JPS6057607B2 - Diagnostic control method - Google Patents

Diagnostic control method

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JPS6057607B2
JPS6057607B2 JP53087392A JP8739278A JPS6057607B2 JP S6057607 B2 JPS6057607 B2 JP S6057607B2 JP 53087392 A JP53087392 A JP 53087392A JP 8739278 A JP8739278 A JP 8739278A JP S6057607 B2 JPS6057607 B2 JP S6057607B2
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JP
Japan
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information processing
diagnostic
processing circuit
circuit
control method
Prior art date
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JP53087392A
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Japanese (ja)
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JPS5515527A (en
Inventor
邦昭 多賀
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はマイクロプログラム制御型情報処理装置の診断
制御方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a diagnostic control method for a microprogram-controlled information processing device.

情報処理装置の高信頼性に対する要求は、ますます大き
くなつてきている。
The demand for high reliability of information processing devices is increasing.

記憶装置等においては、エラー検出自動訂正回路等によ
りその信頼性が得やすいが、情報処理回路では、不良検
出能力の極めて優秀な2重化方式が採用されることがあ
る。この2重化方式は、高密度集積回路の進歩により実
現がますます容易になりつつある。このような2重化情
報処理回路を有する情報処理装置においては、二重化回
路が同一タイミングで常に2つの回路の動作を比較しな
がら実行され、不一致信号が検出されると、予め決めら
れた回数の命令の再試行が行なわれる。該再試行におい
てもなお不一致信号が検出され続けると、ハードウェア
の固定故障と取扱われ、情報処理回路のどとらが故障し
ているかを診断装置より検出される。この際情報処理回
路の診断は、ます一方の情報処理回路についてすべて診
断され、診断結果が良好のときには、もう一方の診断が
行なわれる。後の診断の結果、故障が検出されると、後
で診断した情報処理回路が切り離される。最初に診断し
た情報処理回路で故障が検出されると、該情報処理回路
が切り離され、他の情報処理回路の診断へ処理が移行す
る。診断の結果、故障を含む情報処理回路のみが切り離
され、故障のない情報処理回路のみで、通常処理が再開
される。もちろん、2重化された両情報処理回路で故障
が検出されたときは、情報処理装置が切り離される。こ
のようなマイクロ診断を行う際には、診断装置からまず
第1の情報処理回路に対応する制御記憶に診断用マイク
ロプログラムが数ステップ分書き込まれて実行され診断
結果が診断装置に与えられ、内容を判定するとともに、
次の診断用マイクロプログラムが制御記憶に書き込まれ
次の診断に移行される。
In storage devices and the like, reliability can be easily achieved by using error detection and automatic correction circuits, but in information processing circuits, a duplication method with extremely excellent defect detection ability is sometimes adopted. This duplication system is becoming easier to implement due to advances in high-density integrated circuits. In an information processing device having such a duplex information processing circuit, the duplex circuit is executed while always comparing the operations of the two circuits at the same timing, and when a mismatch signal is detected, the duplication circuit is executed a predetermined number of times. The instruction will be retried. If a mismatch signal continues to be detected even after the retry, it is treated as a fixed hardware failure, and the diagnostic device detects which of the information processing circuits is at fault. At this time, all of the information processing circuits are diagnosed on one side, and when the diagnosis results are good, the other information processing circuit is diagnosed. If a failure is detected as a result of later diagnosis, the information processing circuit diagnosed later is disconnected. When a failure is detected in the first diagnosed information processing circuit, the information processing circuit is disconnected and processing shifts to diagnosis of other information processing circuits. As a result of the diagnosis, only the faulty information processing circuit is disconnected, and normal processing is restarted only with the non-faulty information processing circuit. Of course, when a failure is detected in both of the duplicated information processing circuits, the information processing device is disconnected. When performing such a microdiagnosis, the diagnostic device first writes several steps of a diagnostic microprogram into the control memory corresponding to the first information processing circuit and executes it.The diagnostic result is given to the diagnostic device, and the contents are In addition to determining the
The next diagnostic microprogram is written into the control memory and the next diagnosis is started.

