JPS61120211A - Accuracy monitor method of sampling cycle - Google Patents

Accuracy monitor method of sampling cycle

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JPS61120211A
JPS61120211A JP24276784A JP24276784A JPS61120211A JP S61120211 A JPS61120211 A JP S61120211A JP 24276784 A JP24276784 A JP 24276784A JP 24276784 A JP24276784 A JP 24276784A JP S61120211 A JPS61120211 A JP S61120211A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
instruction
program
sampling period
sampling
time
Prior art date
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Pending
Application number
JP24276784A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisashi Tsukuda
津久田 尚志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS61120211A publication Critical patent/JPS61120211A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0224Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
    • G05B23/0227Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
    • G05B23/0235Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold

Abstract

PURPOSE:To monitor the presence or absence of a fault with high accuracy by measuring the width of a sampling cycle by the time decided by the executing time and frequency of an instruction word of a program and comparing the measured value with a standard for decision. CONSTITUTION:A circuit device which fetches the input information by sampling consists of a crystal oscillation circuit 1 which produces the master clock signal, a dividing circuit 2 which divides the master clock signal to produce the sample signal, a sample holding circuit 3 which fetches the analog input information synchronously with the sample signal, an A/D converting circuit 4, a memory 5 and a primary arithmetic unit 6. Then a specific program for monitor of sampling cycle accuracy is stored to a memory of the unit 6. This action is repeated by making use of the processing idle time. The specific program includes an increment instruction, a cycle shift deciding instruction and a branching instruction with repeats both said increment and deciding instructions. Then the program is measured by the time decided by the executing time of an instruction word. This measured value is compared with the upper and lower limit levels of the deciding standard. Thus the presence or absence of a fault can be monitored with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は入力情報をサンプリングによって取込む回路
装置におけるサンプリング周期の精度を監視する方法に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for monitoring the accuracy of a sampling period in a circuit device that takes in input information by sampling.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図はこの種のデジタル回路装置の従来例を示したも
ので、1はマスタークロツタ信号を作成する水晶発振回
路、2はマスタークロツタ信号を分周してサンプリング
信号を作成するする分周回路、4はサンプリング信号に
同期してアナログ入力情報を取込むサンプルホールド回
路、5はサンプリング信号に同期して動作するA/D変
換回路、6はA/D変換された情報を格納するメモリ、
7は主演算装置である。
Figure 3 shows a conventional example of this type of digital circuit device, where 1 is a crystal oscillation circuit that creates a master clock signal, and 2 is a crystal oscillation circuit that divides the master clock signal to create a sampling signal. 4 is a sample hold circuit that takes in analog input information in synchronization with the sampling signal, 5 is an A/D conversion circuit that operates in synchronization with the sampling signal, and 6 is a memory that stores the A/D converted information. ,
7 is a main processing unit.

このしゅ回路装置においては、水晶Q振回路1が正常に
動作してマスタークロック信号を送出しても、分周回路
2の不良等によりサンプリング周期にずれが発生する場
合がある。
In this circuit device, even if the crystal Q-oscillator circuit 1 operates normally and sends out a master clock signal, a deviation in the sampling period may occur due to a defect in the frequency divider circuit 2 or the like.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このサンプリング周期のずれ(精度)は、デジタルフィ
ルター演算等入力情報の位相(時間)関係が重要である
場合には演算処理結果に誤差を生むので、これを検知も
しくは監視する必要があるが、サンプリング周期と云う
時間的にミクロなレベルの精度検出は容易ではなく、こ
の種の監視は行われていないのが現実である。
This sampling period deviation (accuracy) causes an error in the calculation results when the phase (time) relationship of input information is important, such as in digital filter calculations, so it is necessary to detect or monitor this. It is not easy to accurately detect periods at a micro level in terms of time, and the reality is that this type of monitoring is not performed.

この発明は上記問題を解決するためになされたもので、
サンプリング周期の精度検出を容易に、しかも高い検出
精度をもって検出することができるサンプリング周期の
精度監視方法を得ることを目的とする。
This invention was made to solve the above problem.
It is an object of the present invention to provide a sampling period accuracy monitoring method that can easily detect sampling periods with high detection accuracy.

〔問題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この発明は上記目的を達成するため、周期精度監視用の
特定をプログラムを設けて演算装置により実行させ、プ
ログラムの命令実行時間×命令実行回数で求まる時間を
用いてサンプリング周期を測定し、その測定値の大小か
らサンプリング周期のずれ(精度)を判定する構成とし
たものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a program for specifying period accuracy monitoring, causes an arithmetic unit to execute it, measures the sampling period using the time calculated by the program's instruction execution time x the number of instruction executions, and measures the sampling period. The configuration is such that the deviation (accuracy) of the sampling period is determined based on the magnitude of the value.

