JPS61195343A - イオン電極の直接電位差法で用いる標準液 - Google Patents
イオン電極の直接電位差法で用いる標準液Info
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- JPS61195343A JPS61195343A JP60036899A JP3689985A JPS61195343A JP S61195343 A JPS61195343 A JP S61195343A JP 60036899 A JP60036899 A JP 60036899A JP 3689985 A JP3689985 A JP 3689985A JP S61195343 A JPS61195343 A JP S61195343A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
- G01N27/4165—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus for pH meters
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、イオン電極の直接電位差法で用いる標準液
に関する。
に関する。
従来の技術
イオン電極を用いて、たとえば血液中の電解質を測定す
る場合、検体の前処理の有無により希釈電位差法（ｉｎ
ｄｉｒｅｃｔ ｏｒ ｄｉｌｕｔｅｄ ｐｏｔｅｎｔｉ
ｏｓｅｔｒｙ）と直接電位差法（ｄｉｒｅｃｔ ｐｏｔ
ｅｎｔｉｏｍｅｔｒｙ）とに分けられる。前者は被測定
試料を予め特定の希釈液で希釈したものを検体とする方
法で、後者は被測定試料を希釈することなく直接に電極
で測定する方法である。血液を試料とする場合、希釈電
位差法では全血を用いると希釈により血球が破壊され、
細胞内成分が血漿と混じってしまうの！測定不可能上な
る。これに対して直接電位差法は全血でもそのまま使用
できる点で緊急検査などでは特に有利である。
る場合、検体の前処理の有無により希釈電位差法（ｉｎ
ｄｉｒｅｃｔ ｏｒ ｄｉｌｕｔｅｄ ｐｏｔｅｎｔｉ
ｏｓｅｔｒｙ）と直接電位差法（ｄｉｒｅｃｔ ｐｏｔ
ｅｎｔｉｏｍｅｔｒｙ）とに分けられる。前者は被測定
試料を予め特定の希釈液で希釈したものを検体とする方
法で、後者は被測定試料を希釈することなく直接に電極
で測定する方法である。血液を試料とする場合、希釈電
位差法では全血を用いると希釈により血球が破壊され、
細胞内成分が血漿と混じってしまうの！測定不可能上な
る。これに対して直接電位差法は全血でもそのまま使用
できる点で緊急検査などでは特に有利である。
たとえば、血液中のＮａ濃度を測定する場合、イオン電
極としてナトリウム電極が用いられる。
極としてナトリウム電極が用いられる。
そして装置を校正するために標準液が用いられ、この標
準液は、Ｎａイオン濃度測定の場合、一般に、一定量の
Ｎａイオンを含むＮａＣｌ水溶液が用いられる。たとえ
ば、Ｎａイオン濃度１４〇−／１の標準液にはＮａＮａ
Ｃ１１４Ｏ／Ｉを純水に溶解したものを用いる。
準液は、Ｎａイオン濃度測定の場合、一般に、一定量の
Ｎａイオンを含むＮａＣｌ水溶液が用いられる。たとえ
ば、Ｎａイオン濃度１４〇−／１の標準液にはＮａＮａ
Ｃ１１４Ｏ／Ｉを純水に溶解したものを用いる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、血液中の電解質を測定する方法としては
従来より炎光分析法が行なわれており、これによる測定
値と希釈電位差法による測定値とはよく相関するが、直
接電位差法による測定値は炎光分析法による測定値と解
離することが指摘されている。
従来より炎光分析法が行なわれており、これによる測定
値と希釈電位差法による測定値とはよく相関するが、直
接電位差法による測定値は炎光分析法による測定値と解
離することが指摘されている。
容積置換の測定値について述べれば、たとえば上記のよ
うな標準液で装置を校正し、約７％の不溶性成分を含む
検体を測定したとき、たとえば炎光分析法で１４０ｍＭ
／ｌであると、直接電位差法では７％高値の１５０ｍＭ
／１と測定される。
うな標準液で装置を校正し、約７％の不溶性成分を含む
検体を測定したとき、たとえば炎光分析法で１４０ｍＭ
／ｌであると、直接電位差法では７％高値の１５０ｍＭ
／１と測定される。
すなわち、正常な人の血液中には蛋白などの約７％容積
の不溶性成分が含まれているため、直接電位差法ではこ
の不溶性成分を除いた残りの９３％容積（９３％水分、
血漿水という）中の電解質が測定される。一方、炎光分
析法では、不溶性成分を含む一定量の検体を全て燃焼し
て測定するため、容積１００％中の値となる。ただし蛋
