JPS6049258A - Inspecting device - Google Patents

Inspecting device

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Publication number
JPS6049258A
JPS6049258A JP58157318A JP15731883A JPS6049258A JP S6049258 A JPS6049258 A JP S6049258A JP 58157318 A JP58157318 A JP 58157318A JP 15731883 A JP15731883 A JP 15731883A JP S6049258 A JPS6049258 A JP S6049258A
Authority
JP
Japan
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square billet
flaw detection
rolls
test material
gimbal
Prior art date
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Pending
Application number
JP58157318A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoyuki Teranishi
寺西 知幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP58157318A priority Critical patent/JPS6049258A/en
Publication of JPS6049258A publication Critical patent/JPS6049258A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/27Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the material relative to a stationary sensor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02854Length, thickness

Abstract

PURPOSE:To perform accurate inspection by clamping a square billet with a couple of guide rails which have V-shaped grooves before and behind a flaw detection head and are coupled together through a centering mechanism. CONSTITUTION:The square billet 2 when sent by a conveyor roller as shown by an arrow Z is pinched with pinch rolls 4a and 4b on the upstream side and advance to an inspecting device. When the front end A of the square billet 2 passes between rolls 10a and 10b, the 1st centering mechanism 11 operates to clamp the square billet 2 with the rolls 10a and 10b, and a moving substrate 8 moves by the slide of a slider 9 so that its center is aligned to the center of the square billet 2. Then, when the front end A of the square billet 2 passes by the flaw detection head 13, the 2nd contacting and leaving material mechanism 19 operates to bring the flaw detection head 13 into contact with the square billet 2.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、形状や寸法が不4’+iiiいた概ね多角
形断面を有する棒状の被検材の@介を行なうための検査
装置6に関するものである。以下説明の便了1:+:。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an inspection device 6 for inspecting a rod-shaped specimen having a generally polygonal cross section with irregular shapes and dimensions. be. The following explanation is for convenience 1:+:.

超音波を用いて概ね四角形断面を有する角ビレットの表
面近傍、および内部欠陥を2面から検出する装置につい
て説明する。
A device that uses ultrasonic waves to detect defects near the surface and internal defects of a square billet having a generally square cross section from two sides will be described.

〔従来技術〕[Prior art]

第1図(al〜(elは、角ビレットが、幾何学上の理
想的な四角柱(1)(図中破線で示す)に対し、どのよ
うに変形しているかを示したもので、同図(alにおい
ては曲り、同図(b)においては捩れ、同図(C1にお
いては断面の外形寸法の変動、同図(d)においては断
面の相隣接する2辺のなす角の変動、−tなわち直角か
らハずれ、同図(e)においては各辺の凸状。
Figure 1 (al~(el) shows how the square billet is deformed with respect to the geometrically ideal square prism (1) (indicated by the broken line in the figure). In the figure (Al, bending; in Figure (b), twisting; in Figure C1, variation in the external dimensions of the cross section; in Figure (d), variation in the angle between two adjacent sides of the cross section; - t, that is, deviated from the right angle, and in the same figure (e), each side is convex.

または凹状をなす変形な示しており、実際の角ビレット
ではこれらの変形の全部、あるいは一部が組合された形
で変形している。第2図は矢印Z方向に(般送される角
ビレットを、超音波探傷をしている状態を示すものであ
る。同図において(2)は一点鎖線で示す幾何学的な四
角柱に比べ第1図で示すような変形の全部あるいは一部
を有する実際の角ビレットであり、(3)は搬送ロール
、(4a) 、(4b)ハ酢送ライン上流側のピンチロ
ー#、(5a)、 (5b)は搬送ライン下流(141
1のピンチロー、ル、(6)は超音波探傷を行なうため
の検査装置ハ′であり、Mビレ、ノド(1)の先端部A
が検査装置(6)の所まで搬送され、上流側のピンチロ
ール(4a)、(4b)により角ピレノ1−(+1がピ
ンチされ、ピンチロール(5a)、 (sb)はまだ作
動していない状態を示している。
In actual square billets, all or a part of these deformations are deformed in combination. Figure 2 shows the state in which a rectangular billet being transported in the direction of arrow Z is being subjected to ultrasonic flaw detection. This is an actual square billet having all or part of the deformation as shown in Fig. 1, where (3) is a conveyance roll, (4a), (4b) is a pinch row # on the upstream side of the vinegar feed line, (5a), (5b) is downstream of the conveyance line (141
The pinch row (6) of 1 is an inspection device C' for performing ultrasonic flaw detection, and the tip A of the M fin and throat (1) is
is transported to the inspection device (6), and the square pireno 1-(+1) is pinched by the upstream pinch rolls (4a) and (4b), and the pinch rolls (5a) and (sb) are not yet activated. Indicates the condition.

