JPS6048859B2 - 撮像管 - Google Patents
撮像管Info
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- JPS6048859B2 JPS6048859B2 JP56172614A JP17261481A JPS6048859B2 JP S6048859 B2 JPS6048859 B2 JP S6048859B2 JP 56172614 A JP56172614 A JP 56172614A JP 17261481 A JP17261481 A JP 17261481A JP S6048859 B2 JPS6048859 B2 JP S6048859B2
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- Japan
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- video signal
- extraction electrodes
- transparent electrode
- image pickup
- pickup tube
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Links
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 11
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/26—Image pick-up tubes having an input of visible light and electric output
- H01J31/28—Image pick-up tubes having an input of visible light and electric output with electron ray scanning the image screen
- H01J31/34—Image pick-up tubes having an input of visible light and electric output with electron ray scanning the image screen having regulation of screen potential at cathode potential, e.g. orthicon
- H01J31/38—Tubes with photoconductive screen, e.g. vidicon
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、フェイスプレートに設けられた透明電極の面
積抵抗を利用して、映像信号の光電変換面上の位置を出
力として映像信号と同時に取り出すことができる撮像管
に関する。
積抵抗を利用して、映像信号の光電変換面上の位置を出
力として映像信号と同時に取り出すことができる撮像管
に関する。
従来の撮像装置においては映像信号の発生した画面内の
位置は電子ビームで走査を行なう側の信号から得ている
。
位置は電子ビームで走査を行なう側の信号から得ている
。
すなわち映像信号は、時系列的に取り出されるものであ
るから特定の映像信号について、その信号が存在する走
査線と走査線上の時間的位置により画面内の位置を推定
することができる。この考え方は走査線ごとに位置は不
変であり、水平走査の掃引波形の再現性が完全に保たれ
ていることを前提にするものである。なお、掃引波形に
再現性がない場合、信号から位置を導き出す方法は複雑
となる。
るから特定の映像信号について、その信号が存在する走
査線と走査線上の時間的位置により画面内の位置を推定
することができる。この考え方は走査線ごとに位置は不
変であり、水平走査の掃引波形の再現性が完全に保たれ
ていることを前提にするものである。なお、掃引波形に
再現性がない場合、信号から位置を導き出す方法は複雑
となる。
この方式は、前記前提が成立する限りにおいて、画像内
の映像信号の相対位置は特定されるので画像処理、解析
の手法として広く用いられている。
の映像信号の相対位置は特定されるので画像処理、解析
の手法として広く用いられている。
本発明の目的は電子ビームの掃引から映像信号の位置の
情報を得るのてはなく、光が入射する側に設けられた透
明電極層に設けられた信号取出電極から映像信号ととも
に、その信号の発生した位置の情報を取り出すことがで
きる撮像管を提供することにある。
情報を得るのてはなく、光が入射する側に設けられた透
明電極層に設けられた信号取出電極から映像信号ととも
に、その信号の発生した位置の情報を取り出すことがで
きる撮像管を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明による撮像管は、透
明なフェイスプレートを有する真空容器Jと、前記透明
なフェイスプレートの内面に形成された均一な面積抵抗
を有する透明電極層と、前記透明電極層の中心を囲むよ
うに4辺にそれぞれ独立して設けられた2対の取出電極
と、前記2対の取出電極て囲まれた前記透明電極層の表
面に形成iされた光導電層と、前記光導電層を走査する
電子ビームを放出する電子銃と、前記電子銃と前記光導
電層間で前記電子ビームを集束する集束手段と、前記電
