JPS61104240A - 光透過率測定装置における光軸合わせ方法 - Google Patents

光透過率測定装置における光軸合わせ方法

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JPS61104240A
JPS61104240A JP22553784A JP22553784A JPS61104240A JP S61104240 A JPS61104240 A JP S61104240A JP 22553784 A JP22553784 A JP 22553784A JP 22553784 A JP22553784 A JP 22553784A JP S61104240 A JPS61104240 A JP S61104240A
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projector
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Shokichi Tokumaru
徳丸 昭吉
Hideo Kimura
英男 木村
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/53Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
    • G01N21/538Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke for determining atmospheric attenuation and visibility

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光透過率測定装置において投光器より投光し
た光束を受光器の適正な部分に位置合わせをするための
手段に関する。
〔従来の技術〕
第2図(a)p (b)はそれぞれ従来の光透過率測定
装置ておける光束1と受光部2の相対位置関係を示した
ものであるが、投光器より投光した光束を受光器の受光
部2に位置合わせする際、光束1はビーム径が絞られて
いないため、受光部2よシ大きく、光軸調整完了時には
光束1内に受光部2が入るような状態となっている。
このため、第2図(a)のように光束1と受光部2が内
接する位置に光軸調整がなされてしまった場合、わずか
な振動により両者の位置関係がずれてしまい、第2図(
b)に示すように光束1から受光部2がはみ出した状態
になった場合には、受光量が減少し、この光量の減少が
測定個所の透過率の変化として読取られてし19問題が
あった。しかも、このずれを検出して補正する手段が特
になかった。
そこで、前記問題を解決するために、第3図及び第・1
図に示す如く受光器3の筐体4内部に昇降。
可能なL型反射板5と反射光束を監視する監視窓6を設
けることによシ、受光器3に入る投光光束の位置関係を
筐体4の外部から容易に知り、光軸を調整できるように
したものが考えられた。第3図及び第4図は従来例の断
面図で、第3図は光透過率測定時の状態を、第4図は光
軸調整時即ち較正時の状態を示す。前記筐体4の上部に
は回転可能な監視窓6が設けられている。該監視窓6の
下部にはカム状板7が固着されており、その端部は筐体
4に蝶番8で支えられているL型反射板5の端部と接し
ている。
従って、光軸調整時には監視窓6を回すことによシカム
状板7を回転し、この回転により第4図に示す如くL型
反射板5は蝶番8を支点にして回転し、一端が据付台9
に接するまで下降する。このとき、L型反射板5と据付
台9の上面とが45度の角度になる。ここで、予めL型
反射板5の反射面には光軸合わせマークが彫ってあシ、
監視窓6、を覗きながら投光器側に設けた光軸調整機構
で前記光軸合わせマークを上下及び左右に動かし、該光
軸合わせマークが光束に一致するようにして光軸調整を
行う。
〔発明が解決しようとする問題〕
しかしながら、このような従来例は、監視窓から目視に
よシ光軸合わせを行うため、投光器からの投光光束の波
長範囲が可視領域にあシ、L型反射板に投影された光束
を内服で見ることができる場合は、光軸合わせができる
が、投光光束の波長域が紫外や赤外の光の場合には目視
で光ね合わせができないと言う問題点がちる。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
あり、その目的は、投光器から投光光束を受光素子で認
識することによシ目視によらず容易に光軸合わせができ
るようにすることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
