JPS61198174A - Image forming device - Google Patents

Image forming device

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JPS61198174A
JPS61198174A JP60228359A JP22835985A JPS61198174A JP S61198174 A JPS61198174 A JP S61198174A JP 60228359 A JP60228359 A JP 60228359A JP 22835985 A JP22835985 A JP 22835985A JP S61198174 A JPS61198174 A JP S61198174A
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JP
Japan
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potential
voltage
drum
surface potential
image forming
Prior art date
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Application number
JP60228359A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Kawamo
川面 喜敬
Koji Suzuki
鈴木 孝二
Yoshikazu Yokomizo
良和 横溝
Kimio Nakahata
中畑 公生
Hatsuo Tajima
田嶋 初雄
Naoki Iwami
直樹 岩見
Shunichi Masuda
増田 俊一
Katsuichi Shimizu
勝一 清水
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/50Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
    • G03G15/5033Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
    • G03G15/5037Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage

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  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To check the operation state of a device precisely by operating part of an image forming means at different levels in the 1st and the 2nd modes. CONSTITUTION:The DC regenerated voltage of a surface potential detecting circuit is inputted to uninverted input terminals of comparator COMs 1-5 and voltages V1-V5 for comparison are inputted to inverted input terminals. Controllers V1-V5 are so controlled that only a light emitting diode LED 3 illuminates. A different surface potential is controlled only by the illumination of the same light emitting diode and a mode switch is capable of driving some of plural processing means for image formation selectively. This command means like this is provided to check the operation state of part of an image forming device such as a copying machine without driving the whole device, measure the surface potential in a desired mode easily because a load is driven selectively when the surface potential on a drum in a different mode by a surface electrometer, and also displays surface potential detection outputs by levels.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は記録体に画像を形成する装置に関し、特に画像
形成手段の動作状態をチェックすることが可能な画像形
成装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus for forming an image on a recording medium, and more particularly to an image forming apparatus capable of checking the operating state of an image forming means.

従来、複写機等の画像形成装置において、帯電器等を個
別に駆動させ、動作するか否かのチェックを可能にする
ものがある。しかしながらこの様な機能だけでは1つの
プロセス手段が動作していたとしでもその出力が適正か
否かはチェックすることがなかった。
2. Description of the Related Art Conventionally, some image forming apparatuses such as copying machines are capable of individually driving chargers and the like to check whether or not they operate. However, with only such a function, even if one process means is operating, it is not checked whether the output is appropriate or not.

本発明は、上記点に鑑みてなされたもので、その目的と
する精度良(装置の動作状態をチェックすることが可能
な画像形成装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide an image forming apparatus that can check the operating state of the apparatus with high accuracy.

即ち本発明は、記録体上に画像を形成する画像形成手段
と、第1モード、第2モード信号を入力する指令手段と
、前記指令手段から出力される第1゜第2モード信号に
応じて前記画像形成手段を動作制御する制御手段とを有
し、前記制御手段は前記第1モードと第2モードとで前
記画像形成手段のうちの1部を異なるレベルで動作させ
ることを特徴とする画像形成装置を提供するものである
That is, the present invention provides an image forming means for forming an image on a recording medium, a command means for inputting first mode and second mode signals, and a method according to the first and second mode signals outputted from the command means. and a control means for controlling the operation of the image forming means, the control means operating a part of the image forming means at different levels in the first mode and the second mode. A forming device is provided.

以下本発明の実施例を図面に従い説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明を適用し得る複写装置の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a copying apparatus to which the present invention can be applied.

ドラム11の表面は、CdS光導電体を用いた三層構成
の感光体より成り、軸12上に回動可能に軸支され、コ
ピー命令により矢印13の方向に回転を開始する。
The surface of the drum 11 is made of a three-layer photoreceptor using a CdS photoconductor, is rotatably supported on a shaft 12, and starts rotating in the direction of an arrow 13 in response to a copy command.

ドラム11が定位置速回転してくると、原稿台ガラス1
4上に置かれた原稿は、第1走査ミラー15と一体に構
成された照明ランプI6で照射され、その反射光は、第
1走査ミラー15及び第2走査ミラーX7で走査される
。第1走査ミラー15と第2走査ミラー17はl;%の
速比で動くことによりレンズ18の前方の光路長が常に
一定に保たれたまま原稿の走査が行なわれる。
When the drum 11 rotates at a fixed speed, the platen glass 1
4 is irradiated with an illumination lamp I6 integrated with a first scanning mirror 15, and its reflected light is scanned by the first scanning mirror 15 and the second scanning mirror X7. The first scanning mirror 15 and the second scanning mirror 17 move at a speed ratio of l;%, so that the original is scanned while the optical path length in front of the lens 18 is always kept constant.

上記の反射光像はレンズ18.第3ミラー19を経た後
、第4ミラー20を経て露光部21で、ドラムll上に
結像する。
The reflected light image above is the lens 18. After passing through the third mirror 19, the light passes through the fourth mirror 20 and is imaged onto the drum 11 at the exposure section 21.

ドラム11は、−次帯電器22により帯電(例えば+)
された後、前記露光部21で、照明ランプ16により照
射された像をスリット露光される。
The drum 11 is charged (for example, +) by a negative charger 22.
After that, in the exposure section 21, the image illuminated by the illumination lamp 16 is subjected to slit exposure.

それと同時に、AC又は−次と逆極性(例えば−)の除
電を除電器23で行ない、その後頁に全面露光ランプ2
4による全面露光により、ドラム11上に高コントラス
トの静電潜像を形成する。感光ドラムll上の静電潜像
は、次に現像器25により、トナー像として可視化され
る。現像方法には酸現像、磁気ブラシ現像等使用しうる
が、本実施例においては磁気ブラン現像を用いている。
At the same time, a static eliminator 23 is used to remove static electricity of the opposite polarity (for example, -) to the AC or - next page, and then the entire surface exposure lamp 2
4, a high-contrast electrostatic latent image is formed on the drum 11. The electrostatic latent image on the photosensitive drum 11 is then visualized as a toner image by the developing device 25. Although acid development, magnetic brush development, etc. can be used as a developing method, magnetic blank development is used in this embodiment.

カセット26−1もしくは26−2内の転写紙27−I
もしくは27−2は、給紙ローラ28−1.もしくは2
8−2により機内に送られ、第ルジスタローラ29−1
もしくは29−2で概略のタイミングをとり、第2レジ
スタローラ30で正確なタイミングをとって、感光ドラ
ム11方向に送出される。
Transfer paper 27-I in cassette 26-1 or 26-2
Alternatively, 27-2 is the paper feed roller 28-1. Or 2
8-2 into the machine, and the No. 1 Lujistar roller 29-1
Alternatively, rough timing is determined by 29-2, accurate timing is determined by second register roller 30, and the recording material is sent toward the photosensitive drum 11.

次いで、転写帯電器31とドラム11の間を転写紙27
が通る間に該転写紙上にドラム11上のトナー像が転写
される。
Next, the transfer paper 27 is passed between the transfer charger 31 and the drum 11.
The toner image on the drum 11 is transferred onto the transfer paper while the drum 11 passes through the transfer paper.

転写終了後、転写紙は搬送ベルト32ヘガイドされ、更
に定着ローラ対33−1.33−2へ導かれ、加圧、加
熱により定着され、その後トレー34へ排出される。
After the transfer is completed, the transfer paper is guided to the conveyor belt 32 and further to the pair of fixing rollers 33-1, 33-2, where it is fixed by pressure and heat, and then discharged onto the tray 34.

