JPS6032234B2 - 物品判別装置 - Google Patents

物品判別装置

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JPS6032234B2
JPS6032234B2 JP52037423A JP3742377A JPS6032234B2 JP S6032234 B2 JPS6032234 B2 JP S6032234B2 JP 52037423 A JP52037423 A JP 52037423A JP 3742377 A JP3742377 A JP 3742377A JP S6032234 B2 JPS6032234 B2 JP S6032234B2
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luminescent
photodetector
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マイケル・アンソニ−・ウエスト
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Applied Photophysics Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、物品に付着された或は物品内に入れられたル
ミネッセンス作用を有する物質(以下ルミネッセンス物
質と称する)の性質を利用して物品の性質を判定ないし
物品を特定する判別装置に関する。
ルミネツセンス物質の発光スペクトルはいましばその物
質(化合物)に特有のものであることが知られている。
本発明の目的は、テスト対象となる物品に付着させた或
は物品内に入れたルミネツセソス物質から生ずる発光ス
ペクトルの発光強度−波長の関係を調べることによって
その物品の性質を判定または物品を特定する装置を提供
することにある。本発明の判別装置は、ルミネッセンス
物質を付着又は内蔵した物品に励起光を照射し、ルミネ
ッセンス物質から発するルミネッセンス光の波長−発光
強度のスペクトルの形状を設定したルミネッセンス物質
のそれと比較し、それによって物品を判別するものであ
る。本発明の判別装置は、テスト位置に置かれている物
品に励磁光を照射する光源と、励磁光を受けてルミネッ
センス物質から発するルミネツセンス光を同時に受ける
複数個の光学系と、複数個の光学系を通して得られるル
ミネツセンス光を受ける各光学系に対応した複数個の光
検知器と、各光学系の途中又は端部に配置され、各光検
知器に入射する光の波長を異ならせるために透過波長を
異にした複数個の光学フィル夕と、各光検知器から出力
される力の強さの変化に従って変化する電気信号を受け
、前記各光検知器の1つからの信号レベルを要求される
範囲を明確にする2つの異なる信号レベルを供給するた
めに変更し、他の光検知器から得た信号レベルと変更し
た信号レベルとを比鮫し、他の光検知器の信号レベルが
要求された範囲内にあるときにそのことを表示する電気
回路とを備えている。
望ましくは、前記光学系は光ファイバー束で構成し、各
光ファイバー束の一端は対応する光検知器へ光を導くよ
うにし、光ファイバーの他端は1以上のグループに分け
、各グループの光ファイバーは共通平面上で互に近接さ
せ且つ物品からのルミネツセンス光を全てのファイバー
束が均等に受けるように配列する。
望ましくは、ルミネッセンス物質から発するルミネッセ
ンス光を受けそれを各ファイバー束の端部に導くための
少なくとも1個の光パイプを設ける。
望ましくは、各ファイバー東の光ファイバーの端部は全
てのファイバー東に共通の1以上の光パイプに接続し、
且つ各光パイプのインターフェース面において異なるフ
ァイバー束に属する光ファイバーが均等にルミネッセン
ス光を受けるように光ファイバーを配置する。励起光源
として例えば細長い光源を使用できる。
その光源からの光は、適当な光学手段、例えば光パイプ
、光ファイバー、レンズ、ミラーによってテストする物