子ビームが前記光導電面を掃引するように偏向する走査
手段と、前記一対の取出電極の出力から映像信号と、そ
の映像信号の発生した位置の情報を取り出す信号処理回
路から構成されている。
明なフェイスプレートを有する真空容器Jと、前記透明
なフェイスプレートの内面に形成された均一な面積抵抗
を有する透明電極層と、前記透明電極層の中心を囲むよ
うに4辺にそれぞれ独立して設けられた2対の取出電極
と、前記2対の取出電極て囲まれた前記透明電極層の表
面に形成iされた光導電層と、前記光導電層を走査する
電子ビームを放出する電子銃と、前記電子銃と前記光導
電層間で前記電子ビームを集束する集束手段と、前記電
子ビームが前記光導電面を掃引するように偏向する走査
手段と、前記一対の取出電極の出力から映像信号と、そ
の映像信号の発生した位置の情報を取り出す信号処理回
路から構成されている。
以下図面等を参照して、本発明による撮像管をさらに詳
しく説明する。
しく説明する。
第1図は本発明による撮像管の実施例を示す縦断面図、
第2図Aは撮像管の前端面を切断して示した断面図、同
図Bは透明電極と、取出電極の関係を示す図てある。
第2図Aは撮像管の前端面を切断して示した断面図、同
図Bは透明電極と、取出電極の関係を示す図てある。
この撮像管1の円筒状の気密容器2の前面の透明な窓(
以下フエイスプレート3という。)内側には均一な面積
抵抗を有する透明電極4に第2図Bに示すように対向す
る二対の取出電極41,42および43,44が形成さ
れている。前記透明電極4は酸化錫または酸化インジウ
ム層で形成され、前記取出電極は銅またはアルミニウム
等の金属により形成される。前記透明電極4は後述する
ように映像信号を取り出すためには充分低い抵抗値を持
ち、電子ビームの位置を決定するためには相当な抵抗値
であるような面積抵抗が与えられている。
以下フエイスプレート3という。)内側には均一な面積
抵抗を有する透明電極4に第2図Bに示すように対向す
る二対の取出電極41,42および43,44が形成さ
れている。前記透明電極4は酸化錫または酸化インジウ
ム層で形成され、前記取出電極は銅またはアルミニウム
等の金属により形成される。前記透明電極4は後述する
ように映像信号を取り出すためには充分低い抵抗値を持
ち、電子ビームの位置を決定するためには相当な抵抗値
であるような面積抵抗が与えられている。
光導電層5は透明電極および取出電極41〜44の上に
形成され、三硫化アンチモン、酸化鉛などから成り、光
の照射によつて、電気抵抗値が低下させられる。
形成され、三硫化アンチモン、酸化鉛などから成り、光
の照射によつて、電気抵抗値が低下させられる。
7は加速電極であり、電子銃6から放出された電子を前
記光導電層5に向けて加速する。
記光導電層5に向けて加速する。
加速電極7および電子銃6のリード線は後端面のステム
部から後方に取り出されている。10,10は電子ビー
ムで前述した光導電層を走査するためめ偏向コイルであ
る。
部から後方に取り出されている。10,10は電子ビー
ムで前述した光導電層を走査するためめ偏向コイルであ
る。
これらのコイルに偏向電流を供給して、偏向磁界を形成
する。
する。
前記電子ビームにより走査される部分を第2図Bの示す
破線4aて囲んで示してある。4aの領域を走査面また
は走査の領域ということにする。
破線4aて囲んで示してある。4aの領域を走査面また
は走査の領域ということにする。
なお走査の領域を前記取出電極に極端に近接させると、
後述する演算式で表わされる座標と現実のビームの入射
点の間に誤差が発生する。
後述する演算式で表わされる座標と現実のビームの入射
点の間に誤差が発生する。
そのため各取出電極により、囲まれ、かつ取出電極に極
端に接近していない領域をかりに走査領l域4aとする
。
端に接近していない領域をかりに走査領l域4aとする
。
この領域内の特定の領域のみを走査することもできる。
もつとも前記ずれの量は点ごとに確定できるから計算値
を補正することができる。
もつとも前記ずれの量は点ごとに確定できるから計算値
を補正することができる。
次に、前記構成による撮像管の動作例を信号処理回路と
ともに説明する。
ともに説明する。
第3図は前記撮像管1から信号を取り出す回路の実施例
を示す回路図である。
を示す回路図である。
各取出電極41,42,43および44はそれぞれ抵抗
81,82,83および84を介して、電源8に接続さ
れており数十ボルトの正電圧が印加されている。
81,82,83および84を介して、電源8に接続さ
れており数十ボルトの正電圧が印加されている。
抵抗と電極の接続点はそれぞれコンデンサ85,86,
87および88を介して出フカ端子に接続されている。
取出電極43と44間には加算器11、減算器12が接
続され、加算器11および減算器12の出力は割算器1
3に接続されている。また取出電極41と42間には同
様に加算器1・4、減算器15が接続され、それぞれの
出力端は割算器16の入力端子に接続されている。
87および88を介して出フカ端子に接続されている。
取出電極43と44間には加算器11、減算器12が接
続され、加算器11および減算器12の出力は割算器1
3に接続されている。また取出電極41と42間には同
様に加算器1・4、減算器15が接続され、それぞれの
出力端は割算器16の入力端子に接続されている。
理解を容易にするために光導電層5上の位置を第4図に