このような状態で角ビレット(2)の検査なイJ゛なう
ための検査装置としては、第3図〜第6図に示すような
ものがあった。第3図は搬送方向Zとは面−角?なす方
向から見た図、第4図は、第3図を矢印B方向から見た
図、第5図は、第3図を矢印0゛方向から見た図、第6
図は、第3図を一点鎖線1)′。
As an inspection device for inspecting the square billet (2) in such a state, there are those shown in FIGS. 3 to 6. In Figure 3, is the transport direction Z plane-angle? 4 is a view of FIG. 3 as seen from the direction of arrow B. FIG. 5 is a view of FIG. 3 as seen from the direction of arrow 0.
In the figure, Figure 3 is indicated by the dashed dotted line 1)'.

D′で断面し、矢印C方向から見た図である。図におい
て(7)は固定架台、(8)は移動基板、(9)は搬送
方向Zと直角で、かつ水平向な形成する方向XVC移動
基板(8)を摺動させるスライダ、(10a)、 (1
01))は角ビレット(2)の左右から角ビレット(2
)をはさみつける一対のロール、01)は上記ロール(
10a)、 (ill))にセンタリング機能を付加す
る第1のセンタリング機構、 a’aは第1の接離材機
構2口9は検査月4のセンサを搭載し、ジンバル機構を
有する探傷へノド(14a)、 (14b)けV形状の
溝をもち、角ビレット(2)の左右より対向する頂角を
はさみつけるためのガイドロール、αQは上記ガイド0
− ル(14a)、 (141)) にセンタリング機
能を付加する第2のセンタリング機構、0eは探傷ヘッ
ドθりと、第2のセンタリング機構0→を取付けている
ブロック、07)はZ方向の111bまわりに回転可能
なローリング機構、0乃はローリング機構θηを一端に
取付けた平行リンク機構で。
It is a cross-sectional view taken along D' and viewed from the direction of arrow C. In the figure, (7) is a fixed pedestal, (8) is a moving board, (9) is a slider that slides the XVC moving board (8) in a horizontal forming direction at right angles to the transport direction Z, (10a), (1
01)) is the square billet (2) from the left and right of the square billet (2).
), 01) is a pair of rolls that sandwich the above roll (
10a), (ill)) A first centering mechanism that adds a centering function; (14a), (14b) Guide rolls with V-shaped grooves for sandwiching the opposing apex angles from the left and right sides of the square billet (2), αQ is the guide 0 mentioned above.
- A second centering mechanism that adds a centering function to (14a), (141)), 0e is the block to which the flaw detection head θ and the second centering mechanism 0→ are attached, 07) is 111b in the Z direction. A rolling mechanism that can rotate around the body, 0 is a parallel link mechanism with a rolling mechanism θη attached to one end.

他端は第1の移動基板に取付けられている。01は平行
リンク機構0υな昇降するための第2のケイ降機構であ
る。
The other end is attached to the first moving board. 01 is a second elevator mechanism for raising and lowering the parallel link mechanism 0υ.

次に動作について説明する。搬送ロール(311Cよっ
て矢印Z方向に送られてぎた角ピレノl−(2+は。
Next, the operation will be explained. The square pyreno l-(2+) was sent in the direction of arrow Z by the transport roll (311C).