又、転写後のドラム11は弾性ブレードで構成されたク
リーニング装置35で、その表面を清掃し、次サイクル
へ進む。
After the transfer, the surface of the drum 11 is cleaned by a cleaning device 35 composed of an elastic blade, and the process proceeds to the next cycle.

又以上の画像形成サイクルを各々の時点において制御す
るためにドラムIIの回転とともに回転するタロツク盤
11aのクロック点を光学的に検知するセンサllbと
によりドラムクロックパルスDCKを発生する。
In order to control the above-described image forming cycle at each point in time, a drum clock pulse DCK is generated by a sensor Ilb that optically detects the clock point of the tarmac board 11a which rotates with the rotation of the drum II.

50はドラム11上の表面電位を検出する表面電位計で
あって現像器21に取付けである。
Reference numeral 50 denotes a surface electrometer for detecting the surface potential on the drum 11, which is attached to the developing device 21.

該表面電位計50について説明する。第2図は表面電位
計50とドラム11上との取付位置を示す横断面図、第
3図は電位計50の側断面図、第4図は表面電位検出回
路、第5図は被測定面と測定電極とを遮蔽するかご形チ
ョッパ53の斜視図である。
The surface electrometer 50 will be explained. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the mounting position of the surface electrometer 50 and the drum 11, FIG. 3 is a side sectional view of the electrometer 50, FIG. 4 is a surface potential detection circuit, and FIG. 5 is a surface to be measured. FIG. 5 is a perspective view of a squirrel-cage chopper 53 that shields the antenna and the measurement electrode.

第2図、第3図、第4図において52は黄銅またはアル
ミニウムで形成された導電性外筒で外筒52は表面電荷
検出窓65を有している。55はチョッパ53を回転せ
しめる駆動手段としてのセンサモータ、53は円筒形チ
ョッパで電位測定窓64を有している。54は表面電位
測定電極、56は前記電極54の出力を検出する検出回
路を形成したプリアンププリント板である。
In FIGS. 2, 3, and 4, reference numeral 52 denotes a conductive outer cylinder made of brass or aluminum, and the outer cylinder 52 has a surface charge detection window 65. 55 is a sensor motor as a driving means for rotating the chopper 53; 53 is a cylindrical chopper having a potential measurement window 64; 54 is a surface potential measuring electrode, and 56 is a preamplifier printed board on which a detection circuit for detecting the output of the electrode 54 is formed.

表面電位計50は被測定面であるドラム表面から2mm
離れた位置に前記電位測定窓65がドラム表面に対向す
るように取トIけられており、表面電位計50内には前
記電極54で検出した電圧を増幅するプリアンププリン
ト板56が内蔵され一体に形成されている。第6図の制
御回路のCPU201よりセンサモータードライブ信号
SMDが出力されると、センサモータ55が回転し、ド
ラム表面上の電荷が電位測定窓64を介して前記電極5
4に誘起される。
The surface electrometer 50 is placed 2 mm from the surface of the drum, which is the surface to be measured.
The potential measurement window 65 is installed at a remote location so as to face the drum surface, and a preamplifier printed board 56 for amplifying the voltage detected by the electrode 54 is built into the surface electrometer 50. is formed. When the sensor motor drive signal SMD is output from the CPU 201 of the control circuit shown in FIG.
4.

前記電位測定窓64はチョッパ53上に等間隔に4箇所
設けられている。前記電極54で誘起されるのはチョッ
パ53が回転し、等間隔でドラム表面lで電極54をさ
えぎる為に第7−1図に示すような交流電圧となる。こ
の交流電圧の周期Tはまたこの電圧振幅Vp−1)は、
ドラム電位Vpと電位外筒52、チョッパ羽根53およ
びプリアンプ板56の基準電圧となるセンサーバイアス
電圧VBIASの差分に比例する。したがってvp−p
=VBIASとなる場合交流電圧は0となる。プリアン
プ板56内にもうけられた内部回路は前述のセンサーバ
イアス電圧VBIASに重畳されたセンサー電源5Vc
cにより駆動され、前記電極54で検出された交流変換
信号のインピーダンス変換を行っているQlは接合型F
ETで電極54に誘起された微少な交流信号をゲートの
高入力抵抗で受けて低インピーダンスの信号に変換する
。R3,R4は保護用抵抗である。
The potential measurement windows 64 are provided at four locations on the chopper 53 at equal intervals. What is induced in the electrode 54 is an alternating voltage as shown in FIG. 7-1 because the chopper 53 rotates and the drum surface l intercepts the electrode 54 at equal intervals. The period T of this AC voltage and the voltage amplitude Vp-1) are:
It is proportional to the difference between the drum potential Vp and the sensor bias voltage VBIAS, which serves as a reference voltage for the potential outer cylinder 52, chopper blade 53, and preamplifier board 56. Therefore vp-p
=VBIAS, the AC voltage becomes 0. An internal circuit provided in the preamplifier board 56 receives a sensor power supply of 5Vc superimposed on the aforementioned sensor bias voltage VBIAS.
Ql, which is driven by C and performs impedance conversion of the AC conversion signal detected by the electrode 54, is a junction type F.
A minute alternating current signal induced in the electrode 54 by the ET is received by the high input resistance of the gate and converted into a low impedance signal. R3 and R4 are protective resistors.

第7−2はセンサーバイアスVBIASをパラメータと
したドラム電位Vpとプリアンプからの出力62のピー
ク値の関係を示したもので、プリアンプからの出力62
はドラム電位VpとセンサーバイアスVBIASの差分
が忠実に検出される。さらにドラム電位VpがV p 
≧V B I A SまたはVp≦VBIAS(7)い
ずれか一方の範囲で変化するなら、交流検出電圧はドラ
ム電位Vpに応じて、単調増加または単調減少の特性を
有するので極性判断のために新たに同期整流回路をもう
ける必要はない。第7−2図でVBIASが150V(
7)時はドラム電位Vpがvp≦150vの範囲である
ときは−nV〜+150Vの範囲で検出電圧が単調増加
となり正負両方向の大小関係を判断できる。但し正の範
囲は+150Vmaxであり、−nvはプリアンプ板5
6内にもうけられた回路の飽和電圧により、制約される
7-2 shows the relationship between the drum potential Vp and the peak value of the output 62 from the preamplifier using the sensor bias VBIAS as a parameter.
The difference between the drum potential Vp and the sensor bias VBIAS is faithfully detected. Furthermore, the drum potential Vp is V p
If it changes in either the range ≧VBIAS or Vp≦VBIAS (7), the AC detection voltage has the characteristic of monotonically increasing or monotonically decreasing depending on the drum potential Vp, so a new detection voltage is required for polarity determination. There is no need to add a synchronous rectifier circuit. In Figure 7-2, VBIAS is 150V (
7) When the drum potential Vp is in the range of vp≦150V, the detected voltage increases monotonically in the range of -nV to +150V, and the magnitude relationship in both the positive and negative directions can be determined. However, the positive range is +150Vmax, and -nv is the preamplifier board 5.
6 is limited by the saturation voltage of the circuit provided within the circuit.

以上のように電位計筐体および電位計に内蔵された内部
回路にバイアス電圧より大きい範囲か又は小さい範囲の
いずれか一方の範囲で変化する如(正又は負の一定のバ
イアスを印加することにより被測定面電位の極性判別が
可能となった。このように構成することにより新たに同
期検出回路等を設ける必要がないばかりか外部雑音が電
位計内部回路に影響し測定電位のフラツキを防止するこ
とも可能となった。
As described above, by applying a constant positive or negative bias to the electrometer housing and the internal circuit built into the electrometer, It is now possible to determine the polarity of the potential on the surface to be measured.With this configuration, there is no need to newly install a synchronization detection circuit, etc., and it also prevents external noise from affecting the electrometer's internal circuit and causing fluctuations in the measured potential. It has also become possible.

