JPS6073482A - Scintillation camera - Google Patents
Scintillation cameraInfo
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- JPS6073482A JPS6073482A JP18328683A JP18328683A JPS6073482A JP S6073482 A JPS6073482 A JP S6073482A JP 18328683 A JP18328683 A JP 18328683A JP 18328683 A JP18328683 A JP 18328683A JP S6073482 A JPS6073482 A JP S6073482A
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- nonuniformity
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は、被写体から放射される放射線を2次元放射
線位置検出器で検出して被写体中に分布する放射性物質
の分IIi画像を撮影するためのシンチレーションカメ
ラの改良に関する。Detailed Description of the Invention (a) Industrial Application Field This invention detects radiation emitted from an object using a two-dimensional radiation position detector to take a minute IIi image of radioactive substances distributed within the object. Regarding the improvement of scintillation cameras.
(ロ)従来技術
シンチレーションカメラでは不均一性がひとつの問題で
あるが、この不均一性の原因は七に位置による固有のエ
ネルギレベルの変動および空間的非直線性等である。従
来より、これらの原因を除き、不均一性を改善すること
が種々提案されてI7Xる(特公昭56−86377号
公報および特公昭56−86378号公報′4参照)。(b) One problem with conventional scintillation cameras is non-uniformity, and the causes of this non-uniformity are, seventhly, inherent energy level fluctuations depending on position and spatial non-linearity. In the past, various proposals have been made to eliminate these causes and improve the non-uniformity (see Japanese Patent Publication No. 56-86377 and Japanese Patent Publication No. 56-86378 '4).
しかしながら、これらの従来のものではいずれも、均一
・性を最良のものとするためには、直線性をある程度犠
牲にし、直線性の最も良い状態より少し悪い状態に保持
する必要があった。また、特に多核種、多重エネルギで
は、エネルギ補正、直線性補正してもなお単一エネルギ
、l核種のときと比べて良好な均一性をソ1することが
困難である。これらとは別に特公昭52−137180
号公報が均一性の改善について述べているが、この場合
には、均一性補正する前の段階で得られた計数率に比へ
て必ず少ない計数率しか得られないという欠点がある。However, in all of these conventional methods, in order to achieve the best uniformity and property, it was necessary to sacrifice linearity to some extent and maintain the linearity in a state slightly worse than the best state. Furthermore, especially in the case of multiple nuclides and multiple energies, it is still difficult to achieve good uniformity even with energy correction and linearity correction compared to the case of single energy and one nuclide. Apart from these, special public service No. 52-137180
Although the publication describes improvement of uniformity, in this case there is a drawback that only a small count rate is necessarily obtained compared to the count rate obtained at the stage before uniformity correction.
(ハ)目的
この発明は、直線性の最も良い状態を保持しながら均一
性を最良のものとし、しかも胴欲率特性の劣化を招くこ
ともないシンナレーションカメラを提供することを目的
とする。(C) Objective The object of the present invention is to provide a synnarration camera that maintains the best linearity, provides the best uniformity, and does not cause deterioration of the body ratio characteristics.
(ニ)構成
この発明によるシンチレーションカメラでは、あらかじ
め、直線性補正およびエネルギ補正の各補正を受けた後
書られる位置信号およびアンプランク信号を用いて各位
置での不均一性を実測し、各位置での不均一性が平均値
より高い側に生じているか低い側に生じているかとその
不均一性の程関する補正情報を不均一性補正メモリに記
tCさせておき、被写体の撮影時に得られる位置信号に
よりアドレス指定することによってその位置での補正情
報を読出し、不均一性が平均値より一高い側の場合には
その不均一性の比率に対応する確率で位置信号およびア
ンプランク信号を出さないようにするとともに、不均一
性が平均値より低い側の場合にはその不均一性の比率に
対応する確率で新たに位置信号およびアンプランク信号
をつけ加えるようにしている。(d) Configuration In the scintillation camera according to the present invention, the non-uniformity at each position is actually measured using the position signal and unrank signal written after each correction of linearity correction and energy correction. Correction information regarding whether the nonuniformity occurs on the higher or lower side than the average value and the extent of the nonuniformity is stored in the nonuniformity correction memory, and can be obtained when photographing the subject. By specifying an address using a position signal, correction information at that position is read out, and if the non-uniformity is one level higher than the average value, a position signal and an unranked signal are output with a probability corresponding to the ratio of the non-uniformity. In addition, when the non-uniformity is lower than the average value, a new position signal and unranked signal are added with a probability corresponding to the ratio of the non-uniformity.
