JPS61160830A - Magnetic recording medium - Google Patents

Magnetic recording medium

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Publication number
JPS61160830A
JPS61160830A JP28104584A JP28104584A JPS61160830A JP S61160830 A JPS61160830 A JP S61160830A JP 28104584 A JP28104584 A JP 28104584A JP 28104584 A JP28104584 A JP 28104584A JP S61160830 A JPS61160830 A JP S61160830A
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JP
Japan
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magnetic
substrate
recording medium
magnetic recording
gas
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Pending
Application number
JP28104584A
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Japanese (ja)
Inventor
Masatoshi Nakayama
正俊 中山
Haruyuki Morita
治幸 森田
Yuichi Kubota
悠一 久保田
Yoshiko Tsuchiya
土屋 佳子
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Publication date
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Priority to GB8531404A priority patent/GB2168911B/en
Priority to US06/812,859 priority patent/US4816341A/en
Priority to DE19853546327 priority patent/DE3546327A1/en
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Priority to GB8812404A priority patent/GB2204811B/en
Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G2261/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
    • C08G2261/30Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain
    • C08G2261/31Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain incorporating aromatic structural elements in the main chain
    • C08G2261/312Non-condensed aromatic systems, e.g. benzene

Abstract

PURPOSE:To increase the adhesive strength between a substrate and magnetic layer and to obtain a magnetic disk having excellent durability by forming the magnetic layer on the substrate which is subjected to a plasma treatment by using an inorg. gas contg. N, H and O and has a specific thermal deformation temp. or above. CONSTITUTION:The inside of a plasma treatment reaction vessel R is evacuated and thereafter an inorg. gas contg. O2 or an inorg. gas contg. N and H and an inorg. gas contg. N, H and O, for example, gaseous mixture selected from N2, H2, NH3, O2, NO, H2O, NOx, etc. are supplied from gas sources 1, 2 after the gases are mixed in a mixer 5 via mass flow controllers 3, 4. Electric power is supplied from a DC, AC and frequency variable type power source 6 to electrodes 7, 7' sandwiching a film for a magnetic tape while the film is fed repeatedly to a roll 9 or 10 in the reaction vessel. The plasma treated substrate of polyamide, polyimide, polyphenylene sulfide, all arom. polyester, etc. having >=150 deg.C thermal deformation temp. is obtd. at (10-200)kHz. A magnetic metal such as Co-Cr is deposited by evaporation on such substrate directly or via a substratum layer, by which the magnetic layer is provided. The magnetic recording medium having the excellent durability, etc. is thus obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 工 発明の背景 技術分野 本発明は、磁気記録媒体に関する。 ざらに詳しくは、
耐久性改善のため、所定のプラズマ処理を施した基体を
用いた磁気記録媒体に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION TECHNICAL FIELD The present invention relates to magnetic recording media. For more details, please see
The present invention relates to a magnetic recording medium using a substrate that has been subjected to a predetermined plasma treatment to improve durability.

先行技術とその問題点 非磁性支持体上に、γ−Fe2O3゜ y−Fe304 、Co含浸7−Fe2O3等の酸化物
系磁性粉と結合剤とを主体とする磁性層を形成した磁気
記録媒体が出現してすでに久しい。
Prior art and its problems There is a magnetic recording medium in which a magnetic layer mainly composed of oxide-based magnetic powder such as γ-Fe2O3゜y-Fe304 or Co-impregnated 7-Fe2O3 and a binder is formed on a nonmagnetic support. It has been a long time since it appeared.

また、最近では、記録密度をさらに向上する目的で、F
e、Co、Ni、Fe−Co、C。
Recently, in order to further improve the recording density, F
e, Co, Ni, Fe-Co, C.

−Nl、Fe−Co−Ni、Fe−Co−B。-Nl, Fe-Co-Ni, Fe-Co-B.

F e−Co−Cr−B、 Mn−B i、M n −
A l、Fe−Go−V  等の強磁性粉と結合剤等か
ら成る磁気記録媒体、さらには金属蒸着薄膜やスパッタ
薄膜を磁性層とする磁気記録媒体が実用化され、脚光を
あびつつある。
Fe-Co-Cr-B, Mn-Bi, Mn-
Magnetic recording media made of ferromagnetic powder such as Al or Fe-Go-V and a binder, as well as magnetic recording media having a magnetic layer made of a metal vapor-deposited film or a sputtered thin film, have been put into practical use and are attracting attention.