ところで感光体上に光を与えて帯電電荷を除電する型の
複写装置に於いては1次帯電器22の出力電圧VpLA
C除電器23の出力電圧VSL露光ランプ16の露光光
量を一定に保ったまま連続的にコピーを作成した場合、
前回の潜像作成が次回の潜像作成に於ける感光特性に対
して影響を及ぼす。つまり感光板にはメモリ特性が存在
する該メモリ特性は感光板の作成条件により異なり第8
図に示すように感光板の感度が早くなる場合(2−c)
と遅くなる場合(2−b)があり基準光量Eo(ここで
EOは不図示の発光量調整ダイヤルを5の位置にして露
光ランプが標準白原稿に光を当てた時の反射光量)に対
して感光板の表面電位が変動する。
By the way, in a type of copying machine that applies light to a photoreceptor to eliminate static charges, the output voltage VpLA of the primary charger 22 is
When copies are made continuously while keeping the output voltage of the C static eliminator 23 VSL and the exposure light amount of the exposure lamp 16 constant,
The previous latent image creation affects the photosensitive characteristics in the next latent image creation. In other words, the photosensitive plate has memory characteristics.The memory characteristics vary depending on the conditions for making the photosensitive plate.
As shown in the figure, when the sensitivity of the photosensitive plate becomes faster (2-c)
In some cases (2-b), the light intensity is slower than the standard light intensity Eo (here, EO is the amount of reflected light when the exposure lamp shines light on a standard white original with the light emission adjustment dial (not shown) set to 5). The surface potential of the photosensitive plate fluctuates.

又温度、湿度等の環境の変化により特にAC除電後の電
位が変動する。AC除電の変動は特に原稿明部に対して
影響を及ぼす。AC除電が変動した場合の感光板の特性
を第9図に示す。
In addition, the potential especially after AC static elimination changes due to changes in the environment such as temperature and humidity. Fluctuations in AC static elimination particularly affect bright areas of the document. FIG. 9 shows the characteristics of the photosensitive plate when the AC static elimination varies.

このように連続もコピー又は環境の変化により原稿の暗
部濃度、中間調濃度、明部カブリ等の画像状態が変化す
ることになるが良好なコピー作成の為特に原稿明部のカ
ブリを押えられることが重要な要素となる。
In this way, image conditions such as dark area density, halftone density, and bright area fogging of the original may change due to continuous copying or changes in the environment, but in order to make good copies, it is possible to suppress fogging, especially in the bright areas of the original. is an important element.

以下に明部カブリを押える為に現像器のバイアス電圧を
制御する制御方式を詳細に説明する。
A control method for controlling the bias voltage of the developing device in order to suppress fog in bright areas will be described in detail below.

本実施例においては明部のドラム表面電位を検出するた
めに原稿照明用ランプ16を用いないでプラン、り露光
ランプ10を用いている。前記ブランク露光ランプ10
は前回転および光学系後進中にドラム表面に照射される
。この時のドラム表面の表面電位を明部表面電位として
測定し、この検出電圧に応じて現像器25に印加する現
像バイアスを制御する。この際前記ブランク露光ランプ
10がドラム表面に照射する光量は操作部上の発光量調
節ダイヤル(図示せず)が5の位置で白原稿を置いたと
きの原稿照明用ランプ16の反射光と同じ光量に可変抵
抗VR3によって調整されている。したがって前記ブラ
ンク露光ランプIOの照射によるドラムの表面電位を検
出することは原稿臼がコピー中にドラム表面に生じさせ
る表面電位と同じとなり、検出電圧に応じて一定の正極
性の電圧を上乗せして現像バイアスを印加することで、
ドラム11の感光特性が変動して明部電位が変動しても
コピーがかぶることを防止することができる。
In this embodiment, the original exposure lamp 10 is used instead of the document illumination lamp 16 to detect the drum surface potential in the bright area. The blank exposure lamp 10
is irradiated onto the drum surface during forward rotation and backward movement of the optical system. The surface potential of the drum surface at this time is measured as a bright area surface potential, and the developing bias applied to the developing device 25 is controlled according to this detected voltage. At this time, the amount of light that the blank exposure lamp 10 irradiates onto the drum surface is the same as the light reflected from the document illumination lamp 16 when a white document is placed with the light emission amount adjustment dial (not shown) on the operation section set to 5. The amount of light is adjusted by a variable resistor VR3. Therefore, detecting the surface potential of the drum due to irradiation with the blank exposure lamp IO is the same as the surface potential generated on the drum surface by the document mill during copying, and a certain positive voltage is added according to the detected voltage. By applying a developing bias,
Even if the photosensitive characteristics of the drum 11 fluctuate and the bright area potential fluctuates, it is possible to prevent copies from being fogged.

本実施例ではブランク露光ランプ10による明部表面電
位測定は前述の前回転中の非画像部および連続する静電
潜像の間の非画像部の電位を測定し、測定出力は前記非
画像部につづく潜像の現像時の現像バイアスを印加する
基準電圧となる。
In this embodiment, the bright area surface potential measurement using the blank exposure lamp 10 measures the potential of the non-image area during the aforementioned pre-rotation and the non-image area between successive electrostatic latent images, and the measurement output is This serves as a reference voltage for applying a developing bias during development of the latent image following .

第6図および第15図のタイミングチャートにおいて、
キー人力手段208からコピースタート信号が入力され
るとCPU201からモータードライブ信号MDがでて
、高圧AC除電器23、高圧−吹寄電器22、全面照射
ランプ24、ブランク露光ランプIO、センサーモータ
55がONL、、前述の前回転を行なう。この時センサ
ーモータ55にはセンサーモータードライブ回路により
駆動される。電位外筒52、チョッパ53には前述の一
定のセンサーバイアスVBIAS(+150V)、プリ
アンプ板56内の回路には一定のセンサー電源5Vcc
 (+175V)が現像バイアス制御回路207からそ
れぞれリード線60.61を通して印加されている。
In the timing charts of FIGS. 6 and 15,
When a copy start signal is input from the key manual means 208, a motor drive signal MD is output from the CPU 201, and the high-voltage AC static eliminator 23, high-voltage blower 22, full-surface irradiation lamp 24, blank exposure lamp IO, and sensor motor 55 are activated. ONL, perform the aforementioned forward rotation. At this time, the sensor motor 55 is driven by a sensor motor drive circuit. The above-mentioned constant sensor bias VBIAS (+150V) is applied to the potential outer cylinder 52 and the chopper 53, and the constant sensor power supply 5Vcc is applied to the circuit inside the preamplifier board 56.
(+175V) is applied from the developing bias control circuit 207 through lead wires 60 and 61, respectively.

