JPS6119260A - 伝送チヤネルの位相ジツタを測定する方法 - Google Patents
伝送チヤネルの位相ジツタを測定する方法Info
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- JPS6119260A JPS6119260A JP60079468A JP7946885A JPS6119260A JP S6119260 A JPS6119260 A JP S6119260A JP 60079468 A JP60079468 A JP 60079468A JP 7946885 A JP7946885 A JP 7946885A JP S6119260 A JPS6119260 A JP S6119260A
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 34
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 26
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 208000007848 Alcoholism Diseases 0.000 description 1
- 241000283986 Lepus Species 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 201000007930 alcohol dependence Diseases 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
- H04L1/205—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector jitter monitoring
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はデータ伝送システムに関し、さらに詳しくいえ
ば、伝送チャネルを介して伝送されるデータに影響を及
ぼす位相ジッタを測定する技術に関する。
ば、伝送チャネルを介して伝送されるデータに影響を及
ぼす位相ジッタを測定する技術に関する。
本発明の位相ジッタ測定方法はデータ伝送システムにお
いて、伝送チャネルの一端から正弦波試験信号を印加し
その伝送チャネルの他端で受信信号を解析することによ
り伝送チャネルの位相ジッタを正確に測定できるように
したものである。
いて、伝送チャネルの一端から正弦波試験信号を印加し
その伝送チャネルの他端で受信信号を解析することによ
り伝送チャネルの位相ジッタを正確に測定できるように
したものである。
データ伝送システムは、一般に、伝送チャネルを介して
相互接続されるトランスミッタおよびレンーバヲ有スる
。トランスミッタは関連するデータ端末装置(DTE)
から伝送すべきデータを受は取って、それを伝送に適し
/ヒパルス列に変換し、チャネルを介してそのパルス列
を伝送する。レシーバはチャネルから受信したパルス列
をデータに変換し、そのデータを関連するDTEに転送
する。
相互接続されるトランスミッタおよびレンーバヲ有スる
。トランスミッタは関連するデータ端末装置(DTE)
から伝送すべきデータを受は取って、それを伝送に適し
/ヒパルス列に変換し、チャネルを介してそのパルス列
を伝送する。レシーバはチャネルから受信したパルス列
をデータに変換し、そのデータを関連するDTEに転送
する。
主にコストの面から実用的には、伝送チャネルとして電
信電話会社の電話回線が一般に使用されている。しかし
ながら、音声帯域の回線は、高速でしかもエラー発生率
の低いことが要求されるようなパルス伝送には適さない
。したがって、送信装置および受信装置の設計、とシわ
け、使用すべきパルスの特性の選択および受信パルスか
ラデータを抽出するのに使用する技術は、パルス伝送に
影響を及ぼす伝送チャネルのパラメータに大きく左右さ
れる。
信電話会社の電話回線が一般に使用されている。しかし
ながら、音声帯域の回線は、高速でしかもエラー発生率
の低いことが要求されるようなパルス伝送には適さない
。したがって、送信装置および受信装置の設計、とシわ
け、使用すべきパルスの特性の選択および受信パルスか
ラデータを抽出するのに使用する技術は、パルス伝送に
影響を及ぼす伝送チャネルのパラメータに大きく左右さ
れる。
音声帯域のチャネルで伝送される信号に影響を与えるパ
ラメータには、たとえば、グループ遅延ひずみ、周波数
ノットおよび位相ジッタなどかある。このようなパラメ
ータは、たとえば、ベルンステムテクニカルリファレン
スのパ音声帯域データ伝送に関係する伝送パラメータ/
′パラメータに関する記述” (1974年7月、41
008)に記載されている。程度の違いはあるかこれら
のパラメータは信号の伝送に影響を与えるものである。
ラメータには、たとえば、グループ遅延ひずみ、周波数
ノットおよび位相ジッタなどかある。このようなパラメ
ータは、たとえば、ベルンステムテクニカルリファレン
スのパ音声帯域データ伝送に関係する伝送パラメータ/
′パラメータに関する記述” (1974年7月、41
008)に記載されている。程度の違いはあるかこれら
のパラメータは信号の伝送に影響を与えるものである。
普通、データのトランスミッタおよびし/−バは少なく
とも定義された範囲内ではそれらの影響を補償するよう
設計されている。
とも定義された範囲内ではそれらの影響を補償するよう
設計されている。
高速のデータ伝送システムでは、位相ジッタは重要なパ
ラメータであり、またこの影響は補償しなければならな
い。通常のデータ伝送中に位相ジッタを定常的に補償す
るために使用されている技術の1つに、フランス国特許
FR−A−2296。
ラメータであり、またこの影響は補償しなければならな
い。通常のデータ伝送中に位相ジッタを定常的に補償す
るために使用されている技術の1つに、フランス国特許
FR−A−2296。
322号がある。くれに示されるような技術は、位相ジ
ッタが既知の限界内で変化しているときだけ、代表的に
は、その振幅が15°ピーク・トウ・ピークを越えない
場合だけしか、その位相ジッタを補償しないという欠点
を持っている。位相ジッタがこの範囲を越える場合は、
大量のエラーが発生するので、システムを診断するため
データ伝送を中断しなければならない。
ッタが既知の限界内で変化しているときだけ、代表的に
は、その振幅が15°ピーク・トウ・ピークを越えない
場合だけしか、その位相ジッタを補償しないという欠点
を持っている。位相ジッタがこの範囲を越える場合は、
大量のエラーが発生するので、システムを診断するため
データ伝送を中断しなければならない。
集積回路およびマイクロプロセッサの最近の発達によっ
てモデム(トランスミッタおよびレシーバを含む)に診
断システムを組み込むことができるようになったので、
データ伝送システムのオペレーションを監視し誤動作を
診断することができる。こうした診断システムは、IB
Mジャーナルオプリサーチアンドデベロプメン)198
1年1月第25巻第1号のニス・フォノおよびアール・
スミスによる“マイクロプロセッサ式モデムにおけるネ
ットワーク問題の解決′″と題する論文に記載されてい
