JPS6091412A - Abnormality diagnosing method of system - Google Patents

Abnormality diagnosing method of system

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JPS6091412A
JPS6091412A JP58198989A JP19898983A JPS6091412A JP S6091412 A JPS6091412 A JP S6091412A JP 58198989 A JP58198989 A JP 58198989A JP 19898983 A JP19898983 A JP 19898983A JP S6091412 A JPS6091412 A JP S6091412A
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JP
Japan
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knowledge
fault
abnormality
diagnosis
estimating
Prior art date
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Application number
JP58198989A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenzo Kurihara
栗原 謙三
Kichizo Akashi
明石 吉三
Tadashi Tenma
天満 正
Satoshi Meguro
目黒 怜
Koichi Nagasawa
幸一 長沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6091412A publication Critical patent/JPS6091412A/en
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Abstract

PURPOSE:To increase the range of diagnosis and to improve the accuracy by estimating the product characteristics by means of a partial numerical formula model and then estimating the final fault factor by means of the knowledge related to the fault propagation. CONSTITUTION:This diagnosis device consists of an electronic computer 2, a DISK2 which stores the knowledge related to the fault propagation, the knowledge of expression for a numerical formula and the product check data, and a CRT terminal 1. A plant fault diagnosis system is attained with execution functions of two steps. The step 1 is equal to an estimating function for a parameter which is hard to observe and is divided into the expression method for quantitative related knowledge and the application method for said knowledge. The quantitative knowledge is obtained by simplifying a logical formula, etc. For application of said knowledge, the value of another variable is estimated from the product check data and the quantitative related knowledge to decide the presence or absence of a fault. In the step 2, a production system is applied to study a factor having the possibility of a fault.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は制御すべきパラメータが多数あり、しかもそれ
らが相互に複雑な関係にあるシステムにおいて、異常が
発生した際、その異常原因を迅速かつ高確度に推定する
に好適なシステムの異常診断方式に関する。本発明は、
システム機器、情報処理系、プラント等システムまたは
系一般に適用可能であるが、以下プラントの場合を中心
に説明する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Application of the Invention] The present invention is designed to quickly and efficiently identify the cause of an abnormality when an abnormality occurs in a system in which there are many parameters to be controlled and these parameters are in a complex relationship with each other. The present invention relates to a system abnormality diagnosis method suitable for accurate estimation. The present invention
Although it is applicable to systems in general, such as system equipment, information processing systems, and plants, the following explanation will focus on plants.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

製造プラントの診断とは、観測された異常現象から、そ
の異常原因を究明することである。通常、この診断には
、■異常現象とその原因間の数式モデルを開発する、■
それらの数式モデルを用いて定量的に異常原因を推定す
る、という手順がとられている。ところが、最近は、製
造プラントの大規模化、複雑化が著しく、これに伴なっ
て、数式モデルを開発することが困難な場合も多くなっ
てきた。従って、異常診断時には、理論的な数式モデル
だけを頼シにすることはできなくなり、製造技術あるい
は異常診断上の経験的知識を活用することが重要となっ
てきた。
Diagnosis of a manufacturing plant is to investigate the cause of an abnormality from observed abnormal phenomena. Typically, this diagnosis involves ■ developing a mathematical model between the abnormal phenomenon and its causes, ■
The procedure is to quantitatively estimate the cause of the abnormality using these mathematical models. However, recently, manufacturing plants have become significantly larger and more complex, and as a result, it has become increasingly difficult to develop mathematical models. Therefore, when diagnosing an abnormality, it is no longer possible to rely solely on theoretical mathematical models, and it has become important to utilize manufacturing technology or empirical knowledge regarding abnormality diagnosis.

この種の問題に対して、従来よシ、人工知能研究の成果
を適用することが試みられている。その結果、′プロダ
クション・システム”と呼ばれる方式が考案さ扛、公表
されている。ここでの考え方は、「■専門技術者が経験
的に得た異常現象伝播関係(現象と原因との因果関係)
をルール化してファイルに蓄積しておき、■異常現象が
観測されたときにルールを三段論法的に組合せて、根本
的な原因を推定する」というものである。
Conventionally, attempts have been made to apply the results of artificial intelligence research to this type of problem. As a result, a method called ``Production System'' was devised and published.The idea here is ``■The abnormal phenomenon propagation relationship (the causal relationship between the phenomenon and the cause) obtained empirically by specialized engineers. )
``The rules are created into rules and stored in a file, and when an abnormal phenomenon is observed, the rules are combined in a syllogistic manner to infer the root cause.''