前記した目的を達成するため、本発明は、投光光束の投
光面積を受光部の有効面積に略等しくする絞りを投光器
に設け、この絞りにより絞られた投光光束を受光する受
光素子を受光器に設けたことを特徴とする。
〔作用〕
前記%徴を有する本発明は、投光器の絞シにょシ絞られ
た投光光束を受光素子で受光してこの受光信号を監視し
ながら、前記投光器側に設けた光軸調整機構によ多投光
光束と受光部との一致点をさがして光軸合わせをする。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図及び第5図〜第7図に
基づいて説明する。
第1図は光軸調整時即ち較正時の状態を示す本発明の一
実施例の構成図、第5図は光軸調整前または光透過率測
定時の状態を示す本発明の一実施例の構成図、第6図は
本発明の投光器の一例を示す背面図、第7図は本発明の
投光器の一例を示す側面図である。第1図において、透
過率測定個所の両側(C投光器1oと受光器11とを対
向配置してあり、この投光器1oは発光索子12、ピン
ボール13、絞り14及び投光レンズ系15がら構成さ
れている。本実施例においてはピンボール13と投光レ
ンズ系15との間に絞り14が挿入できるようになって
おシ、ピンホール13と絞シ14とはそれぞれ別個の部
品として形成しているが、ピンホールに絞!l1機構を
組合わせて一体化する構成でもよい。また、受光器11
はスリット16、集光レンズ17、受光素子18及び受
光増幅器19から構成されており、受光器11の受光素
子18から見た視野は集光レンズ17の前面にあるスリ
ット16によシ制限され、その直径をdとする。
ここで、発光素子12から放射した光はピンホール13
によシ拡が9角が制限され、投光レンズ系15に入射し
、この投光レンズ系15により受光器11の受光面にお
ける光束の直径りが規定される。この直径りが大き過ぎ
るときは、受光器11の受光部の有効面積を定めている
スリット16に受光される光量が小さくなシ、受光素子
18の受光感度を満足する光量が得られず透過率の測定
ができない。他方、前記直径りが小さ過ぎると受光素子
18に対する受光量は十分であるがpeaとなる結果、
振動によって光束が動いた場合、第2図(b)に示す従
来例の如く光束から受光部がはみ出して受光器が減少し
、透過率を正しく測定できない。従って、本発明は受光
部の有効面積が受光部:・でおける投光光束の投光面積
に較べて小さくしである。
また、不実施例においては受光器11の受光面における
直径りの光束の光量が前記受光面の各部に対して一様な
強さの均一な照度になるように設計しである。この理由
は、仮に光束の照度が不均一であると、振動等により光
軸の移動が生じた場合、受光部の有効面積が投光光束の
どの部分に合致しているかによ・り透過率の測定値が異
なる結果となるため、このような不都合をなくすために
投光光束の光量が受光面の各部に対して常に均一な照度
となるように設計しである。尚、投光光束を均一な照度
とする手段としては、発光素子12の放射光の中心部分
を切り出す方法や投光レンズ系15の光学手段によシ実
現する方法があるが、本発明の目的とは直接関係カニな
いので詳細な説明を省略する。
更に、絞り14をピンホール13と投光レンズ系15と
の間に挿入可能に設けたが、この絞り14を第1図に示
す如く挿入した場合受光器11の受光部における投光光
束の直径は、前記受光部の有効直径dに略等しい大きさ
にする。
第6図及び第7図において、前記投光器10は一点支え
の支点20により先端部が自在に動くように支持台21
に支持され、後部にそれぞn左右方向の光軸調整機構2
2と上下方向の光軸調整機構23を設けである。また、
受光器11からの出力信号が図示せぬケーブルにより投
光器10に接続され、該投光器10の後部((ある端子
24から信号が取り出せるようにな′つている。
次に、前記構成の作用を説明すると、第5図に示す如く
ピンホール13と投光レンズ系15間から絞り14を除
いた状態において、ピンホール13によシ形成される拡
がシ角をもって発光素子12から投光レンズ系15を介
し受光器11の受光部     2に直径りの投光光束
を投光し、投光器10と受光器11の粗い光軸合わせを
光軸調整機構22.23で行う。即ち、投光器10から
の投光光束をスリット16及び集光レンズ17を介して
受光素子18で受光し、この信号を受光増幅器19で増
幅して図示せぬモニタによシ監視しながら粗い光軸合わ
せを行う。従って、受光器11の受光部は直径りの投光
光束の内側にあるが、その中心部にあるとは限らない。
その後、第1図に示す如くピンホール13と投光レンズ
系15間に絞り14を挿入し、投光器10からの投光光
