JPS607427B2 - Time-division channel continuity test method - Google Patents

Time-division channel continuity test method

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JPS607427B2
JPS607427B2 JP4615280A JP4615280A JPS607427B2 JP S607427 B2 JPS607427 B2 JP S607427B2 JP 4615280 A JP4615280 A JP 4615280A JP 4615280 A JP4615280 A JP 4615280A JP S607427 B2 JPS607427 B2 JP S607427B2
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JP
Japan
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time slot
contents
memory
data
test
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JP4615280A
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芳昭 松浦
賢三 青木
隆 奈良
芳孝 野村
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/24Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
    • H04M3/244Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は時分割通話交換網装置における通話路の導通試
験方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a continuity test method for communication paths in time-division communication switching network equipment.

この種の交換網装置において、通話路の導通の試験する
方式としては第1図に示す如き従来技術が有在する。
In this type of switching network equipment, there is a conventional technique as shown in FIG. 1 as a method for testing continuity of communication paths.

第1図は従来の導通試験方式を説明するために、交換網
を模式化して表わした図であり、同図におて、10,1
0′はマルチプレクサ(多重化装置)、12,12′は
1次通話路メモリ、14,14′は信号受信用メモリ「
16,16は前記メモリ12及び14,12′及び1
4′をそれぞれ制御する制御メモリ、18はゲートスイ
ッチ群、20,20′は2次通話路メモリ、22,22
′は信号送信用メモリ、24,24′は前記メモリ20
及び22,20′及び22′をそれぞれ制御する制御メ
モリ、26,26′はデマルチプレクサ(多重分離装置
)、A,A′は導通試験用テストパターン発信装置、B
,B′は導遺詠険用テストパターン受信装置をそれぞれ
示している。導通試験用テストパターン発信装置Aから
発信せしめられたテストデータTは、マルチプレクサ1
01こより多重化され、タイムスロットiに収容される
。制御メモリ16のアドレスiの内容をiとすると、テ
ストデータTは1次通話路メモリ12のアドレスiの位
置に書込まれる。通話路メモリ12の読み出し‘まシー
ケンシャルに行われるため、その出力においてテストデ
ータTはタイムスロットJに収容され、ゲートスイッチ
群18の交換点スイッチ18aを経由して2次通話路メ
モリ20′り送り込まれる。この通話路メモリ20′の
書込みもシーケンシャルに行われるため、テストデータ
Tは通話路メモリ20′のアドレスjの位置に書込まれ
る。制御メモリ24′のアドレスkの内容をjとする事
により、通話路メモリ20′の出力においてテストデー
タTはタイムスロットk‘こ出力され、デマルチプレク
サ26′を介して導通試験用テストパターン受信装置B
′に到達する。この受信装置B′で受信したデータをと
発信装置Aで発信したデータと照合する事により、通話
路メモリ12、ゲートスイッチ群量8、通話略〆モリ2
0′のタイムスロットjに関する通話路の導通で正常で
あるか杏かを知ることができる。被試験通話路の指定は
制御メモリー6,24′の内容を変えることりよって行
われ、これにより任意の通話路の導通試験が行える。し
かしながら、上述の如き従来の試験方式では、導通試験
用テストパターン発信装置及び受信装置が必要でありし
しかも各交換網の任意の通話路を試験するためには、こ
れらの発信装置及び受信装置を各交換網毎に用意する必
要があるため問題がある。
FIG. 1 is a diagram schematically showing a switching network in order to explain the conventional continuity test method.
0' is a multiplexer (multiplexing device), 12 and 12' are primary channel memories, and 14 and 14' are signal receiving memories.
16, 16 are the memories 12 and 14, 12' and 1
4' control memory, 18 is a gate switch group, 20, 20' is a secondary channel memory, 22, 22
' is a memory for signal transmission, and 24, 24' are the memories 20.
22, 20' and 22' respectively, 26 and 26' are demultiplexers (multiplexing devices), A and A' are continuity test test pattern transmitting devices, B
, B' respectively indicate the test pattern receiving device for the guidance test pattern. The test data T transmitted from the continuity test test pattern transmitter A is sent to the multiplexer 1.
01 is multiplexed and accommodated in time slot i. Assuming that the content of address i in control memory 16 is i, test data T is written to the location of address i in primary channel memory 12. Since reading of the channel memory 12 is performed sequentially, the test data T is stored in the time slot J at the output and sent to the secondary channel memory 20' via the exchange point switch 18a of the gate switch group 18. It will be done. Since writing to the communication path memory 20' is also performed sequentially, the test data T is written to the address j of the communication path memory 20'. By setting the contents of the address k of the control memory 24' to j, the test data T is outputted for time slots k' at the output of the channel memory 20', and sent to the continuity test test pattern receiving device via the demultiplexer 26'. B
′ is reached. By comparing the data received by the receiving device B' with the data transmitted by the transmitting device A, a communication path memory 12, a gate switch group quantity 8, a communication shortcut memory 2
Whether it is normal or not can be determined by the continuity of the communication path for time slot j of 0'. The communication path to be tested is designated by changing the contents of the control memories 6, 24', thereby allowing continuity testing of any communication path. However, in the conventional test method as described above, a test pattern transmitting device and a receiving device for continuity testing are required. This is problematic because it needs to be prepared for each switching network.