これらの磁気記録媒体において、特に磁気テープおよび
磁気ディスクの用途では、摩擦係数が小さく1円滑で安
定な走行性を示すこと、耐摩耗性に優れ、長時間にわた
って安定走行を行ないうること、置かれた環境条件に対
して安定でいつでも確実な再生ができること、耐久性の
あること等が強く求められる。
Among these magnetic recording media, especially for magnetic tape and magnetic disk applications, they must have a small coefficient of friction, exhibit smooth and stable running properties, have excellent wear resistance, and be able to run stably for long periods of time. There is a strong demand for such materials to be stable under different environmental conditions, capable of reliable regeneration at any time, and durable.

従来より、耐久性を改善する目的で、種々の基体に対す
る前処理が行なわれてきた。
Conventionally, various pretreatments have been performed on various substrates for the purpose of improving durability.

そして、特にプラズマ処理は、耐久性および接着強度の
向上に大きな効果を有する。
In particular, plasma treatment has a great effect on improving durability and adhesive strength.

基体に対するプラズマ処理としては、例えば、特公昭5
7−42889号には、空気、酸素、窒素、水素、ヘリ
ウム、アルゴン等を処理ガスとして、ラジオ波あるいは
マイクロ波の周波数のプラズマで処理する技術が開示さ
れている。
As a plasma treatment for the substrate, for example,
No. 7-42889 discloses a technique of processing using air, oxygen, nitrogen, hydrogen, helium, argon, or the like as a processing gas with plasma at radio wave or microwave frequencies.

また、特開昭58−77030号ニハ、酸素、アルゴン
、ヘリウム、ネオン、あるいは窒素を処理ガスとして、
商用周波数にて所定の印加電流でプラズマ処理する技術
が開示されている。
In addition, according to Japanese Patent Application Laid-open No. 58-77030, oxygen, argon, helium, neon, or nitrogen is used as a processing gas.
A technique is disclosed in which plasma processing is performed using a predetermined applied current at a commercial frequency.

これらプラズマ処理によれば、磁性層との接着力が向上
し、耐久性が向上する。
These plasma treatments improve adhesive strength with the magnetic layer and improve durability.

ところで1例えば、鉄、コバルト、二、ケル、クロム等
の磁性金属ないしそれらの合金を真空蒸着、スパッタリ
ング等で設層し、特に垂直磁気記録用の磁性層薄膜とす
るような場合には、基体温度を高くする必要がある。 
しかし、通常のポリエステル系の樹脂製基体では、耐熱
温度が低く、成膜時に熱変形を生じ、基体温度を高くす
ることができない。
By the way, 1. For example, when a magnetic metal such as iron, cobalt, cobalt, chromium, etc. or an alloy thereof is deposited by vacuum evaporation, sputtering, etc. to form a magnetic layer thin film for perpendicular magnetic recording, It is necessary to raise the temperature.
However, a typical polyester resin substrate has a low heat resistance and undergoes thermal deformation during film formation, making it impossible to increase the substrate temperature.

従って、垂直磁化膜用の基体としては、ポリアミド、ポ
リイミド等の耐熱性樹脂を用いれば、成膜時の熱変形を
防止することができる。
Therefore, if a heat-resistant resin such as polyamide or polyimide is used as the substrate for the perpendicularly magnetized film, thermal deformation during film formation can be prevented.

しかし、各種耐熱性樹脂では、樹脂中に水分が含有され
るため、成膜時にその水分が放出され、磁性層の結晶構
造が乱れ、垂直磁化特性が低下するという問題がある。
However, various heat-resistant resins have a problem in that since water is contained in the resin, the water is released during film formation, the crystal structure of the magnetic layer is disturbed, and the perpendicular magnetization characteristics are deteriorated.

■ 発明の目的 本発明の目的は、結晶構造の乱れの少ない金属薄膜磁性
層を有し、しかも耐久性が格段と向上した、プラズマ処
理を施した基体を用いた磁気記録媒体を提供することに
ある。
■ Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to provide a magnetic recording medium using a plasma-treated substrate, which has a metal thin film magnetic layer with less disordered crystal structure, and has significantly improved durability. be.

■ 発明の開示 このような目的は下記の本発明によって達成される。■Disclosure of invention These objects are achieved by the invention described below.

すなわち本発明は。That is, the present invention.

無機ガスを処理ガスとし、プラズマ処理した熱変形温度
150℃以上の樹脂製の基体上に、直接あるいは下地層
を介して磁性層を形成したことを特徴とする磁気記録媒
体である。
This magnetic recording medium is characterized in that a magnetic layer is formed directly or via an underlayer on a resin substrate having a thermal deformation temperature of 150° C. or higher and subjected to plasma treatment using an inorganic gas as a processing gas.

