JPS61144040A - Equal-capacity wiring method of lsi - Google Patents

Equal-capacity wiring method of lsi

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JPS61144040A
JPS61144040A JP59266755A JP26675584A JPS61144040A JP S61144040 A JPS61144040 A JP S61144040A JP 59266755 A JP59266755 A JP 59266755A JP 26675584 A JP26675584 A JP 26675584A JP S61144040 A JPS61144040 A JP S61144040A
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JP
Japan
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capacitance
pattern
circuit
value
capacity
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JP59266755A
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Japanese (ja)
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Minoru Nomura
稔 野村
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To extremely simply equalize the capacity by correcting the capacity balance between wirings. CONSTITUTION:It is a matter of common knowledge that capacity is generated in a wiring pattern between it and a substrate, between it and wiring of another layer and between other wirings of the same layer. Capacity value Cc per unit area is determined for the wiring layers by taking those influence into consideration. An area S is obtained in an layout for the capacity value Ca to be compensated to set the capacity pattern, and the shape of the pattern is decided to match to it. The area S is obtained by Ca/Co. Here, the capacity pattern is performed by a rectangular shape, an inlaid net or mesh in response to the compensating capacity value C, and the type number of the capacity pattern is determined by the relationship between the value C of the variation in the capacity value to be compensated and the capacity value to be compensated.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、LSIの勢容蓋配線方法に関する。[Detailed description of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a method for wiring an LSI.

(従来の技術) 論理回路におけるブロック信号は、大規模集結回路(以
″″)Lll)の入力端子に供給され、分配ゲートブロ
ックを介して、各フリップ・フロップ(以後F/Fと呼
ぶ)の入力端子に伝搬されるが、配置・配線設計により
実現される各ブロック系回路の配線結果は、同形にはな
らず、そのためLSIのブロック入力端子から各F/F
入力端子までの遅延時間には、差が生じてくるのが普通
である。
(Prior Art) A block signal in a logic circuit is supplied to the input terminal of a large-scale integrated circuit (hereinafter referred to as "Lll"), and is sent to each flip-flop (hereinafter referred to as F/F) via a distribution gate block. Although it is propagated to the input terminal, the wiring results of each block circuit realized by placement and wiring design do not have the same shape, so the wiring from the LSI block input terminal to each F/F
There is usually a difference in the delay time to the input terminal.

この差の時間は、ブロック・スキエラと呼ばれ、ブロッ
クサイクル時間が短かい高速論理回路を実現するために
は、出来るだけ小さくおさえられねば危らない。LSI
の配線による遅延時間は、一般に次式により表現できる
This time difference is called a block-schiera, and must be kept as small as possible in order to realize a high-speed logic circuit with a short block cycle time. LSI
The delay time due to wiring can generally be expressed by the following equation.

’l’pd =αCR+β ここでTpdは遅延時間、Cは容量、Rはブロック端子
の出力抵抗、α、βはC,Hによって決まる定数である
'l'pd=αCR+β Here, Tpd is the delay time, C is the capacitance, R is the output resistance of the block terminal, and α and β are constants determined by C and H.

すなわ)、’l’pdを異同路間で合せるKは、Cと只
の値を調整すれば良いことになる。
In other words, K, which matches 'l' pd between different routes, can be adjusted by simply adjusting the value of C.

従来の技術を示す第1の文献(A、H,Dansky。The first document showing the prior art (A. H. Dansky).

“Bipolar C1rcuit Design f
or a 5000−Circuit VLSI Ga
te Array、”IBM J、RE8゜D]A’1
LOP、 VOL、2s No3 MAY 1981.
)では、抵抗Rの値を変えて遅延時間を調整し、クリテ
ィカルパスの速度補償をしている。#!1の文献のFi
g3では、基本回路内に81(Ωの抵抗を並列に設けて
おき、回路の遅延時間に応じて、片側の抵抗を使うか、
両方とも使うかを区別し、4にΩ。
“Bipolar C1rcuit Design f
or a 5000-Circuit VLSI Ga
te Array, "IBM J, RE8°D] A'1
LOP, VOL, 2s No3 MAY 1981.
), the delay time is adjusted by changing the value of the resistor R to compensate for the speed of the critical path. #! Fi of document 1
In g3, a resistor of 81 (Ω) is installed in parallel in the basic circuit, and depending on the delay time of the circuit, one resistor can be used, or
Distinguish whether to use both, and Ω to 4.

および8kgの2つの値を得ている。この2つの抵抗値
のレイアウト法は、抵抗の線分と、電源がクロスしてい
る位置にコンタクトをあけるか否かによって成される。
and 8 kg. The layout method for these two resistance values is determined by whether or not to make a contact at the position where the resistance line and the power supply cross.