(ホ)¥施例
第1図において、2次元放射線位置検出器lに放射線が
入射すると、これから位置信号X、Y、エネルギ信号お
よびアンプランク信号が生じ、これらが補正回路2に送
られる。補正回路2は、A/D変換器、直線性補正回路
、エネルギ補正回路等を含み、=れらの回路を経てアナ
ログ信号からデジタル信号に変換されかつ補正された位
置信号X゛、Yoおよびアンプランク信号が出力される
。この位置信号X゛、Yoおよびアンプランクイ11す
は出力回路3およびホールドおよび出力回路4に送られ
る。位置信号X′、Yoはこの実施例ではともに12ビ
ツトとし、その−ヒ位6ビ・ンi・が不均一性補正メモ
リ5に送られてそのアドレスを指定する。つまりここで
は、不拘−竹補正は各画素の1つずつについて異なる補
正を施すのでなく、B4X64の画素が含まれるブロッ
ク毎に行ない、同一ブロックに含まれる画素については
同一の補1Fを加えようというのである。こうしてアド
レス指定を受けた不均−性補IFメモリ5からそのアド
レスに格納されていた補正情報が読出される。この実施
例では、この補正情報は8ヒツトであり、最上位桁の1
ビツトが出力回路3およびタイミング信号発生回路8に
送られ、下位の7ヒツI・か比較回路7に送られる。乱
数発生回路6はアンプランク4.1吟によってトリガさ
れて7ビツトの乱数を発生し、これを比較回路7に送る
。比較回路7は、これら2つの入力を比較し、乱数の方
が大きい場合に1”を出力し、逆の場合に“0°゛を出
力して、これらを出力回路3とタイミング信号発生回路
8に送る。出力回路3は不均一・性補止メモリ5から試
用された情報の最−l:、(iγ桁が“l“。(E) Embodiment In FIG. 1, when radiation is incident on the two-dimensional radiation position detector l, position signals X, Y, an energy signal, and an unblank signal are generated, and these are sent to the correction circuit 2. The correction circuit 2 includes an A/D converter, a linearity correction circuit, an energy correction circuit, etc., and the position signals X', Yo and amplifier are converted from analog signals to digital signals and corrected through these circuits. A rank signal is output. The position signals X', Yo and the amplifier 11 are sent to the output circuit 3 and the hold and output circuit 4. In this embodiment, the position signals X' and Yo are both 12 bits, and the -high and high 6 bins, i, are sent to the non-uniformity correction memory 5 to designate its address. In other words, here, the independent-take correction is not applied to each pixel individually, but is applied to each block containing B4x64 pixels, and the same correction 1F is applied to pixels included in the same block. It is. In this way, the correction information stored at the address is read out from the non-uniformity correction IF memory 5 which receives the address specification. In this example, this correction information is 8 hits, with the most significant digit being 1.
The bits are sent to the output circuit 3 and the timing signal generation circuit 8, and then to the lower 7-bit comparison circuit 7. The random number generation circuit 6 is triggered by the unranked 4.1 signal to generate a 7-bit random number, and sends this to the comparison circuit 7. Comparison circuit 7 compares these two inputs, outputs "1" if the random number is larger, and outputs "0°" if the random number is larger, and outputs these to output circuit 3 and timing signal generation circuit 8. send to The output circuit 3 outputs the most used information from the non-uniformity/gender correction memory 5 -l:, (iγ digit is "l".
でかつ比較回路7から“l′信けが送られたときのみ出
力を禁止し、他の場合は補正回路2からの位置信号X’
、Y’およびアンプランク信−づをそのまま出力する。output is prohibited only when the comparator circuit 7 sends the “l′ signal, and in other cases, the position signal X′ from the correction circuit 2 is
, Y' and the unranked signal are output as they are.