る。この論文に記載されたシステムでは、受信信号の良
否を判断するために受信信・号の測定が絶えず行われ、
その良否がホストシステムに報告される。ホストシステ
ムはデータ伝送システムの組み込まれたネットワークを
管理するものである。しかしながら、位相ジッタの大き
さに関しては何らの指標も示されないので、データ伝送
システムの誤動作を正しく診断できるようにするため、
位相ジッタを正確に測定することによって受信信号の良
否に関する情報を補充することが望まれてきた。
てモデム(トランスミッタおよびレシーバを含む)に診
断システムを組み込むことができるようになったので、
データ伝送システムのオペレーションを監視し誤動作を
診断することができる。こうした診断システムは、IB
Mジャーナルオプリサーチアンドデベロプメン)198
1年1月第25巻第1号のニス・フォノおよびアール・
スミスによる“マイクロプロセッサ式モデムにおけるネ
ットワーク問題の解決′″と題する論文に記載されてい
る。この論文に記載されたシステムでは、受信信号の良
否を判断するために受信信・号の測定が絶えず行われ、
その良否がホストシステムに報告される。ホストシステ
ムはデータ伝送システムの組み込まれたネットワークを
管理するものである。しかしながら、位相ジッタの大き
さに関しては何らの指標も示されないので、データ伝送
システムの誤動作を正しく診断できるようにするため、
位相ジッタを正確に測定することによって受信信号の良
否に関する情報を補充することが望まれてきた。
パ電話回線の位相ジッタの測定手段に関する必要条項″
と題するCCITTの勧告901で、特に・試験される
伝送チャネル上に試験信号を伝送し受信された試験信号
から位相ジッタの量を測定するような位相ジッタの測定
方法が提案されている。この位相ジッタの測定方法は、 (a) 試験信号の周波数の付近に受信信号を帯域制
限するステップと、 (b) 付帯的な振幅変調を除去するため信号を増幅
し制限するステップと、 (c)位相固定ループにより供給されるエラー信号のゼ
ロクロスを検出するステップと、 を有する。
と題するCCITTの勧告901で、特に・試験される
伝送チャネル上に試験信号を伝送し受信された試験信号
から位相ジッタの量を測定するような位相ジッタの測定
方法が提案されている。この位相ジッタの測定方法は、 (a) 試験信号の周波数の付近に受信信号を帯域制
限するステップと、 (b) 付帯的な振幅変調を除去するため信号を増幅
し制限するステップと、 (c)位相固定ループにより供給されるエラー信号のゼ
ロクロスを検出するステップと、 を有する。
この方法は、ディジタル技術を用いた場合には十分な正
確さが得られないという欠点を持っている(たとえば、
ラインタル手段では七ロクロスを正確に検出することは
困難である)。
確さが得られないという欠点を持っている(たとえば、
ラインタル手段では七ロクロスを正確に検出することは
困難である)。
これまでに説明したように従来の位相ジッタの測定技術
はディジタル環境には向かず特に測定の正確さという点
で問題があった。
はディジタル環境には向かず特に測定の正確さという点
で問題があった。
したがって本発明の目的は、ディジタル環境において位
相ジッタを正確に測定できしかもこれが容易に実現でき
るような位相ジッタ測定技術を提供することにある。
相ジッタを正確に測定できしかもこれが容易に実現でき
るような位相ジッタ測定技術を提供することにある。
この目的を達成するため本発明の位相ジッタ測定方法は
、下記の(イ)ないしくト)のステップを有することを
特徴としている。
、下記の(イ)ないしくト)のステップを有することを
特徴としている。
(イ)所与の周波数を有する正弦波試験信号を伝送チャ
ネルの一端から印加するステップ。
ネルの一端から印加するステップ。
(ロ)伝送チャネルの他端で受信される試験信号の位相
を判断するステップ。
を判断するステップ。
(ハ)伝送される試験信号の位相を表わす位相値を発生
するステップ。
するステップ。
に)受信された試験信号の位相値からステップ(ハ)で
発生された位相値を減じて第1の位相信号を発生するス
テップ。
発生された位相値を減じて第1の位相信号を発生するス
テップ。
(ホ)第1の位相信号を濾波して該第1の位相信号から
位相妨害成分および周波数ノット成分を除去した第2の
位相信号を発生するステップ。
位相妨害成分および周波数ノット成分を除去した第2の
位相信号を発生するステップ。
(へ)第2の位相信号をローパスフィルタに通して第3
の位相信号を発生するステップ。
の位相信号を発生するステップ。
(ト)第3の位相信号から推定される位相ジンクの値を
導出するだめに第3の位相信号を予測フィルタに通すス
テップ。
導出するだめに第3の位相信号を予測フィルタに通すス
テップ。
実施例によれば、ステップ(ロ)は、受信された試験信
号の同相成分および直角成分を判断し、それらの成分か
ら、受信された試、験信号の位相を導出灯 するステップを含む。
号の同相成分および直角成分を判断し、それらの成分か
ら、受信された試、験信号の位相を導出灯 するステップを含む。
第1図は本発明を利用する位相ジッタ測定システムの実
施例を示す図である。実施例は、基本的には、伝送チャ
ネルの一端から試験信号を印加しその他端で受信信号を
解析するというものである。
施例を示す図である。実施例は、基本的には、伝送チャ
ネルの一端から試験信号を印加しその他端で受信信号を
解析するというものである。
使用する試験信号は所与の周波数を有する正弦波である
。好適な周波数は、その認証が必要最小限であるような
チャネル周波数の帯域、すなわち、i oo口〜200
0 Hzである。この試験信号は、信号発生器12のよ
うな任意の適切な手段で発生させることができる。
。好適な周波数は、その認証が必要最小限であるような
チャネル周波数の帯域、すなわち、i oo口〜200
0 Hzである。この試験信号は、信号発生器12のよ
うな任意の適切な手段で発生させることができる。
伝送チャネル(または単にチャネルともいう)10から
の受信信号はアナログバンドパスフィルタ(以下BPF
という)14に供給される。BPF14は信号の通過域
を音声帯域に制限するものである。このようなフィルタ
は従来からよく知られたものであり、たとえば、音声帯
域モデムの入力側のところにこれが設けられる。BPF
14の出力は標本化装置16で標本化されアナログ−デ
ィジタルコンバータ(以下ADCという)18でディジ
タル形式に変換される。ADC18の出力はヒルベルト
変換器20に供給される。ヒルベルト変換器20は標本
化された信号の同相成分と直角成分を生成する。これら
2つの成分子dデシメーノヨン装置22および24によ
って周期的にそれぞれ標本化されて、位相計算装置26
に供給される。これについては後で説明する。
の受信信号はアナログバンドパスフィルタ(以下BPF
という)14に供給される。BPF14は信号の通過域
を音声帯域に制限するものである。このようなフィルタ
は従来からよく知られたものであり、たとえば、音声帯
域モデムの入力側のところにこれが設けられる。BPF
14の出力は標本化装置16で標本化されアナログ−デ
ィジタルコンバータ(以下ADCという)18でディジ