この方法で行ったとき、ブロック内で閉じる処理なので
、ブロック間の配置、配線結果には、何らの影響を及は
さないため、遅延時間の評価とその補償を配線の後処理
として行うことができる。但し、抵抗は、基本回路に作
シ込んでおく必要がめシ、それらも一定の値にならざる
を得ないし、数の制限もるる。よって、遅延時間補償に
用いたとしたとき、微調整がきかないという問題が残る
。又抵抗を変えることは、電力の増減を伴い、高速LS
I実現のためには、過剰の電力が必要になるといりた状
態にもなシかねない。
When using this method, since the processing is closed within a block, it does not affect the placement or wiring results between blocks, so it is possible to evaluate the delay time and compensate for it as post-processing of the wiring. can. However, the resistors must be built into the basic circuit, and they must have a constant value, and there is a limit to their number. Therefore, when used for delay time compensation, there remains the problem that fine adjustment is not possible. Also, changing the resistance involves increasing or decreasing the power, which increases the speed of high-speed LS.
In order to realize I, an excessive amount of electric power may be required.

別の方法として、同一機能のブロックに対し、電力値、
遅延時間の異る複数種類の代替ブロックを用意しておき
、配線後に最適なものを選択するという例もある。
Alternatively, for blocks with the same function, the power value,
In some cases, multiple types of alternative blocks with different delay times are prepared and the optimal one is selected after wiring.

文献(R,Donze他、“PHILO−人VLSID
ESIGN  8TSTEM、”  19th Des
ign Automa−tion Conferenc
e、 Jane 1982. pp、 163−169
)この方法だと前記した例と同様に配置・配線時に特別
カ考慮を払わ々いでも、後工程で遅延時間を補償できる
という長所がある。
Literature (R. Donze et al., “PHILO-Human VLSID
ESIGN 8TSTEM,” 19th Des
ign Automation Conference
e, Jane 1982. pp, 163-169
) This method has the advantage of being able to compensate for the delay time in the subsequent process, even if no special consideration is taken during placement and wiring, as in the above-mentioned example.

(発明が解決しようとする問題点) しかし、用意しておくべき代替ブロックの種類が増加し
、実用上で可能表敷に制限すると遅延時間の微調整とい
った目的は満せなくなるという欠点がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, there is a drawback that the number of types of alternative blocks that must be prepared increases, and if the method is limited to only those that are possible in practice, the purpose of finely adjusting the delay time cannot be achieved.

本発明の目的は、上記欠点を解決する等容量配線方法を
提供することにある。
An object of the present invention is to provide an equal capacitance wiring method that solves the above-mentioned drawbacks.

(問題点を解決するための手段) 本発明の方法は、複数種類の容量値を持つ容量パターン
と、ブロックの入力、出力端子に少なくとも1つ該容量
パターンを設置する領域を設けたブロックとを用い、L
SI回路の信号伝搬遅延時間を補償するために1回路の
等容量化を次の手順で行うことを特徴としたLSIの等
容量配線方法。
(Means for Solving the Problems) The method of the present invention uses a capacitor pattern having a plurality of types of capacitance values, and a block provided with at least one region in which the capacitor pattern is installed at the input and output terminals of the block. Use, L
A method for wiring an LSI with equal capacitance, characterized in that the capacitance of one circuit is made equal in the following steps in order to compensate for signal propagation delay time in an SI circuit.

回路接続データ、ブロックの端子位置情報およびブロッ
クの構造情報を入力する第1のステップと、 この第1ステップによって入力された情報に基いてブロ
ック間の配置を行うに2のステップと、第2ステップで
得られた配置情報と第1ステップで入力された端子位置
情報と回路接続情報に基いてブロック間の配線を行う第
3のステップと、全ての回路の容量計算を行うM4のス
テップと、等容量化を要求する回路グループ内で最大の
容量値を求める第5のステップと、 この第5のステップで得られた最大値と各回路の容量値
との間の差分を計算し、補償されるべき容量値を得て、
その補償値を持つ容量パターンを選択する第6のステッ
プと、 第3ステップで得られ九装置、配線結果をマスクパター
ン用に編集する第7のステップと、もし回路が等容量化
を必要とするとき、第6のステップで選択されたパター
ンを第7のステップで作られたマスクパターン内に埋め
込む絶8のステップ。
A first step of inputting circuit connection data, block terminal position information, and block structure information; a second step of arranging the blocks based on the information input in the first step; The third step is to perform wiring between blocks based on the arrangement information obtained in step 1, the terminal position information and circuit connection information input in the first step, the step M4 is to calculate the capacity of all circuits, etc. A fifth step is to find the maximum capacitance value within the circuit group that requires capacitance, and the difference between the maximum value obtained in this fifth step and the capacitance value of each circuit is calculated and compensated. Obtain the power capacitance value,
a sixth step of selecting a capacitance pattern with that compensation value, a seventh step of editing the nine device and wiring results obtained in the third step for the mask pattern, and if the circuit requires equal capacitance. and an eighth step of embedding the pattern selected in the sixth step into the mask pattern created in the seventh step.