タイミング信号発生回路8は不均一性補正メモリ5から
読出された情報の最−1−位桁が0゛°でかつ比較回路
7から1”信号が送られたときのみ出力をホールドおよ
び出力回路4・に送り、補正回路2からの位置信号X′
、Yoおよびアンプランク信号を一定時間ホールドした
後出力させる。The timing signal generation circuit 8 holds the output only when the lowest digit of the information read from the non-uniformity correction memory 5 is 0° and a 1'' signal is sent from the comparison circuit 7, and the output circuit 4・The position signal X' from the correction circuit 2
, Yo, and unranked signals are output after being held for a certain period of time.
不均一性補正メモリ5はこの実施例ではFROM(プロ
グラマブル・リードΦオンリ・メモリ)でなり、この各
7トレスに記憶させるへき情報はつぎのようにしてきめ
る。ます、全面にわたって均一 な放射線0;ミを用い
、これを2次元放射線位置検出器lで検出する。補正回
路2かう得られる補正後の位置信号X′、Yoおよびア
ンプランク信5−によれば、被写体が一様なのであるか
ら全面にわたって均一な画像が得られなければならない
。In this embodiment, the non-uniformity correction memory 5 is a FROM (programmable read Φ-only memory), and the cleavage information to be stored in each of these seven traces is determined as follows. First, uniform radiation over the entire surface is used, and this is detected by a two-dimensional radiation position detector l. According to the corrected position signals X', Yo and unranked signal 5- thus obtained by the correction circuit 2, since the subject is uniform, a uniform image must be obtained over the entire surface.
ところが実際はどのように良好に補正したとしても不均
一性が残り、各位置でのカウント数Cは第2図のように
平均値Mに対して上下する。これを補正するには、P点
でのカウント数Cpが平均値Mをオーバしているのであ
れば、オーバしている分の比率で、出力された位置信号
X′、Y′およびアンプランク信号を間引けばよい。ま
た逆にQ点でのカウント数Cqが平均値Mより低いので
あればその低い分の比率で、出力された位置信号X′、
Y′およびアンプランク信号に加えて、新たな位置信号
X′、Y′およびアンプランク信号をつけ加えていけば
よい。そこでこの実施例では、平均値Mからの偏差の比
率に対応した確率で位置信号X′、Y′およびアンプラ
ンク信号を間引いたりつけ加えたりしている。However, in reality, no matter how well the correction is performed, non-uniformity remains, and the count number C at each position fluctuates above and below the average value M as shown in FIG. To correct this, if the count number Cp at point P exceeds the average value M, the output position signals X', Y' and unranked signal All you have to do is thin out the . Conversely, if the count number Cq at point Q is lower than the average value M, the output position signal X',
In addition to Y' and the unranked signal, new position signals X', Y' and the unranked signal may be added. Therefore, in this embodiment, the position signals X', Y' and the unranked signal are thinned out or added at a probability corresponding to the ratio of deviation from the average value M.
すなわち、位置(i 、 Dでのカウント数CをCij
とすれば、C4j−Mが1丁のときは8ピ゛ツトの情報
の最上位桁を“l゛°とし、残りの下位7桁は、
CM/Ci D X l 27
を整数化したO〜127の整数値とする。また、Cij
−MがOまたは負のときは、最上位桁を°“0゛°とし
、残りの下位7桁は、
((2C4j−M)/Ci N X127を整数化した
O〜127の整数値とする。こうして得た補正情報を位
置(i 、 j)に対応するアドレスに書込む。That is, the count number C at position (i, D is Cij
Then, when there is one C4j-M, the most significant digit of the 8-pin information is “l゛°, and the remaining 7 least significant digits are O~ which is the integer of CM/Ci D X l 27 It is an integer value of 127. Also, Cij
When -M is O or negative, the most significant digit is ``0'', and the remaining 7 lower digits are an integer value from 0 to 127 obtained by converting ((2C4j-M)/Ci N X127 into an integer) The correction information thus obtained is written to the address corresponding to position (i, j).