タル形式に変換される。ADC18の出力はヒルベルト
変換器20に供給される。ヒルベルト変換器20は標本
化された信号の同相成分と直角成分を生成する。これら
2つの成分子dデシメーノヨン装置22および24によ
って周期的にそれぞれ標本化されて、位相計算装置26
に供給される。これについては後で説明する。
位相計算装置2乙の出力はディジタル減算器28の(+
)入力に印加される。減算器28の(−)入力は遅延素
子30の出力に接続されている。遅延素子ろ0の入力は
ディジタル加算器62の出力に接続される。加算器32
は2つの入力を有し、その一方は遅延素子30の出力に
接続され、もう一方はレジスタ64の出力に接続される
。
)入力に印加される。減算器28の(−)入力は遅延素
子30の出力に接続されている。遅延素子ろ0の入力は
ディジタル加算器62の出力に接続される。加算器32
は2つの入力を有し、その一方は遅延素子30の出力に
接続され、もう一方はレジスタ64の出力に接続される
。
減算器28の出力はライン35を介して2次位相フイル
タろ6(後述する)に供給される。位相フィルタ36の
出力はライン67を介してラインタルローパスフィルタ
(以下LP Fトイウ) 38に供給される。LPF3
8は500 Hzのカソトオフ周波数を有する。LPF
38の出力はライン39を介してディジタル予測フイル
フ4o(を述する)に供給される。予測フィルタ40の
出力はライン41を介してピーク値検出器42に供給さ
れる。ピーク値検出器42は位相ジッタのピーク・トウ
・ピーク値を提供する。
タろ6(後述する)に供給される。位相フィルタ36の
出力はライン67を介してラインタルローパスフィルタ
(以下LP Fトイウ) 38に供給される。LPF3
8は500 Hzのカソトオフ周波数を有する。LPF
38の出力はライン39を介してディジタル予測フイル
フ4o(を述する)に供給される。予測フィルタ40の
出力はライン41を介してピーク値検出器42に供給さ
れる。ピーク値検出器42は位相ジッタのピーク・トウ
・ピーク値を提供する。
後で第2図ないし第4図を参照して説明する装置以外の
装置はよく知られたものであるのでこれ以上の説明は省
略する。
装置はよく知られたものであるのでこれ以上の説明は省
略する。
次に第1図に示す位相ジッタ測定システムの動作を説明
する。信号発生器12によって発生される試験信号s
(t)は、 5(t)=A cos 2πfot
(1)と表わすことができる。ここで、A およびf
。はそれぞれ試験信号の振幅および位相を表わす。
する。信号発生器12によって発生される試験信号s
(t)は、 5(t)=A cos 2πfot
(1)と表わすことができる。ここで、A およびf
。はそれぞれ試験信号の振幅および位相を表わす。
伝送チャネルによって介入する撹乱のため、受・信され
る試験信号r (t)は伝送される試験信号s (t)
とは異なる。非線形歪がなければ、受信される試験信号
r (tlは・ r(tl−A (1+m(tl) cos (2
πfO゛を十φ1+φ(tl) + n (t)
(2)と表わすことができる。
る試験信号r (t)は伝送される試験信号s (t)
とは異なる。非線形歪がなければ、受信される試験信号
r (tlは・ r(tl−A (1+m(tl) cos (2
πfO゛を十φ1+φ(tl) + n (t)
(2)と表わすことができる。
ここで、A&よびφ は周波数f。におけるぞのチャネ
ルに関する振幅および位相をそれぞれ表わし、m (t
)はチャネルによって介入する付帯的な振幅変調を表わ
し、φ(1)はチャネルによって介入する付帯的な位相
変調を表わし、n ft)は雑音を表わす。
ルに関する振幅および位相をそれぞれ表わし、m (t
)はチャネルによって介入する付帯的な振幅変調を表わ
し、φ(1)はチャネルによって介入する付帯的な位相
変調を表わし、n ft)は雑音を表わす。
付帯的な位相変調φ(1)は、
φ(t)=φ +2πΔft+ Σ Jk C03Ok
−1 (2πft+φk ) (3)と表
わすことができる。
−1 (2πft+φk ) (3)と表
わすことができる。
ここで、φ。はチャネルによって介入する位相妨害(p
hase 1ntercept)を表わす定数で
。
hase 1ntercept)を表わす定数で
。
あり、△fはチャネルによって介入する周波数シフトを
表わし、jf およびφえは位相ジッタに’
k の独立成分を表わす。
表わし、jf およびφえは位相ジッタに’
k の独立成分を表わす。
(2)式および(3)式はよく知られた式であり、たと
エバ、ヘルシステムテクニカルリファレンスの前掲の論
文に(42)式および(43)式として定義されている
。
エバ、ヘルシステムテクニカルリファレンスの前掲の論
文に(42)式および(43)式として定義されている
。
本実施例で問題とするのは、(3)式の最後の項す女わ
ち、 Σ Jk Co S (2πf kt+φにン
に=1 の測定である。
ち、 Σ Jk Co S (2πf kt+φにン
に=1 の測定である。
伝送チャネル10から受信される試験信号はBPFl
4を通ってその成分が音声帯域に制限される。受信され
る試験信号r(t)は、次に、標本化定理を満足するレ
ート(たとえば1/T=2400Hzで6/T)で標本
化される。標本化された信号はヒルベルト変換器20へ
供給され、よく知られたやり方で、その同相成分と直角
成分が生成される。これらの成分は位相計算装置26に
供給されて、受信信号の位相が導引き出される。受信信
号の位相を表わす信号の通過域は受信信号の通過域より
も狭いので、1秒あたり6/Tの位相信号標本は必要な
い。これが、ヒルベルト変換器20と位相計算装置26
との間にデイノメーンヨン装置22および24が挿入し
である理由である。デイシメーション装置22およヒ2
4はヒルヘル1・変換器20の供給する標本を6個につ
@1個しか使わないので、同相成分および直角成分は1
/Tのレートでそれぞれ供給される。同相成分および直
角成分をそれぞれXnおよびynと書く。n1l−1:
n−1,2,3、・・・・のように時間指数を表わす。
4を通ってその成分が音声帯域に制限される。受信され
る試験信号r(t)は、次に、標本化定理を満足するレ
ート(たとえば1/T=2400Hzで6/T)で標本
化される。標本化された信号はヒルベルト変換器20へ
供給され、よく知られたやり方で、その同相成分と直角
成分が生成される。これらの成分は位相計算装置26に
供給されて、受信信号の位相が導引き出される。受信信
号の位相を表わす信号の通過域は受信信号の通過域より
も狭いので、1秒あたり6/Tの位相信号標本は必要な
い。これが、ヒルベルト変換器20と位相計算装置26
との間にデイノメーンヨン装置22および24が挿入し
である理由である。デイシメーション装置22およヒ2
4はヒルヘル1・変換器20の供給する標本を6個につ
@1個しか使わないので、同相成分および直角成分は1
/Tのレートでそれぞれ供給される。同相成分および直
角成分をそれぞれXnおよびynと書く。n1l−1:
n−1,2,3、・・・・のように時間指数を表わす。
位相計算装置26は受信信号の位相の標本を供給する(
後述)。
後述)。
時間t = nTで、位相計算装置26の供給する位相