(実施例) 次に本発明の一実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
(Example) Next, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第3図を参照すると、本発明に適用した信号分配回路は
、外部からブロック信号を入力するブロック端子9、こ
のブロック端子9から受けとり九ブロック信号を分配す
る分配ゲート201分配グー)20に接続されている回
路45〜48、およびこれら回路45〜48に接続され
ている、F/F51〜54から構成されている。
Referring to FIG. 3, the signal distribution circuit applied to the present invention includes a block terminal 9 that inputs a block signal from the outside, and a distribution gate 201 (distribution gate) 20 that receives the block signal from the block terminal 9 and distributes the block signal. It consists of circuits 45-48, and F/Fs 51-54 connected to these circuits 45-48.

第4図を参照すると、第3図で示された分配ゲート20
を含む信号分配ブロック821がマスタスライスLSI
で構成された例が示されている。
Referring to FIG. 4, the distribution gate 20 shown in FIG.
The signal distribution block 821 including the master slice LSI
An example composed of is shown.

マスタスライスL19Iは、周知の通)、トランジスタ
、抵抗等の素子をあらかじめ作シ込んだセルを、LSI
テップ上にmxnのマトリックス状に配列した構造がと
られておシ、機能を実現するブロックでは、それらセル
がkxl(1≦にくm。
The master slice L19I is a cell in which elements such as transistors and resistors are pre-fabricated (as is well known), and is used as an LSI
The structure is arranged in a matrix of mxn on the step, and in the block that realizes the function, the cells are kxl (1≦m).

1くlくn)のマトリックス状に用いられ、そのセル内
の素子間に金属化配線が施されて実現する。
The cells are used in a matrix of 1 x 1 x n) and are realized by providing metallized wiring between the elements within the cell.

ここで杜、分配ブロックをセルlからセル3までの3セ
ルを用いて構成しておシ、セル1では、外部端子21に
対し容量パターン設置部11、外部端子22に対し、容
量パターン設置部12が用意されている。同様に1セル
3内に、外部端子23用に容量パターン設置部32、お
よび外部端子24用に容量パターン設置部31が用意さ
れている。セル2は、分配ゲート20そのもので実現さ
れておシ、入力端子25、出力端子21〜24を持りて
いる。分配ゲート部20から各容量パターン設置部へ社
、接続ライン41〜44を伸ばして接続されている。
Here, the distribution block is configured using three cells from cell 1 to cell 3. In cell 1, the capacitance pattern installation section 11 is connected to the external terminal 21, and the capacitance pattern installation section is connected to the external terminal 22. 12 are available. Similarly, in one cell 3, a capacitive pattern installation section 32 for the external terminal 23 and a capacitive pattern installation section 31 for the external terminal 24 are prepared. The cell 2 is realized by the distribution gate 20 itself and has an input terminal 25 and output terminals 21-24. The distribution gate section 20 is connected to each capacitor pattern installation section by extending connection lines 41 to 44.

第5図には、第3図で示し九分配ゲート20を含む信号
分配ブロックがビイルディング・ブロックLSIで構成
され九例が示されている。
FIG. 5 shows nine examples in which the signal distribution block shown in FIG. 3 and including the nine distribution gates 20 is constituted by a building block LSI.

ビイルディング・ブロックLSI(又紘ポリセルLSI
とも言う)は、内部レイアクトの定まったブロック(例
えばナントゲート、7リツプ・)諺ツブ吟)ヲアらかじ
め用意しておき、LaI全 ・体のレイアウト設計を容
易にしようとするものである。
Building Block LSI (Matahiro Polycell LSI
) is intended to facilitate the layout design of the entire LaI by preparing blocks with fixed internal layouts (for example, Nant Gate, 7 Lips, etc.) in advance.

マスタスライス方式との大きな差は、LSIテップ面撫
が固定されていないことで、できるだけチップ面積を小
さくする(ブロックの占める面積は減らせないので、ブ
ロック間の配線領域を小さくする)ようなレイアウトが
目標に々る。
The big difference from the master slice method is that the LSI tip surface is not fixed, so the layout is designed to minimize the chip area (the area occupied by the blocks cannot be reduced, so the wiring area between blocks is reduced). Reach your goal.

この詳ah&辺他著のrLSI技術」電子通信学会昭5
4.3を参照できる。
``The details of rLSI technology written by ah & Ben et al.'' Institute of Electronics and Communication Engineers, 1975
4.3 can be referred to.

プpツク7内には、容量パターン設置部11゜12、3
1.32 、分配ゲート20、入力端子25、出力端子
21〜24および接続ライン41〜44が設置されてい
る。
Inside the package 7, there are capacitance pattern installation sections 11, 12, 3.
1.32, distribution gate 20, input terminal 25, output terminals 21-24 and connection lines 41-44 are installed.