このようにして順次指定されただけJの診断用マイクロ
プログラムによる診断が繰返される。第1の情報処理装
置に関してすべての診断が完了すると、診断装置は、2
重化情報処理回路の第2の情報処理回路の診断処理に移
行する。このようにして、金物が2重化された装置にお
電、ては従来の2重化が行われない装置に対してほぼ2
倍の診断時間を要するという欠点がある。本発明の目的
は、全診断時間中に大きな比を占めるマイクロプログラ
ムの書込み時間を半分にして時間を要する2重化された
情報処理回路の診断時間を大幅に減少させた診断制御方
式を提供することにある。本発明の方式は、同一のタイ
ミングで同一動作をする第1の情報処理回路および第2
の情報処理回路の処理動作を共通に行なう制御方式にお
いて、前記第1の情報処理回路および前記第2の情報処
理回路の診断動作を共通に制御するマイクロ命令を格納
するマイクロ命令格納手段と、このマイクロ命令格納手
段から読み出されるマイクロ命令により前記第1の情報
処理回路を診断した後引き続いて第2の情報処理回路を
診断するようにしたことを特徴とする。
In this way, diagnosis by the J diagnostic microprograms is repeated as many times as are sequentially specified. When all the diagnoses regarding the first information processing device are completed, the diagnostic device
The process moves on to diagnosis processing of the second information processing circuit of the multiplexed information processing circuit. In this way, the equipment with duplicate hardware can be powered almost twice as much as the conventional equipment without duplication.
The disadvantage is that the diagnosis time is doubled. An object of the present invention is to provide a diagnostic control method that greatly reduces the time required for diagnosing a redundant information processing circuit, which requires time, by halving the time required to write a microprogram, which occupies a large proportion of the total diagnostic time. There is a particular thing. The system of the present invention has a first information processing circuit and a second information processing circuit that perform the same operation at the same timing.
In the control method for commonly performing processing operations of the information processing circuits, a microinstruction storage means for storing microinstructions for commonly controlling the diagnostic operations of the first information processing circuit and the second information processing circuit; The present invention is characterized in that after the first information processing circuit is diagnosed using microinstructions read from the microinstruction storage means, the second information processing circuit is subsequently diagnosed.

次に本発明について図面を参照して詳細に説明する。Next, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

本発明の第一の実施例を示す第1図において、本発明の
マイクロ診断制御方式は、情報処理装置1内の制御記憶
装置2、第1情報処理回路30、第2情報処理回路31
、比較回路40と診断インジケータ制御回路41とを有
する診断装置4および記憶装置5から構成されている。
In FIG. 1 showing a first embodiment of the present invention, the microdiagnosis control method of the present invention includes a control storage device 2, a first information processing circuit 30, a second information processing circuit 31 in an information processing device 1,
, a diagnostic device 4 having a comparison circuit 40 and a diagnostic indicator control circuit 41, and a storage device 5.

次に第1図を参照しながら本発明の動作について説明す
る。情報処理装置1は、制御記憶2の制御により主記憶
装置5に記憶された命令を情報処理回路30および31
により実行する。本発明に−おける情報処理回路30お
よび31は2重化されており、同一タイミングで同一動
作が行なわれ、その実行結果は逐次診断装置内の比較回
路40で比較される。不一致が検出されると、第1情報
処理回路30か、第2情報処理回路31のいずれか.で
故障が発生したとと考えられる。不一致を検出すると診
断装置4は、記憶装置5から診断用マイクロプログラム
の1テスト処理分を読み出して制御記憶装置2の診断用
マイクロプログラム領域に書き込む。制御記憶装置への
書込み動作が終了すζると、書き込まれたマイクロプロ
グラムを用いて診断インジケータ制御回路41の指定に
従いまず第1情報処理回路30の診断が行なわれる。診
断完了の報告が制御記憶装置2から与えられると、診断
インジケータ制御回路42により第2情報処・理回路3
1の診断処理が起動され、診断が実行されるとともに第
1情報処理回路30の診断結果が編集されその結果が主
記憶装置の指定領域に書き込まれる。第2情報処理回路
31の診断処理が終了すると、その診断結果も同様に編
集されて主記憶装置の指定領域に書き込まれる。上記診
断結果は、主記憶装置へ書き込まれると同時に、操作卓
のディスプレイ装置を介して保守者に報告される。上述
のように両情報処理回路30や31の1テスト処理分の
診断が完了すると、診断インジケータ制御回路42の指
示により次の診断用マイクロプログラムが新たに制御記
憶装置2の診断用マイクロプログラム領域に書き込まれ
、前記のような診断処理が継続される。第1情報処理回
路30や第2情報処理回路31における故障は、上述の
ように比較回路における不一致検出による検出の他にパ
リテイチェック等の手段で部分的に各情報処理回路30
や31が独自に検出できる場合がある。
Next, the operation of the present invention will be explained with reference to FIG. The information processing device 1 transfers the instructions stored in the main storage device 5 under the control of the control storage 2 to the information processing circuits 30 and 31.
Execute by. The information processing circuits 30 and 31 in the present invention are duplicated, so that the same operation is performed at the same timing, and the execution results are sequentially compared by the comparison circuit 40 in the diagnostic device. When a mismatch is detected, either the first information processing circuit 30 or the second information processing circuit 31. It is thought that the failure occurred. When a mismatch is detected, the diagnostic device 4 reads one test processing portion of the diagnostic microprogram from the storage device 5 and writes it into the diagnostic microprogram area of the control storage device 2 . When the writing operation to the control storage device is completed, the first information processing circuit 30 is first diagnosed using the written microprogram according to the instructions of the diagnostic indicator control circuit 41. When a diagnosis completion report is given from the control storage device 2, the diagnostic indicator control circuit 42 causes the second information processing/processing circuit 3 to
The first diagnostic process is started, the diagnosis is executed, the diagnostic results of the first information processing circuit 30 are edited, and the results are written into the specified area of the main storage device. When the diagnostic processing of the second information processing circuit 31 is completed, the diagnostic results are similarly edited and written to the designated area of the main storage device. The above diagnostic results are written to the main memory and simultaneously reported to the maintenance personnel via the display device of the console. As described above, when the diagnosis for one test process of both information processing circuits 30 and 31 is completed, the next diagnostic microprogram is newly stored in the diagnostic microprogram area of the control storage device 2 according to the instructions from the diagnostic indicator control circuit 42. is written and diagnostic processing continues as described above. Failures in the first information processing circuit 30 and the second information processing circuit 31 can be detected by means such as a parity check, in addition to detection by discrepancy detection in the comparison circuit as described above.
or 31 may be independently detected.