■ 発明の具体的構成 以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。■Specific structure of the invention Hereinafter, a specific configuration of the present invention will be explained in detail.

本発明の磁気記録媒体に用いられる基体材質は、熱変形
温度が150℃以上の耐熱性樹脂である。
The base material used in the magnetic recording medium of the present invention is a heat-resistant resin having a heat distortion temperature of 150° C. or higher.

本発明では、このような熱変形温度の耐熱性樹脂を用い
たときに、成膜時の結晶の乱れを防止できるものである
In the present invention, when a heat-resistant resin having such a heat distortion temperature is used, it is possible to prevent crystal disorder during film formation.

このような耐熱性樹脂としては、芳香族ポリアミド等の
ポリアミド、芳香族ポリイミド等のポリイミド、ポリフ
ェニレンサルファイド、ポリサル7オン、全芳香族ポリ
エステル、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、
ポリエーテルサルフォン、ポリエーテルイミド等がある
。 ポリアミドはアミド結合−CONH−をもつポリマ
ーの総称であり、天然ポリアミドと合成ポリアミドに分
類され、前者に天然ポリペプチドがある。 合成ポリア
ミドは、ジアミンとジカルボン酸の重縮合によってえら
れる(−CORCONHR’ NHす形トラフタム開環
重合またはアミノカルボン酸の重縮合などでえられる+
RCONH+形に大別される。
Such heat-resistant resins include polyamides such as aromatic polyamides, polyimides such as aromatic polyimides, polyphenylene sulfide, polysal 7one, fully aromatic polyesters, polyether ether ketone (PEEK),
Examples include polyether sulfone and polyetherimide. Polyamide is a general term for polymers having an amide bond -CONH-, and is classified into natural polyamides and synthetic polyamides, and the former includes natural polypeptides. Synthetic polyamide is obtained by polycondensation of diamine and dicarboxylic acid (-CORCONHR')
It is broadly classified into RCONH+ type.

芳香族ポリアミドとしては特公昭56−136828号
、同59−45124号などに示されている。たとえば
、 ポリイミドは、主鎖中にイミド結合をもつポリマーの総
称である。 基本的にはジカルボン酸とジアミンからポ
リアミック酸をつくり、これを成形後加熱、脱水、環化
してポリイミドとする。
Aromatic polyamides are disclosed in Japanese Patent Publication Nos. 56-136828 and 59-45124. For example, polyimide is a general term for polymers that have imide bonds in their main chains. Basically, polyamic acid is made from dicarboxylic acid and diamine, and after molding, it is heated, dehydrated, and cyclized to form polyimide.

一般式は、 で示される。ここで、Rは二価基である。The general formula is It is indicated by. Here, R is a divalent group.

これらのポリアミド、ポリイミドは、ポリマーの特性と
して非常に優れた耐熱性をもつ。
These polyamides and polyimides have extremely excellent heat resistance as a polymer property.

ポリフェニレンサルファイドは (−0−3+−の構造をもつポリマーであり。Polyphenylene sulfide is (It is a polymer with a -0-3+- structure.

優れた耐熱性を持つ。Has excellent heat resistance.

ポリサル7オンは、主鎖にサルフオニル結合〇 リサルフルフォンは優れた耐熱性を持つ。Polysal7one has a sulfonyl bond in the main chain〇 Rizalfulfon has excellent heat resistance.

たとえば。for example.

がその−例である。is an example.

全芳香族ポリエステルは、芳香族を骨格とするポリエス
テルであり、その−例としては、の構造をもつポリマー
等がある。
A wholly aromatic polyester is a polyester having an aromatic skeleton, and examples thereof include a polymer having the structure of.

ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)の構造は、下
記のとおりである。
The structure of polyetheretherketone (PEEK) is as follows.

ポリエーテルサルフォンの構造は、下記のとポリエーテ
ルイミドの構造は下記のとおりである。
The structure of polyether sulfone is shown below, and that of polyetherimide is shown below.

このような材質を用いた基体の形状1寸法、厚さには制
限はなく、用途応じたものとすればよい、 例えば、フ
ィルム状、ディスク状等であってよい。
There are no restrictions on the shape, dimensions, or thickness of the substrate made of such a material, and it may be in the shape of a film, disk, etc., depending on the intended use.

このような基体の少なくとも磁性層形成面には、プラズ
マ処理が施される。
At least the magnetic layer forming surface of such a substrate is subjected to plasma treatment.