このような従来の方式では、ルール全1ftllen形
式(例えば、” if A then B″とイウルー
ルは、「もし人が真ならば、Bもまた真である」という
因果関係を示す)で表現していた。ところが、単なる原
因・結果の因果関係などの異常伝播関係だけでは、専門
技術者の持っている知識の一部しか表現することができ
ない。そのため、異常診断できる範囲が狭いという欠点
があった。
In such conventional methods, all rules are expressed in one-dimensional format (for example, "if A then B" and the rule indicate a causal relationship such as "If A is true, then B is also true"). Ta. However, abnormal propagation relationships such as simple cause-and-effect relationships can only express a portion of the knowledge possessed by specialized engineers. Therefore, there is a drawback that the range in which abnormalities can be diagnosed is narrow.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、異常現象伝播関係に代表されるような定性的
な関係知識だけでなく、実験式/簡略理論式などの定量
的な関係知識をも活用することを容易にし、異常原因の
推定種度の高いシステムの異常診断方式を提供すること
にある。
The present invention facilitates the use of not only qualitative relational knowledge such as abnormal phenomenon propagation relations, but also quantitative relational knowledge such as experimental formulas/simplified theoretical formulas, and estimates types of abnormality causes. The purpose of the present invention is to provide a highly accurate system abnormality diagnosis method.

〔発明の概要〕 製造プラントの診断は、通常、次の様な考え方に基づい
て実施されている。すなわち、異常が発生したとき、そ
の異常の検知が容易であシ、シかも、その異常がプラン
トのどの工程で引き起こされたかを推定しやすい様な製
品特性値を選定し、その製品特性値の異常の有無を調べ
ることにより診断する。ところが、技術的あるいは経済
的な理由から、このような製品特性値を直接測定するこ
とが困難な場合も多い。その場合には、測定可能な別の
製品特性の値と数式モデルとを用いて、着目する製品特
性の値を推定する必要がある。
[Summary of the Invention] Diagnosis of manufacturing plants is usually carried out based on the following concept. In other words, when an abnormality occurs, the product characteristic values are selected so that it is easy to detect the abnormality, and it is easy to estimate which process in the plant the abnormality was caused. Diagnosis is made by examining the presence or absence of abnormalities. However, for technical or economic reasons, it is often difficult to directly measure such product characteristic values. In that case, it is necessary to estimate the value of the product characteristic of interest using the value of another measurable product characteristic and a mathematical model.

対象としているプラントが大規模な場合には、前述のよ
うに1大域的な数式モデルを開発することが困難であり
、着目する製品特性値を推定することが困難な場合があ
る。ところが、大規模なプラントにおいても、実際に制
御する変数は比較的少なく、その変動範囲もそれ程広く
ないことが普通である。従って、製品特性値の推定に必
要な数数モデルとしては、部分的なものでも役立つと考
えられる。また、これらの部分的な狭い領域での数式モ
デルは、理論式の簡略化、あるいは、実験式として得や
すいという利点がある。
When the target plant is large-scale, it is difficult to develop a single global mathematical model as described above, and it may be difficult to estimate the product characteristic value of interest. However, even in large-scale plants, the number of variables that are actually controlled is relatively small, and the range of their fluctuations is usually not that wide. Therefore, even a partial model is considered to be useful as a numerical model necessary for estimating product characteristic values. Moreover, these mathematical models in a narrow partial region have the advantage of simplifying theoretical formulas or being easy to obtain as experimental formulas.

本発明は、■以上説明した様な部分的な数式モデルを用
いて前記の製品特性値推定を行ない、さらに、■異常伝
播関係知識を用いて最終的な異常原因を推定する、とい
う階層型診断方式を提供するものである。
The present invention provides a hierarchical diagnosis method that 1) estimates the product characteristic values using the partial mathematical model as explained above, and 2) estimates the final cause of the abnormality using knowledge related to anomaly propagation. It provides a method.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、実施例に従って本発明の詳細な説明する。 Hereinafter, the present invention will be explained in detail according to examples.