第4図、および第5図で示された容量パターン設置部1
1,12,31,32は、ブロック自体とじては、空領
域としておき、プル1ク間配線結果の遅延補償として選
ばれる容量パターンを置いても、ブロック自体の機能が
損われることがないようにする。次に容量補償用の容量
パターンの選択法を第6人図および第6B図を用いて詳
細に説明する。
Capacity pattern installation part 1 shown in FIGS. 4 and 5
1, 12, 31, and 32 are left as empty areas in the block itself, so that the function of the block itself will not be impaired even if a capacitance pattern selected as a delay compensation for the wiring result between the pulls and the pulls is placed. Make it. Next, a method for selecting a capacitance pattern for capacitance compensation will be explained in detail using Fig. 6 and Fig. 6B.

配線パターンに社、サブストレートとの間、別層の配線
との間および同層の他の配線との間で容量が発生するこ
と線周知の事実である。それらの影響を考慮して、各配
線層に対し、単位面積当りの容量値(co)が決められ
る。
It is a well-known fact that capacitance occurs between a wiring pattern, the substrate, wiring on another layer, and other wiring on the same layer. Taking these influences into consideration, the capacitance value (co) per unit area is determined for each wiring layer.

容量パターンの設置にあたっては、補償する容量値(C
a )に対し、レイアウト上での面積0を求め、それに
合うようにバタ・−ンの形状を決める。
When installing a capacitance pattern, the capacitance value to be compensated (C
For a), find the area 0 on the layout and decide the shape of the baton to match it.

この関係を第6A図に示す。補償する容量値に応じた容
量パターンの形状の例を第6B図に示す。
This relationship is shown in FIG. 6A. FIG. 6B shows an example of the shape of the capacitance pattern depending on the capacitance value to be compensated.

ここで容量パターンは、補償容量値(ΔC)に応じて矩
形、つづら折シ又はメッシ為等の形状によ)実現される
Here, the capacitance pattern is realized in a rectangular, zigzag, or mesh shape depending on the compensation capacitance value (ΔC).

例えば、1層の単位面積当りの容量(CO)を5X 1
0−’ Pk’/pm2とするとき、0.1 P Fの
補償のためには、2000μrtNの面積が必要になる
。容量パターンの18Ii類数は、補償する容量値の変
化分の値(ΔC)と補償する谷ii:akの最大値との
関係で決められる。
For example, the capacitance (CO) per unit area of one layer is 5X 1
When 0-'Pk'/pm2, an area of 2000 μrtN is required for compensation of 0.1 PF. The 18Ii class number of the capacitance pattern is determined by the relationship between the value of the change in capacitance value to be compensated (ΔC) and the maximum value of the valley ii:ak to be compensated.

次に容量の補償法について図面を参照して詳細に説明す
る。第1図は、本発明の等容量自e線を実現するための
制御方法を示した流れ図であシ、複数個の処理ボックス
と判断ボックスとから構成されている。本処理は、本流
れ図に従って、プログラムを作成しコンビ為−タ上で動
作させることで実現することもできるし、同処理をノ・
−ドウエア化して動作させることで実現することもでき
る。
Next, a capacitance compensation method will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart showing a control method for realizing the equal capacitance self-e-line according to the present invention, and is composed of a plurality of processing boxes and judgment boxes. This process can be realized by creating a program and running it on the computer according to this flowchart, or it can be done by
- It can also be realized by operating it as software.

又全ての処理を人手作業に姿ねることによっても実現で
きる。そして、それらの各々で実現された結果は、同一
になることは明らかである。
This can also be achieved by performing all processing manually. And it is clear that the results achieved with each of them will be the same.

よりて、それら実現法の内、プログラムで実現する場合
に焦点を絞って以下説明を行う。
Therefore, among these implementation methods, the following explanation focuses on the case where it is implemented by a program.

第2A図から第2C図には、第1図における処理を実現
する上で必要となる各種情報が示されておシ、一般的に
はコンビエータのメモリに格納される。
FIGS. 2A to 2C show various types of information necessary to implement the process shown in FIG. 1, and are generally stored in the memory of the combiator.