品へ導かれる。励起光源からの光は、光ファイバーによ
ってルミネッセンス物質へ導くようにできる。
その光ファイバーは前記した光学系の中に配置できる。
ルミネッセンス物質からの光をファイバ一束に導くため
に1以上の共通光パイプを用いることは、全てのファイ
バー束にルミネッセンス光を均等に配分する点で有利で
ある。これにより、ルミネッセンス物質からの光が場所
により均等でない場合にも各ファイバー束に入射する光
を均等にできる。すなわち、1以上の光パイプはルミネ
ツセンス物質からのほとんどの光を集め、ルミネッセン
ス物質の存在する範囲上での光強度のばらつきにかかわ
らず均等にファイバー束の端部に光が入射される。望ま
しくは、励起光源は紫外線波長を放射するものであるが
、可視光線を放射するものでも良い。
励起光源はパルスで作動するキセノンフラッシュランプ
のようなフラッシュランプが便利である。又、水銀スペ
クトル光を発する低圧水銀ランプも使用できる。広帯域
のスペクトル光を照射するため燐コーティングした光源
の使用が考慮できる。励起光源は単一の波長領域の光又
は跳び跳びの波長領域の光を出すものとなろう。本発明
では、異なった波長におけるルミネツセンス光の検知と
、それら波長における相対強度の評価によって、ルミネ
ッセンス物質を持った物品の性格付けないし識別を行な
う。
これは、あるルミネッセンス化合物の発光スペクトルは
その化合物に特有なものであるという点に基いている。
重要な点は波長−発光強度スペクトルの形状であり、異
なった波長における相対強度を比較することによって、
発光の全体的な強度と無関係な結果が得られる。ルミネ
ッセンス物質を持つ物品は、物質がその中に入れられる
か或はその上に載せられたとしてもルミネッセンス物質
の性質がほとんど影響されない限り、紙、厚紙、金属、
プラスチック、織物等なんでも良い。
ルミネッセンス物質は、物品の製造中或は製造後に物品
に付着或は内蔵される。
例えば、物品が熱塑性プラスチックのような場合、ルミ
ネツセンス物質は、押出し或はモールド等によるプラス
チック製造中にその中に入れられる。物品が紙、厚紙、
織物のように繊維材料のような場合には、ルミネッセン
ス物質は繊維或は糸としてそれらの製造中に入れられる
ことになろう。又、ルミネツセンス物質は、物品に印刷
、タイプ、書き込み等によっても付着させることができ
よう。ルミネツセンス物質は着色することもでき、染料
或は顔料と共に用いられることもできる。1以上のルミ
ネッセンスを適当に選ぶことによって、ルミネッセンス
スベクトルに基いた対象物品の指紋付けが可能となる。
例えば、投薬量、効力、有効期限等のデータを含んだ抗
性物質剤のラベルとして、或は貯蔵寿命の限られた写真
感光材料のラベルとして適当なルミネッセンス物質によ
るマーク付けが可能となる。そして、これらラベルは、
それらから生ずる蛍光信号により種類分けできる。以下
本発明の実施例について詳細に説明する。
第1図はルミネッセンス物質から生ずる発光スペクトル
の一例を示したもので、本発明に使用するルミネッセン
ス物質は発光光の波長−発光強度のスペクトルの形状が
その物質特有のものである物質を選択する。ルミネッセ
ンス物質からの発光強度は例えば同図においてA,B,
Cで示した所定の波長における強度を検出するようにす
る。これら選択された各波長間の相対的光強度が比較さ
れ、その比較によりテストされるルミネッセンス物質の
性質あるいはその物質が探し求められている特定のルミ
ネッセンス物質であるか否かということが判る。上記選
択された各波長における相対強度を比較することにより
、測定結果を発光光の全体的な強度レベルと無関係にす
ることができる。これにより、励起光の変動、ルミネツ
センス物質の位置とか量とかのような変動要素あるいは
光検知手段の変更等によって発光光の全体的な発光強度
に変動が生じても、選択された波長における発光強度の
相対的強度に影響を与えることがない。第2図は本発明
装置の実施例を示したもので、この実施例ではテスト対
象物11は紙あるいは厚紙である。