上流側のピンチロール(4a)、 (4b)によってピ
ンチされた後、検査装置(6)の所まで進む。角ビレッ
ト(2)の先端Aがまずロール(10a)、 (IQb
)を通過したら2第1のセンタリング機構0υが動作し
、ロール(10a)、 (10b)が角ビレット(2)
すはさみつけ、移動基板(8)はその中心と角ビレット
(2)との中心が一致するようスライダ(9)で摺動し
て移動する。続いて角ビレット(2)の先端が、探傷ヘ
ッドα3を;ITI過すると、第1の接離材機構0のが
動作し、探傷ヘッド(11が角ビレット(2)に接材す
る。次シー第2のセンタリング機構Q四に取付けられて
いるガイドロール(14a)。
After being pinched by the upstream pinch rolls (4a) and (4b), it advances to the inspection device (6). The tip A of the square billet (2) is first rolled (10a), (IQb
), the second centering mechanism 0υ operates, and the rolls (10a) and (10b) move to square billet (2).
The movable board (8) is moved by sliding with a slider (9) so that its center and the center of the square billet (2) coincide with each other. Next, when the tip of the square billet (2) passes through the flaw detection head α3; A guide roll (14a) attached to the second centering mechanism Q4.

(14b)が角ビレット(2)をはさみつけろ。またこ
のとぎ同じ信号によってロール(10a)、 (10b
)が解放される。従って探傷ヘッド峙はガイドローラ(
14a)。
Attach the square billet (2) to (14b). Also, at this time, the same signal is used to roll (10a), (10b
) is released. Therefore, the flaw detection head is facing the guide roller (
14a).

(14b)をガイドとして、 角ビレット(2)のX方
向の曲りに対しては、スライダ(9)により、角ピレノ
1−(2)の錯角な方向(以下Y方向という)の曲りに
対しては、第2の接離材機構01により、角ビレット(
2)の捩れに対してはローリング機構θDにより倣う。
(14b) as a guide, the slider (9) is used for bending the square billet (2) in the X direction, and the bending of the square billet 1-(2) in the perplexing direction (hereinafter referred to as the Y direction). The square billet (
The twist of 2) is imitated by the rolling mechanism θD.

従来の検査装置は、このように構成されているので次の
ような欠点があった。以下第7図に基づいて説明する。
Since the conventional inspection apparatus is configured in this way, it has the following drawbacks. This will be explained below based on FIG.

同図は第3図を矢印E方向からツメだ図で2図において
角ビレット(2)はX方向に曲がりを有しており、その
X方向の曲りの変位成分はスライダ(9)が摺動するこ
とにより、探傷ヘッドθ:9を角ビレット(2)に対す
る所定の位買に設定するが。
The same figure is an enlarged view of Fig. 3 from the direction of arrow E. In Fig. 2, the square billet (2) has a bend in the X direction, and the displacement component of the bend in the X direction is caused by the sliding of the slider (9). By doing so, the flaw detection head θ:9 is set at a predetermined position with respect to the square billet (2).

曲りの角度θに対しては倣うことができず、倣い誤差と
して角度θを残すことになる。角ビレット(2)がY方
向に曲がっている場合にも、同様のことが生じ、同じ倣
い角度誤差θを生じる。以上のような倣い誤差を生じた
場合、探傷ヘッド0階に取付けられている探触子による
検査精度が低下し、正確な検査を行なうことができなく
なる。
It is not possible to copy the angle θ of the bend, and the angle θ remains as a copying error. A similar situation occurs when the square billet (2) is bent in the Y direction, resulting in the same scanning angle error θ. When the above-mentioned tracing error occurs, the inspection accuracy of the probe attached to the 0th floor of the flaw detection head decreases, making it impossible to perform accurate inspection.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この発明はかかる欠点を改善する目的でなされたもので
、探傷ヘッドの前後にガイドロールを取付けることによ
り2被検材である例えば角ビレットの曲がりにより生じ
るヨーイング方向の倣い誤差を解消できる検査装置を提
案するものである。
This invention was made with the aim of improving this drawback, and provides an inspection device that can eliminate tracing errors in the yawing direction caused by bending of a square billet, which is a material to be inspected, by installing guide rolls before and after the flaw detection head. This is a proposal.