第2A図では、ブロック821.822の各端子82毎
の端子容量値83と容量パターン設置位@84を示して
いる。ここで、ブロック821゜822とは、上述した
分配ゲートブロック821゜F/F 51〜54に対応
する。容量パターン設置領域をもたないブロックについ
ては、当然のことだが容量パターン設置位f[i、84
にはなにも情報がない。第2B図では、等容量を必要と
する回路情報が示されており、等容量を必要とする回路
グループ85毎にそのグループ内の回路名86、容1値
87、補償答Ji[sa、容量パターン塩89、容量パ
ターン設置位f891の情報がある。ここで、等容量を
必要とする回路グループ85とは、第3図で示した回路
45〜48をひとまとめにしたものに相当する。よって
、回路名86には、それら回路45〜48が記述される
。容量(i87、補償容fi[88、は容量計算後に格
納される。又容量パターン塩89、容量)(ターン設置
位置891も、補償容量値から容量)くターンを選択し
てから格納される。よりて、初期状態では、回路名86
が格納されているだけに表る。
FIG. 2A shows terminal capacitance values 83 and capacitance pattern installation positions @84 for each terminal 82 of blocks 821 and 822. Here, the blocks 821° and 822 correspond to the above-mentioned distribution gate blocks 821° F/Fs 51 to 54. Of course, for blocks that do not have a capacitance pattern installation area, the capacitance pattern installation position f[i, 84
has no information. In FIG. 2B, circuit information that requires equal capacitance is shown, and for each circuit group 85 that requires equal capacitance, the circuit name 86 in that group, the capacitance 1 value 87, the compensation answer Ji[sa, the capacitance There is information on pattern salt 89 and capacitance pattern installation position f891. Here, the circuit group 85 that requires equal capacitance corresponds to a group of circuits 45 to 48 shown in FIG. 3. Therefore, the circuit name 86 describes these circuits 45 to 48. The capacitance (i87, compensation capacitance fi [88,) is stored after the capacitance calculation. Also, the capacitance pattern salt 89, capacitance) (the turn installation position 891 is also calculated from the compensation capacitance value to the capacitance) is stored after selecting a turn. Therefore, in the initial state, the circuit name is 86.
It is displayed only because it is stored.

第2C図では、補償容量値と容量ノ(ターン名の対応を
示す。ここで第1の補償容量値810と第2の補償容量
値811とは、その大小関係を第1の補償容量値810
く第2の補償容量値811のようにし、第1の補償容量
値810から第2の補償容量値811の範囲内に入る容
量を補償するために、容量パターン塩812を用いるよ
うにする。
FIG. 2C shows the correspondence between the compensation capacitance value and the capacitance turn name. Here, the first compensation capacitance value 810 and the second compensation capacitance value 811 have a magnitude relationship with respect to the first compensation capacitance value 810.
A capacitance pattern salt 812 is used to compensate for the capacitance that falls within the range from the first compensation capacitance value 810 to the second compensation capacitance value 811.

理想的には、各補償容量値に応じて1つの容量)(ター
ン名を用意するのがよいのだが、容量)くターンが無数
に存在してしまう。このため、このようにある範囲指定
を行い、容量パターンを共通に用い、種類の増加をおさ
えている。
Ideally, it would be better to prepare one capacitor (turn name) for each compensation capacitance value, but there would be an infinite number of capacitor turns. Therefore, by specifying a certain range and using a common capacity pattern, the number of types is reduced.

以上の情報を元に第1図の説明を以下に行う。Based on the above information, FIG. 1 will be explained below.

(配置配線) 回路接続情報701およびLSI、ブロックの物理的構
造情報702を処理ボックス71で入力し、ブロック相
互間の配置位置を処理ボックス72で決める。次に配置
情報とブロックの端子位置情報、回路接続情報を元にブ
ロック間の配線を処理ボックス73で行う。
(Placement and Routing) Circuit connection information 701 and physical structure information 702 of LSI and blocks are inputted in a processing box 71, and placement positions between the blocks are determined in a processing box 72. Next, a processing box 73 performs wiring between blocks based on the arrangement information, block terminal position information, and circuit connection information.

(等容量化) 次に、全ての回路について回路の容量計算を行う。判断
ボックス74では、全ての回路の処理が終ったか否かを
判断し、終っているときは、判断ボックス76に移る。
(Equivalent capacitance) Next, circuit capacitance calculations are performed for all circuits. In the decision box 74, it is determined whether or not the processing of all circuits has been completed, and if the processing has been completed, the process moves to a decision box 76.

終りでいないときは、処理ボックス75に移シ、回路の
容量計算を行う。
If it is not finished, the process moves to processing box 75 and calculates the capacity of the circuit.

回路の容量は、前記したように端子容量C1と配線容量
CWとから計算される。
The capacitance of the circuit is calculated from the terminal capacitance C1 and the wiring capacitance CW, as described above.

端子容量C1を求めるためには、回路の構成ブロックと
端子を元にして、第2A図のブロック821゜822と
端子名82を調べ、該当する容量値83を抽出し、抽出
された各端子容量値を合計して端子容量値を合計して端
子容量値とする。配線容量値CWは、回路の配線結果の
各配線層毎の線長合計11と各配線層毎の線巾(W+ 
)と、単位面積当シの容量値(C,t)を用いて次のよ
うに計算される。
To find the terminal capacitance C1, check the blocks 821 and 822 and the terminal name 82 in Figure 2A based on the circuit configuration blocks and terminals, extract the corresponding capacitance value 83, and calculate each extracted terminal capacitance. The terminal capacitance value is determined by adding up the terminal capacitance values. The wiring capacitance value CW is determined by the total line length of each wiring layer of the circuit wiring result, 11, and the line width of each wiring layer (W+
) and the capacitance value (C, t) per unit area.

