JPS61128498A - パルスｘ線発生装置 - Google Patents
パルスｘ線発生装置Info
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- JPS61128498A JPS61128498A JP59249188A JP24918884A JPS61128498A JP S61128498 A JPS61128498 A JP S61128498A JP 59249188 A JP59249188 A JP 59249188A JP 24918884 A JP24918884 A JP 24918884A JP S61128498 A JPS61128498 A JP S61128498A
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims abstract description 36
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 11
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 4
- 102000011842 Serrate-Jagged Proteins Human genes 0.000 abstract 1
- 108010036039 Serrate-Jagged Proteins Proteins 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/16—Vessels; Containers; Shields associated therewith
- H01J35/18—Windows
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
- H01J35/153—Spot position control
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/52—Target size or shape; Direction of electron beam, e.g. in tubes with one anode and more than one cathode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/112—Non-rotating anodes
- H01J35/116—Transmissive anodes
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はパルスＸ線を発生するパルスＸ線発生装置、特
にＸ線検出器の検出時間ゆらぎを測定するのに好適なパ
ルスＸ線発生装置に関する。
にＸ線検出器の検出時間ゆらぎを測定するのに好適なパ
ルスＸ線発生装置に関する。
（従来の技術）
Ｘ線の検出にはシンチレーション検出器、比例計数検出
器、半導体検出器等の種々のＸ線検出器が用いられてい
る。これらＸ線検出器においてはいずれもＸ線の入射か
ら検出信号の発生までに要する時間にゆらぎ（以下これ
を検出時間ゆらぎと称する場合がある。）を有している
が、このゆらぎが大きいとＸ線の測定に著しい悪影響を
与える場合がある。例えばＸ線ＣＴ装置等において複数
の検出器が用いられる場合は各検出器からの信号出力が
時間的にばらけてリアルタイルでの鮮明な像再現が困難
なものになる。
器、半導体検出器等の種々のＸ線検出器が用いられてい
る。これらＸ線検出器においてはいずれもＸ線の入射か
ら検出信号の発生までに要する時間にゆらぎ（以下これ
を検出時間ゆらぎと称する場合がある。）を有している
が、このゆらぎが大きいとＸ線の測定に著しい悪影響を
与える場合がある。例えばＸ線ＣＴ装置等において複数
の検出器が用いられる場合は各検出器からの信号出力が
時間的にばらけてリアルタイルでの鮮明な像再現が困難
なものになる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、所定のタイミングで極めて精度の高いパ