〔発明の実施例J 第8図はこの発明の一実施例を示す図で、ライン搬送方
向Z方向を、側面すなわちX方向からみた図である。図
において(2)〜Q5. Q7)〜OIは上記従来の装
置と全く同一のものである。(20a)、 (20b)
は、ガイドロール(14a)、 (14b)に対し、探
傷ヘッドQ3のZ方向反対側に設置された一対の■形状
の溝をもつガイドロールで、Ol)は上記ガイドローノ
ド(2Qa)、 (20b)にセンタリング機能を付加
する第3のセンタリング機構、θ2は第2のセンタリン
グ機構09.および第3のセンタリング機4:ri c
21)を取付けている第1のフレーム、C3は第1のフ
レーム■とは矢印F、F’方向に回転の自由度を有して
JIV、伺けられた第2のフレーム、0分は第2のフレ
ーム(ハ)とは矢印G、G’力方向回転の自由度を有し
て取伺けられたブロックである。
[Embodiment J of the Invention Fig. 8 is a diagram showing an embodiment of the invention, and is a view of the line conveyance direction Z direction viewed from the side, that is, the X direction. In the figure (2) to Q5. Q7) ~ OI is completely the same as the above conventional device. (20a), (20b)
is a guide roll with a pair of ■-shaped grooves installed on the opposite side of the flaw detection head Q3 in the Z direction with respect to the guide rolls (14a) and (14b), and Ol) is the guide roller nod (2Qa), ( A third centering mechanism that adds a centering function to 09.20b), θ2 is the second centering mechanism 09. and third centering machine 4: ric
21) The first frame C3 is the first frame ■, which has the degree of freedom of rotation in the directions of arrows F and F'. The second frame (c) is a block that can be taken with the degree of freedom of rotation in the direction of arrows G and G'.

上記のように構成された検査装置において、角ビレット
(2)が搬送ロール(3)によって矢印Z方向に送られ
てくると、上流側のピンチロール(4a)、 (41)
)によってピンチされた後、検査装置(5)の所まで進
む・角ビレット(2)の先端へがまずロール(10a)
In the inspection device configured as described above, when the square billet (2) is sent in the direction of arrow Z by the conveyance roll (3), the upstream pinch rolls (4a), (41)
), then proceed to the inspection device (5) - The tip of the square billet (2) is first rolled (10a)
.

(1ob)を通過したら、第1のセンタリング機ti’
ja+)が動作し、ロール(10a)、 (101))
が角ビレット(2)をはさみつけ、移動基板(8)はそ
の中心と角ビレット(2)との中心が一致するようスラ
イダ(9)が摺動して移動する。続いて角ビレット(2
)の先端が、探1易へノド03な通過すると、第2の接
離材機構01がjlij作し、探傷ヘッドOQが角ビレ
ットに接材する。次に探傷ヘッドOQより角ビレット(
2)の搬送方向上流側にある第2のセンタリング機構0
9に取付けられているガイドロール(14a)、 (1
4b)が角ビレット(2)をはさみつげる。またこのと
ぎ同じ信号によってロール(10a)、 (10り)が
解放される。次に角ビレット(2)の先端Aが、ガイド
ロール(20a)、 (20b)のところまで達すると
、第3のセンタリング機構Qυが動作し。
(1ob), the first centering machine ti'
ja+) works, rolls (10a), (101))
sandwich the rectangular billet (2), and the slider (9) slides and moves the movable substrate (8) so that its center coincides with the center of the rectangular billet (2). Next, square billet (2
) When the tip of the flaw detector 03 passes through the probe 1, the second contacting/separating material mechanism 01 operates, and the flaw detection head OQ contacts the square billet. Next, the square billet (
2) The second centering mechanism 0 on the upstream side in the conveyance direction
Guide roll (14a) attached to 9, (1
4b) pinches the square billet (2). Also, at this moment, the rolls (10a) and (10ri) are released by the same signal. Next, when the tip A of the square billet (2) reaches the guide rolls (20a) and (20b), the third centering mechanism Qυ operates.

ガイドロール(20a)、 (20b)が角ビレット(
2)をはさみつける。さらに角ビレット2)が進み、下
流側のピンチロール(5a)、 (51))のところま
でその先端人が進むと、ピンチロール(5a)、 (5
b)によってピンチされ、ピンチロール(4a)、 (
4b)は解放される。
The guide rolls (20a) and (20b) are made of square billet (
Attach 2). The square billet 2) further advances, and when its tip advances to the downstream pinch rolls (5a), (51)), the pinch rolls (5a), (5
b), pinch roll (4a), (
4b) is released.

