JPS6086962U - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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JPS6086962U
JPS6086962U JP17796083U JP17796083U JPS6086962U JP S6086962 U JPS6086962 U JP S6086962U JP 17796083 U JP17796083 U JP 17796083U JP 17796083 U JP17796083 U JP 17796083U JP S6086962 U JPS6086962 U JP S6086962U
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JP
Japan
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diode
whose
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flaw detection
anode
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JP17796083U
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JPH0136131Y2 (ja
Inventor
帰山　悦郎
Original Assignee
株式会社トキメック
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は超音波探傷装置の電気回路の一般的なブロック
ダイヤグラム、第２図は本考案に係る超音波探傷装置の
電気回路のブロックダイヤグラムである。 １・・・送信回路、２ｔ２ａ、２ｂ・・・接続ケーブル
、３・・・超音波トランスデユーサ、４・・・受信回路
、５・・・枯合用トムンスフオーマ、ＤＩ、Ｄ２゜Ｄ３
．Ｄ４・・・ダイオード、Ｒ１，Ｒ２・・・抵抗体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 送信回路と、該送信回路にその一端が接続された第１の
    接続ケーブルと、超音波トランスデユーサと、該超音波
    トランスデユーサにその一端が接続されかつその他端が
    上記第１の接続ケーブルの他端に接続された第２の接続
    ケーブルと、上記第１の接続ケーブルと上記第２の接続
    ケーブルの接続点にカソードが接続されたダイオードＤ
    １と、上記接続点にアノードが接続されたダイオードＤ
    ２と、上記ダイオードＤ２のカソードにカソードが接続
    されたダイオードＤ３と、上記ダイオードのＤ３のアノ
    ードにカソードが接続されかつアノードが上記ダイオー
    ドＤ１のアノードに接続されたダイオードＤ４と、上記
    ダイオードＤ１と上記□　　　ダイオードＤ４の接続点
    にその一端が接続され他端が正電圧電源に接続された第
    １の抵抗体と、上記ダイオードＤ２と上記ダイオードＤ
    ３の接続点にその一端が接続され他端が負電圧電源に接
    続された第２の抵抗体と、上記ダイオードＤ３と上記ダ
    イオードＤ４の接続点に入力側が接続された整合回路と
    、上記整合回路の出力側に入力端子が接続された受信回
    路とを具えることを特徴とする超音波探傷装置。
JP17796083U 1983-11-17 1983-11-17 超音波探傷装置 Granted JPS6086962U (ja)

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JPS6086962U true JPS6086962U (ja) 1985-06-14
JPH0136131Y2 JPH0136131Y2 (ja) 1989-11-02

Family

ID=30386496

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006087604A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Toshiba Corp 超音波診断装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006087604A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Toshiba Corp 超音波診断装置
JP4673596B2 (ja) * 2004-09-22 2011-04-20 株式会社東芝 超音波診断装置

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Publication number Publication date
JPH0136131Y2 (ja) 1989-11-02

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