ルス幅を有するパルスＸ線を発生するパルスＸ線発生装
置がなかったために、Ｘ線検出器の検出時間ゆらぎを測
定することができず、このために検出時間ゆらぎの小さ
いＸ線検出器を開発することが不可能であった。
ルス幅を有するパルスＸ線を発生するパルスＸ線発生装
置がなかったために、Ｘ線検出器の検出時間ゆらぎを測
定することができず、このために検出時間ゆらぎの小さ
いＸ線検出器を開発することが不可能であった。
本発明の目的は、所定のタイミングで極めて精度の高い
パルス幅のパルスＸ線を発生するＸ線発生装置を提供す
ることにある。
パルス幅のパルスＸ線を発生するＸ線発生装置を提供す
ることにある。
（問題点を解決するための手段）
上記目的は、
垂直偏向信号を発生する垂直偏向信号発生器、前記垂直
偏向信号に同期する鋸歯状波信号を発生する鋸歯状波信
号発生器、および 電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、前記垂直
偏向信号が印加され、前記電子ビーム発生手段から発生
された電子ビームを垂直方向に偏向する垂直偏向電極と
、前記鋸歯状波信号が印加され、前記電子ビームを水平
方向に偏向する水平偏向電極と、前記電子ビームが掃引
して照射される電子ビーム照射面に設けられた所定の大
きさのＸ線放出窓とからなる陰極線管を備えてなる本発
明のパルスＸ線発生装置によって解決される。
偏向信号に同期する鋸歯状波信号を発生する鋸歯状波信
号発生器、および 電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、前記垂直
偏向信号が印加され、前記電子ビーム発生手段から発生
された電子ビームを垂直方向に偏向する垂直偏向電極と
、前記鋸歯状波信号が印加され、前記電子ビームを水平
方向に偏向する水平偏向電極と、前記電子ビームが掃引
して照射される電子ビーム照射面に設けられた所定の大
きさのＸ線放出窓とからなる陰極線管を備えてなる本発
明のパルスＸ線発生装置によって解決される。
（作 用）
陰極線管の垂直偏向電極には垂直偏向信号発生器から発
生された垂直偏向信号が与えられ、水平偏向電極には垂
直偏向信号と同期する鋸歯状波信号が与えられる。陰極
線管の電子ビーム発生手段から発生された電子ビームは
垂直偏向電極および水平偏向電極によって形成される電
場によって偏向を受け、陰極線管のフェースプレート（
照射面）上を掃引して照射する陰極線管のフェースプレ
ートには一個または複数個の所定の大きさのＸ線放出窓
が形成されており、電子ビームがＸ線放出窓上を掃引し
たとき、このＸ線放出窓からＸ線が放出される。このＸ
線放出と垂直偏向信号との間には完全な同期関係がある
ので、垂直偏向信号を同期信号として用いることにより
Ｘ線検出器の検出時間ゆらぎの測定が可能となる。
生された垂直偏向信号が与えられ、水平偏向電極には垂
直偏向信号と同期する鋸歯状波信号が与えられる。陰極
線管の電子ビーム発生手段から発生された電子ビームは
垂直偏向電極および水平偏向電極によって形成される電
場によって偏向を受け、陰極線管のフェースプレート（
照射面）上を掃引して照射する陰極線管のフェースプレ
ートには一個または複数個の所定の大きさのＸ線放出窓
が形成されており、電子ビームがＸ線放出窓上を掃引し
たとき、このＸ線放出窓からＸ線が放出される。このＸ
線放出と垂直偏向信号との間には完全な同期関係がある
ので、垂直偏向信号を同期信号として用いることにより
Ｘ線検出器の検出時間ゆらぎの測定が可能となる。
（実施例）
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。第１
図は本発明のパルスＸ線発生装置の一実施例の概略図で
あり、第２図および第３図はそれぞれこの実施例に用い
られる陰極線管の側面図および正面図である。
図は本発明のパルスＸ線発生装置の一実施例の概略図で
あり、第２図および第３図はそれぞれこの実施例に用い
られる陰極線管の側面図および正面図である。
垂直偏向信号発生器であるパルス発生器１は立上がりが
十分速いパルス信号ＳＰを周期的に発生するが、このパ
ルス信号Ｓｐの周期はパルス発生器１を調整することに
より変化させられる。パルス信号ＳＰば鋸歯状波信号発
