JPS6119779U - 開発支援機用プロ−ブ - Google Patents

開発支援機用プロ−ブ

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Publication number
JPS6119779U
JPS6119779U JP10475584U JP10475584U JPS6119779U JP S6119779 U JPS6119779 U JP S6119779U JP 10475584 U JP10475584 U JP 10475584U JP 10475584 U JP10475584 U JP 10475584U JP S6119779 U JPS6119779 U JP S6119779U
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JP
Japan
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probe
square
development support
contact
support machine
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Pending
Application number
JP10475584U
Other languages
English (en)
Inventor
利明 松岡
Original Assignee
ビツトラン株式会社
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Filing date
Publication date
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Priority to JP10475584U priority Critical patent/JPS6119779U/ja
Publication of JPS6119779U publication Critical patent/JPS6119779U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例に係るプローブの斜視図、第
2図は基板14の斜視図、第3図ないし第6図は各々基
板とフレキシブル基板の接続とがいかになされているか
その構造を示すための説明図、第7図は第1図に示した
プローブの使用状態を示す説明図、第8図は開発支援装
置の概要を示す説明図、第9図はリードレスJEDEC
タイプのMPUの斜視図である。 14・・・プローブ用切欠片として基板、15・・・貫
通部、16・・・フレキシブル基板、17・・・端子。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 複数の引出し端子用接触点を有する角型のICソケット
    に着脱自在に係止されその当接面にて電気的接続を得る
    複数の接触点を備えたプローブ用接片を設け、. このプローブ用接片の中央部に角型の貫孔を形成すると
    ともに、この角型貫孔の各端縁に導かれた引出し用端子
    線に接続されるフレキシブル帯状ケーブルを、当該貫孔
    の各辺ごとに装備し、この複数の帯状ケーブルを前記角
    型貫孔部分から重ねるようにして槍き出すことを特徴と
    した開発支援機用プローブ。
JP10475584U 1984-07-11 1984-07-11 開発支援機用プロ−ブ Pending JPS6119779U (ja)

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JP10475584U JPS6119779U (ja) 1984-07-11 1984-07-11 開発支援機用プロ−ブ

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JP10475584U JPS6119779U (ja) 1984-07-11 1984-07-11 開発支援機用プロ−ブ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6119779U true JPS6119779U (ja) 1986-02-05

Family

ID=30664093

Family Applications (1)

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JP10475584U Pending JPS6119779U (ja) 1984-07-11 1984-07-11 開発支援機用プロ−ブ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003149293A (ja) * 2000-09-26 2003-05-21 Yukihiro Hirai スパイラルコンタクタ及びその製造方法、並びにそれを用いた半導体検査装置、及び電子部品

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003149293A (ja) * 2000-09-26 2003-05-21 Yukihiro Hirai スパイラルコンタクタ及びその製造方法、並びにそれを用いた半導体検査装置、及び電子部品

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