プラズマ処理法は、処理ガスとして無機ガスを用い、こ
のガスの放電プラズマを基体に接触させることにより基
体表面をプラズマ処理するム17’lで島ス− このようなプラズマ処理を行った基体上に真空蒸着法、
スパッタリング等を用い、垂直磁化膜を設層する際に、
結晶は均一な方向性を持って配列される。 その結果と
して、結晶構造の乱れが防止でき、膜面に垂直方向の保
磁力の高い垂直磁化膜を有する磁気記録媒体がえられる
The plasma processing method uses an inorganic gas as a processing gas, and plasma-treats the surface of the substrate by bringing discharge plasma of this gas into contact with the substrate. vacuum evaporation method,
When depositing a perpendicular magnetization film using sputtering etc.
The crystals are arranged with uniform directionality. As a result, a magnetic recording medium can be obtained which has a perpendicularly magnetized film with high coercive force in the direction perpendicular to the film surface, in which disorder of the crystal structure can be prevented.

プラズマ処理の原理について概説すると、気体を低圧に
保ち電場を作用させると、気体中に少量存在する自由電
子は、常圧に比べ分子距離が非常に大きいため、電界加
速を受け5〜10eVの運動エネルギー(電子温度)を
獲得する。
To outline the principle of plasma processing, when a gas is kept at a low pressure and an electric field is applied, the free electrons present in a small amount in the gas are accelerated by the electric field and move at a rate of 5 to 10 eV because their molecular distance is much larger than at normal pressure. Obtain energy (electron temperature).

この加速電子が原子や分子に衝突すると、原子軌道や分
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など、通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
When these accelerated electrons collide with atoms and molecules, they disrupt atomic and molecular orbits and dissociate them into chemical species that are unstable under normal conditions, such as electrons, ions, and neutral radicals.

解離した電子は再び電界加速を受けて、別の原子や分子
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまち高度の
電離状態となる。 そしてこれはプラズマガスと呼ばれ
ている。
The dissociated electrons are accelerated by the electric field again, causing them to dissociate from other atoms or molecules, and this chain reaction quickly turns the gas into a highly ionized state. And this is called plasma gas.

気体分子は電子との衝突の機会が少ないのでエネルギー
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
Gas molecules have fewer chances of collision with electrons, so they do not absorb much energy and are kept at a temperature close to room temperature.

このように、電子の運動エネルギー(電子温度)と、分
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保ったまま重合
等の加成的化学反応を進めうる状況を創出しており、本
発明はこの状況を利用して基体をプラズマ処理しようと
するものである。
A system in which the kinetic energy of electrons (electron temperature) and the thermal motion of molecules (gas temperature) are separated is called a low-temperature plasma, where chemical species undergo processes such as polymerization while remaining relatively intact. This creates a situation in which chemical reactions can proceed, and the present invention attempts to utilize this situation to plasma-treat a substrate.

なお、基体の樹脂材質として、耐熱性を有する樹脂を、
使用するのでプラズマ処理をする際に加熱することもで
きる。
In addition, as the resin material of the base, a resin with heat resistance is used.
Because it is used, it can also be heated during plasma treatment.

プラズマにより、基体表面を処理する装置例が第1図に
示しである。 第1図は、周波数可変型の電源を用いた
プラズマ処理装置である。
An example of an apparatus for treating the surface of a substrate with plasma is shown in FIG. FIG. 1 shows a plasma processing apparatus using a variable frequency power source.

第1図において1反応容器Rには、処理ガス源1または
2から処理ガスがそれぞれマスフローコントローラ3お
よび4を経て供給される。 ガス源1または2から別々
のガスを供給する場合は、混合器5において混合して供
給する。
In FIG. 1, one reaction vessel R is supplied with processing gas from a processing gas source 1 or 2 via mass flow controllers 3 and 4, respectively. When separate gases are supplied from the gas sources 1 or 2, they are mixed in the mixer 5 and then supplied.

処理ガスは、各々1〜250mJL/分の流量範囲をと
りうる。
Each of the process gases can have a flow rate range of 1 to 250 mJL/min.

反応容器R内には、被処理基体支持装置が設置され、こ
こでは磁気テープ用のフィルムの処理を目的として、繰
出しロール9と巻取りロールlOとが示しである。
A substrate support device to be processed is installed in the reaction vessel R, and here a feed roll 9 and a take-up roll 1O are shown for the purpose of processing a film for magnetic tape.