第1図は、本発明を実現するだめのハードウェア構成例
であシ、これは従来のプロダクション・システム方式を
実現するためのハードウェア構成と同じである。装置1
は電子計算機、装置2はDI8に、装置3はCRT端末
である。装置2には異常伝播関係知識と数式表現知識、
および製品検査データを格納しておく。装置1は、装置
3を介してユーザから解析を要求されると、異常診断を
開始する。この診断に当って、不足する情報があったと
きは、CFLT端末3を介し、ユーザに間合せる。
FIG. 1 shows an example of a hardware configuration for realizing the present invention, which is the same as the hardware configuration for realizing a conventional production system method. Device 1
is an electronic computer, device 2 is a DI8, and device 3 is a CRT terminal. Device 2 has anomalous propagation related knowledge and mathematical expression knowledge,
and product inspection data. When the user requests analysis via the device 3, the device 1 starts abnormality diagnosis. In this diagnosis, if there is insufficient information, it is sent to the user via the CFLT terminal 3.

第2図は、本発明によるプラント異常診断システムの機
能構成例である。診断実施機能は、2つのステップによ
り実現することができる。以下、各ステップの機能とそ
の機能実施方法について記す。
FIG. 2 is an example of the functional configuration of the plant abnormality diagnosis system according to the present invention. The diagnostic performance function can be implemented in two steps. The functions of each step and how to implement the functions will be described below.

ステップ1は、観測困難なパラメータの推定機能であシ
、この実施例を、■定量的関係知識の表現方法と、■そ
の知識の活用方法、とに分けて示す。まず、知識表現方
法について記す。前述のように、定量的知識は理論式の
簡略化あるいは、実験式として得ることができる。これ
は、少数の変数に着目した定量的関係を表わす式である
。従って、これらの式には、次の様な前提条件をっけな
ければならない。
Step 1 is a function of estimating parameters that are difficult to observe, and this embodiment will be divided into (1) a method of expressing quantitative relational knowledge, and (2) a method of utilizing that knowledge. First, I will describe the knowledge representation method. As mentioned above, quantitative knowledge can be obtained as a simplification of a theoretical formula or an experimental formula. This is a formula that expresses a quantitative relationship focusing on a small number of variables. Therefore, the following preconditions must be made in these formulas.

条件1:式の中に表われている変数は、ある限定された
狭い領域内の値をとっている。
Condition 1: The variables appearing in the expression take values within a limited narrow range.

条件2:式の中に表われていない変数の中にも、ある限
定された狭い領域内の値をとっていなければならない変
数がある。
Condition 2: Even among variables that do not appear in the expression, there are variables that must take values within a narrow, limited range.

すなわち、定量的関係知識は数式で表現することができ
、その数式の有効な範囲として、上記の条件1.2を付
記しておけばよい。具体的には、例えば、次の様に表現
することができる。
That is, quantitative relational knowledge can be expressed by a mathematical formula, and the above condition 1.2 may be added as the valid range of the mathematical formula. Specifically, for example, it can be expressed as follows.

前提条件 (1,8) tr、≦tj≦t、、t、JεJ、、 J、cJx、、
t≦X、≦xIaz−εl、、 l、c l (1、b
)関係式 %式%) (2) ここで、t、は測定変数、その集合をJで表わす。XI
は推定変数、その集合を1で表わす。従って、式(1,
8)、 (1,b)が、上記の条件IK相当する。また
Ciは上記の条件2に相当する変数で・・・・・・等は
各変数の範囲を記すための定数である。
Preconditions (1, 8) tr,≦tj≦t,, t, JεJ,, J, cJx,,
t≦X,≦xIaz−εl,, l, c l (1, b
) Relational Expression % Expression %) (2) Here, t is a measurement variable, and J represents the set thereof. XI
is an estimated variable, and its set is represented by 1. Therefore, equation (1,
8), (1, b) corresponds to the above condition IK. Further, Ci is a variable corresponding to the above condition 2, etc. are constants for indicating the range of each variable.

L、は、変数X、を推定するだめの式を識別するだめの
添字の集合を表わす。
L represents a set of subscripts that identify equations for estimating the variable X.

