JPS61135267A - Loop back test system - Google Patents
Loop back test systemInfo
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- JPS61135267A JPS61135267A JP25789884A JP25789884A JPS61135267A JP S61135267 A JPS61135267 A JP S61135267A JP 25789884 A JP25789884 A JP 25789884A JP 25789884 A JP25789884 A JP 25789884A JP S61135267 A JPS61135267 A JP S61135267A
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- Japan
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- circuit
- random pattern
- network
- digital subscriber
- loop back
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- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
- H04M3/302—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop using modulation techniques for copper pairs
- H04M3/303—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop using modulation techniques for copper pairs and using PCM multiplexers, e.g. pair gain systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子交換機の折返し試験機能に関するものであ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a return test function of an electronic exchange.
ディジタル加入者回路を有する従来の電子交換機に於い
て、ディジタル加入者回路の折返し試験をネットワーク
を介して行う方法の開発が従来から強く要望されていた
。In conventional electronic exchanges having digital subscriber circuits, there has been a strong demand for the development of a method for performing loopback tests on digital subscriber circuits via a network.
最近電子交換機には従来の電話機の他にディジタル形電
話機が接続される様になって来た。此の ′ため最近
の電子交換機には従来の電話機に接続する為の加入者回
路(アナログ加入者回路)の他にディジタル形電話機に
接続する為のディジタル加入者回路が設けられる様にな
っている。Recently, in addition to conventional telephones, digital telephones have come to be connected to electronic exchanges. For this reason, recent electronic exchanges are equipped with digital subscriber circuits for connecting to digital telephones in addition to subscriber circuits (analog subscriber circuits) for connecting to conventional telephones. .
第2図はアナログ加入者回路及びディジタル加入者回路
を有する電子交換機のシステム構成の一例を示す。FIG. 2 shows an example of the system configuration of an electronic exchange having analog subscriber circuits and digital subscriber circuits.
図中、1は中央処理装置、2は信号受信分配装置、3は
アナログ加入者回路、3゛はアナログ加大昔回路3内蔵
のラインプロセッサ、4はディジタル加入者回路、4゛
はディジタル加入者回路4内蔵のラインプロセッサ、
5はネットワーク、6はアナログ形電話機、7はディジ
タル形電話機である。尚以下全図を通じ同一記号は同一
対象物を表す。In the figure, 1 is a central processing unit, 2 is a signal reception distribution device, 3 is an analog subscriber circuit, 3゛ is a line processor with built-in analog converter circuit 3, 4 is a digital subscriber circuit, and 4゛ is a digital subscriber circuit. 4 built-in line processors,
5 is a network, 6 is an analog telephone, and 7 is a digital telephone. The same symbols represent the same objects throughout all the figures below.
第2図に示す様にアナログ加入者回路3、及びディジタ
ル加入者回路4は共にラインプロセッサを内蔵する機器
構成をとっている。As shown in FIG. 2, both the analog subscriber circuit 3 and the digital subscriber circuit 4 have a device configuration that includes a built-in line processor.
第3図はディジタル加入者回路4の構成図の一例を示す
。FIG. 3 shows an example of a configuration diagram of the digital subscriber circuit 4. As shown in FIG.
図中、8は伝送終端部、9は折返し回路、10は回線終
端部、11はネットワーク・インタフェイス、12はイ
ンタフェイスである。In the figure, 8 is a transmission termination section, 9 is a return circuit, 10 is a line termination section, 11 is a network interface, and 12 is an interface.
ネットワーク・インタフェイス11はディジタル加入者
回路4とネットワーク5を接続する回路であり、インタ
フェイス12はラインプロセッサ4″と中央処理装置1
のインタフェイスをとる回路である。The network interface 11 is a circuit that connects the digital subscriber circuit 4 and the network 5, and the interface 12 is a circuit that connects the line processor 4'' and the central processing unit 1.
This is a circuit that has an interface.
回線終端部10はネットワーク5からの信号を伝送路・
端部8へ送信し、伝送終端部8からの信号をネットワー
ク5へ送信する。The line termination section 10 connects the signal from the network 5 to the transmission path.
The signal from the transmission terminal 8 is transmitted to the network 5.
又ラインプロセッサ4゛は中央処理装置lの指令に従っ
て呼制御信号の送受信を行う。The line processor 4' also transmits and receives call control signals in accordance with instructions from the central processing unit 1.
