JPS6037854U - 透過電子顕微鏡観察用試料 - Google Patents

透過電子顕微鏡観察用試料

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JPS6037854U
JPS6037854U JP12963083U JP12963083U JPS6037854U JP S6037854 U JPS6037854 U JP S6037854U JP 12963083 U JP12963083 U JP 12963083U JP 12963083 U JP12963083 U JP 12963083U JP S6037854 U JPS6037854 U JP S6037854U
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JP
Japan
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transmission electron
electron microscopy
sample
abstract
specimen
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Pending
Application number
JP12963083U
Other languages
English (en)
Inventor
松本　辰喜
Original Assignee
三菱重工業株式会社
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Publication date
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の、また、第２図は本考案の実施例として
の透過電子顕微鏡用試料を固定止金に装着した際の断面
模式図である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 観察対象としての１００μｍ未満の厚さの金属薄膜片を
    非磁性体のメツシュにより両側からはさみ込んでなるこ
    とを特徴とする透過電子顕微鏡観察用試料。
JP12963083U 1983-08-22 1983-08-22 透過電子顕微鏡観察用試料 Pending JPS6037854U (ja)

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JPS6037854U true JPS6037854U (ja) 1985-03-15

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ID=30293658

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