の値は、 φ(nT)=φ +2 π′f o n Tキ2.af
nT十Σ jcos(2πf nT→−φk)k=1
k k +Δφ(nT) (4)とな
る。△φ(nT )は雑音n (t)の影響を表わす項
である。
の値は、 φ(nT)=φ +2 π′f o n Tキ2.af
nT十Σ jcos(2πf nT→−φk)k=1
k k +Δφ(nT) (4)とな
る。△φ(nT )は雑音n (t)の影響を表わす項
である。
伝送信号の位相を表わす(4)式において、2πf o
n Tの項は遅延素子60、加算器32およびレジス
タ34で構成される部分によって発生するもので、これ
は減算器28により位相の値φ(nT)から減算される
。遅延素子50の遅延はT秒である。位相差2πf o
Tは定数で、その値(ディジタル形式に変換されてい
る)はレジスタ34に記憶されており、加算器によって
T秒ごとに遅延素子30の内容と加算される。しだがっ
て位相の値φ’(nT)は減算器28の出力から得られ
る。すなわち、7■n T ) −4′o + 2“、
afnT+1゜ff1jkcos(2πf nT+φk
)+△φ(nT) (5)である。
n Tの項は遅延素子60、加算器32およびレジス
タ34で構成される部分によって発生するもので、これ
は減算器28により位相の値φ(nT)から減算される
。遅延素子50の遅延はT秒である。位相差2πf o
Tは定数で、その値(ディジタル形式に変換されてい
る)はレジスタ34に記憶されており、加算器によって
T秒ごとに遅延素子30の内容と加算される。しだがっ
て位相の値φ’(nT)は減算器28の出力から得られ
る。すなわち、7■n T ) −4′o + 2“、
afnT+1゜ff1jkcos(2πf nT+φk
)+△φ(nT) (5)である。
位相の値φ’(nT)は位相フ・イルタ3乙に供給され
る。位相フィルタろ6は、φ。(位相妨害)および2π
へfnT(周波数シフト)を、φ’(nT)から除去す
る。収束すると、位相フィルタ66の出力に位相の値θ
(nT)、 θ(nT)−’X j cos (2πf
nT+φにンに−1k k +△θ(nT) (6)が得
られる。△θ(nT)は残留雑音である。
る。位相フィルタろ6は、φ。(位相妨害)および2π
へfnT(周波数シフト)を、φ’(nT)から除去す
る。収束すると、位相フィルタ66の出力に位相の値θ
(nT)、 θ(nT)−’X j cos (2πf
nT+φにンに−1k k +△θ(nT) (6)が得
られる。△θ(nT)は残留雑音である。
位相ジッタの成分は20I(zないし300Hzの帯域
に集中するので、LPF38はその成分をろO口Hz未
満に制限するように設けである。実施例では、LPFろ
8は15タツプのテイジタル式対称トランスバーサルフ
ィルタである。LPFろ8の出力は対象とする位相ジッ
タ成分だけでなく残留雑音をも含む。場合によっては、
LPFろ8の測定出力が位相ジッタの良好な標識を提供
するに十分であることもあるが、伝送チャネルが非常に
高速のモデム(1200Dbps以上戸によって使用さ
れるときは、位相ジッタはかな9悪くなるのでもつと正
確に測定しなければならない。
に集中するので、LPF38はその成分をろO口Hz未
満に制限するように設けである。実施例では、LPFろ
8は15タツプのテイジタル式対称トランスバーサルフ
ィルタである。LPFろ8の出力は対象とする位相ジッ
タ成分だけでなく残留雑音をも含む。場合によっては、
LPFろ8の測定出力が位相ジッタの良好な標識を提供
するに十分であることもあるが、伝送チャネルが非常に
高速のモデム(1200Dbps以上戸によって使用さ
れるときは、位相ジッタはかな9悪くなるのでもつと正
確に測定しなければならない。
したがって、LPF38の出力信号から残留雑音を除去
するために予測フィルタ40を設ける。予測フィルタ4
0は位相ジッタを正確に表わす位相の値を提供する。位
相ジッタのピーク・トウ・ピ一りの振幅はピーク値検出
器42によって測定される。ピーク値検出器42は試験
期間中に予測フィルタ40の供給する連続した標本を互
いに比較し゛ 試験が完了したときに、標本間の最大の
振幅変動を示すものである。
するために予測フィルタ40を設ける。予測フィルタ4
0は位相ジッタを正確に表わす位相の値を提供する。位
相ジッタのピーク・トウ・ピ一りの振幅はピーク値検出
器42によって測定される。ピーク値検出器42は試験
期間中に予測フィルタ40の供給する連続した標本を互
いに比較し゛ 試験が完了したときに、標本間の最大の
振幅変動を示すものである。
次に第2図を参照しながら位相計算装置26を説明する
。第2図は位相計算装置26の使用する方法を示す図で
ある。この方法では、同相成分Xnおよび直角成分y
で定められる信号の位相φ(nT)は、座標(X 、y
)のベクトルをπ7/4の丑わりで連続的に回転させ
ることによって決定される。
。第2図は位相計算装置26の使用する方法を示す図で
ある。この方法では、同相成分Xnおよび直角成分y
で定められる信号の位相φ(nT)は、座標(X 、y
)のベクトルをπ7/4の丑わりで連続的に回転させ
ることによって決定される。
(X 、y )のような1組の成分が位相計算装置26
に供給されると、X の符号が検査される(ステップ1
00)。
に供給されると、X の符号が検査される(ステップ1
00)。
X が正のときy の符号が検査される(ステップ10
2)。そこでy が正なら変数φがゼロに強制され、2
つの中間的な変数X1およびylはそれぞれ値X およ
びyを呈する。ステップ102でy が負ならφが6π
/2に強制され、変数x lおよびylはそれぞれ値X
および−y を呈する。
2)。そこでy が正なら変数φがゼロに強制され、2
つの中間的な変数X1およびylはそれぞれ値X およ
びyを呈する。ステップ102でy が負ならφが6π
/2に強制され、変数x lおよびylはそれぞれ値X
および−y を呈する。
ステップ100でX が負ならy の符号が検査される
(ステップ104)。そこでy が正ならφはろπ/2
に強制され、変数X′およびylはそれぞれ値y およ
び−X を呈する。ステップ1O4でy が負ならφは
πに強制され、変数X′およびylはそれぞれ値−Xお
よび−yを呈する。
(ステップ104)。そこでy が正ならφはろπ/2
に強制され、変数X′およびylはそれぞれ値y およ
び−X を呈する。ステップ1O4でy が負ならφは
πに強制され、変数X′およびylはそれぞれ値−Xお
よび−yを呈する。
変数X“およびylが以上のようにして初期設定される
と、カウント変数■が2に強制されXlおよびylが比
較される。ステップ106でylがx 1以上のと・き
は、変数φは前の段階で定められた値とπ/21 との
す目を呈する。成分X′およびylのベクトルは一π/
21+1に等しい角度だけ回転して、下記のよりなX“
およびy lの新しい値を生成する。
と、カウント変数■が2に強制されXlおよびylが比
較される。ステップ106でylがx 1以上のと・き
は、変数φは前の段階で定められた値とπ/21 との
す目を呈する。成分X′およびylのベクトルは一π/
21+1に等しい角度だけ回転して、下記のよりなX“
およびy lの新しい値を生成する。
新Xj・−旧x’ cos yr/2■″−1+旧y1