伝送終端部8はディジタル形電話機7とのインタフェイ
スを構成する。The transmission termination section 8 constitutes an interface with the digital telephone 7.
折返し回路9はラインプロセッサ4゛の制御により動作
し、回線終端部10からの信号を其の侭回線終端部lO
に折返す切換え回路である。The loop back circuit 9 operates under the control of the line processor 4, and transfers the signal from the line termination section 10 to the other line termination section lO.
This is a switching circuit that loops back to
ディジタル加入者回路4は上記機器8〜12、及びライ
ンプロセッサ4°から構成されてディジタル加入者回路
としての機能を果たしている。The digital subscriber circuit 4 is composed of the above-mentioned devices 8 to 12 and the line processor 4°, and functions as a digital subscriber circuit.
此の様なディジタル加入者回路4に就いて試験を行う場
合ラインプロセッサ4′により特定のパターンを回線終
端部10に入力し、折返し回路9で折返し、再び回線終
端部10を経由してネットワーク・インタフェイス11
に入力し、ネットワーク・インタフェイス11内で再び
折返し、送信パターンと受信パターンを照合して良否を
判定していた。When testing such a digital subscriber circuit 4, a specific pattern is input to the line termination section 10 by the line processor 4', looped back by the return circuit 9, and then passed through the line termination section 10 again to the network. Interface 11
The input data is input to the network interface 11, and the transmission pattern is compared with the reception pattern to determine whether the transmission pattern is acceptable or not.
然し従来ネットワーク5を介しての折返し試験は行われ
ていなかった。However, conventionally, a loopback test via the network 5 has not been performed.
本発明の目的は上記従来方式の欠点を除去し、電子交換
機のネットワークを介する折返し試験方式を提供するこ
とである。The object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the above-mentioned conventional methods and to provide a return test method via a network of electronic exchanges.
問題点を解決するための手段は、ディジタル加入者回路
を有する電子交換機に於いて、ラインプロセッサ、該ラ
インプロセッサが作成したランダムパターンの送出回路
、該電子交換機のネットワークから送出される該ランダ
ムパターンの受信回路、及び該電子交換機の中央処理装
置と該ラインプロセッサのインタフェイスを具備し、該
中央処理装置からの指令に基づき、該ラインプロセッサ
が該送出回路を駆動して該被試験ディジタル加入者回路
へ該ネットワーク経由酸ランダムパターンを送出し、該
被試験ディジタル加入者回路内で折返されて該被試験デ
ィジタル加入者回路から送出される該ランダムパターン
を該送出回路を駆動して該ネットワーク経由で受信し、
送出した該ランダムパターンと受信した該ランダムパタ
ーンを照合して折返し試験を行うことにより達成される
。A means for solving the problem is to use a line processor in an electronic exchange having a digital subscriber circuit, a circuit for transmitting the random pattern created by the line processor, and a circuit for transmitting the random pattern transmitted from the network of the electronic exchange. It includes a receiving circuit, and an interface between the central processing unit of the electronic exchange and the line processor, and based on instructions from the central processing unit, the line processor drives the sending circuit to connect the digital subscriber circuit under test. transmitting an acid random pattern to the digital subscriber circuit under test via the network, and driving the sending circuit to receive the random pattern, which is looped back within the digital subscriber circuit under test and sent out from the digital subscriber circuit under test, via the network. death,
This is achieved by comparing the transmitted random pattern with the received random pattern and performing a return test.
本発明に依ると中央処理装置の指令に基づきNWシラン
ムパターン送出/受信回路をネットワーク経由で試験し
ようとするディジタル加入者回路に接続してランダムパ
ターンを送出し、ディジタル加入者回路内で折返し、再
びネットワーク経由でランダムパターンを受信し、送出
したランダムパターンと受信したランダムパターンを照
合して折返し試験を行うので完全な機能試験が実施出来
ると云う効果が生まれる。According to the present invention, based on a command from the central processing unit, the NW Silam pattern sending/receiving circuit is connected to the digital subscriber circuit to be tested via the network, and a random pattern is sent out, and the random pattern is returned within the digital subscriber circuit. Since the random pattern is received again via the network and a return test is performed by comparing the sent random pattern and the received random pattern, the effect is that a complete functional test can be performed.
第1図は本発明に依る折返し試験を可能とする回路構成
の一実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a circuit configuration that enables a foldback test according to the present invention.