生器２に入力される。
十分速いパルス信号ＳＰを周期的に発生するが、このパ
ルス信号Ｓｐの周期はパルス発生器１を調整することに
より変化させられる。パルス信号ＳＰば鋸歯状波信号発
生器２に入力される。
鋸歯状波信号発生器２は入力されたパルス信号Ｓ、に同
期して一定振幅の鋸歯状波信号Ｓ１を発生する回路であ
り、鋸歯状波信号Ｓ１の周期、振幅の変更および偏寄電
圧の調整が可能とされている。パルス信号ＳＰはまた増
幅器３に入力される。
期して一定振幅の鋸歯状波信号Ｓ１を発生する回路であ
り、鋸歯状波信号Ｓ１の周期、振幅の変更および偏寄電
圧の調整が可能とされている。パルス信号ＳＰはまた増
幅器３に入力される。
この増幅器３はパルス信号ＳＰの立上がりを鈍らせるこ
となく増幅し、電子ビームを縦方向に直線性よく偏向さ
せるに必要な信号Ｓｖを発生する回路であり、増幅率の
変更、偏寄電圧の調整が可能である。鋸歯状波信号発生
器２から発生された鋸歯状波信号Ｓ７は陰極線管４の水
平偏向電極５．５′に与えられ、増幅器３の出力は垂直
偏向電極６．６′に与えられる。なお、パルス発生器１
からのパルス信号Ｓ、は同期パルス信号Ｓｓとして端子
７から出力される。第２図に示されるように陰極線管４
の電子ビーム発生手段８から放出された電子ビーム９は
水平偏向電極５．５′および垂直偏向電極６．６′によ
って形成される電場によって２次元的に偏向されて、陰
極線管４の前面（フェースプレート）１０に設けられた
蛍光面１１を掃引して照射する。蛍光面１１はガラス板
１２によって支持されている。蛍光面１１に加速された
電子が衝突すると蛍光の他に電子のエネルギーに応じた
Ｘ線が発生される。発生されたＸ線は肉厚のガラス板１
２によって外部に漏れることが防止されるが、ガラス板
１２の一部は第２図に示す様に真空が破れない程度に薄
くされており、この部分即ちＸ線数出窓１３からＸ線が
外部に放出するようになっている。従って、電子ビーム
９がＸ線数出窓１３上を掃引したときのみＸ線が放出さ
れるので、この放出されるパルスＸ線のパルス幅はＸ線
数出窓Ｌ３上を掃引する際の電子ビームの掃引速度と、
Ｘ線放出窓の大きさによって決まる。
となく増幅し、電子ビームを縦方向に直線性よく偏向さ
せるに必要な信号Ｓｖを発生する回路であり、増幅率の
変更、偏寄電圧の調整が可能である。鋸歯状波信号発生
器２から発生された鋸歯状波信号Ｓ７は陰極線管４の水
平偏向電極５．５′に与えられ、増幅器３の出力は垂直
偏向電極６．６′に与えられる。なお、パルス発生器１
からのパルス信号Ｓ、は同期パルス信号Ｓｓとして端子
７から出力される。第２図に示されるように陰極線管４
の電子ビーム発生手段８から放出された電子ビーム９は
水平偏向電極５．５′および垂直偏向電極６．６′によ
って形成される電場によって２次元的に偏向されて、陰
極線管４の前面（フェースプレート）１０に設けられた
蛍光面１１を掃引して照射する。蛍光面１１はガラス板
１２によって支持されている。蛍光面１１に加速された
電子が衝突すると蛍光の他に電子のエネルギーに応じた
Ｘ線が発生される。発生されたＸ線は肉厚のガラス板１
２によって外部に漏れることが防止されるが、ガラス板
１２の一部は第２図に示す様に真空が破れない程度に薄
くされており、この部分即ちＸ線数出窓１３からＸ線が
外部に放出するようになっている。従って、電子ビーム
９がＸ線数出窓１３上を掃引したときのみＸ線が放出さ
れるので、この放出されるパルスＸ線のパルス幅はＸ線
数出窓Ｌ３上を掃引する際の電子ビームの掃引速度と、
Ｘ線放出窓の大きさによって決まる。
従って、第３図に示されるように蛍光面１１上に目盛を
入れておき、電子ビームの掃引速度がわかるようにして
おくと、Ｘ線数出窓１３の寸法から放出されるＸ線のパ
ルス幅を正確に知ることができる。また、本発明におい
ては、電子ビーム９が蛍光面１１上に２次元的に表示さ
れるので、鋸歯状波信号発生器２にドリフトが発生して
端子７から出力される同期信号Ｓ、とパルスＸ線の発生
時との間の時間関係にずれが生じた場合、電子ビーム９
による掃引軌跡が横方向にずれて電子ビーム９がＸ線放
出箇所１３上を掃引しな（なりＸ線が放出されなくなる