sin 、/2工+i I+1 新y l−旧y’ cosπ/2 −旧X′sin
re/2■+1 y′がX1未満のときは、成分X°およびy lの■+
1゛ ヘクトルばπ/2 だけ回転し、下記のようなXl
およびy′の新しい値を生成する。
sin 、/2工+i I+1 新y l−旧y’ cosπ/2 −旧X′sin
re/2■+1 y′がX1未満のときは、成分X°およびy lの■+
1゛ ヘクトルばπ/2 だけ回転し、下記のようなXl
およびy′の新しい値を生成する。
I+1
新X+−旧x’ cos π/2 −旧y 1sin
yr/2■+1 1+1 新y“−旧y’ cosπ/2 −旧X“sin 、
/2工+1 以上のような回転により x lおよびy)の新しい値
が得られると、カウント変数Iは一単位だけ増分される
(ステップ108)。ステップ110で■の値が検査さ
れ、それが成るしきい値(この例では10)より小さい
ときは、x lおよびy′が比較され、■、X’、およ
びylの新しい値でオペレーションが続行される。ステ
ップ110で■が所定のし7きい値に達し、たときは、
オペレーションは完了する。このときの最新のφの値が
、求めていた位相の値である。第2図に示した方法を使
用する位相計算装置26はいろいろなやり方で適切に実
現できることに留意されたい。
yr/2■+1 1+1 新y“−旧y’ cosπ/2 −旧X“sin 、
/2工+1 以上のような回転により x lおよびy)の新しい値
が得られると、カウント変数Iは一単位だけ増分される
(ステップ108)。ステップ110で■の値が検査さ
れ、それが成るしきい値(この例では10)より小さい
ときは、x lおよびy′が比較され、■、X’、およ
びylの新しい値でオペレーションが続行される。ステ
ップ110で■が所定のし7きい値に達し、たときは、
オペレーションは完了する。このときの最新のφの値が
、求めていた位相の値である。第2図に示した方法を使
用する位相計算装置26はいろいろなやり方で適切に実
現できることに留意されたい。
次に第3図を参照しながら位相フィルタ36を説明する
。位相の値φはnT)はライン35を介して2進減算器
50の(+)入力に印加される。減算器50の出力は位
相フィルタろ6の出力ライン67と、乗算器52の入力
とに接続される。乗算器52のもう一方の入力はディジ
タル形式に変換された係数A(後出)の値を受は取る。
。位相の値φはnT)はライン35を介して2進減算器
50の(+)入力に印加される。減算器50の出力は位
相フィルタろ6の出力ライン67と、乗算器52の入力
とに接続される。乗算器52のもう一方の入力はディジ
タル形式に変換された係数A(後出)の値を受は取る。
乗算器52の出力は加算器54の入力に印加される。加
算器54の出力はT秒の遅延を挿入する遅延素子56に
供給される。遅延素子56の出力は加算器54のもう一
方の入力と、乗算器58の入力とに接続される。乗算器
58のもう一方の入力はディジタル形式に変換された係
数Aの値を受は取る。乗算器58の出力は3人力加算器
60の1つの入力に供給される。6人力加算器60の出
力は、T秒の遅延を挿入する遅延素子62に供給される
。遅延素子62の出力は減算器50の(=)入力と、加
算器60の他の入力とに接続される。減算器50の出力
はさらに乗算器640入力にも印加される。乗算器64
のもう一方の入力はディジタル形式に変換された係数B
(後出)の値を受は取る。乗算器64の出力は加算器6
0の第3人力に接続される。
算器54の出力はT秒の遅延を挿入する遅延素子56に
供給される。遅延素子56の出力は加算器54のもう一
方の入力と、乗算器58の入力とに接続される。乗算器
58のもう一方の入力はディジタル形式に変換された係
数Aの値を受は取る。乗算器58の出力は3人力加算器
60の1つの入力に供給される。6人力加算器60の出
力は、T秒の遅延を挿入する遅延素子62に供給される
。遅延素子62の出力は減算器50の(=)入力と、加
算器60の他の入力とに接続される。減算器50の出力
はさらに乗算器640入力にも印加される。乗算器64
のもう一方の入力はディジタル形式に変換された係数B
(後出)の値を受は取る。乗算器64の出力は加算器6
0の第3人力に接続される。
位相フィルタ66は下記のように定義された伝達関数を
持った2次回帰フィルタで゛ある。
持った2次回帰フィルタで゛ある。
Z−1はT秒の遅延に対応するものである。
このフィルタの係数は、
一位相ジツタ成分を通し;
一位相妨害成分および周波数シフト成分を抑止し;−そ
の収束速度が過度に遅くならない;というような特徴を
有するものである。
の収束速度が過度に遅くならない;というような特徴を
有するものである。
これら3つの特徴から、従来の方法を用いて、係数の値
を導引き出すことができる。ここで使用する従来の方法
というのは、たとえば、アイ・イー・イー・イー・トラ
ンザクショメズ・オン・アコースティックス、スピーチ
シグナル・プロセシング(I EEE Trans
actions onAcoustics、5pee
ch、Signal Processing)第1巻
ASSP−22第99頁ないし111頁1974年4月
の″イクイリップル・アンド・ミニマ・アブロキシメー
ンヨン・フォー・リカーノブ・ディジタル・フィルタ(
Equiripple andMinima App
roximation forRecursive
Digital Filt++、−s )”と題、
する論文、および同第1巻ASSI”30第206頁な
いし211頁1982年4月の“′ア・ブザ・イン・ア
ルコリズム・フォー・コンストレインド・イクイ°11
ツブル・ディジタル・フィルタ(ADesign A
lgorithm for Con5traine
dEquiripple Digit、al Filt
ers ) l+と題する論文に記載されるようなもの
である。第3図の例では下記の値を使用した; A=0.09961 B = 0.049805 T=172400 次に第4図を参照しながら予測フィルタ40を説明する
。ここで、LPF38からの出力信号をl F(n’
l’)とする。周波数fkは300Hz未満であるから
、(6)式より、LPF38の出力信号は、す’(nT
)= Σ j cos (2yrfknT+φk)
k=1 k +ΔF(nT) (8)と■
ける。(6)式における残留雑音△θ(nT)の濾波さ
れたものがΔF (nT )である。
を導引き出すことができる。ここで使用する従来の方法
というのは、たとえば、アイ・イー・イー・イー・トラ
ンザクショメズ・オン・アコースティックス、スピーチ
シグナル・プロセシング(I EEE Trans
actions onAcoustics、5pee
ch、Signal Processing)第1巻
ASSP−22第99頁ないし111頁1974年4月
の″イクイリップル・アンド・ミニマ・アブロキシメー
ンヨン・フォー・リカーノブ・ディジタル・フィルタ(
Equiripple andMinima App
roximation forRecursive
Digital Filt++、−s )”と題、
する論文、および同第1巻ASSI”30第206頁な
いし211頁1982年4月の“′ア・ブザ・イン・ア