このような書込みの終了した後、通常の被写体の撮影時
に、得られた位置性すX′、Y′によりこの不均一性補
正メモリ5の(i 、 j)のアドレスか指定されたと
する。すると、このアi・レスに格納されていた情報が
読出され、このアドレスに対応する位置(i 、 Dで
オーバ側に不均一性が41、:しているものであれば最
」−位桁はl”となる。乱数発生回路6は7ビツトの乱
数つまりO〜127の整数のどれかをランダムに出力し
ている。したがって、」二記の読出された情報の下位7
桁とこの乱数とを比較し前者が後者より小になる確率は
オーバした分の比率に対応してりすることになる。そこ
で比較回路7から“1パが生じこれによって出力回路l
が禁止される確率はオー/<シた分の比率に対応する。Suppose that after such writing is completed, the address (i, j) of the non-uniformity correction memory 5 is designated by the obtained positional values X' and Y' when photographing a normal subject. Then, the information stored in this address is read out, and if the non-uniformity is 41 on the over side at the position corresponding to this address (i, D, then the highest digit) is l". The random number generation circuit 6 randomly outputs a 7-bit random number, that is, any integer from O to 127. Therefore, the lower 7 of the read information in "2" is output at random.
Comparing the digit and this random number, the probability that the former is smaller than the latter corresponds to the ratio of the excess. Therefore, "1 pass" is generated from the comparator circuit 7, which causes the output circuit l
The probability of being prohibited corresponds to the ratio of O/<S.
また、指定されたアドレスから読出された情報の最上位
桁が°“0パであれば、このアドレスに対応する位置(
i 、 Dは低い側に不均一性が生じている場所である
ことになる。このとき読出された情報の下位7桁が乱数
より小となれば、比較回路7よりタイミング信号発生回
路8に“1′°かケ。Also, if the most significant digit of the information read from the specified address is 0, the position corresponding to this address (
i, D is where the non-uniformity occurs on the lower side. If the lower seven digits of the information read at this time are smaller than the random number, the comparator circuit 7 sends the timing signal generator circuit 8 a signal of "1'°."
えられ、また不均一性補正メモリ5からは最上位桁の0
″か与えられているので、このタイミング信−号発生回
路8から信号が生じ、これによりホールドおよび出力回
路4が動作させられる。したがってまず出力回路3から
位置信号X′、Y′およびアンプランク信号が生じた後
、−夏時間経過してからホールドおよび出力回路4より
同じ位(ざ1信弓X’、Y’−およびアンプランク信号
が生じる。そして読出された情報の下位7桁か乱数より
小となる確率は低い側にあられれた不均一性の程度の比
率に対応し、この確率で位置信号X゛、Y′およびアン
プランク信号が新たにつけ加えられることになる。The most significant digit is 0 from the non-uniformity correction memory 5.
'' is given, a signal is generated from this timing signal generation circuit 8, which causes the hold and output circuit 4 to operate. After - daylight savings time has elapsed, the hold and output circuit 4 generates the same signal (X', Y'-) and an unrank signal. The probability of this corresponds to the ratio of the degree of non-uniformity on the lower side, and with this probability the position signals X', Y' and the unranked signal will be newly added.
こうして不均一に1補i1Eを受けた後の位置性すX′
′、Y“および゛アンブランク信号のカウント数Cは、
すへての位置で第2図の平均値Mに等しいものとなる。In this way, the position after receiving 1 complement i1E unevenly is
', Y'' and the count number C of the unblank signal are:
It becomes equal to the average value M in FIG. 2 at all positions.
このように直線性補正およびエネルギ補正をした後で不
均一性補正を行なっているため、不均一性補正とは別個
に直線性補正およびエネルギ補正を最適なものとするこ
とができ、不均一性補止するため直線性等を犠牲にする
ことがない。また、計数率が不均一補正によって増減す
ることもなくなる。さらに直線性補i[:およびエネル
ギ補正を従来に比して簡略化することも口f能である。Since non-uniformity correction is performed after linearity correction and energy correction in this way, it is possible to optimize linearity correction and energy correction separately from non-uniformity correction. There is no need to sacrifice linearity etc. for compensation. Further, the counting rate will not increase or decrease due to non-uniformity correction. Furthermore, it is also possible to simplify the linearity correction i[: and the energy correction compared to the conventional method.
なお、上記の実施例で不拘−性補IFメモリ5はFRO
Mで構成したが、RAM (ランタム・アクセス・メモ
リ)で構成し、マイクロコンピュータ等で制御するよう
にしてもよい。また新たにつけ加える場合の位置信号は
もとの位置信号と回しものでなく、これに重みイ・]き
変ifを加えたものとしてもよい。Incidentally, in the above embodiment, the non-restrictive auxiliary IF memory 5 is FRO.