。従って、同期信号Ｓ３とパルスＸ線の発生時刻との時
間関係にずれが生じることがなく、この時間関係は常に
厳密に保たれる。
入れておき、電子ビームの掃引速度がわかるようにして
おくと、Ｘ線数出窓１３の寸法から放出されるＸ線のパ
ルス幅を正確に知ることができる。また、本発明におい
ては、電子ビーム９が蛍光面１１上に２次元的に表示さ
れるので、鋸歯状波信号発生器２にドリフトが発生して
端子７から出力される同期信号Ｓ、とパルスＸ線の発生
時との間の時間関係にずれが生じた場合、電子ビーム９
による掃引軌跡が横方向にずれて電子ビーム９がＸ線放
出箇所１３上を掃引しな（なりＸ線が放出されなくなる
。従って、同期信号Ｓ３とパルスＸ線の発生時刻との時
間関係にずれが生じることがなく、この時間関係は常に
厳密に保たれる。
なお、放出されるパルスＸ線の強度は電子ビーム発生手
段８の加速電圧を調整することによって調整することが
できる。
段８の加速電圧を調整することによって調整することが
できる。
電子ビームを偏向するための回路としては第１図に示さ
れたちの以外の回路を用いることができる。以下そのい
くつかを説明する。
れたちの以外の回路を用いることができる。以下そのい
くつかを説明する。
第４図は本発明の別の実施例のブロック回路である。本
実施例においては垂直信号発生器である関数信号発生器
１′から発生された矩形波信号り等が増幅器３によって
増幅された後陰極線管４の垂直偏向電極６．６′に与え
られる。関数信号発生器１′からの出力はトリガ信号発
生器１７にも入力され、トリガ信号発生器１７から関数
信号発生器１′からの出力と同期したトリガ信号が発生
される。このトリガ信号が鋸歯状波信号発生器２に入力
されると鋸歯状波信号発生器２からはトリガ信号に同期
して鋸歯状波信号Ｓ、が発生する。この鋸歯状波信号Ｓ
↑は水平偏向電極５．５′に印加される。同期信号Ｓ３
はトリガ信号発生器１７の下流の端子７から得ることが
できる。
実施例においては垂直信号発生器である関数信号発生器
１′から発生された矩形波信号り等が増幅器３によって
増幅された後陰極線管４の垂直偏向電極６．６′に与え
られる。関数信号発生器１′からの出力はトリガ信号発
生器１７にも入力され、トリガ信号発生器１７から関数
信号発生器１′からの出力と同期したトリガ信号が発生
される。このトリガ信号が鋸歯状波信号発生器２に入力
されると鋸歯状波信号発生器２からはトリガ信号に同期
して鋸歯状波信号Ｓ、が発生する。この鋸歯状波信号Ｓ
↑は水平偏向電極５．５′に印加される。同期信号Ｓ３
はトリガ信号発生器１７の下流の端子７から得ることが
できる。
第５図は本発明のさらに別の実施例のブロック回路であ
る。本実施例においては、関数信号発生器１′はパルス
発生器１９のパルス信号Ｓ、に同期して関数信号Ｓ、を
発生する。鋸歯状波信号発生器２もこのパルス信号Ｓ、
に同期して鋸歯状波信号ＳＴを発生する。
る。本実施例においては、関数信号発生器１′はパルス
発生器１９のパルス信号Ｓ、に同期して関数信号Ｓ、を
発生する。鋸歯状波信号発生器２もこのパルス信号Ｓ、
に同期して鋸歯状波信号ＳＴを発生する。
第６図は更に別の実施例におけるブロック図である。本
実施例においては鋸歯状波信号発生器２は垂直偏向信号
発生器１を兼ねており、鋸歯状波信号発生器２から発生
された鋸歯状波信号Ｓ７はディレィ回路１８ａ、１８ｂ
を介して垂直偏向電極６．６′に印加される。ディレィ
回路１８ζ１８ｂの遅延時間ば鋸歯状波信号ＳＴの周期
の半分に設定されており、波形の急峻な部分がＸ線放出
窓を横切るようにされている。
実施例においては鋸歯状波信号発生器２は垂直偏向信号
発生器１を兼ねており、鋸歯状波信号発生器２から発生
された鋸歯状波信号Ｓ７はディレィ回路１８ａ、１８ｂ
を介して垂直偏向電極６．６′に印加される。ディレィ
回路１８ζ１８ｂの遅延時間ば鋸歯状波信号ＳＴの周期
の半分に設定されており、波形の急峻な部分がＸ線放出
窓を横切るようにされている。
Ｘ線放出窓としても種々の形態があるが、以下にそのい
くつかを説明する。
くつかを説明する。
第７図は本発明の実施例における陰極線管の一部断面図
である。本実施例においては、陰極線管のガラス板１０
