JPS61126932A - プレス加工精度測定装置 - Google Patents
プレス加工精度測定装置Info
- Publication number
- JPS61126932A JPS61126932A JP24860584A JP24860584A JPS61126932A JP S61126932 A JPS61126932 A JP S61126932A JP 24860584 A JP24860584 A JP 24860584A JP 24860584 A JP24860584 A JP 24860584A JP S61126932 A JPS61126932 A JP S61126932A
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- Japan
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- punch
- die
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- measurement
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、プレス加工の動的精度を測定するためのプレ
ス加工精度測定装置に関する。゛〔発明の技術的背景と
その問題点〕 一般ニ、プレス加工においては、ダイスとポンチの片側
のすきまであるクリアランスは、ポンチのせん断荷重又
はせん断抵抗、せん断仕事量に大きな影響を及ぼすのみ
でなく、かす取シカ（ストリッピング）にも影響を与え
る。たとえば、軟鋼。
ス加工精度測定装置に関する。゛〔発明の技術的背景と
その問題点〕 一般ニ、プレス加工においては、ダイスとポンチの片側
のすきまであるクリアランスは、ポンチのせん断荷重又
はせん断抵抗、せん断仕事量に大きな影響を及ぼすのみ
でなく、かす取シカ（ストリッピング）にも影響を与え
る。たとえば、軟鋼。
ステンレス鋼、黄銅、アルミニウム合金などでは。
クリアランスが２０％板厚のとき、かす取シカは最小と
なシ、一般の打抜き作業のときには、かす取シカは、せ
ん断荷重の約２０に程度となる。また。
なシ、一般の打抜き作業のときには、かす取シカは、せ
ん断荷重の約２０に程度となる。また。
せん断面の大きい精密部品のせん断のようにクリアラン
スが小さいときにはせん断荷重と同程度となるときがあ
る。したがって、クリアランスが過小であるときは、金
型の寿命が著しく短縮してしまう。一方、クリアランス
が大きくなると、打抜き品のわん曲も大きくなるととも
に、かえシ（パリ）が発生する。要するに、プレス加工
においては、ダイスとポンチとのクリアランスが適正状
態でない限り、プレスに要する力が過大になったシ。
スが小さいときにはせん断荷重と同程度となるときがあ
る。したがって、クリアランスが過小であるときは、金
型の寿命が著しく短縮してしまう。一方、クリアランス
が大きくなると、打抜き品のわん曲も大きくなるととも
に、かえシ（パリ）が発生する。要するに、プレス加工
においては、ダイスとポンチとのクリアランスが適正状
態でない限り、プレスに要する力が過大になったシ。
プレス加工精度が低下してしまう不具合をもっている。
そこで、このクリアランスをプレス加工中において動的
に測定することによシ、クリアランスが適正であるか否
かを監視する試みが近時性われている。しかしながら、
このクリアランス測定を長期間にわたって行う場合、従
来のクリアランス測定装置では、温度、湿度、振動等の
外部環境の変化の影響を受け、高精度のクリアランス測
定が困難であった。それゆえ、クリアランスの適否の評
価も正確なものでなくなシ、その結果、プレス加工精度
、プレス品質の低下等を惹起している。
に測定することによシ、クリアランスが適正であるか否
かを監視する試みが近時性われている。しかしながら、
このクリアランス測定を長期間にわたって行う場合、従
来のクリアランス測定装置では、温度、湿度、振動等の
外部環境の変化の影響を受け、高精度のクリアランス測
定が困難であった。それゆえ、クリアランスの適否の評
価も正確なものでなくなシ、その結果、プレス加工精度
、プレス品質の低下等を惹起している。
本発明は、上記事情を参酌してなされたもので。
長期間にわたってダイスとポンチのクリアランスを高精
度に測定することのできるプレス加工精度測定装置を提
供することを目的とする。
度に測定することのできるプレス加工精度測定装置を提
供することを目的とする。
クリアランス測定部にて測定されたダイスとポンチとの
