JPS61172487U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS61172487U JPS61172487U JP5731485U JP5731485U JPS61172487U JP S61172487 U JPS61172487 U JP S61172487U JP 5731485 U JP5731485 U JP 5731485U JP 5731485 U JP5731485 U JP 5731485U JP S61172487 U JPS61172487 U JP S61172487U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- socket
- contact pin
- pushed down
- testing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
第１図は本考案によるＩＣチツプ試験用ソケツ
トの一実施例にＩＣチツプを挿入した状態を示す
断面図、第２図は上記実施例の蓋によりＩＣチツ
プを押し下げて装填した状態を示す断面図、第３
図はＩＣチツプの実装状態を示す断面図、第４図
は従来の試験状態を示す断面図である。 １……ＩＣチツプ、２……モールド部、３……
リード、１０……ソケツト本体、１１……コンタ
クトピン、１１ａ……内側腕部、１１ｂ……外側
腕部、１２……蓋。
トの一実施例にＩＣチツプを挿入した状態を示す
断面図、第２図は上記実施例の蓋によりＩＣチツ
プを押し下げて装填した状態を示す断面図、第３
図はＩＣチツプの実装状態を示す断面図、第４図
は従来の試験状態を示す断面図である。 １……ＩＣチツプ、２……モールド部、３……
リード、１０……ソケツト本体、１１……コンタ
クトピン、１１ａ……内側腕部、１１ｂ……外側
腕部、１２……蓋。
Claims (1)
- コンタクトピンを具備したＩＣチツプ試験用ソ
ケツトにおいて、コンタクトピンを内側に湾曲せ
しめてバネ性を付与すると共に、コンタクトピン
の先端部をＩＣチツプ装填時ＩＣチツプにより押
し下げられる内側腕部と該内側腕部が押し下げら
れた時ＩＣチツプのリードの側面に圧接する外側
腕部とに分岐せしめたことを特徴とするＩＣチツ
プ試験用ソケツト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985057314U JPH0218539Y2 (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985057314U JPH0218539Y2 (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61172487U true JPS61172487U (ja) | 1986-10-27 |
| JPH0218539Y2 JPH0218539Y2 (ja) | 1990-05-23 |
Family
ID=30581726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985057314U Expired JPH0218539Y2 (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0218539Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020076664A (ja) * | 2018-11-08 | 2020-05-21 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5895587U (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-29 | 富士通株式会社 | Ｉｃ用ソケツト |
| JPS5955873U (ja) * | 1982-10-06 | 1984-04-12 | 富士通株式会社 | 半導体ｉｃ用ソケツト |
-
1985
- 1985-04-17 JP JP1985057314U patent/JPH0218539Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5895587U (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-29 | 富士通株式会社 | Ｉｃ用ソケツト |
| JPS5955873U (ja) * | 1982-10-06 | 1984-04-12 | 富士通株式会社 | 半導体ｉｃ用ソケツト |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020076664A (ja) * | 2018-11-08 | 2020-05-21 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0218539Y2 (ja) | 1990-05-23 |