被処理磁気記録媒体用基体の形態に応じて様々の支持装
置が使用でき、例えば載置式の回転支持装置が使用され
うる。
Various support devices can be used depending on the form of the substrate for the magnetic recording medium to be processed, and for example, a mounted rotary support device can be used.

被処理基体を間に挟んで対向する電極7.7′が設けら
れており、一方の電極7は周波数可変型の電源6に接続
され、他方の電極7′は8にて接地されている。
Electrodes 7 and 7' are provided facing each other with the substrate to be processed in between, one electrode 7 being connected to a variable frequency power source 6, and the other electrode 7' being grounded at 8.

さらに、反応容器R内には、容器内を排気するための真
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ11
.油回転ポンプ12および真空コントローラ13を含む
、 これら真空系統は反応容器内を0 、01”l O
Tarrの真空度の範囲に維持する。
Furthermore, a vacuum system for evacuating the inside of the reaction vessel R is provided, and this is connected to the liquid nitrogen trap 11.
.. These vacuum systems, including an oil rotary pump 12 and a vacuum controller 13, operate within the reaction vessel at 0,01"l O
Maintain the vacuum within the range of Tarr.

操作においては、反応容器R内がまず10−3Torr
以下になるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、そ
の後処理ガスが所定の流量において容器内に混合状態で
供給される。
In the operation, the inside of the reaction vessel R is first set at 10-3 Torr.
The inside of the container is evacuated by an oil rotary pump until the amount reaches below 100 ml, and then the processing gas is supplied in a mixed state into the container at a predetermined flow rate.

このとき、反応容器内の真空は0.01〜10−1丁e
rrの範囲に管理される。
At this time, the vacuum inside the reaction vessel is 0.01 to 10-1 cm
It is managed within the range of rr.

被処理基体の移行速度ならびに処理ガスの流量が安定す
ると、周波数可変型電源がオンにされる。 こうして、
移行中の基体がプラズマ処理される。
Once the transfer rate of the substrate to be processed and the flow rate of the processing gas are stabilized, the variable frequency power supply is turned on. thus,
The transitioning substrate is plasma treated.

このようなプラズマ処理において、本発明では、処理ガ
スとして、酸素02を含む無機ガス、NとHをを含む無
機ガスあるいはNとHと0とを含む無機ガスを用いる。
In such plasma processing, the present invention uses an inorganic gas containing oxygen 02, an inorganic gas containing N and H, or an inorganic gas containing N, H, and 0 as the processing gas.

これらの無機ガスは、N2  、N2  、NH3。These inorganic gases are N2, N2, and NH3.

02 、No、N20.N20.Not 、等の中から
適宜選定し、混合したものを用いればよい。
02, No, N20. N20. A mixture thereof may be used, appropriately selected from among such as Not, etc.

そして酸素を含む場合、無機ガス中の酸素の含有量は5
%以上、またN、H,O等を含む場合、無機ガス中のN
の含有量は5〜80at姑、Hの含有量は5〜80at
%、Oの含有量は0〜50at%である。 上記無機ガ
ス中の含有物の含有量範囲が、上記範囲をはずれると、
本発明の実効はなくなる。
And if it contains oxygen, the content of oxygen in the inorganic gas is 5
% or more, or if it contains N, H, O, etc., N in the inorganic gas
The content of is 5 to 80 at, and the content of H is 5 to 80 at.
%, the content of O is 0 to 50 at%. If the content range of the substances contained in the above-mentioned inorganic gas deviates from the above-mentioned range,
The present invention will no longer be effective.

なお、上記の無機ガス中に、N、H,O以外のガスが含
まれる場合、Ar、Ne、He等の1種ないし2種以上
いずれであってもよい。
Note that when the above-mentioned inorganic gas contains a gas other than N, H, and O, it may be one or more of Ar, Ne, He, and the like.

さらに、電源の周波数は、10KHz〜200KHz 
とされる。
Furthermore, the frequency of the power supply is between 10KHz and 200KHz.
It is said that

周波数10KHzより小、ないし200 KHzより大
となると、耐久性が急激に減少し、接着強度が急激に低
くなる。
If the frequency is lower than 10 KHz or higher than 200 KHz, the durability will decrease rapidly and the adhesive strength will decrease rapidly.

なお、印加電流、処理時間等は通常の条件とすればよい
Note that the applied current, processing time, etc. may be set to normal conditions.