クリアランス測定値を、誤差補償部から出力された補償
信号によシ修正することによシ正確なりリアランス測定
を長期間にわたって安定して行うことができるようにし
たものである。
クリアランス測定値を、誤差補償部から出力された補償
信号によシ修正することによシ正確なりリアランス測定
を長期間にわたって安定して行うことができるようにし
たものである。
以下１本発明の一実施例を図面を参照して詳述する。
第１図は、この実施例のプレス加工精度測定装置を示し
ている。この装置は、プレス本体（すに装着されたダイ
ス（２）とポンチ（３）とのクリアランスを測定するク
リアランス測定部（４）と、プレス本体（１）上に設置
されクリアランス測定部（４）における測定値の測定環
境の変化による誤差を補償する誤差補償部（５）と、ク
リアランス測定部（４）と誤差補償部（５）とからの出
力値を入力して真のクリアランスを演算するピーク値ホ
ールド回路及び減算回路を主体とするクリアランス算出
部（６）と、このクリアランス算出部（６）の出力側に
接続され、あらかじめ設定されている設定値と算出され
たクリア２／スとを比較し比較結果に基づいてクリアラ
ンス異状を検出する異状検出部（７）と、この異状検出
部（力の出力側に接続され検出結果及びクリアランス値
を表示するプリンタやイラクン管からなる表示部（８＞
とから構成されている。しかして、クリアランス測定部
（４）は、ポンチ（３）を保持するポンチホルダ（９）
の側部に着設された鋼板からなるターゲット翰と、ダイ
ス（２）を保持するグイホルダ（１１）の側部にポンチ
（３）下降時においてターゲットα呻に一定間隔離間し
て対向するように着設された非接触変位計αのとからな
っている。この非接触変位計αりは、第２図に示すよう
に１円筒状の保持体αＪと、この保持体０のターゲット
（１１に対向する開口端部に内設された検出コイル（１
４）と、保持体（１３）中に内設され検出コイルＩに例
えば２５４．４ ｋ Ｈｚの方形波である高周波電流を
印加して磁界を発生させるとともに変位（クリアランス
）に比例した電圧を有するクリアランス検出信号ＳＡを
出力する変換回路四と、保持体（ｔ３が螺挿されたナツ
トαｅと、このナツトαＱが支持されポンチホルダ（９
）にねじ（１７）により固着されたＬ字状の取付体α印
とからなっている。上記保持体（【国は、ナツトｔＩｅ
中を螺動させることにより、検出コイルＩとターゲット
（ｌｌ）との距離がダイス（２）とポンチ（３）との距
離を示すようにあらかじめ位釘調整されている。また、
上記変換口Ｍ（１Ｇは１図示せぬ増幅器を介して前記ク
リアランス算出部（６）の入力側に接続されている。一
方、誤差補償部（５）は、第３図に示すように、クリア
ランス測定部（４）の全く同一構造になっている所謂「
ダミー」であって、プレス本体（１）にねじ傾によシ固
着されたＬ字状の取付体（２１と、この取付体（イ）に
支持されたナラ）Ｃ２υと、このナツトＱυに螺挿され
た円筒状の保持体（２ａと、この保持体（２）の開口端
部に内股された検出フィル（ハ）と。
ている。この装置は、プレス本体（すに装着されたダイ
ス（２）とポンチ（３）とのクリアランスを測定するク
リアランス測定部（４）と、プレス本体（１）上に設置
されクリアランス測定部（４）における測定値の測定環
境の変化による誤差を補償する誤差補償部（５）と、ク
リアランス測定部（４）と誤差補償部（５）とからの出
力値を入力して真のクリアランスを演算するピーク値ホ
ールド回路及び減算回路を主体とするクリアランス算出
部（６）と、このクリアランス算出部（６）の出力側に
接続され、あらかじめ設定されている設定値と算出され
たクリア２／スとを比較し比較結果に基づいてクリアラ
ンス異状を検出する異状検出部（７）と、この異状検出
部（力の出力側に接続され検出結果及びクリアランス値
を表示するプリンタやイラクン管からなる表示部（８＞
とから構成されている。しかして、クリアランス測定部
（４）は、ポンチ（３）を保持するポンチホルダ（９）
の側部に着設された鋼板からなるターゲット翰と、ダイ
ス（２）を保持するグイホルダ（１１）の側部にポンチ
（３）下降時においてターゲットα呻に一定間隔離間し
て対向するように着設された非接触変位計αのとからな
っている。この非接触変位計αりは、第２図に示すよう
に１円筒状の保持体αＪと、この保持体０のターゲット
（１１に対向する開口端部に内設された検出コイル（１
４）と、保持体（１３）中に内設され検出コイルＩに例
えば２５４．４ ｋ Ｈｚの方形波である高周波電流を
印加して磁界を発生させるとともに変位（クリアランス
）に比例した電圧を有するクリアランス検出信号ＳＡを