次に、知識の活用方法について記す。知識活用の目的は
、製品検査データと定量的関係知識とから、他の変数の
値を推定し、異常の有無を判定することである。異常の
有無の判定方法の一例を、第3図にフローチャート形式
で示す。異常の有無の判定は、図に示す様に、次の2つ
の場合に分け、夫々次の様に実施すればよい。第3図に
おいて、ブロック31で着目する推定変数の値をめられ
るか否かの判定をおこない、値をめられないと判定され
た場合にはブロック32の処理全おこない、値をめられ
ると判定された場合にはブロック33の処理をおこなう
Next, I will describe how to utilize the knowledge. The purpose of knowledge utilization is to estimate the values of other variables from product inspection data and quantitative related knowledge, and to determine the presence or absence of abnormalities. An example of a method for determining the presence or absence of an abnormality is shown in flowchart form in FIG. As shown in the figure, the determination of the presence or absence of an abnormality can be divided into the following two cases and carried out in the following manner. In FIG. 3, it is determined in block 31 whether the value of the estimated variable of interest can be determined, and if it is determined that the value cannot be determined, the entire process of block 32 is performed, and it is determined that the value can be determined. If so, the process of block 33 is performed.

:)着目する変数X、の値をめることができなかった場
合 着目する変数の値を推定するだめの知識(式)は、一般
に複数個存在する。簡単な場合として、もし、そのよう
な知識が1つしかない場合には(前述のし、の要素数が
1の場合)、その知識の前提条件の中に不成立なものが
あれば、xaO値をめることができない。この場合、前
提条件の中の不成立となった変数に異常があると判断で
きる。すなわち、式(1,a)、け、b)で示される条
件を満足しない変数が見つかった場合、その変数の値が
異常であると判断できる。
:) When the value of the variable of interest, X, cannot be determined, there is generally a plurality of knowledge (formulas) for estimating the value of the variable of interest. In a simple case, if there is only one such knowledge (the number of elements of , as described above, is 1), if some of the preconditions of that knowledge do not hold, the xaO value I can't put it down. In this case, it can be determined that there is an abnormality in the variable that is not satisfied among the preconditions. That is, if a variable is found that does not satisfy the conditions expressed by equations (1, a), ke, and b), it can be determined that the value of that variable is abnormal.

また、複数個の知R(式)がある場合には、各知識を使
ってめた複数個の値のノくランキがある基準値より大き
いとき、xaO値をめることができない、と判断する。
In addition, when there are multiple knowledge R (formulas), if the ranking of the multiple values obtained using each knowledge is greater than a certain standard value, it is determined that the xaO value cannot be calculated. do.

この場合には、各知識の前提条件の中の未確認変数、す
なわち、式(1,c )の中の変数に、異常があると判
定できる。例えば、いま、着目する変数X、の値を推定
するだめの知識(式)が2つある場合(前述のり、の要
素数が2の場合)を考え、これらによる推定値を夫々x
、、、xa2とする。ある微小値を2とし、lXa、+
−X、+>a のとき、2つの推定式において式(1,
c)で示される条件のいずれかが満足されていない(す
なわち、異常がある)と推定できる。
In this case, it can be determined that there is an abnormality in the unconfirmed variable among the preconditions of each knowledge, that is, the variable in equation (1, c). For example, consider a case where there are two knowledge (formulas) for estimating the value of the variable of interest, X (the number of elements in
, , xa2. Let a certain infinitesimal value be 2, lXa, +
-X, +>a, the two estimation equations are expressed as (1,
It can be estimated that one of the conditions shown in c) is not satisfied (that is, there is an abnormality).

if )着目する変数の値をめることができた場合上記
の例において、I X l 、 −Xa 21≦δのと
き、xaO値は)例えば、Xa、とxl の平均値とし
でめることができる請求めた推定値を、事前に登録済の
基準範囲と比較する。その結果、基準範囲外であったら
異常であると判断する。ここで、(9) 基準範囲と比較して妥当であるという結果がでた場合で
あっても、それが他の測定値、推定値から考えて真に妥
当か否かは、定性的知識を用いた異常原因の探索時に検
証する。単に推定値をめ、その値を絶対的なものとして
診断を進めていくのでなく、上述の様に推定計算とプロ
ダクション・システムとを有機的に結びつける。
If) If you can find the value of the variable of interest In the above example, if I Compare the estimated value that can be claimed with the pre-registered reference range. As a result, if it is outside the standard range, it is determined that there is an abnormality. Here, (9) Even if a result is found to be valid when compared with the standard range, whether or not it is truly valid considering other measured values and estimated values requires qualitative knowledge. Verify when searching for the cause of the abnormality used. Rather than simply obtaining an estimated value and proceeding with diagnosis based on that value as an absolute value, the estimation calculation and production system are organically linked as described above.