白などの不溶性成分中には電解質は存在しないものとし
ている。そこで、今、仮に容積１００％中の値となる炎
光分析法で１４０ｍＭ／Ｉという値の検体があるとする
と、直接電位差法では不溶性成分を除く９３％容積中の
値となるため、１４０１０．９３＝ １５０ｍＭ／ Ｉ
となる。つまり、７％高値となる訳である。
の不溶性成分が含まれているため、直接電位差法ではこ
の不溶性成分を除いた残りの９３％容積（９３％水分、
血漿水という）中の電解質が測定される。一方、炎光分
析法では、不溶性成分を含む一定量の検体を全て燃焼し
て測定するため、容積１００％中の値となる。ただし蛋
白などの不溶性成分中には電解質は存在しないものとし
ている。そこで、今、仮に容積１００％中の値となる炎
光分析法で１４０ｍＭ／Ｉという値の検体があるとする
と、直接電位差法では不溶性成分を除く９３％容積中の
値となるため、１４０１０．９３＝ １５０ｍＭ／ Ｉ
となる。つまり、７％高値となる訳である。
直接電位差法ではさらに蛋白の吸着や残余液間電位差に
よる低値への測定誤差があるため炎光分析法に比べ２〜
３％高目の値をとる。
よる低値への測定誤差があるため炎光分析法に比べ２〜
３％高目の値をとる。
蛋白による吸着の測定誤差とは、イオン電極特にＮａイ
オン測定に用いるガラス電極でガラス表面に蛋白の吸着
が生じ、電位差を生じることによる測定の誤差である。
オン測定に用いるガラス電極でガラス表面に蛋白の吸着
が生じ、電位差を生じることによる測定の誤差である。
また、残余液間電位差による測定誤差とは、イオン電極
を用いた直接電位差法における液間電位差が、装置の校
正に用いる標準液と実際の検体とで異なった電位をとる
ことによるもので、主として液性の相違に基づくもので
ある。
を用いた直接電位差法における液間電位差が、装置の校
正に用いる標準液と実際の検体とで異なった電位をとる
ことによるもので、主として液性の相違に基づくもので
ある。
この発明は、上記の容積置換による炎光分析法の測定値
との解離や蛋白の吸着や残余液間電位差の問題を解決す
ることのできる、イオン電極の直接電位差法で用いる標
準液を提供することを目的とする。
との解離や蛋白の吸着や残余液間電位差の問題を解決す
ることのできる、イオン電極の直接電位差法で用いる標
準液を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
この発明によるイオン電極の直接電位差法で用いる標準
液には、測定物質以外の物質であり且つイオン電極その
ものに干渉を与えるような物質で、しかも測定しようと
する検体に含まれていないような物質が加えられている
。
液には、測定物質以外の物質であり且つイオン電極その
ものに干渉を与えるような物質で、しかも測定しようと
する検体に含まれていないような物質が加えられている
。
作 用
この発明によれば、装置校正に用いる標準液中に、測定
物質以外の物質であり且つイオン電極そのものに干渉を
与えるような物質で、しかも測定しようとする検体に含
まれていないような物質が加えられており、このような
標準液を用いて装置の校正を行なってから検体の測定を
行なうと、その測定値が干渉物質による分だけ低い値に
なることを利用している。つまり、イオン電極を用いる
測定法では共存物質による電極に対する干渉を避けるた
め種々の工夫がなされているが、この発明では、この共
存物質の干渉を逆に積極的に利用しようとしているので
ある。
物質以外の物質であり且つイオン電極そのものに干渉を
与えるような物質で、しかも測定しようとする検体に含
まれていないような物質が加えられており、このような
標準液を用いて装置の校正を行なってから検体の測定を
行なうと、その測定値が干渉物質による分だけ低い値に
なることを利用している。つまり、イオン電極を用いる
測定法では共存物質による電極に対する干渉を避けるた
め種々の工夫がなされているが、この発明では、この共
存物質の干渉を逆に積極的に利用しようとしているので
ある。
実施例
一実施例として、ナトリウム電極を用いて、血液中のＮ
ａイオン濃度を測定する場合について説明する。この場
合、上で述べたように、装置校正用の標準液として、一
般に、一定量のＮａイオンを含むＮａＣ１水溶液が用い
られ、たとえば、Ｎａイオン濃度１４０ｍＭ／］の標準
液にはＮａＣ１１４０ｍＭ／ｌを純水に溶解したものが
用いられるが、この発明によれば、この標準液中に、測
定物質であるナトリウム以外の物質であり且つイオン電
極であるナトリウム電極そのものに干渉を与えるような
物質、たとえばＭｇイオンが加えられる。
ａイオン濃度を測定する場合について説明する。この場
合、上で述べたように、装置校正用の標準液として、一