電位計50の検出された交流信号はリード62を通して
交流増幅器204で増幅され、さらに整流平滑回路20
5で直流に再生する。この直流再生電圧は、サンプルホ
ールド回路206に入力され、CPU201から出力さ
れるSTB信号“H”時の直流再生電圧がこの回路20
6に記憶される。前回転が終了すると給紙、露光用ラン
プ16が点灯しランプ16とミラー15. 17からな
る光学系が原稿サイズに従って走査し、現像器モータが
回転し、現像が行なわれる。現像バイアス制御回路20
7はCPU201からリード線74を通して入力される
現像器駆動信号1) V f、によって前述の直流再生
信号と一定値との切換を行っている。したがって検出明
部電位に応じた現像バイアスが現像器25に印加される
のは現像器モータが回転し潜像の現像を行っているとき
だけとなる。多数枚コピーの場合は各コピーの光学系後
進(SCRV)中に毎回ストローブ信号STBがCPU
201より出力され、光学系後進中にブランク光を照射
し明部電位を測定、記憶し、同様に前記現像バイアス制
御回路207が制御される。つまり連続的に潜像を形成
する際に2つの連続する潜像の間の非画像部に所定の光
量を投影して静電像を形成し、該静電像の電位を測定す
ることにより該静電像に続く潜像を制御しているので前
述した如き連続画像形成による感光体の特性変化及び環
境変化による帯電器の出力の変化を現像器を制御するこ
とによる帯電器の出力の変化を現像器を制御することに
より補償することができ安定した画像形成を行うことが
でき、特に明部領域のカブリの防止効果が大きい。更に
潜像形成毎、毎回検知することにより、明部電位の変動
に対して忠実にフォローできるため有効である。
The AC signal detected by the electrometer 50 is amplified by the AC amplifier 204 through the lead 62, and further amplified by the rectifying and smoothing circuit 20.
5 to regenerate to DC. This DC reproduction voltage is input to the sample hold circuit 206, and the DC reproduction voltage when the STB signal is "H" output from the CPU 201 is input to the sample hold circuit 206.
6 is stored. When the pre-rotation is completed, the paper feed and exposure lamp 16 lights up, and the lamp 16 and mirror 15. The optical system consisting of 17 scans the document according to its size, and the developer motor rotates to perform development. Development bias control circuit 20
Reference numeral 7 switches between the above-mentioned DC reproduction signal and a constant value using a developing unit drive signal 1) Vf input from the CPU 201 through a lead wire 74. Therefore, a developing bias corresponding to the detected bright area potential is applied to the developing device 25 only when the developing device motor is rotating and developing the latent image. In the case of multiple copies, the strobe signal STB is sent to the CPU each time during the optical system backward movement (SCRV) of each copy.
The bright area potential is measured and stored by irradiating blank light while the optical system is moving backward, and the developing bias control circuit 207 is similarly controlled. In other words, when forming latent images continuously, an electrostatic image is formed by projecting a predetermined amount of light onto a non-image area between two consecutive latent images, and the potential of the electrostatic image is measured. Since the latent image following the electrostatic image is controlled, changes in the output of the charger due to changes in the characteristics of the photoreceptor due to continuous image formation and changes in the environment as described above can be avoided by controlling the developer. By controlling the developing device, it is possible to compensate and to form a stable image, which is particularly effective in preventing fog in bright areas. Furthermore, by detecting every time a latent image is formed, it is effective because fluctuations in bright area potential can be faithfully followed.

第10図は第6図のセンサーモータドライブ回路203
の詳細回路図であり、モータードライブ信号MDが“T
−I”になると、オープンコレクタのインベータ出力が
“L″になりコンデンサC1間の電圧はQ3゜Q6で構
成される定電圧回路のR7,R8で決定される電圧をモ
ーター巻線に供給する。第11図は、前記交流増幅器2
04、整流平滑回路205、サンプルホールド回路20
6の詳細回路図である。電位計50で検出された交流電
圧波形はJlからカップリングコンデンサC3に入力さ
れ増幅器Q6で交流増幅されて+12Vを中心とする増
幅された交流信号となる。VR6は検出利得調整用ボリ
ュウムである。
Figure 10 shows the sensor motor drive circuit 203 of Figure 6.
, the motor drive signal MD is “T”.
-I", the open collector inverter output becomes "L" and the voltage across capacitor C1 supplies the voltage determined by R7 and R8 of the constant voltage circuit consisting of Q3 and Q6 to the motor winding. 11 shows the AC amplifier 2
04, rectification smoothing circuit 205, sample hold circuit 20
6 is a detailed circuit diagram of FIG. The AC voltage waveform detected by the electrometer 50 is input from Jl to the coupling capacitor C3, and is AC amplified by the amplifier Q6 to become an amplified AC signal centered on +12V. VR6 is a detection gain adjustment volume.

整流回路205はオペアンプQ7、ダイオードD3゜D
4、抵抗R20からなり+12V中心で正成分のみリニ
アに増幅する直線検波回路を構成している。オペアンプ
Q7の反転入力端子の入力電圧が非反転入力端子の入力
電圧に対して正のときの点は負になりダイオードD4が
オフ、D3がオンになる。Q7の負入力端子はD3オン
により+12Vになるので、出力(B点)は++2Vに
なる。また反転入力端子の入力電圧が非反転入力端子の
入力端子に対して負のとき0点は正になりダイオードD
4がオンダイオ−ドD3がオフする為ゲインは −17
となりリニアに増幅検波される。このような直線検波回
路を使用している為、ドラムの表面電位に対する直流再
生電圧特性の直線性を改善しており、更に温度に対する
補償も十分となった。
The rectifier circuit 205 includes an operational amplifier Q7 and a diode D3°D.
4. Consisting of a resistor R20, it constitutes a linear detection circuit that linearly amplifies only the positive component around +12V. When the input voltage at the inverting input terminal of operational amplifier Q7 is positive with respect to the input voltage at the non-inverting input terminal, the point becomes negative, turning diode D4 off and diode D3 on. Since the negative input terminal of Q7 becomes +12V when D3 is turned on, the output (point B) becomes ++2V. Also, when the input voltage of the inverting input terminal is negative with respect to the input terminal of the non-inverting input terminal, the 0 point becomes positive and the diode D
4 is on and diode D3 is off, so the gain is -17
The signal is then linearly amplified and detected. Since such a linear detection circuit is used, the linearity of the DC reproduction voltage characteristic with respect to the surface potential of the drum has been improved, and compensation for temperature has also become sufficient.

検波された信号はオペアンプQ8からなるバッファ増幅
器を経て平滑コンデンサC6で平滑される。
The detected signal passes through a buffer amplifier consisting of an operational amplifier Q8 and is smoothed by a smoothing capacitor C6.

さらにQ9バッファ増幅器で増幅される。ここの信号は
、ボルテージホロワQ13を介して電位設定用のチェッ
ク端子J5として外部に出されている。J5の出力すな
わち積分出力とドラム表面の電位との関係は第12図(
A)に示すように、センサーバイアスVI31ASを中
心に対称な特性をもつ。加算増幅器QIOの反転入力端
子にJ2のセンサーバイアス補償信号COMPが現像バ
イアス制御回路207から71を介して入力されており
、センサーバイアスVBIASから抵抗で分割して電圧
を取り出し、実施例では+IV (+12V基準)であ
る。センサーバイアス補償信号VCOMPはオペアンプ
Q14で極性を反転して一1V (+12基準)でQI
Oの加算増幅器の1つの入力となる。そしてQIOの出
力は第12図(B)の特性を示す。したがってセンサー
バイアス補償信号VCOMPはセンサーバイアスVBI
ASをかけることでドラムの表面電位がOv時に直流再
生された検出出力がOv (+12V基準)になるよう
レベルシフトしてオフセットをな(す役割をしている。
It is further amplified by a Q9 buffer amplifier. The signal here is outputted to the outside as a check terminal J5 for potential setting via a voltage follower Q13. The relationship between the output of J5, that is, the integral output, and the potential on the drum surface is shown in Figure 12 (
As shown in A), it has symmetrical characteristics around the sensor bias VI31AS. The sensor bias compensation signal COMP of J2 is inputted to the inverting input terminal of the summing amplifier QIO via the developing bias control circuits 207 to 71, and the voltage is extracted from the sensor bias VBIAS by dividing it with a resistor. standards). The polarity of the sensor bias compensation signal VCOMP is inverted by operational amplifier Q14, and QI is set at -1V (+12 reference).
It becomes one input of the O summing amplifier. The output of QIO exhibits the characteristics shown in FIG. 12(B). Therefore, the sensor bias compensation signal VCOMP is equal to the sensor bias VBI.
By applying AS, when the surface potential of the drum is Ov, the DC reproduced detection output is level shifted and offset to Ov (+12V reference).