[作用〕 この発明においては、マスタークロック信号周期により
一意的に決まる命令実行時間と命令実行回数を測定手段
としてサンプリング周期を測定するので、サンプリング
周期のずれを容易にしかも精度良く検出することができ
る。
[Operation] In this invention, the sampling period is measured using the instruction execution time and the number of instruction executions, which are uniquely determined by the master clock signal period, so that deviations in the sampling period can be detected easily and accurately. .

〔実施例〕〔Example〕

第1図゛はこの発明の一実施例を説明するためのフロー
チャートであり、このフローチャートに示される監視用
プログラムは第3図に示した主演算装置6のプログラム
メモリに格納され、該主演算装置6の本来の仕事である
演算処理の空時間を利用して、サンプリング信号のサン
プリング周期毎に繰返し実行される。
FIG. 1 is a flowchart for explaining one embodiment of the present invention, and the monitoring program shown in this flowchart is stored in the program memory of the main processing unit 6 shown in FIG. This process is repeatedly executed every sampling period of the sampling signal, making use of the idle time for arithmetic processing, which is the original work of 6.

この監視用プログラムは、マスタークロック信号を利用
しその周期に基づき命令を実行するプログラムであって
、ある変数をカウントアツプするインクリメント命令と
、このカウント値をチェックする周期ずれ判定命令(上
・下限値に抵触するか否かを判断する)、これらの命令
を繰り返す分岐命令からなる。この監視用プロゲララム
は、サンプリング信号に同期する最初の外部割込み信号
により起動され、主演算装置6は上記フローチャートに
従いプログラムを実行する。
This monitoring program is a program that uses a master clock signal and executes instructions based on its cycle, including an increment instruction that counts up a certain variable, and a cycle deviation determination instruction that checks this count value (upper and lower limit values). ) and branch instructions that repeat these instructions. This monitoring programmer is activated by the first external interrupt signal synchronized with the sampling signal, and the main processing unit 6 executes the program according to the above flowchart.

即ち、 +11最初の外部割込信号で起動されると、上記変数を
零クリアする。
That is, +11 When activated by the first external interrupt signal, the above variables are cleared to zero.

(2)次に、インクリメント命令により、上記変数をガ
ウンドアツブする。
(2) Next, the variable is grounded by an increment instruction.

(3)サンプリング周期が経過し、次の外部割込信号が
入ってくると、カウント値を上限値・下限値と比較′し
、抵触している場合には異常警報処理を行ってこれを報
知し、 (4)抵触していない場合には上記変数を零クリアし上
記(2)に移行する。
(3) When the sampling period elapses and the next external interrupt signal comes in, the count value is compared with the upper and lower limit values, and if there is a violation, an abnormality alarm process is performed and an alarm is issued. (4) If there is no conflict, clear the above variables to zero and proceed to (2) above.

サンプリング周期のずれ判定動作はサンプリング周期毎
に行われるので、サンプリング周期が第2図(a)の正
しいサンプリング周期TOよりも短くなっていれば、上
記プロゲラの実行される分岐回数が少なく上記カウント
値が減少し、逆に、サンプリング周期が長くなっていれ
ばカウント値が増大する。
The sampling period deviation determination operation is performed every sampling period, so if the sampling period is shorter than the correct sampling period TO in FIG. 2(a), the number of branches executed by the progera will be smaller than the count value decreases, and conversely, if the sampling period becomes longer, the count value increases.

ところで、プログラムの所要実行時間は命令数とその命
令語の実行時間の積の合計で決まり、命令語の実行時間
はマスタークロツタ信号の周期により定まる一定時間で
あり、命令語の実行時間は、通常、サンプリング周期に
比して極めて小さい。
By the way, the required execution time of a program is determined by the total product of the number of instructions and the execution time of the instruction word, and the execution time of an instruction word is a fixed time determined by the cycle of the master clock signal, and the execution time of an instruction word is Usually, it is extremely small compared to the sampling period.

本実施例では、上記実行時間と上記分岐回数(実行回数
)とで定まる時間をサンプリング周期測定手段とし、そ
の測定値を判定基準である上・下限値と比較しているこ
とになり、命令語の実行時間は上記のようにサンプリン
グ周期に比して極めて小さく、また、第1図のフローチ
ャートで示す監視用プログラムもステップ数の少ない小
規模のものでよいから、サンプリング周期の精度と云う
細かいレベルのずれを精度良く監視することができる。
In this embodiment, the time determined by the execution time and the number of branches (number of executions) is used as a sampling period measuring means, and the measured value is compared with the upper and lower limit values that are the judgment criteria. As mentioned above, the execution time is extremely small compared to the sampling period, and the monitoring program shown in the flowchart in Figure 1 can be a small-scale program with a small number of steps. The deviation can be monitored with high accuracy.