このような故障の診断は、不良を含むことか明白な情報
処理回路30や31のみを対象として診断処理する方が
時間的に有利である。本発明では、診断インジケータ制
御回路42の指示で、片方の情報処理回路30または3
1のみの診断も可能としている。第2図は第1図の診断
インジケータ制御回路41内のインジケータ周辺回路の
一例を示す図であり、第1表はインジケータの値による
診断範囲の一例を示す。なお、本発明における実施例で
は、診断装置は情報処理装置に含まれているが、完全に
独立して情報処理装置を外部から診断する場合もまつた
く同様の診断処理が可能である。
In diagnosing such a failure, it is more time-efficient to diagnose only the information processing circuits 30 and 31 that are clearly defective. In the present invention, according to instructions from the diagnostic indicator control circuit 42, one of the information processing circuits 30 or 3
It is also possible to diagnose only 1. FIG. 2 is a diagram showing an example of an indicator peripheral circuit in the diagnostic indicator control circuit 41 of FIG. 1, and Table 1 shows an example of a diagnostic range based on the indicator values. In the embodiments of the present invention, the diagnostic device is included in the information processing device, but even when the information processing device is completely independently diagnosed from the outside, the same diagnostic processing is possible.

また、外部に診断装置があるとき、比較回路40または
診断インジケータ制御回路41のいずれかもしくは両者
が、情報処理装置に含まれてもかまわない。本発明には
、被診断回路を診断インジケータで細かく分類する機能
を持たせることにより、浪費時間の少い有効な診断機能
を2重化情報処理回路で発揮できるようにしたという効
果がある。
Further, when a diagnostic device is provided externally, either or both of the comparison circuit 40 and the diagnostic indicator control circuit 41 may be included in the information processing device. The present invention has the effect that by providing a function for finely classifying the circuit to be diagnosed using diagnostic indicators, the duplex information processing circuit can perform an effective diagnostic function with less wasted time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す図および第2図は第1
図の診断インジケータ回路の詳細を示す図である。 第1図および第2図において、1・・・・・・情報処理
装置、2・・・・・・制御記憶装置、30,31・・・
・・・情報処理回路、4・・・・・・診断装置、40・
・・・・・比較手段、41・・・・・・インジケータ制
御回路、410・・・・・・インジケータ、5・・・・
・・記憶装置。
FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating details of the diagnostic indicator circuit shown in the figure; 1 and 2, 1... information processing device, 2... control storage device, 30, 31...
...Information processing circuit, 4...Diagnostic device, 40.
... Comparison means, 41 ... Indicator control circuit, 410 ... Indicator, 5 ...
··Storage device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 同一のタイミングで同一動作をする第1の情報処理
回路および第2の情報処理回路の処理動作を共通に行な
う制御方式において、前記第1の情報処理回路および前
記第2の情報処理回路の診断動作を共通に制御するマイ
クロ命令を格納するマイクロ命令格納手段と、このマイ
クロ命令格納手段から読み出されるマイクロ命令により
前記第1の情報処理回路を診断した後引き続いて第2の
情報処理回路を診断するようにしたことを特徴とする診
断制御方式。
1. Diagnosis of the first information processing circuit and the second information processing circuit in a control method in which a first information processing circuit and a second information processing circuit perform the same processing operation at the same timing. After diagnosing the first information processing circuit using microinstruction storage means for storing microinstructions that commonly control operations and microinstructions read from the microinstruction storage means, the second information processing circuit is subsequently diagnosed. A diagnostic control method characterized by:
JP53087392A 1978-07-17 1978-07-17 Diagnostic control method Expired JPS6057607B2 (en)

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