このようなプラズマ処理を施された基体は、接触角が低
下し、しかもFTIR(フーリエ変換赤外吸収スペクト
ル)により、表面が改質され、C0OH結合やN−H結
合が生じていることが確認できるものである。
The contact angle of the substrate subjected to such plasma treatment was reduced, and FTIR (Fourier transform infrared absorption spectrum) confirmed that the surface was modified and C0OH bonds and N-H bonds were formed. It is possible.

このように、プラズマ処理を施された基体の表面に形成
される磁性層は、金属薄膜型のものであり、種々のもの
が可能である。
The magnetic layer formed on the surface of the plasma-treated substrate in this way is of a metal thin film type, and various types are possible.

金属薄膜としては、特に垂直磁化膜が好ましい、 本発
明によれば、垂直磁化膜の成膜時の結晶構造の乱れの防
止効果が大きいからである。
A perpendicularly magnetized film is particularly preferable as the metal thin film, because according to the present invention, it is highly effective in preventing disturbances in the crystal structure during the formation of the perpendicularly magnetized film.

垂直磁化膜としては種々のものが用いられ。Various types of perpendicular magnetization films are used.

CoCr、CoV、CoN1P、CoP。CoCr, CoV, CoN1P, CoP.

MnB1.MnAjLGe、NdFe、NdCo 、C
oO,MnSb、MnCuBu、GdFe、  GdC
o、  PtCo、  TbCo。
MnB1. MnAjLGe, NdFe, NdCo, C
oO, MnSb, MnCuBu, GdFe, GdC
o, PtCo, TbCo.

TbFeCo 、GdFeCo 、TbFeO3。TbFeCo, GdFeCo, TbFeO3.

GdIG、  GdTbFe 、  G d T b 
F eCoBi 、CoFe204等のいずれであッテ
もよい。
GdIG, GdTbFe, GdTb
Any of FeCoBi, CoFe204, etc. may be used.

そして、これらの磁性層は、基体のプラズマ処理面上に
真空蒸着法やスパッタリング法等の方法で直接形成して
もよく、あるいは下地層を介して設層してもよい。
These magnetic layers may be formed directly on the plasma-treated surface of the substrate by a method such as a vacuum evaporation method or a sputtering method, or may be formed with an underlying layer interposed therebetween.

下地層としては、アルミニウム、銅、チタン、クロム等
の合金をイオンブレーティング、真空蒸着、スパー2タ
リング等によって形成したものであってもよい。
The base layer may be formed from an alloy of aluminum, copper, titanium, chromium, etc. by ion blasting, vacuum evaporation, sparring, or the like.

■ 発明の具体的作用効果 本発明によれば、プラズマ処理される基体の材質として
熱変形温度150℃以上の耐熱性に優れた樹脂を用いる
ので、成膜時に基体表面からの水分放出がなく結晶構造
の乱れの少ない磁性層かえられる。
■Specific Effects of the Invention According to the present invention, since a resin with excellent heat resistance and a heat distortion temperature of 150°C or higher is used as the material of the substrate to be plasma treated, no moisture is released from the surface of the substrate during film formation and crystallization occurs. The magnetic layer can be changed with less structural disturbance.

従って、垂直磁化膜とするときには、膜面に垂直方向の
磁化力が高くなり、また、耐久特性も格段と向上する。
Therefore, when a perpendicularly magnetized film is formed, the magnetizing force in the direction perpendicular to the film surface becomes high, and the durability characteristics are also significantly improved.

■ 発明の具体的実施例 以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明をさらに詳
細に説明する。
(2) Specific Examples of the Invention Hereinafter, specific examples of the present invention will be shown and the present invention will be explained in more detail.

実施例1 下記に示す材質(基体材質1〜3)からなる基体に対し
て、下記に示すような混合ガスを処理ガスとしてプラズ
マ処理(処理条件1〜7゜比較処理条件1〜4)した。
Example 1 A substrate made of the materials shown below (substrate materials 1 to 3) was subjected to plasma treatment (processing conditions 1 to 7 degrees, comparative processing conditions 1 to 4) using a mixed gas as shown below as a processing gas.

L主1I」 芳香族ポリアミド (商品名=アラミドフィルム、東し製)l主1I」′ 芳香族ポリイミド (商品名二カプトン、du Pant製)L生豆l」 ポリフェニレンサルファイド (商品名:ライトン、フィリップ製) 11逢1」 処理ガス:  02:Ar=l:1の混合ガスとした。L Lord 1I” aromatic polyamide (Product name = Aramid film, manufactured by Toshi) aromatic polyimide (Product name Ni Kapton, manufactured by du Pant) L raw beans Polyphenylene sulfide (Product name: Ryton, manufactured by Philips) 11 Ai 1” Processing gas: A mixed gas of 02:Ar=l:1.