出力する変換回路四と、保持体（ｔ３が螺挿されたナツ
トαｅと、このナツトαＱが支持されポンチホルダ（９
）にねじ（１７）により固着されたＬ字状の取付体α印
とからなっている。上記保持体（【国は、ナツトｔＩｅ
中を螺動させることにより、検出コイルＩとターゲット
（ｌｌ）との距離がダイス（２）とポンチ（３）との距
離を示すようにあらかじめ位釘調整されている。また、
上記変換口Ｍ（１Ｇは１図示せぬ増幅器を介して前記ク
リアランス算出部（６）の入力側に接続されている。一
方、誤差補償部（５）は、第３図に示すように、クリア
ランス測定部（４）の全く同一構造になっている所謂「
ダミー」であって、プレス本体（１）にねじ傾によシ固
着されたＬ字状の取付体（２１と、この取付体（イ）に
支持されたナラ）Ｃ２υと、このナツトＱυに螺挿され
た円筒状の保持体（２ａと、この保持体（２）の開口端
部に内股された検出フィル（ハ）と。
保持体（２）中に内設され検出コイル（ハ）に高周波電
流を印加して磁界を発生させる高周波発振回路Ｑ４と、
この高周波発振回路（２）に給電する電源（図示せず）
と、保持体（２）開口端部に近接して設けられこの保持
体（２）の開口端部のねじ員、ナラ） （２１）及び取
付体（至）の熱膨張、振動等による微小変位を検出して
電気信号に変換する例えばリニアセンサなどの１次元イ
メージセンサ（至）とからなっている。この１次元イメ
ージセンサ（イ）はポンチホルダ（９）に直接取付けら
れている。しかして、この１次元イメージセンサ（ハ）
と高周波発振回路Ｃ２４）とは１図示せぬ増幅回路を介
して、クリアランス算出部（６）の入力側に接続されて
いる。上記保持体（２っは、検出コイルｎにて実際の距
離測定を行わないように、つまシダミーとして機能する
ような位置に設けられている。
流を印加して磁界を発生させる高周波発振回路Ｑ４と、
この高周波発振回路（２）に給電する電源（図示せず）
と、保持体（２）開口端部に近接して設けられこの保持
体（２）の開口端部のねじ員、ナラ） （２１）及び取
付体（至）の熱膨張、振動等による微小変位を検出して
電気信号に変換する例えばリニアセンサなどの１次元イ
メージセンサ（至）とからなっている。この１次元イメ
ージセンサ（イ）はポンチホルダ（９）に直接取付けら
れている。しかして、この１次元イメージセンサ（ハ）
と高周波発振回路Ｃ２４）とは１図示せぬ増幅回路を介
して、クリアランス算出部（６）の入力側に接続されて
いる。上記保持体（２っは、検出コイルｎにて実際の距
離測定を行わないように、つまシダミーとして機能する
ような位置に設けられている。
クリアランス算出部（６）は、変換回路（Ｌりからのク
リアランス測定信号ＳＡの最小値をクリアランスとして
一時的に保持するとともに、このクリアランス測定信号
ＳＡから、高周波発振回路ｔ２４）より出力された第１
の補償信号８Ｂと１次元イメージセンナ（ハ）から出力
された第２の補償信号ＳＣの和を減算するように設けら
れている。また、前記異状検出部（７）は。
リアランス測定信号ＳＡの最小値をクリアランスとして
一時的に保持するとともに、このクリアランス測定信号
ＳＡから、高周波発振回路ｔ２４）より出力された第１
の補償信号８Ｂと１次元イメージセンナ（ハ）から出力
された第２の補償信号ＳＣの和を減算するように設けら
れている。また、前記異状検出部（７）は。
比較回路を主体とするものであって、クリアランス算出
部（６）から出力された補償後のクリアランス測定信号
ＳＤを、あらかじめ設定されている上限値ＣＵと下限値
ＣＬと比較し、これら上限値ＣＵと下限値ＣＬの範囲外
にある場合、異状検出信号ＳＥが表示部（８）に出力さ
れるようになっている。また、この異状検出部（７）は
、ポンチホルダ（９）が取付けられているラム（ハ）を
昇降駆動する昇降駆動部（図示せず）にも電気的に接続
され、異状検出信号ＳＢを出力するように設けられてい
る。
部（６）から出力された補償後のクリアランス測定信号
ＳＤを、あらかじめ設定されている上限値ＣＵと下限値
ＣＬと比較し、これら上限値ＣＵと下限値ＣＬの範囲外
にある場合、異状検出信号ＳＥが表示部（８）に出力さ
れるようになっている。また、この異状検出部（７）は
、ポンチホルダ（９）が取付けられているラム（ハ）を
昇降駆動する昇降駆動部（図示せず）にも電気的に接続
され、異状検出信号ＳＢを出力するように設けられてい
る。
しかして、上記構成のプレス加工精度測定装置において
、まず、ナツト■υ中にて保持体ａ３を螺動させること
によシ検出コイルα４とターゲットＱｌどの間隔を適正
な状態に調整する。すなわち、クリアランス測定信号８