しかも従来の方式によると、中央処理装置側から、ソフ
トウェアによって導通試験を管理することが難しいため
、試験が簡易に行えない、テストデータの内容を容易に
変更できない等の問題が生じる。
Moreover, according to the conventional method, it is difficult to manage the continuity test using software from the central processing unit side, resulting in problems such as the inability to perform the test easily and the inability to easily change the contents of the test data.

従って本発明は従来技術の上述の問題点を解消すること
を目的としている。
The present invention therefore aims to overcome the above-mentioned problems of the prior art.

上述の目的を達成する本発明の特徴は、任意の入力タイ
ムスロットの内容を信号受信用メモリに書込み可能であ
り、信号受信用メモリの内容を任意の出力タイムスロッ
トに送出可能な時分割通話路交換網装置において、特定
の出力タイムスロットの内容を該出力タイムスロットに
対応する特定の入力タイムスロットに折り返し転送可能
な折り返し接続手段を設け、第1の出力タイムスロット
に信号受信用メモリの内容を送出し、該第1の出力タイ
ムスロットの内容をこれに対応する第1の入力タイムス
ロットに前記折り返し接続手段を介して転送し、該第1
の入力タイムスロットの内容を交換網装置内の被試験通
話路を介して第2の出力タイムスロットに転送し、該第
2の出力タイムスロットの内容をこれに対応する第2の
入力タイムスロットに前記折り返し接続手段を介して転
送し、該第2の入力タイムスロットの内容を信号受信用
メモリに書込み、該信号受信用メモリに書込まれた内容
と前記信号受信用メモリから送出した内容とを比較して
前記被試験通話路の導適状態を調べるようにしたことに
ある。
A feature of the present invention that achieves the above-mentioned objects is a time-division communication path in which the contents of any input time slot can be written into a signal reception memory, and the contents of the signal reception memory can be transmitted to any output time slot. In the switching network device, a return connection means capable of returning and transferring the contents of a specific output time slot to a specific input time slot corresponding to the output time slot is provided, and the contents of the signal receiving memory are transferred to the first output time slot. forwarding the contents of the first output timeslot to the corresponding first input timeslot via the loopback connection means;
transmitting the contents of the input timeslot of the input timeslot to a second output timeslot via the communication path under test in the switched network equipment, and transferring the contents of the second output timeslot to the corresponding second input timeslot. The contents of the second input time slot are transferred via the return connection means, and the contents of the second input time slot are written to the signal reception memory, and the contents written to the signal reception memory and the contents sent from the signal reception memory are combined. The purpose is to compare the conductive state of the communication path under test.