般に、一定量のＮａイオンを含むＮａＣ１水溶液が用い
られ、たとえば、Ｎａイオン濃度１４０ｍＭ／］の標準
液にはＮａＣ１１４０ｍＭ／ｌを純水に溶解したものが
用いられるが、この発明によれば、この標準液中に、測
定物質であるナトリウム以外の物質であり且つイオン電
極であるナトリウム電極そのものに干渉を与えるような
物質、たとえばＭｇイオンが加えられる。
こうして作られた標準液中で、Ｎａイオンの濃度は１４
０＋ｓＭ／Ｉであるが、Ｍｇイオンがナトリウム電極に
干渉を与え、電位が高い値をとり、あたかも測定された
Ｎａイオン濃度が高いもゆであるかのような測定値が得
られる。このＭｇイオンの濃度（ｍＷ／ｌ）と、見かけ
上のＮａイオン濃度測定値（ｍＭ／ｌ）との関係を実測
してみると、図のようなデータが得られた。
０＋ｓＭ／Ｉであるが、Ｍｇイオンがナトリウム電極に
干渉を与え、電位が高い値をとり、あたかも測定された
Ｎａイオン濃度が高いもゆであるかのような測定値が得
られる。このＭｇイオンの濃度（ｍＷ／ｌ）と、見かけ
上のＮａイオン濃度測定値（ｍＭ／ｌ）との関係を実測
してみると、図のようなデータが得られた。
したがって、ＮａＣ１１４０ｍＭ／Ｉを純水に溶解した
ものにＭｇイオンを３０ｍＭ／Ｉ加えて標準液を作り、
この標準液を用いて見かけ上のＮａイオン濃度測定値を
得れば、その値は約１４３ｍＭ／Ｉとなる。
ものにＭｇイオンを３０ｍＭ／Ｉ加えて標準液を作り、
この標準液を用いて見かけ上のＮａイオン濃度測定値を
得れば、その値は約１４３ｍＭ／Ｉとなる。
そこで、この標準液を用いて装置の校正を行なうことと
し、このとき得られるＮａイオン濃度の測定値の読みが
１４０＋Ｍ／１となるよう校正する。
し、このとき得られるＮａイオン濃度の測定値の読みが
１４０＋Ｍ／１となるよう校正する。
このような校正作業が終了した後は、Ｍｇイオンが含ま
れていない検体に対して３■Ｍ／ｌだけ低い値のＮａイ
オン濃度測定値が得られる。すなわち、Ｍｇイオンが含
まれていない検体が通常では１５０ｍＭ／ＩのＮａイオ
ン濃度を示すものである場合。
れていない検体に対して３■Ｍ／ｌだけ低い値のＮａイ
オン濃度測定値が得られる。すなわち、Ｍｇイオンが含
まれていない検体が通常では１５０ｍＭ／ＩのＮａイオ
ン濃度を示すものである場合。
この標準液を用いて校正していればそれよりも３ｍＭ／
Ｉだけ低い１４７ｍＭ／ＩのＮａイオン濃度測定値が
得られることになる。
Ｉだけ低い１４７ｍＭ／ＩのＮａイオン濃度測定値が
得られることになる。
したがって、Ｍｇイオンの濃度を適宜調整することによ
り、炎光分析法による測定値との解離を解消できるばか
りでなく、蛋白の吸着や残余液間電位差による誤差も補
正できることになる。
り、炎光分析法による測定値との解離を解消できるばか
りでなく、蛋白の吸着や残余液間電位差による誤差も補
正できることになる。
次に、血液の１０個の検体について、従来の標準液を用
いて装置の校正を行なってＮａイオン濃度を測定したと
きの測定値と、上記のこの発明の標準液を用いて装置の
校正を行なってＮａイオン濃度を測定したときの測定値
と、炎光分析法による測定値とを求めてみた。その結果
次頁の表のような結果を得た。
いて装置の校正を行なってＮａイオン濃度を測定したと
きの測定値と、上記のこの発明の標準液を用いて装置の
校正を行なってＮａイオン濃度を測定したときの測定値
と、炎光分析法による測定値とを求めてみた。その結果
次頁の表のような結果を得た。
この表からも分るように、この発明にかかる標準液を用
いて装置の校正を行なえば、炎光分析法による測定値と
ほぼ一致した測定値を得ることができる。
いて装置の校正を行なえば、炎光分析法による測定値と
ほぼ一致した測定値を得ることができる。
表［各測定法による測定値の比較］
なお、上の説明ではＮａイオン濃度測定用の標準液につ
いて説明したが、これに限られる訳ではなく、たとえば
にイオン、Ｃａイオン、Ｃｌイオンなどのその他のイオ
ンの濃度を測定する場合でも同様にして測定物質以外の
物質であり且つイオン電極そのものに干渉を与えるよう
な物質で、しかも測定しようとする検体に含まれていな
いような物質を加えることによって、他の測定法、たと
えばＣａイオンは比色法、Ｃｌイオンは比色法または電
量滴定法による測定値と解離のない、しかも誤差の補償
された測定値を得ることができる。
いて説明したが、これに限られる訳ではなく、たとえば
にイオン、Ｃａイオン、Ｃｌイオンなどのその他のイオ
ンの濃度を測定する場合でも同様にして測定物質以外の
物質であり且つイオン電極そのものに干渉を与えるよう
な物質で、しかも測定しようとする検体に含まれていな
いような物質を加えることによって、他の測定法、たと
えばＣａイオンは比色法、Ｃｌイオンは比色法または電