この対象物11の上表面の所定範囲には特有の発光スペ
クトルを持つルミネッセンス物質が付着させてある。1
2は励起光源であり、励起光はフィルター3を通してル
ミネッセンス物質が付着している対象物11の所定範囲
へ放射されるようになっている。
光源12は燐光物質をコーティングした低圧水銀ランプ
であり、中心波長がほぼ350ナノメータである広い帯
城の紫外線を放射するようになっている。フィル夕13
は紫外線を分離し、可視領域内にある水銀放射光をしや
断するものである。励起光源として例えば50ヘルツで
作動する小形フラッシュランプを使用することもできる
。対象物11の所定範囲の上に光パイプ27が配置され
ている。この光パイプ27はガラスあるいはプラスチッ
クの如き透明な材料からなる中実ブロックであり、一端
から池端へ向ってテーパが付けられている。そしてこの
パイプ27の広い方を対象物11に近接させてある。対
象物11上のルミネッセンス物質の範囲に励起光が当る
と該物質はあらゆる方向にルミネッセンス光を発する。
このルミネッセンス光のある部分は光パイプ27によっ
て集められ、図示するように3つの光学系24,25,
26を介して夫々対応する光検知器としての光電子倍増
管18,19,20へ入射するようになっている。21
,22,23は夫々フィル夕であり、各光学系と対応す
る光電子倍増管との間に挿入されている。
ルミネッセンス物質からの光を各光検知器へ同時に伝達
する3つの分離された光学系24,25,26は、夫々
光ファイバーの束で構成されている。夫々の光ファイバ
ーの東は等しい数のフィバーを有し、それらフィバーの
一端は対応するフィル夕21,22,23で終端してい
る。また各東のフィバーの他端は光パイプ27のインタ
ーフェース面に均等にまき散らされてある。該光パイプ
27のインターフェース面はテーパを付けた該パイプの
狭い方であり、該パイプ27はテストする対象物11の
前記範囲上の発光光を集め、そのパイプの内部反射によ
りその光を各フィバ−の端部へ送る。光パイプ27は、
第5図、第6図で示すものも同様であり、第6図に示す
ようにその2つの側面は互に平行である。光パイプ27
はファイバーが外部光を集めるのを防ぐためと、全ての
ファイバーの端部において均一な光強度にするために設
けられている。第3図に示す如く、各東のフィバーは光
パイプ27のインターフェース面で均等分配される。第
3図において、各ファイバーには夫々のファイバーが属
すファイバー東と同じ符号を示している。フィルター2
1,22,23は帯城フィル夕であり、夫々の帯城がオ
ーバラップしないように選ばれる。そして、1つのフィ
ル夕の最大透過波長はルミネッセンス物質の発光スペク
トル曲線の最大となる波長にほぼ対応するように選ばれ
、一方他の2つのフィル夕の最大透過波長は発光スペク
トル曲線内の適当な波長に選ばれる。望まくは、他の2
つのフィル夕の最大透過波長は、発光スペクトルの最大
となる波長の両側にくるように選ばれる。第1図は、上
記したフィル夕の波長選択例を示したもので、1つのフ
ィル夕は発光スペクトルの最大となる波長Aに対応し、
他の2つはその波長Aの両側の波長B,Cに対応させる
。光検知器18,19,201ま、夫々に入射するルミ
ネッセンス光強度に応じて直線的に変化する電気信号を
出力する。この世力信号は例えば第4図に示す制御回路
へ入力される。この制御回路は、上記した各波長におけ
る相対的な発光強度を求めるためのもので、任意に選択
した1つの光検知器からの信号を減衰あるいは増幅する
ことによって、他の2つの光検知器から得られる信号レ
ベルの要求される範囲(許容される上限と下限とを)得
るように、2つの信号レベルに修正し、他の2つの光検
知器から得た信号レベルが、修正した2つの信号レベル
間にあるか杏かを比較する。即ち、上記の減衰量あるい
は増幅量により、各波長間の発光強度の相対的強度さを
得ることができる。そして比較結果は、テストしたルミ
ネッセンス物質が探している特定の物質であるか杏か、
