN CANCEL EVALUATION. |
| CN103837572A (zh) * | 2012-11-27 | 2014-06-04 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | 带金属嵌件塑料壳体的测试方法以及测试系统 |
| CN103837572B (zh) * | 2012-11-27 | 2016-04-06 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | 带金属嵌件塑料壳体的测试方法以及测试系统 |
| CN104713916A (zh) * | 2015-03-23 | 2015-06-17 | 中国人民解放军空军工程大学 | 一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法 |
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