(注:ここでは、配線層は、2層とする)こうして求め
られた配線容量C豐と端子容量ctとを合計して該当回
路の容量が決まる。
(Note: Here, it is assumed that there are two wiring layers.) The capacitance of the corresponding circuit is determined by adding up the wiring capacitance C and the terminal capacitance ct thus obtained.

ここで求められた容量値は、該回路がg2B図に等容量
を必要とする回路として登録されているとき、該当する
回路名86に対する容量値87として格納される。もし
、等容量を必要とする回路でないときは、この処理は不
要となる。
The capacitance value obtained here is stored as the capacitance value 87 for the corresponding circuit name 86 when the circuit is registered in the g2B diagram as a circuit that requires equal capacitance. If the circuit does not require equal capacitance, this process is unnecessary.

判断ボックス76では、第2B図に示ス等容量を必要と
する回路グループ85の全てが終了したかを判断し、終
了しているとき線、判断ボックス710に移る。
In decision box 76, it is determined whether all of the circuit groups 85 that require the same capacity as shown in FIG. 2B have been completed, and if they have been completed, the process moves to decision box 710.

終了していないときは、処理ボックス77に移る。If the process has not been completed, the process moves to processing box 77.

処理ボックス77では、等容量を必要とする回路グルー
プ内で最大の容量値を求める。この方法としては、第2
B図のある等容量を必要とする回路グループ85内の回
路86の容量値87のそれぞれを比較し、最大のものを
求める。
In processing box 77, the maximum capacitance value within the circuit group requiring equal capacitance is determined. For this method, the second
The capacitance values 87 of the circuits 86 in the circuit group 85 that require certain equal capacitances in diagram B are compared, and the maximum value is determined.

判断ボックス78は、該回路グループ内の全回路が終了
したかを判断し、終了したときは、判断ボックス76に
移ル、次の回路グループの処理を行う。
The judgment box 78 judges whether all the circuits in the circuit group have been completed, and when they have been completed, the process moves to the judgment box 76 and processes the next circuit group.

終了していないときは、処理ボックス79に移る。If the process has not been completed, the process moves to processing box 79.

処理ボックス79では、前記処理ボックスで求めた最大
の容1を値と、第2B図の回路の容量値87との差分を
計算し、補償容量[L88を求め、容量パターンを選択
する。この方法としては、第2C図に示す第1の補償容
量値810と第2の補償容量値811の範囲指定のいず
れかに前記補償容量値が入るかを調べ、該当する範囲指
定咳対応する容量パターン812を求めて、第2B図に
示す該当する回路の容量パターン塩89とする。さらに
、その設置位tl1891をブロックのLSI上での配
置位置と第2A図で示されるプUツク内における容量パ
ターン設置位@84とを合算して求める。
In a processing box 79, the difference between the maximum capacitance 1 obtained in the processing box and the capacitance value 87 of the circuit shown in FIG. 2B is calculated, a compensation capacitance [L88] is obtained, and a capacitance pattern is selected. In this method, it is checked whether the compensation capacitance value falls within one of the range designations of the first compensation capacitance value 810 and the second compensation capacitance value 811 shown in FIG. 2C, and the capacitance corresponding to the corresponding range designation is determined. The pattern 812 is determined and used as the capacitance pattern salt 89 of the corresponding circuit shown in FIG. 2B. Further, the installation position t1891 is determined by adding up the arrangement position of the block on the LSI and the capacitance pattern installation position @84 in the package shown in FIG. 2A.

(マスク情報作成) 判断ボックス710では、マスク情報に交換する全ブロ
ックの処理が終了したかを判断し、終了したときには、
判断ポックスフ12に移る。終了してないときKは、処
理ボックス711に移る。
(Mask information creation) In the judgment box 710, it is determined whether processing of all blocks to be exchanged with mask information has been completed, and when the processing has been completed,
Move to judgment pox 12. If the process has not been completed, K moves to processing box 711.

処理ボックス711では、ブロック配置結果をマスク情
報用に編集し、マスク情報ファイル717に出力し、判
断ボックス710に戻る。
In processing box 711, the block placement result is edited for mask information, outputted to mask information file 717, and the process returns to decision box 710.

判断ボックス712では、マスク情報に変換する全回路
の処理が終了したかを判断し、終了したときは、処理終
了となる。
In the decision box 712, it is determined whether the processing of all circuits for converting into mask information has been completed, and when the processing has been completed, the processing is completed.

終了し1ないときは、処理ボックス713に移る。If the process ends and there is no one left, the process moves to processing box 713.