の一部に貫通孔１４が設けられており、この貫通孔１４
の電子ビーム照射側に金属箔１５が張付されて、Ｘ線数
出窓１３が形成されている。本実施例においては、張付
する金属箔１５の金属の種類に応じた特性Ｘ′ｇを取り
出すことが可能となる。
である。本実施例においては、陰極線管のガラス板１０
の一部に貫通孔１４が設けられており、この貫通孔１４
の電子ビーム照射側に金属箔１５が張付されて、Ｘ線数
出窓１３が形成されている。本実施例においては、張付
する金属箔１５の金属の種類に応じた特性Ｘ′ｇを取り
出すことが可能となる。
第８図はさらに別の実施例における陰極線管の前面を表
わしている。本実施例においては、Ｘ線放出窓１３ ａ
、 １３ ｂ、 １３ ｃ、 １３ ｄ、 １３ ｅが
設けられており、各Ｘ線放出窓１３ａ、１３ｂ１１３ｃ
、１３ｄ、１３ｅにはそれぞれＡ１、Ｔｉ１Ｆｅｓ Ｃ
ｕｓ Ｚｔの異なる金属からなる金属箔が張付されてい
る。従って、鋸歯状波信号の基準レベル（偶奇電圧）を
調整するだけで種々のエネルギー分布をもったパルスＸ
線を得ることができる。
わしている。本実施例においては、Ｘ線放出窓１３ ａ
、 １３ ｂ、 １３ ｃ、 １３ ｄ、 １３ ｅが
設けられており、各Ｘ線放出窓１３ａ、１３ｂ１１３ｃ
、１３ｄ、１３ｅにはそれぞれＡ１、Ｔｉ１Ｆｅｓ Ｃ
ｕｓ Ｚｔの異なる金属からなる金属箔が張付されてい
る。従って、鋸歯状波信号の基準レベル（偶奇電圧）を
調整するだけで種々のエネルギー分布をもったパルスＸ
線を得ることができる。
なお、電子ビームの掃引位置調整時および電子ビームの
掃引速度検出時には、Ｘ線の被爆を避けるために鉛ガラ
ス等を介しであるいはＸ線放出窓にＸ線不透過物質をあ
てて観測するのがよい。
掃引速度検出時には、Ｘ線の被爆を避けるために鉛ガラ
ス等を介しであるいはＸ線放出窓にＸ線不透過物質をあ
てて観測するのがよい。
次に、本発明のパルスＸ線発生装置を利用するＸ線検出
器の時間分解能測定システムを説明する。
器の時間分解能測定システムを説明する。
第９図はＸ線検出器の時間分解能測定システムのブロッ
ク図である０本発明のＸ線発生装置２０からはパルス幅
が厳密に定められたパルスＸ線が放出されるとともに、
放出されたパルスＸ線と所定の時間関係を有するパルス
信号が出力される。このパルスＸ線は測定対象であるＸ
線検出器２１に入力される。測定対象であるＸ線検出器
２１は入射されたＸ線のエネルギーに比例した振幅のパ
ルスを発生する。このパルス電気信号は増幅器２２に入
力される。この増幅器２２は検出器２１の微弱なパルス
を十分な大きさに増幅するためのもので、あわせて信号
対雑音比（Ｓ／Ｎ）を良くするためのフィルターも組込
まれている。増幅器２２は弁別器２３に接続されている
。この弁別器２３は増幅器２２の出力から雑音を取り除
いて信号だけを拾い出すためのものである。この弁別器
２３を通過した信号は時間−振幅変換器２４の一方の入
力端子にスタート信号として入力される。時間−振幅変
換器２４の他方の入力端子には、パルスＸ線源２０から
発生され、遅延回路２５によって所定時間遅延された同
期信号がストップ信号として時間−振幅変換器２４の他
方の入力端子に入力される。時間−振幅変換器２４はス
タート信号からストップ信号までの時間差に比例した振
幅のパルスを発生させる装置であり、弁別器２３の出力
と遅延回路２５の出力との時間差がパルスの波高値に変
換される。時間−振幅変換器２４の後段に設けられた多
重波高分析器２６、は時間−振幅変換器２４の出力パル
スの波高値分布を測定する装置であり、パルスの波高値
に対応する各チャンネルに入力されたパルスが計数され
る。これによって、横軸に波高値（時間に相当）、縦軸
に計数値（入射したＸ線のフォトン数に相当）を取った
スペクトルが得られる。従って、このスペクトルの半値
幅を求めればそのＸ線検出器の時間特性を検出すること
ができる。
ク図である０本発明のＸ線発生装置２０からはパルス幅
が厳密に定められたパルスＸ線が放出されるとともに、
放出されたパルスＸ線と所定の時間関係を有するパルス
信号が出力される。このパルスＸ線は測定対象であるＸ
線検出器２１に入力される。測定対象であるＸ線検出器