Ａ、がダイス（２）とポンチ（３）とのクリアランスを
示すように調整する。ついで、ワーク■をダイス（２）
上に載置し、ラム（ハ）を下降させてポンチによシワー
ク（財）を所定形状に打抜く。このとき、ターゲット（
１Ｇが検出コイルα荀に対向する。
、まず、ナツト■υ中にて保持体ａ３を螺動させること
によシ検出コイルα４とターゲットＱｌどの間隔を適正
な状態に調整する。すなわち、クリアランス測定信号８
Ａ、がダイス（２）とポンチ（３）とのクリアランスを
示すように調整する。ついで、ワーク■をダイス（２）
上に載置し、ラム（ハ）を下降させてポンチによシワー
ク（財）を所定形状に打抜く。このとき、ターゲット（
１Ｇが検出コイルα荀に対向する。
この検出コイル（Ｌ４には変換口＃ｒ崗から高周波電流
が印加されているので、磁場が発生している。そして、
この磁場を構成している磁力線によシメーゲットαＱに
は渦電流が誘起される。その結果、検出コイルＩのイン
ピーダンスが変化し、高周波電流の電圧値も変化する。
が印加されているので、磁場が発生している。そして、
この磁場を構成している磁力線によシメーゲットαＱに
は渦電流が誘起される。その結果、検出コイルＩのイン
ピーダンスが変化し、高周波電流の電圧値も変化する。
この変化によ）クリアランスを知ることができる。かく
して、クリアランスに応じた電圧値を有するクリアラン
ス測定信号ＳＡがクリアランス算出部（６）に出力され
る。一方。
して、クリアランスに応じた電圧値を有するクリアラン
ス測定信号ＳＡがクリアランス算出部（６）に出力され
る。一方。
１次元イメージセンナ（ハ）は、保持体（２り開口端部
が基準位置にあるとき第２の補償信号が零となるように
校正しておく。また、検出コイル＠には検出コイルＩと
同一の周波数の高周波電流を印加する。
が基準位置にあるとき第２の補償信号が零となるように
校正しておく。また、検出コイル＠には検出コイルＩと
同一の周波数の高周波電流を印加する。
かくして、クリアランス算出部（６）に出力された第１
の補償信号ＳＢは、検出コイルα荀の発熱による測定誤
差を補正するためのものであシ、他方、第２の補償信号
ＳＣは、測定環境の本節による温度変化や機械的振動に
よる検出コイル（１４）の変位によるクリアランス測定
誤差を補正するためのものである。
の補償信号ＳＢは、検出コイルα荀の発熱による測定誤
差を補正するためのものであシ、他方、第２の補償信号
ＳＣは、測定環境の本節による温度変化や機械的振動に
よる検出コイル（１４）の変位によるクリアランス測定
誤差を補正するためのものである。
しかして、クリアランス算出部（６）にては、信号ＳＡ
から信号ＳＢと信号ＳＣの和が減算され、補償されたク
リアランス信号ＳＤが異状検出部（力に出力される。つ
いで、この異状検出部（力にては、クリアランス信号Ｓ
Ｄが、上限値ＣＵと下限値ＳＬとの間にあるか否かの比
較演算がなされる。そして、クリアランス信号ＳＤが上
限値ＣＵと下限値ＳＬとの範囲内にない場合は、異状検
出信号ＳＥが表示部（８）及び昇降駆動部（１ａ）に出
力され、プレス加工を一時中断するとともに、表示部（
８）に異状クリアランスである方の表示がなされる。一
方、クリアランス信号８Ｄが上限値ＣＵと下限値ＳＬと
の範囲内にある場合は、異状検出信号ＳＥは出力されな
いが、測定されたクリアランスが表示部（８）に表示さ
れる。
から信号ＳＢと信号ＳＣの和が減算され、補償されたク
リアランス信号ＳＤが異状検出部（力に出力される。つ
いで、この異状検出部（力にては、クリアランス信号Ｓ
Ｄが、上限値ＣＵと下限値ＳＬとの間にあるか否かの比
較演算がなされる。そして、クリアランス信号ＳＤが上
限値ＣＵと下限値ＳＬとの範囲内にない場合は、異状検
出信号ＳＥが表示部（８）及び昇降駆動部（１ａ）に出
力され、プレス加工を一時中断するとともに、表示部（
８）に異状クリアランスである方の表示がなされる。一
方、クリアランス信号８Ｄが上限値ＣＵと下限値ＳＬと
の範囲内にある場合は、異状検出信号ＳＥは出力されな
いが、測定されたクリアランスが表示部（８）に表示さ
れる。
このように、本実施例のプレス加工精度測定装置は、ポ
ンチとダイスとのクリアランスの測定において気温・振
動等の外因及び例えば検出コイルの発熱等の内因による
測定誤差を自動的に補償することができるので、長期間
にわたってクリアランスを高精度かつ安定して測定する
ことができる。
ンチとダイスとのクリアランスの測定において気温・振
動等の外因及び例えば検出コイルの発熱等の内因による
測定誤差を自動的に補償することができるので、長期間