図中、51はラインプロセッサ、52はインタフェイス
、53はランダムパターン送出回路、54は受信回路、
55は本発明に依るNWシランムパターン送出/受信回
路である。In the figure, 51 is a line processor, 52 is an interface, 53 is a random pattern sending circuit, 54 is a receiving circuit,
Reference numeral 55 denotes a NW Shiram pattern sending/receiving circuit according to the present invention.
以下図に従って本発明の詳細な説明する。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
インタフェイス52は中央処理装置1とラインプロセッ
サ51のインタフェイスを構成し、ランダムパターン送
出回路53はラインプロセッサ51から出力された任意
のデータをネットワーク5へ送出する回路であり、受信
回路54はネットワーク5から送られて来たデータを受
信する回路である。ラインプロセッサ51は受信回路5
4がネットワーク5から受信したデータを読取ってディ
ジタル形加入者回路の正常性を確認する機能を有する。The interface 52 constitutes an interface between the central processing unit 1 and the line processor 51, the random pattern sending circuit 53 is a circuit for sending arbitrary data output from the line processor 51 to the network 5, and the receiving circuit 54 is a circuit for sending arbitrary data output from the line processor 51 to the network 5. This is a circuit that receives data sent from 5. The line processor 51 is the receiving circuit 5
4 has a function of reading data received from the network 5 and confirming the normality of the digital subscriber circuit.
ディジタル形加入者回路4に対する折返し試験を行う場
合には、本発明によると電子交換機の中央処理装置1は
先づ試験対象のディジタル加入者回路4のインタフェイ
ス12を介してラインプロセッサ4゛に折返し指令を発
する。此の指令によりラインプロセッサ4゛は自己の折
返し回路9を折返し接続状態とする。When conducting a loopback test on a digital subscriber circuit 4, according to the invention, the central processing unit 1 of the electronic exchange first performs a loopback test on the line processor 4 via the interface 12 of the digital subscriber circuit 4 to be tested. Issue a command. With this command, the line processor 4' puts its loopback circuit 9 into a loopback connection state.
次に中央処理装置1は信号受信分配装置2を駆動してネ
ットワーク5を制御し、ランダムパターン送出回路53
出力、及び受信回路54人力を夫々ネットワーク5を介
して試験しようとするディジタル形加入者回路4のネッ
トワーク・インタフェイス11に接続する。Next, the central processing unit 1 drives the signal reception distribution device 2 to control the network 5, and the random pattern transmission circuit 53
The output and receiver circuits 54 are each connected via the network 5 to the network interface 11 of the digital subscriber circuit 4 to be tested.
更に中央処理装置1はNWシランムパターン送出/受信
回路55に対し折返し試験指令を発する。Further, the central processing unit 1 issues a loopback test command to the NW Silum pattern sending/receiving circuit 55.
此の折返し試験指令はインタフェイス52を経由してラ
インプロセッサ51に伝えられる。ラインプロセッサ5
1は此の折返し試験指令を受けると任意のランダムパタ
ーンを作成してランダムパターン送出回路53に送る。This return test command is transmitted to the line processor 51 via the interface 52. line processor 5
1 creates an arbitrary random pattern upon receiving this return test command and sends it to the random pattern sending circuit 53.
ランダムパターン送出回路53は此のランダムパターン
をシリアル信号に変換してネットワーク5を経由して試
験対象のディジタル形加入者回路4のネットワーク・イ
ンタフェイス11に送る。ディジタル形加入者回路4内
でランダムパターンは回線終端部10を通り、折返し回
路9で折返されて再び回線終端部10を通り、ネットワ
ーク・インタフェイス11に入る。此の信号はネットワ
ーク5を経由してNWシランムパターン送出/受信回路
55の受信回路54に入る。ラインプロセッサ51は受
信回路54の受信信号と先に送出したランダムパターン
を照合して一致すれば、当該ディジタル形加入者回路4
が正常であり、一致しない時は異常と判定し、此の事を
中央処理装置1に報告する。The random pattern sending circuit 53 converts this random pattern into a serial signal and sends it via the network 5 to the network interface 11 of the digital subscriber circuit 4 to be tested. In the digital subscriber circuit 4, the random pattern passes through the line termination 10, is looped back by the loopback circuit 9, passes through the line termination 10 again, and enters the network interface 11. This signal passes through the network 5 and enters the receiving circuit 54 of the NW Shiram pattern sending/receiving circuit 55. The line processor 51 compares the received signal of the receiving circuit 54 with the previously sent random pattern, and if they match, the digital subscriber circuit 4
is normal, and if they do not match, it is determined to be abnormal, and this fact is reported to the central processing unit 1.