ガス流量: 50 鵬1/分 真空度:0.1Torr 電   源 :100KHz 処」[ぷj1ヱ 処理ガス:  NH3 ガス流量= 100 鳳見/分 真空度:0.1Torr 電   源 :100KHz 1亙ゑ1」 処理ガス:  NO2:H2=3:lの混合ガスとした
Gas flow rate: 50 mm/min Vacuum level: 0.1 Torr Power source: 100 KHz Processing gas: NH3 Gas flow rate = 100 mm/min Vacuum level: 0.1 Torr Power source: 100 KHz 1 mm Processing gas: A mixed gas of NO2:H2=3:l.

ガス流量:  100g+4/分 真空度:0.1Torr 電   源 :150KHz 110」 処理条件lにおいて、電源をACとし、その他の条件は
処理条件lの場合と同様とした。
Gas flow rate: 100 g + 4/min Vacuum degree: 0.1 Torr Power source: 150 KHz 110'' In processing condition 1, the power source was AC, and other conditions were the same as in processing condition 1.

1工ゑ1」 処理条件1において、電源を500 KHzとし、その
他の条件は処理条件1の場合と同様とした。
In processing condition 1, the power supply was set to 500 KHz, and the other conditions were the same as in processing condition 1.

凰1」LlJ 処理条件2において、電源をDCとし、その他の条件は
処理条件lの場合と同様とした。
凰1''LlJ In processing condition 2, the power source was DC, and other conditions were the same as in processing condition 1.

11圭11 処理条件2において、電源を13.56MHzとし、そ
の他の条件は処理条件lの場合と同様とした。
11 Kei 11 In processing condition 2, the power source was set to 13.56 MHz, and other conditions were the same as in processing condition 1.

塩JLJL!Lユ コロナ放電処理を実施した。 コロナ放電処理は、ピラ
ー社製コaす処理@P−500VAを用いて、電圧20
0vで実施した。
Salt JLJL! L-Yu corona discharge treatment was carried out. The corona discharge treatment was carried out at a voltage of 20 using Coas treatment @P-500VA manufactured by Pillar.
It was carried out at 0v.

嵐東皇I」 処理条件lにおいて、処理ガスをArとした。Arashi Toko I” Under processing conditions 1, the processing gas was Ar.

比」E瀝JJ 処理条件4において、処理ガスをArとした。ratio”E 瀝JJ In processing condition 4, the processing gas was Ar.

比」L処JL4 処理条件5において、処理ガスをArとした。Hi”L JL4 In processing condition 5, the processing gas was Ar.

さらに、このように処理された各基体上に、下記に示さ
れるような方法で磁性層を設け、下記表1に示される各
種5″の磁気ディスクを作製した。
Furthermore, a magnetic layer was provided on each of the substrates treated in this manner by the method shown below, and various 5'' magnetic disks shown in Table 1 below were manufactured.

糺ユ1」 GoとCrのインゴットから0 、 I ILmの磁性
層を、蒸発原子の最も蒸気の高い部分の垂直入射成分に
より成膜した。
A magnetic layer of 0 and I ILm was formed from an ingot of Go and Cr using a vertically incident component of the highest vapor content of evaporated atoms.

膜の組成は、Co80wt%、Cr20wt%となるよ
うコントロールした。
The composition of the film was controlled to be 80 wt% Co and 20 wt% Cr.

砿jJiヱ Co−Cr(組成 Co80wt%−Cr20wt%)
を原料として0.1pmの厚さにスパッタした。
Co-Cr (composition Co80wt%-Cr20wt%)
was sputtered to a thickness of 0.1 pm using as a raw material.

サンプルについて次の試験を実施した。The following tests were conducted on the samples.

(イ)耐久時間 5″の磁気ディスクに垂直ヘッドで記録し。(a) Endurance time Record on a 5" magnetic disk with a vertical head.

再生出力が95%に低下するまでの時間を測定した (口)接触角 接触角計CA−P型(協和化学製)を用いて水の液滴投
影法により測定した。
The contact angle was measured by the water droplet projection method using a contact angle meter CA-P type (manufactured by Kyowa Chemical), which measured the time until the reproduction output decreased to 95%.

(″)Δθ5゜ 結晶構造X線解析装置により分析したCoのC軸の分散
を調べる目的で(002)面に関するロッキング曲線の
半値幅Δ’5Gを測定した。
('') Δθ5° The half width Δ'5G of the rocking curve for the (002) plane was measured for the purpose of investigating the dispersion of the C axis of Co analyzed by an X-ray crystal structure analyzer.