ルコリズム・フォー・コンストレインド・イクイ°11
ツブル・ディジタル・フィルタ(ADesign A
lgorithm for Con5traine
dEquiripple Digit、al Filt
ers ) l+と題する論文に記載されるようなもの
である。第3図の例では下記の値を使用した; A=0.09961 B = 0.049805 T=172400 次に第4図を参照しながら予測フィルタ40を説明する
。ここで、LPF38からの出力信号をl F(n’
l’)とする。周波数fkは300Hz未満であるから
、(6)式より、LPF38の出力信号は、す’(nT
)= Σ j cos (2yrfknT+φk)
k=1 k +ΔF(nT) (8)と■
ける。(6)式における残留雑音△θ(nT)の濾波さ
れたものがΔF (nT )である。
(8)式で定められた信号はろ00 H’zに帯域制限
されているので、この信号は1/Tよりも低いレート(
たとえば1/τ−1/4T)で認識することができる。
されているので、この信号は1/Tよりも低いレート(
たとえば1/τ−1/4T)で認識することができる。
縦続された位相フィルタ66およびLPF38の伝達関
数は、DC成分のところを除いて、[]Hzから300
Hzにわたって平たんであることに留意されたい。連続
する雑音の標本間の相関は、しだがって、非常に小さい
。これに対し、位相ジッタ成分は相関が太きい。LPF
38の出力信号の先行する標本からF(nT)の推定値
?(nT)を導引き出すことによ4つて、雑音の影響を
平滑化することができる。
数は、DC成分のところを除いて、[]Hzから300
Hzにわたって平たんであることに留意されたい。連続
する雑音の標本間の相関は、しだがって、非常に小さい
。これに対し、位相ジッタ成分は相関が太きい。LPF
38の出力信号の先行する標本からF(nT)の推定値
?(nT)を導引き出すことによ4つて、雑音の影響を
平滑化することができる。
F(nT)の推定値F(nT)は、
と書ける。ここで、Cはτ秒間隔のタップを持つたトラ
ンスバーサルフィルタの複数の実数値係数を表わすもの
で、その中心の係数はゼロに設定されている。これらの
係数の値は、平均2乗誤差Ee2(ただしEは数学的な
期待値または平均値である)を最小にするよう適応的に
調整される。
ンスバーサルフィルタの複数の実数値係数を表わすもの
で、その中心の係数はゼロに設定されている。これらの
係数の値は、平均2乗誤差Ee2(ただしEは数学的な
期待値または平均値である)を最小にするよう適応的に
調整される。
誤差e は、
e =V/(nr)−F(nr) (
10)と定義される。係数Cの値は下記のような確率論
的手法を用いた逐次反復法で調整される;CP(n+1
)=CP(nl+1e F[(n−P)r]、Plo
ここで、ρは反復のステップを表わすもので、その値に
ついては後で説明する。第4図に示す予測フィルタ40
は上記の関係を用いる従来のライ−1ナーフイルタであ
る。LPF38の出力はライン39を介してデシメーシ
ョン装置70に供給される。デシメーション装置70は
LPF38の供給する標本を4個につき1個ずつ通す。
10)と定義される。係数Cの値は下記のような確率論
的手法を用いた逐次反復法で調整される;CP(n+1
)=CP(nl+1e F[(n−P)r]、Plo
ここで、ρは反復のステップを表わすもので、その値に
ついては後で説明する。第4図に示す予測フィルタ40
は上記の関係を用いる従来のライ−1ナーフイルタであ
る。LPF38の出力はライン39を介してデシメーシ
ョン装置70に供給される。デシメーション装置70は
LPF38の供給する標本を4個につき1個ずつ通す。
デシメーション装置70の出力は、r秒間隔の(2M+
1)個のタップを含むディジタル遅延線72に供給され
る。中央タップ以外の全てのタッグの出力は2M個の乗
算器74−1ないし74−2 ’Mの入力にそれぞれ供
給される。各乗算器のもう一方の入力は2M個の係数c
、、 −1”’、cl、・・・・、OMをそれぞ
れ受は取る。乗算器74−1ないし74−2Mの出力は
総和装置76の各入力に供給される。総オロ装置76の
出力は減算器78の(−)入力にも印加される。減算器
78の(+)入力および出力は遅延線72の中央タップ
および係数調整装置80にそれぞれ接続される。係数調
整装置80は乗算器74−1ないし74−2Mに印加さ
れる係数の呟を供給する。
1)個のタップを含むディジタル遅延線72に供給され
る。中央タップ以外の全てのタッグの出力は2M個の乗
算器74−1ないし74−2 ’Mの入力にそれぞれ供
給される。各乗算器のもう一方の入力は2M個の係数c
、、 −1”’、cl、・・・・、OMをそれぞ
れ受は取る。乗算器74−1ないし74−2Mの出力は
総和装置76の各入力に供給される。総オロ装置76の
出力は減算器78の(−)入力にも印加される。減算器
78の(+)入力および出力は遅延線72の中央タップ
および係数調整装置80にそれぞれ接続される。係数調
整装置80は乗算器74−1ないし74−2Mに印加さ
れる係数の呟を供給する。
係数の初期値はゼロである。係数F(nT)が中央タッ
プに到達した時点でその標本、 FC(n−M)τ〕、・・・・γ[(n−1)τ〕、’
[(n+1ンτ〕、・=−F((n+M)r)が第4図
に示すように遅延線72の他のタップにそれぞれ配給さ
れている。係数は値C(nlを呈する。
プに到達した時点でその標本、 FC(n−M)τ〕、・・・・γ[(n−1)τ〕、’
[(n+1ンτ〕、・=−F((n+M)r)が第4図
に示すように遅延線72の他のタップにそれぞれ配給さ
れている。係数は値C(nlを呈する。
(9)式に従って決定される推定値F(nT)は総和装
置76の出力のところで得られる。この推定値は減算器
78でF(nT)から減分され、減算器78はその出力
として誤差e を供給する。誤差eは係数調整装置80
に供給され、係数調整装置80は(9)式に従って新し
い係数値を計算する。
置76の出力のところで得られる。この推定値は減算器
78でF(nT)から減分され、減算器78はその出力
として誤差e を供給する。誤差eは係数調整装置80
に供給され、係数調整装置80は(9)式に従って新し
い係数値を計算する。
次の標本瞬間で、標本F((n+1)τ〕が中央タップ
に到達し先行の反復過程の誤差e から導引き出された
係数値C(n+1)を用いてF[(n+1)τ〕の推定
値F ((n+1 )τ〕が計算される。この反復のプ
ロセスが同様にして続行される。
に到達し先行の反復過程の誤差e から導引き出された
係数値C(n+1)を用いてF[(n+1)τ〕の推定
値F ((n+1 )τ〕が計算される。この反復のプ
ロセスが同様にして続行される。
良好な結果を得たいときは、遅延線72のタップ数をで
きるだけ多くすべきである。27個のタップを持った遅
延線72で非常に良好な結果が得られた。反復ステップ
ρの値は、要求される正確さの程度と、反復プロセスの
収束を達成するのに要求される時間とのトレードオフか
ら従来のや)方で実験的に決めればよい。
きるだけ多くすべきである。27個のタップを持った遅
延線72で非常に良好な結果が得られた。反復ステップ
ρの値は、要求される正確さの程度と、反復プロセスの