示すようなX,y座標により定義するものとする。X軸
は電極43,44に平行で、かつそれらから等距離にあ
る。y軸は電極41,42に平行で同様にそれらから等
距離にある。今走査領域4a中のPの示す点に電子ビー
ムがあたり、各電極から図示のような信号電流I,,I
。
示すようなX,y座標により定義するものとする。X軸
は電極43,44に平行で、かつそれらから等距離にあ
る。y軸は電極41,42に平行で同様にそれらから等
距離にある。今走査領域4a中のPの示す点に電子ビー
ムがあたり、各電極から図示のような信号電流I,,I
。
,l。およびLが出力されているとする。ここで前記P
点の座標X,y)および輝度が以下の各式で与えられる
ことを説明する。x=K,(I。
点の座標X,y)および輝度が以下の各式で与えられる
ことを説明する。x=K,(I。
−1.)/(I3+14)y=K。
(I,−I。)/(I,+I2)輝度=K。
(I,+I。+I。+1.)P点の輝度に対応して、当
該部分の光導電層5の抵抗が変わり、透明電極4に到達
する電荷は光導電層5の抵抗値によつて変わる。
該部分の光導電層5の抵抗が変わり、透明電極4に到達
する電荷は光導電層5の抵抗値によつて変わる。
透明電極に到達した電荷は取出電極41〜44を介して
I,+I。
I,+I。
+I。+I,として、取り出されるから、I,+I2+
1a+1.は輝度に対応する量になる。電極41と電極
42間の距離を21とすると、電極41と点P間の距離
はl−x)電極42と点P間の距離はl+xである。P
点の電荷は取出電極41〜44に分流することになる。
1a+1.は輝度に対応する量になる。電極41と電極
42間の距離を21とすると、電極41と点P間の距離
はl−x)電極42と点P間の距離はl+xである。P
点の電荷は取出電極41〜44に分流することになる。
そのうちX方向の電流に着目し、電流値は電極までの抵
抗値に反比例するので、次の関係が成立する。(l−x
)/(1fx)=13/I, P点がy軸上にあるときはI。
抗値に反比例するので、次の関係が成立する。(l−x
)/(1fx)=13/I, P点がy軸上にあるときはI。
/1.である。前記式をXについて解くと、x=(I。
−I。)・e/(I。+I。)同様にして、P点のy座
標は次式で与えられる。
標は次式で与えられる。
y =(I,−12)・l’/(I,+I2)電流I,
は加算器11、減算器12および抵抗48に分流する。
それぞれの電流をK,I,,k2I,,k3I,とする
と、I,=K,I,+K。
は加算器11、減算器12および抵抗48に分流する。
それぞれの電流をK,I,,k2I,,k3I,とする
と、I,=K,I,+K。
I,+K。I,が成立する。他の信号電流I。,l3,
l4についても同様に、12=KlI2+K2I2+K
3+I。,l3=K,I3+K2I。+K3I。,I。
=K,I。+K2I.+K3I。が成立する。なお、前
記定数K,〜K。
l4についても同様に、12=KlI2+K2I2+K
3+I。,l3=K,I3+K2I。+K3I。,I。
=K,I。+K2I.+K3I。が成立する。なお、前
記定数K,〜K。
は加算器11と加算器14の入カインピ−タンス、減算
器12と減算器15の入力インピーダンス、および抵抗
81〜84の抵抗値、コンデンサ85〜88の容量が等
しいことを前提としている。加算器11ではK,(I,
+I。)、減算器12ではK,(I,−I。)が演算さ
れ、割算器13から下式に示す出力が得られる。(K,
/K。
器12と減算器15の入力インピーダンス、および抵抗
81〜84の抵抗値、コンデンサ85〜88の容量が等
しいことを前提としている。加算器11ではK,(I,
+I。)、減算器12ではK,(I,−I。)が演算さ
れ、割算器13から下式に示す出力が得られる。(K,
/K。
)・(I,−I。)/(I,+I。) ・・・1同様に
して割算器16からは下式に示す出力が得られる。(K
,/K。
して割算器16からは下式に示す出力が得られる。(K
,/K。
)・ (I。−I。)/(I。+I。) ・・・21式
に示す信号は、点P(7)y座標に相当する信号であり
、2式に示す信号は点P(7)x座標を示す信号である
。抵抗81〜84の抵抗値を等しいとして、それぞれの
端子間にI。,I。,I。,I,に比例する電圧が発生
する。コンデンサ85〜88の容量を等しくしてあるか
ら映像信号出力端子に接続されている負荷に次の式で表
わされる出力が得られ フる。v =Kn(I,+I。
に示す信号は、点P(7)y座標に相当する信号であり
、2式に示す信号は点P(7)x座標を示す信号である
。抵抗81〜84の抵抗値を等しいとして、それぞれの
端子間にI。,I。,I。,I,に比例する電圧が発生
する。コンデンサ85〜88の容量を等しくしてあるか
ら映像信号出力端子に接続されている負荷に次の式で表
わされる出力が得られ フる。v =Kn(I,+I。
+I。+1.) ・・・3ただしKnは定数である。3
式に示すvは前記P点の輝度に対応する電圧である。
式に示すvは前記P点の輝度に対応する電圧である。
このようにして走査にしたがつて光導電層から映像信号
とその映像信号発生の個所の位置に関する信号が順次同
時に出力される。以上説明したように、本発明による撮
像管を用いれば光導電層上に形成された映像の輝度の対
応する信号と、その位置に関する信号を同時に光導電層