Although it is configured with M, it may also be configured with RAM (random access memory) and controlled by a microcomputer or the like. Furthermore, the position signal to be newly added may not be the same as the original position signal, but may be a signal obtained by adding a weight i and a change if.
(へ)効果
この発明によるシンナレーションカメラでは、直線性等
を劣化させることなく均一性を最良のものとすることが
できるとともに、計数率の増減もなく、優れた画像を撮
影することができる。(f) Effects With the synnarration camera according to the present invention, uniformity can be maximized without deteriorating linearity, etc., and excellent images can be taken without any increase or decrease in counting rate.
第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2U;l
lは動作説明のため各位置でのカウント数Cをあられす
グラフである。
1・・・2次元放射線位置検出器 ?・・・補正回路3
・・・出力回路 4・・・ホールトおよび出力回路5・
・・不均一性補正メモリ 6・・・乱数発生回路7・・
・比較回路 8・・・タイミング信号発生回路出願人
株式会社島津製作所FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG.
1 is a graph showing the count number C at each position to explain the operation. 1...2-dimensional radiation position detector? ...Correction circuit 3
... Output circuit 4... Halt and output circuit 5.
... Non-uniformity correction memory 6 ... Random number generation circuit 7 ...
・Comparison circuit 8... Timing signal generation circuit applicant
Shimadzu Corporation
Claims (1)
エネルギ補正回路とを含むシンチレーションカメラにお
いて、あらかしめ、上記各補圧を受けて得た位置信号お
よびアンプランク信号を用いて各位置での不均一性を実
測し、各位置での不均一性が平均値より高い側に生じて
いるか低い側に生しているかとその不均一性の程度が平
均値に対してどれだけの比率であるかとに関する補正情
報を不均一性補正メモリに記憶させておき、被写体の撮
影時に得られる位置信号によりアドレス指定することに
よってその位置での補正情報を読出し、不均一性が平均
値より高い側の場合にはその不均一性の比率に対応する
確率で位置信号およびアンプランク信号を出さないよう
にするとともに、不均一性が平均値より低い側の場合に
はその不均一性の比率に対応する確率で新たに位置信号
およびアンプランク信号をつけ加えるようにしたことを
特徴とするシンチレーションカメラ。(1) A two-dimensional radiation position detector, a linearity correction circuit,
In a scintillation camera that includes an energy correction circuit, the non-uniformity at each position was actually measured using the position signal and unrank signal obtained after receiving each of the above compensation pressures, and the non-uniformity at each position was confirmed. Correction information regarding whether the nonuniformity occurs above or below the average value and the ratio of the degree of nonuniformity to the average value is stored in the nonuniformity correction memory. By specifying an address using the position signal obtained when photographing the subject, correction information at that position is read out, and if the non-uniformity is higher than the average value, the position signal is read out with a probability corresponding to the ratio of the non-uniformity. and unranked signals are not output, and when the non-uniformity is lower than the average value, a new position signal and unranked signal are added with a probability corresponding to the ratio of the non-uniformity. A scintillation camera featuring
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18328683A JPS6073482A (en) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18328683A JPS6073482A (en) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Scintillation camera |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6073482A true JPS6073482A (en) | 1985-04-25 |
JPH0462034B2 JPH0462034B2 (en) | 1992-10-02 |
Family
ID=16132990
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18328683A Granted JPS6073482A (en) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Scintillation camera |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6073482A (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52137180A (en) * | 1976-05-07 | 1977-11-16 | Ohio Nuclear | Device for correcting uniform dynamic flat of radioactive isotope camera |
JPS54111879A (en) * | 1978-02-22 | 1979-09-01 | Toshiba Corp | Scintillation camera |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18328683A patent/JPS6073482A/en active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52137180A (en) * | 1976-05-07 | 1977-11-16 | Ohio Nuclear | Device for correcting uniform dynamic flat of radioactive isotope camera |
JPS54111879A (en) * | 1978-02-22 | 1979-09-01 | Toshiba Corp | Scintillation camera |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0462034B2 (en) | 1992-10-02 |
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