JPS61153921A - 陰極線管の映像光検出方法 - Google Patents

陰極線管の映像光検出方法

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Publication number
JPS61153921A
JPS61153921A JP28161384A JP28161384A JPS61153921A JP S61153921 A JPS61153921 A JP S61153921A JP 28161384 A JP28161384 A JP 28161384A JP 28161384 A JP28161384 A JP 28161384A JP S61153921 A JPS61153921 A JP S61153921A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crt
point
light
image
ray tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28161384A
Other languages
English (en)
Inventor
Takanobu Miura
三浦 孝信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd, Kansai Nippon Electric Co Ltd filed Critical Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to JP28161384A priority Critical patent/JPS61153921A/ja
Publication of JPS61153921A publication Critical patent/JPS61153921A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/42Measurement or testing during manufacture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産1上夏■且此賢 この発明は陰極線管(CRT)のフェース面の螢光膜や
このフェース面における映像の解像度などを検査するた
めの映像光検出方法に関する。
従】践U装置 CRT製造工程中、CRTのフェース面に塗布された螢
光膜の欠陥や、輝度むら、解像度などを検査している0
例えばCRTの螢光膜の部分的な剥離により螢光膜欠陥
や輝度むらはCR7画面全体を白く発光させるいわゆる
ホワイトラスク状態で発光の濃淡をチェックすることで
検査される。また解像度はテストパターンを映し出しこ
のテストパターンをチェックすることにより検査される
(°シ゛  る 占 ところで、上記検査を目視により行うと、判断基準にバ
ラツキがあって信頼性に欠け、また作業性が非常に悪い
問題があり自動検査が要望されていた。
そのためCRT検査を自動的に行う方法として、CR7
画面の映像をTVカメラで盪像して得た信号を処理する
ことが考えられる。しかし、この自動検査方法には次の
問題があった。
第一に、CRTの映像は電子ビームをCRTフェース部
内面の螢光膜にスポット照射して走査させて得られたも
のであり、一方TVカメラは撮像管の光電膜上に電子ビ
ームを走査させてビーム電流の変化にて光電膜に入射し
た光の強弱を読み取るものであって、CRT映像と撮像
管の読み取りを正確に同期させるためには両者の電子ビ
ーム走査を位置的、時間的に完全に一致させる必要があ
る。しかし、これは、原理的には可能であるが、実際問
題として無理があって、どうしても撮像された画像に同
期ずれにより横縞が入る等の不都合が生じ、正確なCR
T検査ができないでいた。
第二に、撮像管自体の光電膜の場所的な感度むらが在る
と、これがそのまま撮像に影響して、081画像上の輝
度むらであるのかどうかの判別が困難であった。
第三に、CRT画面の1フレ一ム分の映像を蓄積する蓄
積型撮像管を使用すれば良いように考えられるが、画面
の周辺部が広範囲にわたって暗(なるシェーディングや
、明部の周辺ににじんだように明る(なるブルーミング
等の問題がある。
またCRT検査をTVカメラを用いず行う方法として、
−次元のラインセンサを用い、CRTの映像光をライン
センサ上に偏向走査させることが考えられる。しかし、
この場合もCR7画像の走査線に同期させることが難し
くて、信頼性に欠ける問題があった。
°    た  の 本発明は上記CRT検査を簡単な装置で高精度に行い得
る方法を提供することを目的とし、ビデオ信号により輝
度変調され水平並びに垂直偏向系により映像を得る陰極
線管の映像光をスポットフォトセンサに集光し、このフ
ォトセンサの出力を前記水平並びに垂直偏向系からの同
期信号と同期したタイミングパルスによりサンプリング
してアナログ−デジタル変換することにより上記目的を
達成したものである。
11皿 以下本発明方法の具体的実施装置例を図面に基づき説明
する。
第1図において、(1)はCRTで、このCRT (1
)には検査用ビデオ信号(2)が供給され、輝度変調さ
れた電子ビームを図示しないが水平偏向手段及び垂直偏
向手段により偏向走査させ所望の映像を得るようセット
される。
(3)はCRT (1)の前方に配置された1つのスポ
ットフォトセンサで、応答性に優れた光電管やフォトト
ランジスタ、フォトダイオードなどが用いられる。(4
)はCRT (1)の画面全体の映像光をスポットフォ
トセンサ(3)の一点に集光するレンズ系、(5)はス
ポットフォトセンサ(3)の出力を増幅する増幅器、(
6)は増幅器(5)の出力(アナログ)をデジタル変換
するA/D変換器である。(7)はビデオ信号(2)に
含まれる水平並びに垂直同期信号からタイミングパルス
Pを発生してA/D変換II (6)に出力するタイミ
ングパルス発生器で、スポットフォトセンサ(3)の出
力信号はタイミングパルス発生器(7)からのタイミン
グパルスPによりサンプリングされてA/D変換器(6
)でA/D変換される。(8)はA/D変換器(6)で
A/D変換されたデジタル信号をCR7画像の1フレ一
ム分ずつ記憶するフレームメモリ、(9)はフレームメ
モリ(8)で記憶されたデータを処理してCR7画像の
良否判定等を行うデータ処理装置である。
いまCRT (1)が第2図に示すように内蔵電子銃(
10)からの電子ビーム(11)でフェース部内面の螢
光II! (12)上を走査し映像を得る場合を考える
。電子ビーム(11)が螢光F! (12)上の一点m
を照射してこの点mが発光すると、その光はスポットフ
ォトセンサ(3)に入射してスポットフォトセンサ(3
)は入射光量に応じた大きさの電気信号を出力する。こ
の出力はA/D変換器(6)でタイミングパルスPによ
りサンプリングされてデジタル変換されてフレームメモ
リ(8)に送られる。フレームメモリ(8)は螢光il
l (12)上における点mの位置に対応したアドレス