従って探傷ヘッド鰻はガイドローラ(14a)と(14
1))。
Therefore, the flaw detection head eel has a guide roller (14a) and a guide roller (14a).
1)).

オ6よび(2(la)と(2Gb)とをガイドとして、
角ビレット(2)のX方向の曲りに対しては、第1のス
ライダ(a+により、Y方向の曲りに対しては、第1の
接離材機構O3により、角ビレット(2)の捩れ、すな
わちZ輔まわりの回転によるずれに対しては、ローリン
グ機構07)により、倣い可能なことは従来の検査装置
と同様であるが、探傷ヘッド0りの前後に2個のガイド
ロールが設置されているので、X、@まわりの回転によ
るずセに対しては @1のフレーム@と2第2のフレー
ム(ハ)間の矢印F、F’で示される回転の自由度によ
り、Y軸まわりの回転によるずれに対しては、第2のフ
レーム(ハ)と、サポートツク041間の矢印0.G′
で示さ4る回転の自由度により、倣うことができる。
Using O6 and (2(la) and (2Gb) as guides,
For the bending of the square billet (2) in the X direction, the first slider (a+) is used, and for the bending of the square billet (2) in the Y direction, the first contact/separation member mechanism O3 is used to twist the square billet (2). In other words, the rolling mechanism 07) allows for the deviation due to rotation around the Z-shape, which is similar to conventional inspection equipment, but two guide rolls are installed before and after the flaw detection head 07). Therefore, due to the rotation around the For deviations due to rotation, the arrow 0. G'
It can be imitated by the four rotational degrees of freedom shown by .

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明は以上説明した通り、探傷ヘッドの前後にV形
状の溝を有する2それぞれセンタリング機構で連結され
た一対のガイドロールが設置され。
As described above, in this invention, a pair of guide rolls each having a V-shaped groove and connected by a centering mechanism are installed at the front and rear of a flaw detection head.

角ビレットをはさみこんでいるので、角ビレットの搬送
方向に対して、それぞれ直角な方向をなす上下方向、お
よび左右方向の角ビレットの位置ずれ、および角ビレッ
トの1戻れによるローリング機向のずれに倣うのみなら
ず、角ビレットの曲りに伴なう、上下方向の曲りの角度
成分、および左右方向の曲りの角度成分に対しても倣う
ことがでさ。
Since the square billet is sandwiched between the square billets, it is possible to avoid misalignment of the square billet in the vertical and horizontal directions, which are perpendicular to the conveyance direction of the square billet, as well as misalignment of the rolling machine due to one return of the square billet. In addition to copying, it is also possible to copy the angular component of the vertical bend and the angular component of the horizontal bend as the square billet bends.