処理ボックス713では、配線結果をマスク情報用に編
集し、マスク情報ファイル717に出力し、判断ボック
ス714に移る。
In processing box 713, the wiring result is edited for mask information, outputted to mask information file 717, and the process moves to decision box 714.

判断ボックス714では、等容量を必要とする回路か否
かを判断し、等容量を必要としない回路のときは判断ボ
ックス712に戻る。等容量を必要とする回路のときに
は、判断ボックス715に移る。
In decision box 714, it is determined whether the circuit requires equal capacitance, and if the circuit does not require equal capacitance, the process returns to decision box 712. If the circuit requires equal capacitance, the process moves to decision box 715.

判断ボックス715では、該回路の容量パターンの設置
が全て終了したか判断し、終了したときは、判断ボック
ス712に戻る。
In the decision box 715, it is determined whether all the capacitance patterns of the circuit have been installed, and when the installation has been completed, the process returns to the decision box 712.

終了していないときに線、処理ボックス716に移る。If it is not finished, the line moves to processing box 716.

処理ボックス716で鉱、第2B図・で示される処理ホ
ックス79で選択された容量パターン89を容量パター
ン設置位置891に配置し、マスク情報ファイル717
に出力する。
The capacitance pattern 89 selected by the processing box 79 shown in FIG.
Output to.

処理ボックス716の処理が終ったら判断ボックス71
5の処理に戻る。
When the processing in processing box 716 is completed, judgment box 71 is displayed.
Return to step 5.

以上で示した手順の実現法の例を第7A、7B図で示す
。第7A図では、容量パターン設置部11および12を
持つ分配ゲートブロック821とF/F 51 、およ
び52、分配ゲートブロック821とF/F 51およ
び52とを接続する回路45および46を示す。第1図
の処理ボックス75で回路の容量計算が行われた結果回
路45の容量値がl0FF、回路46の容量値が8PF
になったとする。回路45と回路46との間では、等容
量化が必要の場合、第1図の処理ボックス79によシ、
回路46に補償容量値が2PF必要になり、#轟する容
量パターンbが選択される。
An example of how to implement the procedure described above is shown in FIGS. 7A and 7B. FIG. 7A shows distribution gate block 821 having capacitance pattern installation parts 11 and 12, F/Fs 51 and 52, and circuits 45 and 46 connecting distribution gate block 821 and F/Fs 51 and 52. As a result of calculating the capacitance of the circuit in the processing box 75 of FIG. 1, the capacitance value of the circuit 45 is 10FF, and the capacitance value of the circuit 46 is 8PF.
Suppose that it becomes If it is necessary to equalize the capacitance between the circuit 45 and the circuit 46, use the processing box 79 in FIG.
The compensation capacitance value of 2PF is required for the circuit 46, and the roaring capacitance pattern b is selected.

そして、この選択された容量パターンbは、第1図の処
理ボックス716によシ、容量パターン設置部12に設
置される。
Then, this selected capacitance pattern b is installed in the capacitance pattern installation section 12 according to the processing box 716 in FIG.

以上によシ等容量化が達成される。As described above, equal capacity is achieved.

(発明の効果) 本発明には、配置、配線後レイア9ト結果に何らの変更
を伴わないで等容量化を実現でき、又等容量化を自動配
線で行う場合に必要となる複雑なプログラム変更を回避
できるという効果がある。
(Effects of the Invention) The present invention enables equal capacitance to be achieved without any changes to the layer 9 results after placement and wiring, and also eliminates the need for complicated programs that are required when equal capacitance is performed by automatic routing. This has the effect of avoiding changes.