m°に点mの光量に応じたデジタル化されたデータを記
憶する0以上のことが電子ビーム(11)が1フレーム
走査する間行われ、フレームメモリ(8)にはCRT画
像の1フレ一ム分の各走査線上における発光した点のデ
ジタル化されたデータが記憶され、このデータはデータ
処理装置(9)に送られてCRT検査項目に応じた検査
が行われる。
例えばCRT (1)の螢光膜欠陥を検査する場合は螢
光膜(12)全体を均一発光させたホワイトラスクの状
態で行われる。この時のビデオ信号(2)は第3図の波
形(イ)に示すように周期的に同期信号(a)が入った
直線波形であり、スポットフォトセンサ(3)の出力波
形は螢光膜(12)に欠陥が無い部分において、第3図
の実線の波形(ロ)に示すように上述同期信号(a)に
対応するところが螢光体の残光特性にて三角波形(b)
になるだけで直線波形となる。ここで、螢光ill (
12)の一部に剥離により欠陥が在って、この上を電子
ビーム(11)が走査すると、この走査線上の前記欠陥
のあるところのみが黒点となり、この黒点に対するスポ
ットフォトセンサ(3)の出力は例えば第3図の波形(
ロ)における破線波形(C)の如く低下して他より容易
に区分され、従ってこの出力をデジタル化してデータ処
理すれば螢光11 (12)の欠陥箇所やその大きさが
正確に分る。
またCRT画像の解像度などの画質を検査する場合はC
RTW!R像に所定のテストパターンを設けて行えばよ
い、この場合、螢光体の残光時間が長い場合には、この
残光特性を補正する回路をデータ処理装置(9)に組込
んでおくことが望ましい。
尚、以上の説明は白黒CRTを前提に説明したが、本発
明はカラーCRTに対しても通用し得るもので、このカ
ラーCRTに対してはカラーCRTとスポットフォトセ
ンサ間に色フィルタを入れ、る等すれば実現可能となる
血皿夏班来 本発明によればCR7画像光の全体が1つのスポットフ
ォトセンサで検出されるので、撮像の条件が均一化され
、而もCRT画像の走査線と撮像系との同期のずれなど
の問題が皆無となり、CRT画像に対する撮像画像の正
確性が一段と向上して、CRT検査の信頼性向上及び自
動化の実現を容易にする。また撮像素子に1つのスポッ
トフォトセンサを用いるだけのため、CRT検査装置の
簡略化、コストダウンを可能にする。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の具体的−実施装置例を示すブロッ
ク図、第2図は第1図の装置の動作を説明する概略部分
斜視図、第3図は第1図の装置による一検査項目におけ
るビデオ信号とス 。 ポットフォトセンサの出力波形図である。 (1) −・CRT、(2)−・ビデオ信号、(3)・
−スポットフォトセンサ、(6)−・−A / D変換
器、P −タイミングパルス。 特 許 出 願 人  関西日本電気株式会社代   
 理    人  江  原  省  吾fk1図 Wh2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ビデオ信号により輝度変調され水平並びに垂直偏
    向系により映像を得る陰極線管の映像光をスポットフォ
    トセンサに集光し、このフォトセンサの出力を前記水平
    並びに垂直偏向系からの同期信号と同期したタイミング
    パルスによりサンプリングしてアナログ−デジタル変換
    するようにしたことを特徴とする陰極線管の映像光検出
    方法。
JP28161384A 1984-12-26 1984-12-26 陰極線管の映像光検出方法 Pending JPS61153921A (ja)

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JP28161384A JPS61153921A (ja) 1984-12-26 1984-12-26 陰極線管の映像光検出方法

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JP28161384A JPS61153921A (ja) 1984-12-26 1984-12-26 陰極線管の映像光検出方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61153921A true JPS61153921A (ja) 1986-07-12

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ID=17641574

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JP (1) JPS61153921A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL9400300A (nl) * 1993-03-01 1994-10-03 Mitsubishi Electric Corp Werkwijze voor de inspectie van componenten van een kathodestraalbuis en inrichting voor het uitvoeren van een dergelijke werkwijze.
WO2000031519A1 (en) * 1998-11-25 2000-06-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing a cathode ray tube, in which a display screen is inspected

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51113567A (en) * 1975-03-31 1976-10-06 Yokogawa Hokushin Electric Corp Cathode ray brightness examination unit
JPS5456354A (en) * 1977-10-14 1979-05-07 Hitachi Ltd Pattern inspecting equipment
JPS59117044A (ja) * 1982-12-23 1984-07-06 Hitachi Ltd カラ−ブラウン管の白色むら検査方法

Patent Citations (3)

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WO2000031519A1 (en) * 1998-11-25 2000-06-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing a cathode ray tube, in which a display screen is inspected

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