２１は入射されたＸ線のエネルギーに比例した振幅のパ
ルスを発生する。このパルス電気信号は増幅器２２に入
力される。この増幅器２２は検出器２１の微弱なパルス
を十分な大きさに増幅するためのもので、あわせて信号
対雑音比（Ｓ／Ｎ）を良くするためのフィルターも組込
まれている。増幅器２２は弁別器２３に接続されている
。この弁別器２３は増幅器２２の出力から雑音を取り除
いて信号だけを拾い出すためのものである。この弁別器
２３を通過した信号は時間−振幅変換器２４の一方の入
力端子にスタート信号として入力される。時間−振幅変
換器２４の他方の入力端子には、パルスＸ線源２０から
発生され、遅延回路２５によって所定時間遅延された同
期信号がストップ信号として時間−振幅変換器２４の他
方の入力端子に入力される。時間−振幅変換器２４はス
タート信号からストップ信号までの時間差に比例した振
幅のパルスを発生させる装置であり、弁別器２３の出力
と遅延回路２５の出力との時間差がパルスの波高値に変
換される。時間−振幅変換器２４の後段に設けられた多
重波高分析器２６、は時間−振幅変換器２４の出力パル
スの波高値分布を測定する装置であり、パルスの波高値
に対応する各チャンネルに入力されたパルスが計数され
る。これによって、横軸に波高値（時間に相当）、縦軸
に計数値（入射したＸ線のフォトン数に相当）を取った
スペクトルが得られる。従って、このスペクトルの半値
幅を求めればそのＸ線検出器の時間特性を検出すること
ができる。
第１０図に、第９図に示されたＸ線検出器の時間分解能
測定システムによって測定されたＸ線検出器の時間応答
特性の一例を示す。測定された検出器はＮａＩ （Ｔ
ｌ ）シンチレーション検出器である。
測定システムによって測定されたＸ線検出器の時間応答
特性の一例を示す。測定された検出器はＮａＩ （Ｔ
ｌ ）シンチレーション検出器である。
本発明のパルスＸ線発生器から発生されたＸ線のエネル
ギーは１３ｋｅＶ〜１６ｋｅＶであり、パルス幅は３１
０ＰＳであった。
ギーは１３ｋｅＶ〜１６ｋｅＶであり、パルス幅は３１
０ＰＳであった。
（発明の効果）
本発明は極めて精度の高いパルス幅を有するＸ線を放出
することができるとともに、このＸ線の放出と同期する
同期信号を得ることができるので、従来測定することが
不可能であったＸ線検出器の検出時間ゆらぎの測定が可
能となる。
することができるとともに、このＸ線の放出と同期する
同期信号を得ることができるので、従来測定することが
不可能であったＸ線検出器の検出時間ゆらぎの測定が可
能となる。
第１図は本発明のパルスＸ線発生装置の一実施例のブロ
ック図、 第２図および第３図はそれぞれ本発明に用いられる陰極
線管の実施例の側面図および正面図、第４図、第５図お
よび第６図は本発明の別の実施例のブロック図、 ・ 第７図は本発明の別の実施例における陰極線管の一
部断面図、 第８図は本発明のさらに別の実施例における陰極線管の
正面図、 第９図はＸ線検出器の検出時間ゆらぎ測定システムのブ
ロック図、 第１０図はＸ線検出器の検出時間ゆらぎの測定結果を示
すグラフである。 １．１′・・・垂直偏向信号発生器、２・・・鋸歯状波
信号発生器、３・・・増幅器、４・・・陰極線管、５．
５′・・・水平偏向電極、６．６′・・・垂直偏向電極
、８・・・電子ビーム発生手段、９・・・電子ビーム、
１３・・・Ｘ線放出窓、２０・・・パルスＸ線発生装置
、２１・・・Ｘ線検出器。 Ｍｌ 図 第 ３ 図 第 ５ 図 第 ６ 図 第 ７ 図 第 ８ 図 第９図 第１０図 Ｑ Ｉｏ ２０ ３０時 間
（ｎｓｌ
ック図、 第２図および第３図はそれぞれ本発明に用いられる陰極
線管の実施例の側面図および正面図、第４図、第５図お
よび第６図は本発明の別の実施例のブロック図、 ・ 第７図は本発明の別の実施例における陰極線管の一
部断面図、 第８図は本発明のさらに別の実施例における陰極線管の
正面図、 第９図はＸ線検出器の検出時間ゆらぎ測定システムのブ
ロック図、 第１０図はＸ線検出器の検出時間ゆらぎの測定結果を示
すグラフである。 １．１′・・・垂直偏向信号発生器、２・・・鋸歯状波
信号発生器、３・・・増幅器、４・・・陰極線管、５．
５′・・・水平偏向電極、６．６′・・・垂直偏向電極