にわたってクリアランスを高精度かつ安定して測定する
ことができる。
したがって、クリアランスの異状検出精度が向上し、プ
レス品質の向上及び金型寿命の増進をはかることができ
る。
レス品質の向上及び金型寿命の増進をはかることができ
る。
なお、上記実施例においては、非接触変位計α２とター
ゲラ） （１（ｅけ、それぞれ１個ずつ、つまシ第１図
左右方向のクリアランスを１個所でのみ測定するように
しているが、複数個所におけるクリアランス、たとえば
前後、左右方向のクリアランスを同時に測定するように
してもよい。さらに、上記実施例においては、ターゲッ
ト（Ｌ（２）をポンチ（３）側に、非接触変位計（ｌり
をダイス（２）側に取付けているが、逆になるような位
置取付けてもよい。さらに。
ゲラ） （１（ｅけ、それぞれ１個ずつ、つまシ第１図
左右方向のクリアランスを１個所でのみ測定するように
しているが、複数個所におけるクリアランス、たとえば
前後、左右方向のクリアランスを同時に測定するように
してもよい。さらに、上記実施例においては、ターゲッ
ト（Ｌ（２）をポンチ（３）側に、非接触変位計（ｌり
をダイス（２）側に取付けているが、逆になるような位
置取付けてもよい。さらに。
クリアランス測定が可能な限り、ターゲット（１０は省
略してもよい。さらに、非接触変位計（Ｌ４として。
略してもよい。さらに、非接触変位計（Ｌ４として。
上記実施例においては電磁誘導形のものを用いているが
、容量形、磁気形のものを用いてもよい。
、容量形、磁気形のものを用いてもよい。
さらに、変位計として例えば差動変圧器を用いた接触式
の変位計を用いてもよい。さらに、１次元イメージセン
ナ（ハ）の代わシに他の変位計例えば差動変圧器を用い
た変位計を用いてもよい。さらに。
の変位計を用いてもよい。さらに、１次元イメージセン
ナ（ハ）の代わシに他の変位計例えば差動変圧器を用い
た変位計を用いてもよい。さらに。
上記実施例においては、クリアランス算出部（６）Ｋ異
状検出部（力を接続させているが、この異状検出部（力
を省略し、直接表示部（８）に接続し、表示されたクリ
アランス測定結果に基づいて異状検出を人が行うようＫ
してもよい。さらに、誤差補償部（５）は、プレス本体
（１） Ｋ添設されているが、クリアランス測定部（４
）と同一測定条件下にある限シ、設置場所は、任意に選
択してよい。
状検出部（力を接続させているが、この異状検出部（力
を省略し、直接表示部（８）に接続し、表示されたクリ
アランス測定結果に基づいて異状検出を人が行うようＫ
してもよい。さらに、誤差補償部（５）は、プレス本体
（１） Ｋ添設されているが、クリアランス測定部（４
）と同一測定条件下にある限シ、設置場所は、任意に選
択してよい。
本発明のプレス加工精度測定装置は、ポンチとダイとの
クリアランス測定において、気温・振動等の外因及び変
位計自体の内因に基づく誤差を常に自動的に補正するよ
うにしているので、経時的変化の影響が解消され、長期
間にわたってクリアランスを正確にかつ安定して測定す
ることができる。したがって、クリアランスの異状検出
を高精度に行うことができるようになる結果、プレス品
質を向上させることができ、かつ金型寿命を増進させる
ことができる。
クリアランス測定において、気温・振動等の外因及び変
位計自体の内因に基づく誤差を常に自動的に補正するよ
うにしているので、経時的変化の影響が解消され、長期
間にわたってクリアランスを正確にかつ安定して測定す
ることができる。したがって、クリアランスの異状検出
を高精度に行うことができるようになる結果、プレス品
質を向上させることができ、かつ金型寿命を増進させる
ことができる。
第１図は本発明の一実施例のプレス加工精度測定装置の
全体構成図、第２図は第１図のクリアランス測定部の拡
大図、第３図は第１図の誤門補償部の拡大図である。 （２）：ダイス、 （３） ：ポンチ。 （４）：クリアランス測定部、 （５）：誤差補償
部。 （６）：クリアランス算出部、＠：ワーク（板材）。
全体構成図、第２図は第１図のクリアランス測定部の拡
大図、第３図は第１図の誤門補償部の拡大図である。 （２）：ダイス、 （３） ：ポンチ。 （４）：クリアランス測定部、 （５）：誤差補償
部。 （６）：クリアランス算出部、＠：ワーク（板材）。
Claims (1)
- 板材が載置されるダイスとこのダイスに嵌入して上記板
材をプレス加工するポンチとのクリアランスを測定して
上記クリアランスを示す測定信号を出力するクリアラン
ス測定部と、上記クリアランス測定部と同一構造を有し
且つ上記クリアランス測定部と同一の測定環境に設置さ