またさらにVBIASの変動で上述の直流再生された検
出出力の変動を相殺するように働く。
Furthermore, the variation in VBIAS acts to offset the variation in the above-mentioned DC regenerated detection output.

つまり電位計筐体に印加するバイアス電圧から抵抗分割
した電圧を直流再生された電位計の測定出力に加えるこ
とにより、前記バイアス電圧の変動分を相殺しているの
で安定した測定が可能となる。
In other words, by adding a voltage obtained by resistance-dividing the bias voltage applied to the electrometer casing to the measured output of the electrometer that has been regenerated with direct current, the fluctuations in the bias voltage are offset, making stable measurement possible.

この場合本実施例のかご型電位計に限らず被測定面の電
位を交流信号としてとりだし直流再生するノー2の電位
旧にはすべて適用可能である。
In this case, it is applicable not only to the squirrel-cage electrometer of this embodiment but also to all No. 2 potential models that extract the potential of the surface to be measured as an AC signal and reproduce it as a DC signal.

ところで加算増幅器QIOの出力は接合型FETQII
、増幅器Q12、もれ電流の少ないコンデンサC7、抵
抗R’44からなるサンプルホールド回路に入力される
。この時J3から入力されるストローブ信号口]が“H
”のときはトランジスタQ15はOFFとなり接合型F
ETQIlのゲート、ソース間は逆バイアスされFET
QllはOFFとなるので増幅器QIOの出力はコンデ
ンサC7に貯えられない。■1が“L”のときはトラン
ジスタQ15がONとなりFETQIIのゲート、ソー
ス間はOvとなりゲート、ソース間は順バイアスされQ
IOの出力はコンデンサC7に充電される。次にまた暮
1が“H”になるとFETQllはオフとなりコンデン
サC7の片方の端子はオーブン状態になるので充電され
た電荷は保持される。以上の動作でサンプルホールド回
路は蓬]がLのときのQIOの出力をサンプルし保持す
ることができる。さらにR41,R44によってゲイン
が1/2倍されるので第12図(C)の特性を示す。こ
の信号はJ4から第6図の72を介して現像バイアス制
御回路207へ送出される。第13図は第6図の現像バ
イアス制御回路207の詳細回路図である。ブロック6
−1.6−2はそれぞれ高圧発生回路である。ブロック
6−2について説明する。電源+24Vがインバータト
ランスT2に供給されると、トランジスタQ24または
Q25のどちらかがONt、だす。トランジスタQ24
がONL、だすとすると、Q24のコレクタ電流が増加
し、トランスT2にはコレクタ電流の増加分に応じた逆
起電力が発生し、Q25のベース(D にもっていく、
するとQ24はコレクタ電流がさらに増加する。この正
帰還によってQ24は抵抗R86,R88,トランジス
タT2のインダクタンスによって決まる時定数で飽和す
る。Q24のコレクタ電流が飽和するとコイルT2の逆
起電力は0となりQ24はoff L/、トランスT2
にはコレクタ電流の減少分に応じた逆起電力が発生し、
Q25をONする。同様な正帰還によってトランスQ2
4.Q25は発振を持続する。Dll、DI2はQ24
.Q25の保護用ダイオード抵抗R89はトランジスタ
Q24゜Q25.のhFEのバラツキによってコレクタ
電流がバラツ(のを防ぎ、発振のデユーティ−が1:l
でなくなるのを防止するための抵抗である。発振振幅は
T2に供給される電圧のほぼ2倍となる。この発振電圧
は1゛2の巻数比で決まる電圧に昇圧されDI4゜C1
5で整流、平滑され直流高圧が出力される。ブロック6
−1も同様の動作で高圧が出力されるが′「Iに供給す
る電圧がQ17の出力電圧に応じて変化する可変高圧出
力である。端子J7から入力される現像器駆動信号口1
を“H”または“L”に切換えてオペアンプQ17の入
力を前述のサンプルホールド電圧値にするか可変抵抗V
RIOで決まる電圧にするかを選択している。旧1が“
H”のときはトランジスタQ16. Q19がOFFと
なりFETQ18のゲートはR62を介してソース電位
と同じになりソース、ゲート間が順バイアスされるので
、FETQI8がONする。したがって演算増幅器Q1
7に入力される電圧は可変抵抗VRIOで決まる電圧が
入力される。]■が“L”のときは全(逆の動作で16
から入力されるサンプルホールド電圧がQ17の入力と
なる。Q10に入力された信号は可変抵抗VR8とVR
9で決まる反転入力電圧と比較され増幅されトランジス
タQ20.Q21で構成される。電流ブースターを経て
トランスTIの電源として供給される。
By the way, the output of the summing amplifier QIO is the junction type FET QII.
, an amplifier Q12, a capacitor C7 with low leakage current, and a resistor R'44. At this time, the strobe signal input from J3] is “H”.
”, transistor Q15 is OFF and junction type F
The gate and source of ETQIl are reverse biased and the FET
Since Qll is OFF, the output of amplifier QIO is not stored in capacitor C7. ■When 1 is “L”, transistor Q15 is turned on, and the gate and source of FET QII becomes Ov, and the gate and source are forward biased.
The output of IO is charged to capacitor C7. Next, when the voltage 1 becomes "H" again, the FET Qll is turned off and one terminal of the capacitor C7 becomes in an oven state, so that the charged electric charge is held. With the above operation, the sample-and-hold circuit can sample and hold the output of the QIO when the voltage is low. Further, since the gain is multiplied by 1/2 by R41 and R44, the characteristic shown in FIG. 12(C) is shown. This signal is sent from J4 to the developing bias control circuit 207 via 72 in FIG. FIG. 13 is a detailed circuit diagram of the developing bias control circuit 207 shown in FIG. block 6
-1, 6-2 are high voltage generation circuits, respectively. Block 6-2 will be explained. When +24V power is supplied to the inverter transformer T2, either transistor Q24 or Q25 turns ON. Transistor Q24
is ONL, the collector current of Q24 increases, and a back electromotive force corresponding to the increase in collector current is generated in the transformer T2, which is brought to the base of Q25 (D,
Then, the collector current of Q24 further increases. This positive feedback saturates Q24 with a time constant determined by resistors R86, R88 and the inductance of transistor T2. When the collector current of Q24 is saturated, the back electromotive force of coil T2 becomes 0, and Q24 is turned off L/, transformer T2
A back electromotive force is generated according to the decrease in collector current,
Turn on Q25. By similar positive feedback, transformer Q2
4. Q25 continues to oscillate. Dll, DI2 is Q24
.. The protective diode resistor R89 of Q25 is connected to the transistor Q24°Q25. This prevents the collector current from varying due to variations in hFE, and reduces the oscillation duty to 1:l.
This is a resistance to prevent the current from disappearing. The oscillation amplitude will be approximately twice the voltage supplied to T2. This oscillation voltage is boosted to a voltage determined by the turns ratio of 1゛2, and then DI4゜C1
5, it is rectified and smoothed and a DC high voltage is output. block 6
-1 also outputs high voltage in the same manner, but it is a variable high voltage output in which the voltage supplied to I changes according to the output voltage of Q17.Developer drive signal port 1 input from terminal J7
to "H" or "L" to set the input of operational amplifier Q17 to the above-mentioned sample-and-hold voltage value, or change the variable resistor V
The voltage determined by RIO is selected. Old 1 is “
When it is "H", transistors Q16 and Q19 are turned off, and the gate of FET Q18 becomes the same potential as the source via R62, and the source and gate are forward biased, so FET QI8 is turned on.Therefore, operational amplifier Q1
The voltage input to 7 is determined by the variable resistor VRIO. ] When ■ is “L”, all (16 by reverse operation)
The sample and hold voltage input from Q17 becomes the input of Q17. The signal input to Q10 is connected to variable resistor VR8 and VR
Q20.9 is compared with the inverted input voltage determined by Q20.9 and amplified. Consists of Q21. It is supplied as power to the transformer TI via a current booster.