なお、主演算装置6の本来の演算処理をサンプリング周
期毎に同じ処理を繰り返すような場合には、第2図(b
)に示すように、その演算処理の為の固定プログラム(
実行時間は一定)に上記監視プログラムを付加する構成
としてもよく、この場合には、固定プログラムの所要実
行時間と上記実施例の所要時間の和を判定基準と比較し
て監視する構成となる。
In addition, in the case where the original arithmetic processing of the main processing unit 6 is repeated at every sampling period, the same processing as shown in FIG.
), the fixed program for the calculation process (
The above-mentioned monitoring program may be added to a fixed program (with a fixed execution time); in this case, the sum of the required execution time of the fixed program and the required time of the above embodiment is compared with a determination criterion and monitored.

なお、上記実施例では、サンプルホールド回路、A/D
変換器を通して主演算装置にサンプリング情報を供給す
る場合について説明したが、D/A変換器を通すもので
もよく、この発明はサンプリング周期に基づいてプログ
ラムが処理される装置に用いて同様の効果を得ることが
できる。
Note that in the above embodiment, the sample hold circuit, the A/D
Although the case where sampling information is supplied to the main processing unit through a converter has been described, it may also be supplied through a D/A converter, and the present invention can be applied to a device in which a program is processed based on the sampling period to achieve the same effect. Obtainable.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明は以上説明した通り、サンプリング周期の長短
を、プログラムの命令語の実行時間と実行数により決ま
る時間を測定手段として測定し、この測定値を判定基準
と比較する構成としたので、サンプリング周期の精度と
云う時間的にミクロのレベルの異常の有無を高い精度を
もって監視することが可能になり、しかも、ソトトウエ
アによるものであり上記プログラムは小規模のものでよ
いので、回路装置が有する主演算装置とそのプログラム
メモリを利用することができるので、周期精度監視のた
めのバードウェアを追加することなく上記効果を得るこ
とができる利点がある。
As explained above, this invention has a structure in which the length of the sampling period is determined by the execution time and the number of executions of program command words as a measuring means, and this measured value is compared with the judgment standard. It is now possible to monitor with high accuracy the presence or absence of abnormalities at the micro level in terms of time.Moreover, since the above program is based on software, the above program only needs to be small-scale, so the main calculation of the circuit device is Since the device and its program memory can be used, there is an advantage that the above effects can be obtained without adding any hardware for period accuracy monitoring.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

説明するためのタイムチャート、第2図山)はこの発明
の他の実施例の判定動作を説明するためのタイムチャー
ト、第3図はデジタル装置の一例を示すブロック図であ
る。 図において、1−水晶全回路、2−・分周回路、6− 
 主演算装置。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
FIG. 2 is a time chart for explaining the determination operation of another embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram showing an example of a digital device. In the figure, 1- crystal full circuit, 2- frequency divider circuit, 6-
Main processing unit. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)情報を、マスタークロック信号を分周して作成さ
れたサンプリング信号によりサプリング入力して演算装
置により処理する回路装置において、命令実行時間がマ
スタークロック信号周期に基づく特定のプログラムを設
け、該プログラムの命令の所要実行時間とサンプリング
周期における命令実行回数とにより求まる時間を測定手
段として上記サンプリング周期を測定し、その測定値を
判定基準と比較して上記サンプリング周期のずれを監視
することを特徴とするサンプリグ周期の精度監視方法。
(1) In a circuit device in which information is sampled and input using a sampling signal created by frequency-dividing a master clock signal and processed by an arithmetic unit, a specific program whose instruction execution time is based on the master clock signal period is provided, The sampling period is measured as a means for measuring the time determined by the required execution time of a program instruction and the number of instruction executions in the sampling period, and the measured value is compared with a determination standard to monitor deviations in the sampling period. A method for monitoring the accuracy of the sampling period.
(2)特定プログラムが、ある変数のカウントアップを
命令するインクリメント命令、カウント値を判定基準と
比較する判定命令及び分岐命令を含む小規模プログラム
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のサ
ンプリング周期の精度監視方法。
(2) Claim 1, characterized in that the specific program is a small-scale program that includes an increment instruction for instructing to count up a certain variable, a judgment instruction for comparing the count value with a criterion, and a branch instruction. Method for monitoring the accuracy of the sampling period described.
JP24276784A 1984-11-16 1984-11-16 Accuracy monitor method of sampling cycle Pending JPS61120211A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63170112A (en) * 1987-01-09 1988-07-14 Atsugi Motor Parts Co Ltd Suspension unit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63170112A (en) * 1987-01-09 1988-07-14 Atsugi Motor Parts Co Ltd Suspension unit

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