結果を表1に示した。The results are shown in Table 1.

表1の結果より本発明の効果が明らかである。From the results in Table 1, the effects of the present invention are clear.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は直流、交流および周波数可変型電源を使用した
プラズマ処理装置の概略図を示す。 1.2:処理ガス源 3.4:マスフローコントローラ 5:混合器 6:直流、交流および周波数可変型電源7.7′:電極 9.10:繰出しおよび巻取りロール 11:液体窒素トラップ 12:油回転ポンプ 出 願 人  ティーディーケイ株式会社代  理  
人   弁理士   石  井  陽  −FIG、1 手続補正書(自発)     6 昭和60年 2月 7日 特許庁長官   志 賀  学 殿 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係        特許出願人柱  所  
  東京都中央区日本橋−丁目13番1号名  称  
 (306)  ティーディーケイ株式会社代表者  
大 歳   寛 4、代理人 〒101 住  所    東京都千代田区岩本町3丁目2番2号
千代田岩本ビル4階 、補正の内容 (1)明細書第3頁第10行目(1) ry−Fe30
4 、 Co含浸」をrCo含有」と補正する。
FIG. 1 shows a schematic diagram of a plasma processing apparatus using direct current, alternating current, and variable frequency power supplies. 1.2: Process gas source 3.4: Mass flow controller 5: Mixer 6: DC, AC and variable frequency power supply 7.7': Electrode 9.10: Payout and take-up roll 11: Liquid nitrogen trap 12: Oil Rotary pump applicant TDC Co., Ltd. agent
Person Patent attorney Yo Ishii -FIG, 1 Procedural amendment (voluntary) 6 February 7, 1985 Manabu Shiga, Commissioner of the Patent Office 2 Name of invention Magnetic recording medium 3 Relationship with the case of the person making the amendment Patent Applicant location
Nihonbashi-chome 13-1, Chuo-ku, Tokyo Name
(306) Representative of TDC Co., Ltd.
Hiroshi Otoshi 4, Agent 101 Address 4th floor, Chiyoda Iwamoto Building, 3-2-2 Iwamoto-cho, Chiyoda-ku, Tokyo Contents of amendment (1) Line 10, page 3 of the specification (1) ry-Fe30
4. Correct "Co impregnated" to "rCo-containing".

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)無機ガスを処理ガスとし、プラズマ処理した熱変
形温度150℃以上の樹脂製の基体上に、直接あるいは
下地層を介して磁性層を形成したことを特徴とする磁気
記録媒体。
(1) A magnetic recording medium characterized in that a magnetic layer is formed directly or via an underlayer on a resin substrate having a thermal deformation temperature of 150° C. or higher and subjected to plasma treatment using an inorganic gas as a processing gas.
(2)樹脂製の基体が、ポリアミド、ポリイミド、ポリ
フェニレンサルファイド、ポリサルフォン、全芳香族ポ
リエステル、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテ
ルサルフォンおよびポリエーテルイミドの中から選ばれ
た1種以上から形成される特許請求の範囲第1項に記載
の磁気記録媒体。
(2) A patent in which the resin base is formed from one or more selected from polyamide, polyimide, polyphenylene sulfide, polysulfone, wholly aromatic polyester, polyetheretherketone, polyethersulfone, and polyetherimide. A magnetic recording medium according to claim 1.
(3)磁性層が金属薄膜である特許請求の範囲第1項ま
たは第2項に記載の磁気記録媒体。
(3) The magnetic recording medium according to claim 1 or 2, wherein the magnetic layer is a metal thin film.
(4)プラズマ処理が、10KHz〜200KHzの周
波数で行われる特許請求の範囲第1項ないし第3項のい
ずれかに記載の磁気記録媒体。
(4) The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 3, wherein the plasma treatment is performed at a frequency of 10 KHz to 200 KHz.
(5)無機ガスが酸素を含む特許請求の範囲第1項ない
し第4項のいずれかに記載の磁気記録媒体。
(5) The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 4, wherein the inorganic gas contains oxygen.
(6)無機ガスがNとHとを含む特許請求の範囲第1項
ないし第4項のいずれかに記載の磁気記録媒体。
(6) The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 4, wherein the inorganic gas contains N and H.
(7)無機ガスがNとHとOとを含む特許請求の範囲第
1項ないし第4項のいずれかに記載の磁気記録媒体。
(7) The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 4, wherein the inorganic gas contains N, H, and O.
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