れ上記測定信号の誤差を修正するための補償信号を出力
する誤差補償部と、上記測定信号及び上記補償信号を入
力し上記誤差が修正された上記クリアランスを算出する
クリアランス算出部とを具備することを特徴とするプレ
ス加工精度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24860584A JPS61126932A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | プレス加工精度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24860584A JPS61126932A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | プレス加工精度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61126932A true JPS61126932A (ja) | 1986-06-14 |
| JPH0366971B2 JPH0366971B2 (ja) | 1991-10-21 |
Family
ID=17180598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24860584A Granted JPS61126932A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | プレス加工精度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61126932A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4936126A (en) * | 1988-05-17 | 1990-06-26 | Daiichi Electric Co., Ltd. | Press brake with a displacement sensor of electric signal output |
| US5269163A (en) * | 1991-06-28 | 1993-12-14 | Aida Engineering Ltd. | Device for correcting die spacing at bottom dead center of a press |
| JP2014188553A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Daihatsu Motor Co Ltd | 打ち抜き加工による切断面の良否判定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4993987A (ja) * | 1973-01-11 | 1974-09-06 |
-
1984
- 1984-11-27 JP JP24860584A patent/JPS61126932A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4993987A (ja) * | 1973-01-11 | 1974-09-06 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4936126A (en) * | 1988-05-17 | 1990-06-26 | Daiichi Electric Co., Ltd. | Press brake with a displacement sensor of electric signal output |
| US5269163A (en) * | 1991-06-28 | 1993-12-14 | Aida Engineering Ltd. | Device for correcting die spacing at bottom dead center of a press |
| JP2014188553A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Daihatsu Motor Co Ltd | 打ち抜き加工による切断面の良否判定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0366971B2 (ja) | 1991-10-21 |
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