、８・・・電子ビーム発生手段、９・・・電子ビーム、
１３・・・Ｘ線放出窓、２０・・・パルスＸ線発生装置
、２１・・・Ｘ線検出器。 Ｍｌ 図 第 ３ 図 第 ５ 図 第 ６ 図 第 ７ 図 第 ８ 図 第９図 第１０図 Ｑ Ｉｏ ２０ ３０時 間
（ｎｓｌ
Claims (3)
- （１）垂直偏向信号を発生する垂直偏向信号発生器、前
記垂直偏向信号に同期する鋸歯状波信号を発生する鋸歯
状波信号発生器、および 電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、前記垂直
偏向信号が印加され、前記電子ビーム発生手段から発生
された電子ビームを垂直方向に偏向する垂直偏向電極と
、前記鋸歯状波信号が印加され、前記電子ビームを水平
方向に偏向する水平偏向電極と、前記電子ビームが掃引
して照射される電子ビーム照射面に設けられた所定の大
きさのＸ線放出窓とからなる陰極線管を備えてなるパル
スＸ線発生装置。 - （２）前記垂直偏向信号発生器が前記鋸歯状波信号発生
器と別体であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載のパルスＸ線発生装置。 - （３）前記鋸歯状波信号発生器が前記垂直偏向信号発生
器を兼ねることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
のパルスＸ線発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59249188A JPS61128498A (ja) | 1984-11-26 | 1984-11-26 | パルスｘ線発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59249188A JPS61128498A (ja) | 1984-11-26 | 1984-11-26 | パルスｘ線発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61128498A true JPS61128498A (ja) | 1986-06-16 |
Family
ID=17189205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59249188A Pending JPS61128498A (ja) | 1984-11-26 | 1984-11-26 | パルスｘ線発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61128498A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05203671A (ja) * | 1992-01-28 | 1993-08-10 | Nippon Steel Corp | 直流電動機の電機子診断用測定プローブ及び電機子診断装置 |
| JP2002177261A (ja) * | 2000-12-07 | 2002-06-25 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔシステムおよびその操作コンソールおよび制御方法ならびに記憶媒体 |
-
1984
- 1984-11-26 JP JP59249188A patent/JPS61128498A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05203671A (ja) * | 1992-01-28 | 1993-08-10 | Nippon Steel Corp | 直流電動機の電機子診断用測定プローブ及び電機子診断装置 |
| JP2002177261A (ja) * | 2000-12-07 | 2002-06-25 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔシステムおよびその操作コンソールおよび制御方法ならびに記憶媒体 |
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