収束を達成するのに要求される時間とのトレードオフか
ら従来のや)方で実験的に決めればよい。
以上説明したように、本発明によれば、ディジタル技術
を用いる環境において位相ジッタを非常に正確に測定で
き、しかもこれを実現する手段は従来のモデムに存在す
るものがほとんどであるから本発明を達成するのに必要
な付加手段はほんのわずかでよく、使用する標本化レー
トも従来のモデムの標本化レートと整合する(たとえば
1/T−2400)。
を用いる環境において位相ジッタを非常に正確に測定で
き、しかもこれを実現する手段は従来のモデムに存在す
るものがほとんどであるから本発明を達成するのに必要
な付加手段はほんのわずかでよく、使用する標本化レー
トも従来のモデムの標本化レートと整合する(たとえば
1/T−2400)。
第1図は本発明を利用した位相ジッタ測定システムの実
施例を示す図、第2図は位相計算装置26のオペレーシ
ョンを示す図、第3図は位相フィルタ3乙の実施例を示
す図、第4図は予測フィルタ40の実施例を示す図であ
る。 ハ 4立札フィルり 第8図
施例を示す図、第2図は位相計算装置26のオペレーシ
ョンを示す図、第3図は位相フィルタ3乙の実施例を示
す図、第4図は予測フィルタ40の実施例を示す図であ
る。 ハ 4立札フィルり 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下記の(イ)ないし(ト)のステップを有することを特
徴とする伝送チャネルの位相ジッタを測定する方法。 (イ)所与の周波数を有する正弦波試験信号を伝送チャ
ネルの一端から印加するステップ。 (ロ)前記伝送チャネルの他端で受信される前記試験信
号の位相を判断するステップ。 (ハ)伝送される試験信号の位相を表わす位相値を発生
するステップ。 (ニ)受信された試験信号の位相値から前記ステップ(
ハ)で発生された位相値を減じて第1の位相信号を発生
するステップ。 (ホ)前記第1の位相信号を濾波して該第1の位相信号
から位相妨害成分および周波数シフト成分を除去した第
2の位相信号を発生するステップ。 (ヘ)前記第2の位相信号をローパスフィルタに通して
第3の位相信号を発生するステップ。 (ト)前記第3の位相信号から推定された位相ジッタの
値を導出するために前記第3の位相信号を予測フィルタ
に通すステップ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP84430026.9 | 1984-06-28 | ||
EP84430026A EP0166839B1 (fr) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Procédé et dispositif de mesure de la gigue de phase d'un canal de transmission |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6119260A true JPS6119260A (ja) | 1986-01-28 |
JPH0225304B2 JPH0225304B2 (ja) | 1990-06-01 |
Family
ID=8192954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60079468A Granted JPS6119260A (ja) | 1984-06-29 | 1985-04-16 | 伝送チヤネルの位相ジツタを測定する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4654861A (ja) |
EP (1) | EP0166839B1 (ja) |
JP (1) | JPS6119260A (ja) |
CA (1) | CA1227246A (ja) |
DE (1) | DE3478250D1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6795496B1 (en) | 1999-02-08 | 2004-09-21 | Advantest Corporation | Jitter measuring device and method |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8511585D0 (en) * | 1985-05-08 | 1985-06-12 | Hewlett Packard Ltd | Jitter measurement method |
FR2615626B1 (fr) * | 1987-05-21 | 1989-07-28 | Alcatel Espace | Procede d'evaluation numerique de la frequence et de la phase de signaux et dispositifs de mise en oeuvre d'un tel procede |
IT1210836B (it) * | 1987-06-26 | 1989-09-29 | Sip | Strumento per la misura del rumore di fase di segnali analogici |
US4896271A (en) * | 1987-08-05 | 1990-01-23 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for measuring jitter in a periodic signal |
DE3833486C1 (ja) * | 1988-10-01 | 1989-08-03 | Wandel & Goltermann Gmbh & Co, 7412 Eningen, De | |
US5001724A (en) * | 1989-01-13 | 1991-03-19 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for measuring phase accuracy and amplitude profile of a continuous-phase-modulated signal |
FR2676821B1 (fr) * | 1991-05-21 | 1994-09-09 | Merlin Gerin | Dispositif de controle et de mesure d'isolement pour reseau electrique a neutre isole. |
US5402443A (en) * | 1992-12-15 | 1995-03-28 | National Semiconductor Corp. | Device and method for measuring the jitter of a recovered clock signal |
US6195414B1 (en) * | 1997-04-17 | 2001-02-27 | Telecom Analysis Systems | Digital facility simulator with CODEC emulation |