から取り出すことが可能となる。
とその映像信号発生の個所の位置に関する信号が順次同
時に出力される。以上説明したように、本発明による撮
像管を用いれば光導電層上に形成された映像の輝度の対
応する信号と、その位置に関する信号を同時に光導電層
から取り出すことが可能となる。
すなわち本発明による撮像管を用いれば、新規な画像処
理が可能となる。
理が可能となる。
第1図は本発明による撮像管の実施例を示す断面図、第
2図Aは前記撮像管のフエイスプレートを切断して示し
た断面図、第2図Bは透明電極と取出電極の関係を示す
図、第3図は本発明による、撮像管を用いた撮像装置の
実施例を示す図、第4図は取出電極と撮像面中の位置を
規定する座標との関係を示す説明図である。 1 ・・・光導電形撮像管、2 ・・・円筒状気密容器
、3・・・透明窓(フエイスプレート)、4 ・・・透
明電極、5・・・光導電層、6 ・・・電子銃、7 ・
・・加速電極、8・・・電源、9 ・・・コンデンサ、
10・・・偏向コイル、11・・・アナログ加算器、1
2・・・アナログ減算器、13・・・割算器、16・・
・割算器、17・・・ステム、41,42,43,44
・・・取出電極、81,82,83,84・・・抵抗、
85,86,87,88・・・コンデンサ。
2図Aは前記撮像管のフエイスプレートを切断して示し
た断面図、第2図Bは透明電極と取出電極の関係を示す
図、第3図は本発明による、撮像管を用いた撮像装置の
実施例を示す図、第4図は取出電極と撮像面中の位置を
規定する座標との関係を示す説明図である。 1 ・・・光導電形撮像管、2 ・・・円筒状気密容器
、3・・・透明窓(フエイスプレート)、4 ・・・透
明電極、5・・・光導電層、6 ・・・電子銃、7 ・
・・加速電極、8・・・電源、9 ・・・コンデンサ、
10・・・偏向コイル、11・・・アナログ加算器、1
2・・・アナログ減算器、13・・・割算器、16・・
・割算器、17・・・ステム、41,42,43,44
・・・取出電極、81,82,83,84・・・抵抗、
85,86,87,88・・・コンデンサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 透明なフェイスプレートを有する真空容器と、前記
透明なフェイスプレートの内面に形成された均一な面積
抵抗を有する透明電極層と、前記透明電極層の中心を囲
むように4辺のそれぞれ独立して設けられた2対の取出
電極と、前記2対の取出電極で囲まれた前記透明電極層
の表面に形成された光導電層と、前記光導電層を走査す
る電子ビームを放出する電子銃と、前記電子銃と前記光
導電層間で前記電子銃を集束する集束手段と、前記電子
ビームが前記光導電面を掃引するように偏向する走査手
段と、前記一対の取出電極の出力から映像信号と、その
映像信号の発生した位置の情報を取り出す信号処理回路
から構成した撮像管。 2 前記信号処理回路は対向する電極にそれぞれ得られ
る電流の差を和で除した値により位置の情報を、各取り
出し電極の電流の和から映像信号を演算する回路である
特許請求の範囲第1項記載の撮像管。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56172614A JPS6048859B2 (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 撮像管 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56172614A JPS6048859B2 (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 撮像管 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5873945A JPS5873945A (ja) | 1983-05-04 |
JPS6048859B2 true JPS6048859B2 (ja) | 1985-10-29 |
Family
ID=15945136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56172614A Expired JPS6048859B2 (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 撮像管 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6048859B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0230984Y2 (ja) * | 1986-01-06 | 1990-08-21 |
-
1981
- 1981-10-27 JP JP56172614A patent/JPS6048859B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0230984Y2 (ja) * | 1986-01-06 | 1990-08-21 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5873945A (ja) | 1983-05-04 |
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