正確な検査を行なうことができるという効果がある。This has the effect of allowing accurate testing to be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は角ビレ、・トを例にして被検材の曲りア捩れ9
面の凹凸を説明するだめの図、第2図は角ビレットを検
査している状態を説明するための図。 第3図〜第6図は従来の検査装置を示す図、第7図は従
来の検査装置の欠点を説明するための図2第8図はこの
発明に基づく検査装置を示す図である。図において(2
)は角ビレッ)、+81は移動基板。 (9)はスライダ、(1邊は接離材機構、 03は探傷
ヘッド。 (14a)、 (14b)、 (20a)、 (20b
)はガイドローA/、(151゜Cil+はセンタリン
グ機構、αηはローリング機構、Qカは第1のフレーム
、(ハ)は第2のフレーム、3優はブロックである。 なに1図中同一、あるいは相当部分には同一符号な付し
て示しである。 代理人大岩増雄 第1図 (C)(i ) 第5図 第6図 2
Figure 1 shows the bending, twisting, and twisting of the test material using a corner fin and .
FIG. 2 is a diagram for explaining the unevenness of the surface, and FIG. 2 is a diagram for explaining the state in which a square billet is being inspected. 3 to 6 are diagrams showing a conventional inspection device, FIG. 7 is a diagram for explaining the drawbacks of the conventional inspection device, and FIG. 8 is a diagram showing an inspection device based on the present invention. In the figure (2
) is a square billet), +81 is a moving board. (9) is the slider, (one side is the contact/separation material mechanism, and 03 is the flaw detection head. (14a), (14b), (20a), (20b)
) is the guide row A/, (151°Cil+ is the centering mechanism, αη is the rolling mechanism, Q is the first frame, (c) is the second frame, and the three majors are the blocks. What is the same in each figure? , or corresponding parts are given the same reference numerals. Agent Masuo Oiwa Figure 1 (C) (i) Figure 5 Figure 6 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 搬送ライン上を搬送される概ね多角形な断面な有する棒
状の被検材の、互いに平行ではない面に均量して設置さ
れ−2それぞれ対向する被検材の而(7材+’i2森を
行なうことができる複数個σ)探傷ヘッドと、h記それ
ぞれの探傷ヘッドに2ンンバル機能をt)、λ−るジン
バル機構と、上記複数個のジンバル機構を連結する第1
のフレームと、上記被検材の断面の対称軸Vこ関し、相
反列側から、上記被検材の面あるいは、1m点およびそ
の近傍をはさみこむ一対のロールと、」二記一対のロー
ルを連結し上記−71σ八ロールにセンタリング機能を
有し上記第1の27レームを・介し、相前後する位置に
設置6゛された2組のセンタリング機構と、上記第1の
フレームと上記2組のセンタリング機構を固定した第1
のンレー ・へど、上記第1のフレームとは、被検材σ
)搬送方向とは直角な第1の軸まわりに回転自由VC連
結された第2のフレームと、上記第2のフレームとは、
被検材の搬送方向、および上記第1のdll+の両方と
直角な第2の軸まわりに回転自由に連結されたブロック
と、上記ブロックを被検材のNli面の中心軸まわりに
J揚動づ−る」rFt動槻動部構部上記4;6動機構部
を介し上記探傷ヘッドを被検材搬送方向とは直角な方向
に、被検材に対し液相あるいは離Uさせる移動機構と、
」=配接動機171iの移動方向、および被検材の搬送
方向と直角な方向に移動@+14をスライドさせるスラ
・イド機構とから構成され、上記2組のガイド機構のロ
ールを被検材Vこ押付けることにより、被恢相のあらゆ
る対向の曲り、jdよび捩れに対し、探傷・\ノドを當
に被検材の幅ノミ向の同一位置に、同一方向に向けて保
持−するよつVこしたことを特徴ど嫁る検査装(6′。
A bar-shaped test material with a roughly polygonal cross section is transported on a transport line, and an equal amount is placed on the non-parallel surfaces of the test materials facing each other (7 materials + 'i2 forest). a) a plurality of flaw detection heads capable of performing the above-mentioned flaw detection heads, a gimbal mechanism having a two-in-one gimbal function for each of the flaw detection heads in h), a gimbal mechanism capable of performing λ), and a first gimbal mechanism that connects the plurality of gimbal mechanisms.
and a pair of rolls that sandwich the surface of the test material or the 1 m point and its vicinity from the opposite row side with respect to the symmetry axis V of the cross section of the test material. and two sets of centering mechanisms having a centering function on the -71σ eight rolls and installed at successive positions via the first 27 frames, and the first frame and the two sets of centering mechanisms. The first one with the mechanism fixed
The first frame mentioned above refers to the material to be inspected σ.
) A second frame rotatably connected by VC around a first axis perpendicular to the conveying direction; and the second frame,
A block is connected to be freely rotatable around a second axis perpendicular to both the transport direction of the test material and the first dll+, and the block is J-lifted around the central axis of the Nli surface of the test material. A moving mechanism that moves the flaw detection head into a liquid phase or away from the test material in a direction perpendicular to the transport direction of the test material through the above-mentioned 4 and 6 movement mechanism parts. ,
''=consisting of the moving direction of the welding machine 171i and a slide/slide mechanism that slides the moving @+14 in a direction perpendicular to the direction of conveyance of the material to be inspected, and moves the rolls of the two sets of guide mechanisms to the material V to be inspected. By pressing this, the flaw detection throat can be held at the same position and in the same direction across the width of the material to be tested against any bending, bending or twisting of the material to be tested. An inspection device (6') that features a V-cut.
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