トランスTIに加える電圧が上昇すると発振振幅が大き
くなり、トランスT2の2次側の負高圧はさらに負に大
きくなる。この電圧はブロック6−2の正の固定出力と
重ね合わされ現像バイアスDBIASとしてリレーに2
を介して現像器に加えられる。Q17の入力が端子J6
のサンプルホールド電圧の場合は、ドラム電位に対する
現像バイアスDBIASの特性は第12図りに示すよう
になる。ここで可変抵抗VR8は第12図りにおいてY
軸切片を決定し、抵抗VR9は傾きを決定する。したが
ってドラム明部電位が150V以下であれば現像バイア
ス電圧DBIASは明部電位+75Vとなる。
As the voltage applied to the transformer TI increases, the oscillation amplitude increases, and the negative high voltage on the secondary side of the transformer T2 becomes even more negative. This voltage is superimposed on the positive fixed output of block 6-2 and applied to the relay as developing bias DBIAS.
is added to the developing device via. Q17 input is terminal J6
In the case of the sample hold voltage, the characteristics of the developing bias DBIAS with respect to the drum potential are as shown in Figure 12. Here, the variable resistor VR8 is Y in the 12th diagram.
The axis intercept is determined and the resistor VR9 determines the slope. Therefore, if the drum bright area potential is 150V or less, the developing bias voltage DBIAS becomes the bright area potential +75V.

端子J8に入力される信号MODEは後述する電位設定
時には“H”となりQ17の入力としてはJ6からのサ
ンプルホールド電圧を選択し、さらにリレーKlをオー
プンにして、現像バイアス電圧DBIASが現像器にか
かるのを防“いでいる。端子J9のモータドライブ信号
MDはリレーに2をONL現像器25に現像バイアス電
圧DBIASをかける。センサーバイアス切換え信号S
 V CHは電位設定時には、“H”。
The signal MODE input to the terminal J8 becomes "H" when setting the potential described later, and the sample hold voltage from J6 is selected as the input to Q17. Furthermore, the relay Kl is opened, and the developing bias voltage DBIAS is applied to the developing device. The motor drive signal MD at terminal J9 applies 2 to the relay and the developing bias voltage DBIAS to the ONL developer 25.The sensor bias switching signal S
VCH is “H” when setting the potential.

“L″″″切換れ、センサーバイアス切換夏ASを抵抗
R76、R77間の電圧225vか、R77、R78間
の電圧150Vかを選択する。通常のコピ一時はS V
 CHは“H″でありVBTASには+150vが供給
される。センサー電源5VccはトランスT2の独立巻
線LlからD15.C10,R9,C17,C18によ
って整流平滑された電圧を電源として、センサーバイア
ス電圧VBIASに+24V上乗せしているのでVBT
ASを切換えても常に5Vccは+24Vになる。
"L""" is switched to select the sensor bias switching summer AS between the voltage 225V between resistors R76 and R77 or the voltage 150V between R77 and R78. For normal copying, use SV
CH is "H" and +150v is supplied to VBTAS. The sensor power supply 5Vcc is connected from the independent winding Ll of the transformer T2 to D15. The voltage rectified and smoothed by C10, R9, C17, and C18 is used as a power supply, and +24V is added to the sensor bias voltage VBIAS, so VBT
Even if AS is switched, 5Vcc always becomes +24V.

又、第15図のタイムチャートに示すように本実施例に
おいてはブランク露光ランプ10の光量を示す信号BE
XPを電位測定を行う時には、所定光量に調光し記録体
上に画像記録が終了した後には光量を前記所定光量以上
に切換えている。つまり表面電位を測定するときには表
面電位が光量に対して変化するダイナミックレンジ内の
光量にブランク露光ランプの光量を調光し、記録が終了
した後にはブランク露光ランプの光量を強露光して感光
層内に生起したキャリヤによる不均一電界を消去するこ
とが可能となった。
Further, as shown in the time chart of FIG. 15, in this embodiment, the signal BE indicating the light amount of the blank exposure lamp 10 is
When measuring the potential of XP, the light is adjusted to a predetermined amount of light, and after the recording of an image on the recording medium is completed, the light amount is switched to the predetermined amount or more. In other words, when measuring the surface potential, the light intensity of the blank exposure lamp is adjusted to a light intensity within the dynamic range in which the surface potential changes with respect to the light intensity, and after recording is completed, the light intensity of the blank exposure lamp is adjusted to a high intensity to expose the photosensitive layer. It has become possible to eliminate the non-uniform electric field caused by carriers generated within.

次にドラム電位設定としてのモードスイッチについて、
第6図及び表1に従い説明をする。
Next, regarding the mode switch as a drum potential setting.
The explanation will be given according to FIG. 6 and Table 1.

ドラム交換時や、機械組立時の画像調整の際ドラムに適
正な電位を設定するためには表1にあるように、暗部電
位VD、明部飽和電位VSL、標準白原稿の明部電位V
IMAGEなどがあり、現像バイアスを制御するとさら
にブランク弱による明部電位Vl、を、それぞれ適正に
設定しなければならない。
To set the appropriate potential for the drum when replacing the drum or adjusting the image when assembling the machine, as shown in Table 1, the dark area potential VD, bright area saturation potential VSL, and bright area potential V of a standard white original are set.
IMAGE, etc., and when the developing bias is controlled, the bright area potential Vl due to the weak blank must be set appropriately.

この際第6図のモードスイッチ202に示すように各設
定モードを選択できるスイッチをもうけることにより、
スイッチを押すだけで各設定電位をドラムに生じさせる
ような負荷の駆動条件を選択できる。モードスイッチs
wlはブランク露光ランプを消灯して原稿の暗部電位に
相当する暗部電位VDを目標電位+450vに設定する
為のものであり、表面電位計の出力をみっつ一次帯電器
のワイヤを調整して目標電位に設定する。
At this time, by providing a switch that can select each setting mode as shown in the mode switch 202 in FIG.
Just by pressing a switch, you can select the load driving conditions that will cause each set potential to occur on the drum. mode switch s
wl is for turning off the blank exposure lamp and setting the dark potential VD, which corresponds to the dark potential of the original, to the target potential +450V, and adjusting the output of the surface electrometer and the wires of the three primary chargers to set the target potential. Set to potential.

モードスイッチSW2はブランク露光ランプを強点灯し
て感光ドラムの明部側飽和電位VSLを目標電位−15
0Vに設定する為のものであり、表面電位計の出力を検
知しながらAC除電器の出力を調整して目標電位に設定
する。
The mode switch SW2 strongly lights up the blank exposure lamp to set the bright area side saturation potential VSL of the photosensitive drum to the target potential -15.
This is to set the potential to 0V, and adjust the output of the AC static eliminator while detecting the output of the surface electrometer to set the target potential.