束の中心部分と受光器11の受光部とが一致するように
光軸調整機構22,23で微N’4 Mを行う。即ち、
投光器10からの投光光束をスリット16及び集光レン
ズ17を介して受光素子18で受光し、この信号を受光
増幅器19で増・:易して図示せぬモニタにより監視し
ながら、光軸調整機構22,23により左右や上下の微
調整を行って光軸の適正な位置をさぐシ、受光器11の
受光部における投光光束の光軸合わせを行う。
そして、再び第5図に示す如くピンホール13と投光レ
ンズ系15間から絞914を除き、測定可能状態にする
尚、本実施例では出力信号を受光器11において電気信
号に変換した後に投光器10に送る方法をとったが、受
光器11で受光した光量を電気信号に変換しないで直接
光ファイバにより投光器10に送る方法をとるようにし
てもよい。
〔発明の効果〕
前記した如く、本発明に係る光透過率測定装置における
光軸合わせ方法によれば、投光光束の投光面積を受光部
の有効面積に略等しくする絞りを投光器に設け、この絞
シにより絞られた投光光束を受光素子で受光してこの受
光信号を監視しながら、前記投光光束と受光部との一致
点をさがして光軸合わせをすることによって、投光光束
を目視によらず受光素子によシ光量として検出できるた
め、可視域に波長域をもつ光束は勿論のこと、視感度の
ない波長域例えば紫外や赤外の光束についても光軸合わ
せを行うことができる効果がある。
また、受光器に受光された受光信号を投光器に送って監
視しながら光軸合わせを行うことによつて、従来のよう
に受光器側で投光光束を目視する必要がなくなり、受光
器における光軸の一致、不一致を確認しながら投光器側
で光軸の移動操作ができるため、操作性及び信頼性が向
上すると言う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は光軸調整時即ち較正時の状態を示す本発明の一
実施例の構成図、第2図(a) 、 (b)はそれぞれ
従来の光透過率測定装置における光束と受光部との相対
位置関係を示す図、第3図は透過率測定時の従来例の断
面図、第4図は光軸調整時の従来例の断面図、第5図は
光軸調整前または透過率測定時の状態を示す本発明の一
実施例の構成図、第6図は本発明の投光器の一例を示す
背面図、第7図は本発明の投光器の一例を示す側面図で
ある。 10・・・投光器 11・・・受光器 14・・・絞り
18・・・受光素子 22.23・・一光軸調整機構特
許出願人  沖電気工業株式会社 代理人弁理士  金 倉  喬 二 急 1− 油受光素子 繭 2− (a)              (b)閣 3− @ 4− @ 5− 18受光素子 触 6− ;q    2Jア」」緋1u炊購 23元@調整機構 手続補正書(自発) 昭和60年6月12日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、透過率測定個所の両側に投光器と受光器とを対向配
    置すると共に、該受光器の受光部の有効面積が受光部に
    おける投光光束の投光面積に較べて小さくなるようにし
    、前記投光器からの投光光束を介して投光器と受光器の
    光軸を光軸調整機構で互いに一致するように調整する光
    透過率測定装置における光軸合わせ方法において、投光
    光束の投光面積を受光部の有効面積に略等しくする絞り
    を投光器に設け、この絞りにより絞られた投光光束を受
    光素子で受光してこの受光信号を監視しながら、前記投
    光光束と受光部との一致点をさがして光軸合わせをする
    ことを特徴とする光透過率測定装置における光軸合わせ
    方法。
JP22553784A 1984-10-26 1984-10-26 光透過率測定装置における光軸合わせ方法 Granted JPS61104240A (ja)

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JPH0480337B2 JPH0480337B2 (ja) 1992-12-18

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008116263A (ja) * 2006-11-01 2008-05-22 Mitsubishi Heavy Ind Ltd ガス濃度モニタリングシステム、固定局及び移動局、並びにガス濃度計測方法
JP2012028621A (ja) * 2010-07-26 2012-02-09 Tokuyama Corp レーザ光線の繰り返し照射に起因する試料の透過率変動を測定する測定装置

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