US6621860B1 (en) * | 1999-02-08 | 2003-09-16 | Advantest Corp | Apparatus for and method of measuring a jitter |
US6735538B1 (en) * | 2000-03-29 | 2004-05-11 | Advantest Corporation | Apparatus and method for measuring quality measure of phase noise waveform |
WO2001099097A1 (en) * | 2000-06-20 | 2001-12-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Sinusoidal coding |
US6525523B1 (en) * | 2000-11-24 | 2003-02-25 | Advantest Corporation | Jitter measurement apparatus and its method |
US7263150B2 (en) * | 2001-03-20 | 2007-08-28 | Advantest Corp. | Probability estimating apparatus and method for peak-to-peak clock skews |
US7203229B1 (en) * | 2001-06-14 | 2007-04-10 | Advantest Corporation | Apparatus for and method of measuring jitter |
US6990418B2 (en) * | 2002-12-19 | 2006-01-24 | International Business Machines Corporation | Method and systems for optimizing high-speed signal transmission |
US7136773B2 (en) * | 2003-12-16 | 2006-11-14 | Advantest Corporation | Testing apparatus and testing method |
JP5143341B2 (ja) * | 2004-02-18 | 2013-02-13 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法およびプログラム |
US7778315B2 (en) * | 2004-04-14 | 2010-08-17 | Tektronix, Inc. | Measuring instantaneous signal dependent nonlinear distortion in response to varying frequency sinusoidal test signal |
US7903776B2 (en) * | 2006-09-26 | 2011-03-08 | Advantest Corporation | Jitter measurement apparatus, jitter calculator, jitter measurement method, program, recording medium, communication system and test apparatus |
US8447570B2 (en) * | 2008-05-21 | 2013-05-21 | Infineon Technologies Ag | Predictive sensor readout |
US8005642B2 (en) * | 2008-06-26 | 2011-08-23 | Infineon Technologies Ag | Predictive angular sensor readout |
US9157950B2 (en) | 2011-04-18 | 2015-10-13 | International Business Machines Corporation | Loop parameter sensor using repetitive phase errors |
US9354266B2 (en) | 2012-06-07 | 2016-05-31 | Globalfoundries Inc. | Universal jitter meter and phase noise measurement |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3546588A (en) * | 1968-09-17 | 1970-12-08 | Bell Telephone Labor Inc | Phase hit monitor-counter |
US3711773A (en) * | 1970-07-09 | 1973-01-16 | Hekimian Laboratories Inc | Phase jitter meter |
US3737766A (en) * | 1971-12-06 | 1973-06-05 | Telecommunications Technology | Testing technique for phase jitter in communication systems |
-
1984
- 1984-06-29 EP EP84430026A patent/EP0166839B1/fr not_active Expired
- 1984-06-29 DE DE8484430026T patent/DE3478250D1/de not_active Expired
-
1985
- 1985-04-16 JP JP60079468A patent/JPS6119260A/ja active Granted
- 1985-04-19 CA CA000479574A patent/CA1227246A/en not_active Expired
- 1985-06-19 US US06/746,500 patent/US4654861A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6795496B1 (en) | 1999-02-08 | 2004-09-21 | Advantest Corporation | Jitter measuring device and method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3478250D1 (en) | 1989-06-22 |
JPH0225304B2 (ja) | 1990-06-01 |
EP0166839A1 (fr) | 1986-01-08 |
US4654861A (en) | 1987-03-31 |
CA1227246A (en) | 1987-09-22 |
EP0166839B1 (fr) | 1989-05-17 |
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