本発明によれば、ブロック・スキ為−の微調整は容量パ
ターンの拡充によりて達成されるし、遅延調整を電力増
加を伴わない形で実現できる。
According to the present invention, fine adjustment of block spacing can be achieved by expanding the capacitance pattern, and delay adjustment can be realized without increasing power.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1ri!i社、勢容量配線法の処理手順を示す流れ図
、jllE2A、2B、2CvAa、第1図O流し図中
の処理、判断を行うために必要となる情報を示す図、 第3図は、ブロック系回路の信号分配を示す回路図、 第4図線、分配ゲートブロックをマスタスライスLSI
で構成した例を示す図、 第5図は、分配ゲートブロックをビイルディング・ブロ
ックLSIで構成した例を示す図、第6人および6B1
gは、容童禍償用の容量パターンを選択する方法を説明
するための図、および第7人および7B図は、等容量化
の一実施例を示す図である。 第1図から$78図において、82・・曲ブロック端子
名、83・・曲端子容量値、84・・曲容量パターン設
置位置、85・・・・・・等容量を必要とする回路グル
ープ、86・・・・・・等容量を必要とする回路名、8
7・・・・・・回路の容量値、88・・曲補償容量値、
89・・・・・・容量パターン塩、891・・曲容量パ
ターン名設置位置、81O・・間第1の補償容量値、8
11・・・・・・第2の補償容量値、812・・・・・
・容量パターン塩、821・・曲分配ゲートブロック、
822・・・・・・ブロック2.9・・・・・・ブロッ
ク端子、2o・・曲分配ゲート、45〜48・・−m路
、51〜54・・・・・・フリップ・フーツプ(F/F
 )、11.12.31゜32・・・・・・容量パター
ン設置部、1,2.3・・−−−−4ル、41〜44・
・曲接続5イン、21〜24・・曲出力端子、25・・
・・・・入力端子、7・・・・・・ブロック、第 3 
図 Z5      ・へカ秀ドF 字14   [!I
1st ri! Company i, a flowchart showing the processing procedure of the capacitance wiring method, jllE2A, 2B, 2CvAa, Fig. 1 A diagram showing the information necessary to perform the processing and judgment in the O flow diagram, Fig. 3 is a block system Circuit diagram showing signal distribution of the circuit, Figure 4 line, distribution gate block is master slice LSI
FIG. 5 is a diagram showing an example in which the distribution gate block is constructed with a building block LSI.
FIG. 7g is a diagram for explaining a method of selecting a capacitance pattern for compensating for damage to children, and FIGS. 7 and 7B are diagrams showing an example of equalization of capacitance. In Figures 1 to 78, 82...Song block terminal name, 83...Song terminal capacitance value, 84...Song capacity pattern installation position, 85...Circuit group requiring equal capacitance, 86...Circuit name that requires equal capacity, 8
7...Circuit capacitance value, 88...Song compensation capacitance value,
89...capacity pattern salt, 891...music capacity pattern name installation position, 81O...first compensation capacitance value, 8
11... Second compensation capacitance value, 812...
・Capacity pattern salt, 821...Tune distribution gate block,
822...Block 2.9...Block terminal, 2o...Track distribution gate, 45-48...-m path, 51-54...Flip hoop (F /F
), 11.12.31゜32... Capacity pattern installation section, 1, 2.3...---4 le, 41-44.
・Song connection 5-in, 21-24...Song output terminal, 25...
...Input terminal, 7...Block, 3rd
Figure Z5 ・Hekahide F letter 14 [! I

Claims (1)

【特許請求の範囲】 複数種類の容量値を持つ容量パターンと、ブロックの入
力、出力端子に少なくとも1つ該容量パターンを設置す
る領域を設けたブロックとを用いLSI回路の信号伝搬
遅延時間を補償するために、回路の等容量化を次の手順
で行うことを特徴としたLSIの等容量配線方法。 回路接続データ、ブロックの端子位置情報およびブロッ
クの構造情報を入力する第1のステップと、 この第1ステップによって入力された情報に基いてブロ
ック間の配置を行う第2のステップと、第2ステップで
得られた配置情報と第1ステップで入力された端子位置
情報と回路接続情報に基いてブロック間の配線を行う第
3のステップと、全ての回路の容量計算を行う第4のス
テップと、等容量化を要求する回路グループ内で最大の
容量値を求める第5のステップと、 この第5のステップで得られた最大値と各回路の容量値
との間の差分を計算し、補償されるべき容量値を得て、
その補償値を持つ容量パターンを選択する第6のステッ
プと、 前記第3ステップで得られた配置、配線結果をマスクパ
ターン用に編集する第7のステップと、もし回路が等容
量化を必要とするとき、前記第6のステップで選択され
たパターンを前記第7のステップで作られたマスクパタ
ーン内に埋め込む第8のステップ。
[Claims] Compensation for signal propagation delay time of an LSI circuit using capacitance patterns having a plurality of types of capacitance values and a block having at least one area for installing the capacitance pattern at the input and output terminals of the block. An LSI equal capacitance wiring method characterized in that circuits are made equal in capacitance by the following steps. A first step of inputting circuit connection data, block terminal position information, and block structure information, a second step of arranging between blocks based on the information input in the first step, and a second step of inputting circuit connection data, block terminal position information, and block structure information; A third step of wiring between blocks based on the arrangement information obtained in step 1 and the terminal position information and circuit connection information input in the first step, and a fourth step of calculating the capacity of all circuits. The fifth step is to calculate the maximum capacitance value within the circuit group that requires equal capacitance, and calculate the difference between the maximum value obtained in this fifth step and the capacitance value of each circuit, and calculate the compensated value. Obtain the capacitance value that should be,
The sixth step is to select a capacitance pattern with the compensation value, the seventh step is to edit the placement and wiring results obtained in the third step for the mask pattern, and if the circuit requires equal capacitance. and an eighth step of embedding the pattern selected in the sixth step into the mask pattern created in the seventh step.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07192031A (en) * 1993-12-27 1995-07-28 Nec Corp Method and device for automatic layout for integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07192031A (en) * 1993-12-27 1995-07-28 Nec Corp Method and device for automatic layout for integrated circuit

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