以下実施例により本発明を詳細に説明する。The present invention will be explained in detail below with reference to Examples.

第2図は、本発明の一実施例の構成図である。同図にお
いて、マルチプレクサ10、1次通話路メモリ12、信
号受信用メモリー4、制御メモリ16、ゲートスイッチ
群18、2次通話路メモリ20、信号受信用メモリ22
、制御メモリ24、及びデマルチプレクサ26は従釆技
術の第1図に示したものと同様である。さらに第2図に
おいて、28はゲートスイッチ群18を制御する制御メ
モリト30は中央処理装置、32は中央処理装置と各制
御メモリー6,24,28及び信号受信用メモリ14、
信号送信用メモリ22とのインタフェース装置、Cは特
定のタイムスロットのデータのみを抽出するデータ抽出
装置、Dは折り返し通路34を介してデータ抽出装置C
から送られるデータを特定のタイムスロットに挿入する
データ挿入装置をそれぞれ示している。第3図は、第2
図に示した実施例を模式的に表わした図であり以下この
第3図を用いて本実施例の動作説明を行う。
FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention. In the figure, a multiplexer 10, a primary channel memory 12, a signal receiving memory 4, a control memory 16, a gate switch group 18, a secondary channel memory 20, a signal receiving memory 22
, control memory 24, and demultiplexer 26 are similar to those shown in FIG. 1 in the slave technique. Further, in FIG. 2, reference numeral 28 indicates a control memory 30 for controlling the gate switch group 18, which is a central processing unit; 32, a central processing unit, each control memory 6, 24, 28, and a signal receiving memory 14;
C is an interface device with the signal transmission memory 22, C is a data extraction device that extracts only data of a specific time slot, and D is a data extraction device C via a return path 34.
Each figure shows a data insertion device that inserts data sent from a specific time slot into a specific time slot. Figure 3 shows the second
This is a diagram schematically representing the embodiment shown in the figure, and the operation of this embodiment will be explained below using FIG. 3.

第2図に示す中央処理装置30からの指令により信号受
信用メモリ22のアドレスaの位置に所定のテストデー
タTを書込む。
Predetermined test data T is written at the address a of the signal receiving memory 22 according to a command from the central processing unit 30 shown in FIG.