以上の動作を各ディジタル加入者回路に就いて順次実施
する。The above operations are performed sequentially for each digital subscriber circuit.
以上詳細に説明した様に本発明によれば、極めて簡単な
回路を付加することによりディジタル形加入者回路の折
返し試験を行うことが可能となると云う大きい効果があ
る。As described above in detail, the present invention has the great effect of making it possible to perform loopback tests on digital subscriber circuits by adding an extremely simple circuit.
第1図は本発明に依る折返し試験を可能とする回路構成
の一実施例を示す図である。
第2図はアナログ加入者回路及びディジタル加入者回路
を有する電子交換機のシステム構成の一例を示す。
第3図はディジタル加入者回路4の構成図の一例を示す
。
図中、1は中央処理装置、2は信号受信分配装置、3は
アナログ加入者回路、3′はアナログ加入者回路3内藏
のラインプロセッサ、4はディジタル加入者回路、4°
はディジタル加入者回路4内蔵のラインプロセッサ、5
はネットワーク、6はアナログ形電話機、7はディジタ
ル形電話機、8は伝送終端部、9は折返し回路、10は
回線終端部、11はネットワーク・インタフェイス、1
2はインタフェイス、51はラインプロセッサ、52は
インタフェイス、53はランダムパターン送出回路、5
4は受信回路、55は本発明に依るNWシランムパター
ン送出/受信回路である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a circuit configuration that enables a foldback test according to the present invention. FIG. 2 shows an example of the system configuration of an electronic exchange having analog subscriber circuits and digital subscriber circuits. FIG. 3 shows an example of a configuration diagram of the digital subscriber circuit 4. As shown in FIG. In the figure, 1 is a central processing unit, 2 is a signal reception distribution device, 3 is an analog subscriber circuit, 3' is a line processor in the analog subscriber circuit 3, 4 is a digital subscriber circuit, 4°
5 is a line processor with built-in digital subscriber circuit 4;
is a network, 6 is an analog telephone, 7 is a digital telephone, 8 is a transmission termination section, 9 is a return circuit, 10 is a line termination section, 11 is a network interface, 1
2 is an interface, 51 is a line processor, 52 is an interface, 53 is a random pattern sending circuit, 5
4 is a receiving circuit, and 55 is a NW Shiram pattern sending/receiving circuit according to the present invention.
Claims (1)
インプロセッサ、該ラインプロセッサが作成したランダ
ムパターンの送出回路、該電子交換機のネットワークか
ら送出される該ランダムパターンの受信回路、及び該電
子交換機の中央処理装置と該ラインプロセッサのインタ
フェイスを具備し、該中央処理装置からの指令に基づき
、該ラインプロセッサが該送出回路を駆動して該被試験
ディジタル加入者回路へ該ネットワーク経由該ランダム
パターンを送出し、該被試験ディジタル加入者回路内で
折返されて該被試験ディジタル加入者回路から送出され
る該ランダムパターンを該送出回路を駆動して該ネット
ワーク経由で受信し、送出した該ランダムパターンと受
信した該ランダムパターンを照合して折返し試験を行う
ことを特徴とする折返し試験方式。In an electronic exchange having a digital subscriber circuit, a line processor, a sending circuit for a random pattern created by the line processor, a receiving circuit for the random pattern sent from the network of the electronic exchange, and a central processing of the electronic exchange An interface between the device and the line processor is provided, and based on a command from the central processing unit, the line processor drives the sending circuit to send the random pattern to the digital subscriber circuit under test via the network. , the random pattern that is looped back within the digital subscriber circuit under test and sent out from the digital subscriber circuit under test is received via the network by driving the sending circuit, and is received with the sent random pattern. A loop test method characterized by performing a loop test by comparing the random patterns.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25789884A JPS61135267A (en) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | Loop back test system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25789884A JPS61135267A (en) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | Loop back test system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61135267A true JPS61135267A (en) | 1986-06-23 |
Family
ID=17312719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25789884A Pending JPS61135267A (en) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | Loop back test system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61135267A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0446445A (en) * | 1990-06-14 | 1992-02-17 | Nec Corp | Channel continuity test system |
-
1984
- 1984-12-06 JP JP25789884A patent/JPS61135267A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0446445A (en) * | 1990-06-14 | 1992-02-17 | Nec Corp | Channel continuity test system |
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