モードスイッチSW3はブランク露光ランプを弱点灯し
て感光ドラムの明部に相当する明部電位VLを目標電位
−75Vに設定する為のものであり、表面電位計の出力
を検知しながらブランク露光ランプの光量調節の為の可
変抵抗VR3を調整して明部電位VLを目標電位に設定
する。
The mode switch SW3 is for lighting the blank exposure lamp weakly and setting the bright area potential VL corresponding to the bright area of the photosensitive drum to a target potential of -75V.The blank exposure lamp is turned on while detecting the output of the surface electrometer. The bright area potential VL is set to the target potential by adjusting the variable resistor VR3 for adjusting the amount of light.

モードスイッチSW4はSW3によって設定されたブラ
ンク調光による明部電位VLと原稿露光用ハロゲンラン
プの発光量調節ダイヤル5の位置で標準白原稿にハロゲ
ンランプの光を当てた時の反射光による明部電位VIM
AGEとが一致するように、ハロゲンランプの絞りを調
整する為のスイッチである。モードスイッチSW4を押
す前に標準白原稿をプラテン14上におき、かつ操作部
上の発光量調節ダイヤルを5の位置に設定し、次にモー
ドスイッチSW5を押して光学系前進クラッチを駆動さ
せ原稿露光ランプとミラーからなる光学系を原稿露光ラ
ンプの光が前記白原稿に照射される位置に停止させる。
The mode switch SW4 is controlled by the bright area potential VL due to the blank dimming set by SW3 and the bright area due to the reflected light when a standard white document is illuminated by the halogen lamp at the position of the light emission amount adjustment dial 5 of the halogen lamp for document exposure. Potential VIM
This switch is used to adjust the aperture of the halogen lamp so that the AGE matches the AGE. Before pressing the mode switch SW4, place a standard white original on the platen 14, set the light emission amount adjustment dial on the operation unit to position 5, and then press the mode switch SW5 to drive the optical system forward clutch and expose the original. An optical system consisting of a lamp and a mirror is stopped at a position where the white original is irradiated with light from the original exposure lamp.

その後モードスツチSW4を押して表面電位計出力を検
知しながらハロゲンランプの絞りを調fMiすることに
より前記VIMAGEと前記明部電位V Lとを一致さ
せる。このようにして現像バイアス制御測用のブランク
露光ランプの光量(ブランク弱)と発光型調節ダイヤル
か5の位置で標準白原稿に710ゲンランプの光を当て
た時の反射光量を一致させ、現像バイアス制御をより正
確なものとしている。さらに第6図のCPU201から
各モードに応じてセンサーバイアス電圧V B I A
、 Sを切換えて、表1に示す目標のドラム電位とセン
サーバイアス電圧V r31 A Sの差を一定値にす
ることにより調整者は異なった電位を設定するために、
種々の数値を記憶することなく、1つの数値に合わせる
ようにそれぞれの調整を行うことができる。モードスイ
ッチSWIを押すとあらかじめプログラムされた出力が
CPU201より出力されドライバDRを介してメイン
モータ駆動信号MD、高圧−成帯電器オン信号HVI、
高圧AC除電器オン信号HV2が出力される。さらに信
号MDはセンサーモータ駆動回路203および現像バイ
アス制御回路207へもそれぞれ76、 75を介して
供給されており、センサーモータは回転し、電位検出信
号は、交流増幅器204、直流再生回路205、サンプ
ルホールド回路206、現像バイアス制御回路207ま
での信号経路は閉じられる。このときストローブ信号S
TBも“H”になるのでSTBは“L″になりサンプル
ホールド回路206の中の第11図のアナログスイッチ
FETQIIはオンして、センサーバイアス切換信号5
vCHは“L″なのでSVCMは“L”となり第12図
のリレーに3の接点は+150V側に接続され現像バイ
アス電圧VBIASとしてセンサ筐体、チョッパ及び内
部回路に供給する。モードスイッチ202を押すとモー
ドスイッチが押されているかどうかの判断信号MODE
は“H”となり第13図のトランジスタQ19およびリ
レーKlはONし、オペアンプQ17の入力はJ6の信
号ガ選択され、現像器にいく現像バイアスDBIASは
しゃ断される。一方策6図においてドラム11は回転し
、−成帯電器22、AC除電器23、全面露光ランプ2
4はそれぞれONL、ておりその他の露光照射はされて
いないので、電位計50で測定しているドラムの表面電
位は原稿の暗部に相当する暗部電位VDである。
Thereafter, by pressing the mode switch SW4 and adjusting the aperture of the halogen lamp fMi while detecting the surface electrometer output, the VIMAGE and the bright area potential VL are made to match. In this way, the light intensity of the blank exposure lamp for developing bias control measurement (blank weak) is matched with the reflected light intensity when a standard white document is illuminated with light from a 710 gen lamp at position 5 of the light-emitting adjustment dial, and the developing bias is This makes control more accurate. Furthermore, the CPU 201 in FIG. 6 outputs the sensor bias voltage VBIA according to each mode.
, S to set the difference between the target drum potential shown in Table 1 and the sensor bias voltage V r31 A S to a constant value, the adjuster can set different potentials.
Each adjustment can be made to match a single value without having to memorize various values. When the mode switch SWI is pressed, pre-programmed outputs are output from the CPU 201 and sent via the driver DR to the main motor drive signal MD, high voltage charger on signal HVI,
A high voltage AC static eliminator on signal HV2 is output. Furthermore, the signal MD is also supplied to the sensor motor drive circuit 203 and the developing bias control circuit 207 via 76 and 75, respectively, so that the sensor motor rotates and the potential detection signal is sent to the AC amplifier 204, the DC regeneration circuit 205, the sample The signal path from the hold circuit 206 to the developing bias control circuit 207 is closed. At this time, the strobe signal S
Since TB also becomes "H", STB becomes "L", the analog switch FETQII in FIG. 11 in the sample hold circuit 206 turns on, and the sensor bias switching signal 5
Since vCH is "L", SVCM becomes "L", and contact 3 of the relay in FIG. 12 is connected to the +150V side, and is supplied to the sensor housing, chopper and internal circuit as developing bias voltage VBIAS. When the mode switch 202 is pressed, a judgment signal MODE indicating whether or not the mode switch is pressed
becomes "H", transistor Q19 and relay Kl in FIG. 13 are turned on, the input of operational amplifier Q17 is selected by the signal J6, and the developing bias DBIAS going to the developing unit is cut off. On the other hand, in FIG.
4 are ONL and other exposure irradiation is not performed, so the surface potential of the drum measured by the electrometer 50 is the dark area potential VD corresponding to the dark area of the document.