この信号受信用メモリ22は、周知の如く、中央処理装
置3川こよってアクセス可能となっている。制御メモリ
24のアドレスiの内容をaとすると、テストデータT
はデータ抽出装置Cの入力部においてタイムスロットi
に収容される。デ−タ抽出装置Cは、この場合、タイム
スロットjのデータのみを抽出し、他のタイムスロット
のデータはデマルチブレクサ26に通過せしめる。この
データ抽出装置Cによって抽出されたテストデータTは
折り返し通路34を介してデータ挿入装置Dに転送せし
められる。データ挿入装置Dはデ−タ抽出装置Cから折
り返されるデータをタイムスロットiに挿入するように
構成されている。従ってデータ挿入装置Dの出力におい
て、テストデータTはタイムスロットiに収容され、そ
の他のタイムスロットにはマルチプレクサ10からのデ
ータがそのまま収容されている。制御用メモリ16のア
ドレスiの内容をjとすることにより、テストデータT
は1次通話路メモリ12のアドレスiの位置に書込まれ
る。以後、第1図の従来技術と全く同様に動作して、テ
ストデータTは2次通話路メモリ20′の出力部におい
てタイムスロットk‘こ収容される。データ抽出装置〇
はタイムスロットkのみのデータを抽出するものであり
、これにより、テストデータTは抽出され折り返し通路
34′を介してデータ挿入装置D′に転送される。デー
タ挿入装置〇データ抽出装置C′からのデータをタイム
スロットk‘こ挿入するものであり、これにより、テス
トデータTはデータ挿入装置〇の出力において、タイム
スロットkに収容される。制御用メモリ16′のアドレ
スkの内容bとすることにより、テストデータTは信号
受信用メモリ14′のアドレスbに書込まれる。この信
号受信用メモリ14′の内容は中央処理装置30(第2
図)によって読取り可能であり、この中央処理装置30
の指令により信号受信用メモリ14′のアドレスbの内
容、即ちテストデータTを議取り、これと信号送信用メ
モリ22のアドレスaに書込んだテストデータとを比較
照合することにより、通話路メモリ12、ゲートスイッ
チ群18、通話路メモリ20′のタイムスロットiに関
する通話路の導通が正常であるか杏かを試験することが
できる。被試験通話路、即ちタイムスロットの指定は制
御メモリ16′,24′の内容を変えることによって行
われ、これにより任意の通話路の導通試験が行える。第
3図の例ではゲートスイッチ群18をはさむ異なる交換
網間の導通試験の場合を示したが、これは同一の交換網
での通話路においても試験可能である。以上説明したよ
うに、本発明の方式によれば、交換網の入出部に折り返
し接続手段、即ち上述の実施例においては、データ抽出
装置C、折り返し通路34、データ挿入装置D、を受け
るのみで、特殊な導通試験用テストパターン発信装置及
び受信装置を設ける必要が全くない。即と、交換網の設
置時等の試験、増設時試験等を行う場合、余分の試験装
置を設けることなく、交換網装置のみで中央処理装置か
らのソフトウェア制御により、導通試験を行うことがで
きる。また、ソフトウェアによって導通試験管理を行う
ことができるため、試験操作が簡単になりしかも確実な
試験が行える。さらに、中央処理装置によって任意のテ
ストデータを作成することができるので、試験の多様化
が計れ、信頼性を向上させることもできる。
As is well known, this signal reception memory 22 can be accessed by all three central processing units. If the content of address i in the control memory 24 is a, test data T
is the time slot i at the input of the data extraction device C.
be accommodated in. In this case, the data extraction device C extracts only the data of time slot j and passes the data of other time slots to the demultiplexer 26. The test data T extracted by the data extracting device C is transferred to the data inserting device D via the return path 34. Data insertion device D is configured to insert data returned from data extraction device C into time slot i. Therefore, at the output of the data insertion device D, the test data T is accommodated in the time slot i, and the data from the multiplexer 10 is accommodated as is in the other time slots. By setting the contents of address i in the control memory 16 to j, the test data T
is written at address i in the primary channel memory 12. Thereafter, operating in exactly the same manner as in the prior art of FIG. 1, test data T is stored in time slot k' at the output of secondary channel memory 20'. The data extraction device 〇 extracts the data of only the time slot k, whereby the test data T is extracted and transferred to the data insertion device D' via the return path 34'. The data insertion device inserts the data from the data extraction device C' into the time slot k', so that the test data T is accommodated in the time slot k at the output of the data insertion device O. By setting the content b of the address k of the control memory 16', the test data T is written to the address b of the signal receiving memory 14'. The contents of this signal receiving memory 14' are stored in the central processing unit 30 (second
), the central processing unit 30
The content of the address b of the signal receiving memory 14', that is, the test data T, is read in response to a command from the address b of the signal receiving memory 14', and this is compared with the test data written to the address a of the signal transmitting memory 22. 