量滴定法による測定値と解離のない、しかも誤差の補償
された測定値を得ることができる。
たとえば、ＣＩイオン電極を用いてＣｌイオン濃度測定
値を求める場合、その測定値を、電量法によって求めた
Ｃｌイオン濃度測定値に一致させるよう適用することが
できる。
値を求める場合、その測定値を、電量法によって求めた
Ｃｌイオン濃度測定値に一致させるよう適用することが
できる。
発明の効果
この発明のイオン電極の直接電位差法で用いる標準液を
用いて装置の校正を行なえば、炎光分析法などの測定値
と解離のない測定値を得ることができるばかりでなく、
蛋白の吸着や残余液間電位差の影響を補償することがで
きる。
用いて装置の校正を行なえば、炎光分析法などの測定値
と解離のない測定値を得ることができるばかりでなく、
蛋白の吸着や残余液間電位差の影響を補償することがで
きる。
図はこの発明にかかる標準液を用いてＮａイオン濃度測
定値を得た場合の、標準液中のＭｇイオン添加量とＮａ
イオン濃度測定値との関係を表わすグラフである。
定値を得た場合の、標準液中のＭｇイオン添加量とＮａ
イオン濃度測定値との関係を表わすグラフである。
Claims (1)
- （１）測定物質以外の物質であり且つイオン電極そのも
のに干渉を与えるような物質で、しかも測定しようとす
る検体に含まれていないような物質が加えられてなる、
イオン電極の直接電位差法で用いる標準液。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036899A JPS61195343A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | イオン電極の直接電位差法で用いる標準液 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036899A JPS61195343A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | イオン電極の直接電位差法で用いる標準液 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61195343A true JPS61195343A (ja) | 1986-08-29 |
Family
ID=12482621
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60036899A Pending JPS61195343A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | イオン電極の直接電位差法で用いる標準液 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61195343A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019163281A1 (ja) * | 2018-02-23 | 2019-08-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、自動分析方法 |
| JP2022027193A (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-10 | 株式会社常光 | イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器 |
-
1985
- 1985-02-25 JP JP60036899A patent/JPS61195343A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019163281A1 (ja) * | 2018-02-23 | 2019-08-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、自動分析方法 |
| JPWO2019163281A1 (ja) * | 2018-02-23 | 2021-02-18 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置、自動分析方法 |
| JP2022027193A (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-10 | 株式会社常光 | イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器 |
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