この時チェック用端子J5は第12図(A)の特性を示
すので、暗部電位の目標が450vのとき調整者は、−
次相電器ワイヤの調整VRIをして端子J5を2V (
12V基準)にすればよい。表1に示す電位設定モード
スイッチSW2〜3も同様にそれぞれのモードスイッチ
を押すとあらかじめプログラムされた負荷駆動条件によ
り、電位計50で検出するドラムの表面電位は明部飽和
電位VSL、ブランク調光による明部電位VL、標準白
原稿のハロゲンの反射光による電位VrMAGEとなり
、さらにモードスイッチSW3.4ではセンサーバイア
スVBIASを225■に切換えて、第12図(A)を
見ると明白であるが設定目標電位でモードスイッチSW
I、  3゜4は異なるにもかかわらず、チェック用端
子J5を2V (12V基準)になるよう、高圧AC出
力調整器VR2ブランク露光ランプの光量調整器VR3
、ハロゲンの絞さい絞り調整器VR4を調整すればよい
ことになる。このモードスイッチ202をもうけること
で、電位計50は単に現像バイアスを制御してカブリを
防止するだけの役割にとどまらず、内蔵された電位設定
用の電位計としての役割もになうことになる。さらに調
整者はそれぞれの設定電位の数値を記憶せず1つの数値
のみで調整できる利点がある。
At this time, the check terminal J5 exhibits the characteristics shown in FIG. 12(A), so when the target dark potential is 450V, the adjuster
Adjust VRI of the next phase electric wire and set terminal J5 to 2V (
12V standard). Similarly, when the potential setting mode switches SW2 to SW3 shown in Table 1 are pressed, the surface potential of the drum detected by the electrometer 50 changes to bright area saturation potential VSL and blank dimming according to the pre-programmed load drive conditions. The bright area potential VL is caused by the light reflected from the halogen of the standard white document, and the potential VrMAGE is caused by the reflected light from the halogen of the standard white original.Furthermore, the mode switch SW3.4 switches the sensor bias VBIAS to 225■, and as is clear from Fig. 12 (A), the setting Mode switch SW at target potential
Even though I, 3゜4 are different, check terminal J5 is set to 2V (12V standard) using high-voltage AC output regulator VR2 and blank exposure lamp light intensity regulator VR3.
, it is only necessary to adjust the halogen aperture adjuster VR4. By providing this mode switch 202, the electrometer 50 not only has the role of simply controlling the developing bias and preventing fog, but also serves as a built-in electrometer for setting the potential. . Furthermore, there is an advantage that the adjuster can adjust only one value without having to memorize the value of each set potential.

更に第14図に示した如き比較回路により表面電位検出
出力をレベル別に表示することが可能となる。
Further, by using a comparison circuit as shown in FIG. 14, it is possible to display the surface potential detection output by level.

コンパレータCOMI−COM5の非反転入力端子に表
面電位検出回路の直流再生電圧を入力し反転入力端子に
比較用電圧Vl−V5を入力する。比較用電圧vl〜v
5の大きさ1tVl>V2>V3>V4.>V5に設定
されている。発光ダイオードLED3のみ点灯する如く
調整器VRI〜VR4を調整する。このように同じ発光
ダイオードの点灯のみで異なる表面電位を調整すること
が可能となった。又、前記モードスイッチは画像形成の
為の複数の処理手段のうち一部を選択的に駆動させるこ
とが可能である。このような指令手段を設けることによ
り複写機等の画像形成装置の動作状態を調べる際装置全
体を駆動させることなく、装置の一部の動作状態を綿密
に調べることが可能となった。更に表面電位計によりド
ラム上の異なるモードの表面電位(明部電位、暗部電位
等)を測定する際、負荷を選択駆動できるため容易に希
望のモードの表面電位を測定でき有効である。
The DC reproduction voltage of the surface potential detection circuit is input to the non-inverting input terminal of the comparator COMI-COM5, and the comparison voltage Vl-V5 is input to the inverting input terminal. Comparison voltage vl~v
5 magnitude 1tVl>V2>V3>V4. >V5 is set. The regulators VRI to VR4 are adjusted so that only the light emitting diode LED3 lights up. In this way, it has become possible to adjust different surface potentials just by lighting the same light emitting diode. Further, the mode switch can selectively drive some of the plurality of processing means for image formation. By providing such a command means, when checking the operating state of an image forming apparatus such as a copying machine, it has become possible to closely examine the operating state of a part of the apparatus without driving the entire apparatus. Furthermore, when measuring the surface potential of different modes (bright area potential, dark area potential, etc.) on the drum using a surface electrometer, it is effective because the load can be selectively driven so that the surface potential of the desired mode can be easily measured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明を適用しうる複写装置の断面図、第2
図は表面電位計とドラムの取付位置を示す横断面図、第
3図は電位計の側断面図、第4図は表面電位検出回路図
、第5図はかご形チョッパの斜視図、第6図は第1図の
複写装置の制御回路図、第7−1図は電位計の出力波形
図、第7−2図はセンサバイアスVBIASをパラメー
タとしてドラム電位Vpとプリアンプからの出力62の
ピーク値の関係を示した図、第8図は感光板の感光特性
図、第9図は環境変化による感光板の特性変化を示す図
、第10図はセンサモータの回転制御回路図、第11図
は第6図の増幅回路204、整流平滑回路205、サン
プルホールド回路206の詳細回路図、第12図は表面
電位Vpと第11図の各部の出力との関係を示す図、第
13図は第6図の現像バイアス制御回路図207の詳細
回路図、第14図は比較表示回路図、第15図は第1図
の複写装置のタイミングチャートを示す図である。 図において10はブランク露光ランプ、11は感光ドラ
ム、16は原稿露光ランプ、22は一次帯電器、23は
除電器、24は全面露光ランプ、25は現像器、50は
表面電位計、52は電位計筐体、53はカゴ型チョッパ
、54は測定電極、Qlは接合型FET、VBIASは
電位計バイアス電圧、Vcompは補償電圧、SW1〜
SW6はモードスイッチを各々示す。
FIG. 1 is a sectional view of a copying apparatus to which the present invention can be applied;
The figure is a cross-sectional view showing the mounting position of the surface electrometer and the drum, Figure 3 is a side sectional view of the electrometer, Figure 4 is a surface potential detection circuit diagram, Figure 5 is a perspective view of the squirrel cage chopper, and Figure 6 is a cross-sectional view showing the mounting position of the surface electrometer and drum. The figure is a control circuit diagram of the copying machine shown in Figure 1, Figure 7-1 is an output waveform diagram of the electrometer, and Figure 7-2 is the drum potential Vp and the peak value of the output 62 from the preamplifier using the sensor bias VBIAS as a parameter. Figure 8 is a diagram showing the photosensitive characteristics of the photosensitive plate, Figure 9 is a diagram showing changes in the characteristics of the photosensitive plate due to environmental changes, Figure 10 is a rotation control circuit diagram of the sensor motor, and Figure 11 is a diagram showing the characteristics of the photosensitive plate. 6 is a detailed circuit diagram of the amplifier circuit 204, rectifier smoothing circuit 205, and sample hold circuit 206. FIG. 12 is a diagram showing the relationship between the surface potential Vp and the output of each part in FIG. 14 is a comparison display circuit diagram, and FIG. 15 is a timing chart of the copying apparatus of FIG. 1. In the figure, 10 is a blank exposure lamp, 11 is a photosensitive drum, 16 is an original exposure lamp, 22 is a primary charger, 23 is a static eliminator, 24 is a full exposure lamp, 25 is a developer, 50 is a surface electrometer, and 52 is an electric potential 53 is a cage type chopper, 54 is a measurement electrode, Ql is a junction type FET, VBIAS is an electrometer bias voltage, Vcomp is a compensation voltage, SW1~
SW6 indicates a mode switch.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 記録体上に画像を形成する画像形成手段と、第1モード
、第2モード信号を入力する指令手段と、前記指令手段
から出力される第1、第2モード信号に応じて前記画像
形成手段を動作制御する制御手段とを有し、 前記制御手段は前記第1モードと第2モードとで前記画
像形成手段のうちの1部を異なるレベルで動作させるこ
とを特徴とする画像形成装置。
[Scope of Claims] An image forming means for forming an image on a recording medium, a command means for inputting first mode and second mode signals, and a method according to the first and second mode signals output from the command means. and control means for controlling the operation of the image forming means, the control means operating a part of the image forming means at different levels in the first mode and the second mode. Image forming device.
JP60228359A 1985-10-14 1985-10-14 Image forming device Pending JPS61198174A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6336007B1 (en) 1999-02-03 2002-01-01 Fujitsu Limited Printer that facilitates detection of deteriorated component

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6336007B1 (en) 1999-02-03 2002-01-01 Fujitsu Limited Printer that facilitates detection of deteriorated component

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