12. It is possible to test whether the continuity of the communication path related to time slot i of the gate switch group 18 and the communication path memory 20' is normal or not. The communication path to be tested, ie, the time slot, is designated by changing the contents of the control memories 16', 24', thereby allowing continuity testing of any communication path. Although the example in FIG. 3 shows the case of a continuity test between different switching networks sandwiching the gate switch group 18, this test can also be performed on communication paths in the same switching network. As explained above, according to the system of the present invention, only the return connection means, that is, the data extraction device C, the return path 34, and the data insertion device D in the above embodiment, are received at the input/output portion of the switching network. , there is no need to provide a special continuity test test pattern transmitting device and receiving device. When conducting tests at the time of installation or expansion of a switching network, continuity tests can be performed using only the switching network equipment under software control from the central processing unit without installing extra test equipment. . Furthermore, since the continuity test can be managed by software, the test operation becomes simple and the test can be performed reliably. Furthermore, since arbitrary test data can be created by the central processing unit, tests can be diversified and reliability can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の試験方式の模式図、第2図は本発明の一
実施例の構成図、第3図は第2図の実施例の模式図であ
る。 10,10′……マルチプレクサ、12,12′,20
,20′・・…・通話路メモリ、14,14′・・・・
・・信号受信用メモリ、16,16′,24,24′,
28……制御メモリL 18……ゲートスイッチ群、2
2,22′……信号受信用メモリ、26,26′……デ
マルチプレクサ、30……中央処理装置、34,34′
……折り返し通路、C,〇……データ抽出装置、D,〇
・・・・・・データ挿入装置。 第1図 第2図 第3図
FIG. 1 is a schematic diagram of a conventional test system, FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a schematic diagram of the embodiment of FIG. 10, 10'... multiplexer, 12, 12', 20
, 20'...Call path memory, 14, 14'...
...Signal reception memory, 16, 16', 24, 24',
28...Control memory L 18...Gate switch group, 2
2, 22'... Memory for signal reception, 26, 26'... Demultiplexer, 30... Central processing unit, 34, 34'
...turning passage, C,〇...data extraction device, D,〇...data insertion device. Figure 1 Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 任意の入力タイムスロツトの内容を信号受信用メモ
リに書込み可能であり、信号受信用メモリの内容を任意
の出力タイムスロツトに送出可能な時分割通話路交換網
装置において、特定の出力タイムスロツトの内容を該出
力タイムスロツトに対応する特定の入力タイムスロツト
に折り返し転送可能な折り返し接続手段を設け、第1の
出力タイムスロツトに信号送信用メモリの内容を送出し
、該第1の出力タイムスロツトの内容をこれに対応する
第1の入力タイムスロツトに前記折り返し接続手段を介
して転送し、該第1の入力タイムスロツトの内容を交換
網装置内の被試験通話路を介して第2の出力タイムスロ
ツトに転送し、該第2の出力タイムスロツトの内容をこ
れに対応する第2の入力タイムスロツトに前記折り返し
接続手段を介して転送し、該第2の入力タイムスロツト
の内容を信号受信用メモリに書込み、該信号受信用メモ
リに書込まれた内容と前記信号受信用メモリから送出し
た内容とを比較して前記被試験通話路の導通状態を調べ
るようにしたことを特徴とする時分割通話路導通試験方
式。
1. In a time-division channel switching network device in which the contents of any input time slot can be written to a signal reception memory and the contents of the signal reception memory can be sent to any output time slot, A return connection means capable of returning the contents to a specific input time slot corresponding to the output time slot is provided, and the contents of the signal transmission memory are sent to the first output time slot. The contents of the first input time slot are transferred to a corresponding first input time slot via the loopback connection means, and the contents of the first input time slot are transferred to a second output time slot via the communication path under test in the switched network equipment. The content of the second output time slot is transferred to the corresponding second input time slot via the loop connection means, and the content of the second input time slot is transferred to the signal receiving memory. and comparing the contents written in the signal reception memory with the contents sent from the signal reception memory to check the continuity state of the communication path under test. Road continuity test method.
JP4615280A 1980-04-10 1980-04-10 Time-division channel continuity test method Expired JPS607427B2 (en)

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JPS56143746A JPS56143746A (en) 1981-11-09
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JPS6237528A (en) * 1985-08-12 1987-02-18 Norihide Toyama Unilateral rotary power transmission
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