ステップ2の機能は、基本的には、知識工学の分野で研
究されているプロダクション・システム方式を適用する
ことによシ実現することができる。
The function of step 2 can basically be realized by applying a production system method researched in the field of knowledge engineering.

例えば、ステップ1で変数x、、x、’が規格の上限を
超える異常があると判明したとする。ステップ2では、
上記の異常を発生する可能性のある原因を、プロダクシ
ョン・ルールを適用して究明する。ここで、プロダクシ
ョン・ルールは異常現象とその原因との間の因果関係f
 if then形式で表わしたものであシ、例えば、
「異常現象Al。
For example, assume that in step 1, it is found that the variables x,, x,' have an abnormality exceeding the upper limit of the standard. In step 2,
Apply production rules to investigate the possible causes of the above abnormality. Here, the production rule is the causal relationship f between the abnormal phenomenon and its cause.
It is expressed in the if then format, for example,
“Abnormal phenomenon Al.

A2 、Asが観察されるとき、その原因はXの可能性
が高い」というルールは、次の様に表わすことができる
The rule "When A2, As is observed, there is a high possibility that the cause is X" can be expressed as follows.

(10) if(異常現象AIが観察される) かつ (異常現象A2が観察される) かつ (異常現象A3が観察される) then(Xが原因である可能性が高い)もし、このt
hen側の事象i、if側の事項としてもつルールがあ
る場合には、そのルールを適用してさらに根本的な原因
を究明していく。
(10) if (abnormal phenomenon AI is observed) and (abnormal phenomenon A2 is observed) and (abnormal phenomenon A3 is observed) then (there is a high possibility that X is the cause), if this t
If there are rules for events i on the hen side and matters on the if side, those rules are applied to further investigate the fundamental cause.

なお、ステップ1の推定結果が真に妥当か否かは、格納
しているプロダクション・ルールに矛盾があるか否かに
よって調べることができる。すなワチ、if then
 ルールで表わされる、事象間の因果関係に矛盾が生じ
た場合、ステップ1の推定結果が不当であると判断でき
る。但し、この矛盾は、ルールそのものが不当な場合も
生ずることがある。
Note that whether or not the estimation result of step 1 is truly valid can be checked by checking whether there is a contradiction in the stored production rules. Sunawachi, if then
If a contradiction occurs in the causal relationships between events expressed by the rules, it can be determined that the estimation result in step 1 is incorrect. However, this contradiction may also occur if the rule itself is unjust.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した様に、本発明によれば次の効果が得られる
As explained above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

(11) (1)本発明は異常診断に用いる知識として、異常現象
伝播関係知識と実験式等の数式表現知識とを活用するだ
めの、知識表現方式とこれによる推論方式を提供してい
るものであシ、これにより、診断できる異常の範囲が広
がり、精度も向上する。
(11) (1) The present invention provides a knowledge expression method and an inference method based on the knowledge that utilize abnormal phenomenon propagation related knowledge and mathematical expression knowledge such as experimental formulas as knowledge used for abnormality diagnosis. This expands the range of abnormalities that can be diagnosed and improves accuracy.

(2)知識の変更が容易に行なえるため、プラント異常
診断の精度向上が期待できる。
(2) Since knowledge can be easily changed, it is expected that the accuracy of plant abnormality diagnosis will improve.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明および従来方式を説明するだめのブロッ
ク図、第2図は本発明の機能構成を説明するだめの機能
構成図、第3図は診断の主要部分(12)
Figure 1 is a block diagram for explaining the present invention and the conventional method, Figure 2 is a functional configuration diagram for explaining the functional configuration of the present invention, and Figure 3 is the main part of diagnosis (12).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 異常診断に関する知識を格納する第一のステップと異常
発生時に測定された製品検査データを記憶する第二のス
テップと、上記第一、第二のステップによって得られた
データを用いて、異常が発生した原因を推定する第三の
ステップとからなる、システムの異常診断方式。
The first step is to store knowledge related to abnormality diagnosis, the second step is to store product inspection data measured at the time of abnormality occurrence, and the data obtained in the first and second steps above are used to determine when an abnormality has occurred. A system abnormality diagnosis method consisting of a third step of estimating the cause of the problem.
JP58198989A 1983-10-26 1983-10-26 Abnormality diagnosing method of system Pending JPS6091412A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6377537A (en) * 1986-09-19 1988-04-07 Jgc Corp Plant operation supporting device
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