あるいは選ばれた何種類かの物質のうちの1つであるか
否かを決定することに使用される。即ち、値の2つの光
検知器から得た信号レベルが、1つの光検知器の信号を
減衰または増幅して作った上、下限の信号レベル内にあ
れば、各波長間の相対的な発光強度が校正時に得たもの
と等しく、発光スペクトルを特定でき、探している特定
のルミネッセンス物質であることを決定することができ
る。上記した制御回路の一例を第4図により詳細に説明
する。
光検知器18,19,20は夫々出力28,29,30
を有する光電子倍増管で構成される。各出力28,29
,30のレベルは各光電子倍増管の出力側に接続された
ゲインコントロール31によって制御される。各光電子
倍増管は、ピーク追従回路32に接続されている。ピー
ク追従回路32は、光電子倍増管の出力を増幅する増幅
器と、またその交流分を整流する整流器としての機能を
持つ。このようにして、各光電子倍増管によって検知さ
れた発光強度に対応した直流電気信号がライン33,3
4,35上に得られる。この実施例では、信号28は第
1図の波長Aの発光強度に対応しており、信号29は波
長Bの発光強度に、信号3川ま波長Cの発光強度に対応
している。波長A,B,Cにおける相対的な発光強度は
前もって参照物質を使用して校正しておくことにより知
ることができ、これによりテスト対象物が校正に使用し
た物質に相当する物質を持っているか否かをチェックす
ることが可能となる。それ故テストされる物質が校正時
に使用されたルミネッセンス物質と同じであるとき、光
電子倍増管18によって検知される波長の強度が最も大
きいので信号28は信号29,30より大きい。そして
、ライン33上の信号はポテンショメータ36へ与えら
れ、分圧した出力37として出力される。分圧された信
号37は更にポテンショメータ38へ与えられ更に分圧
されて信号39として出力される。コンパレータ40は
2つの入力を有し、その1は信号37であり、他の1つ
はライン34上の信号である。コンパレータ40の出力
は発光ダイオード41とアンドゲート42へ送られる。
該コンパレータ40はライン34上の信号が光電子倍増
管の出力28を分圧して得た信号37より小さいときに
ダイオード41を点灯させるようにしてある。コンパレ
ータ43はライン34上の信号と、信号39の2つを入
力とするようになっている。そしてコンパレータ43の
出力は発光ダイオード44とアンドゲート42に接続し
てある。それにより該コンパレータ43はライン34上
の信号が信号39より大きいときダイオード44を点灯
するようになっている。コンパレータ40,43の使用
により、光電子倍増管18の出力から得られた2つの分
圧信号が光電子倍増管19の出力と比較され、発光ダイ
オード41,44が光電子倍増管18,19からの信号
の大きさの相対的関係を表示する。出力28と光電子倍
増管20の出力30とを同様に比較するための回路が同
様に設けてある。すなわち、ライン33上の信号がポテ
ンショメータ45へ入力され第1の分圧信号46が得ら
れる。分圧信号46は更にポテンシメータ47へ入力さ
れ第2の分圧信号48が得られる。分圧信号46,48
は夫々コンパレータ49,50へ入力される。コンパレ
ータ49,50へはライン35上の信号がそのまま入力
される。各コンパレータ49,50はアンドゲート42
へ接続されると共に、夫々発光ダイオード51,52へ
も接続される。これにより、信号46がライン35上の
信号より大きいとき発光ダイオード51が点灯し、ライ
ン35上の信号が信号48より大きいとき発光ダイオー
ド52が点灯する。アンドゲート42は発光ダイオード
53に接続され、コンパレータ40,43,49,50
が全て出力するとき、すなわちテストしているルミネッ
センス物質の波長A,B,Cにおける相対強度が装置の
校正時に使用した参照物質の相対強度に一致するとき発
光ダイオード53が点灯するようになっている。もし、
テストしている対象物上のルミネッセンス物質が装置の
校正時に使用した物質と異なる場合、波長A,B,Cに
対応する光電子倍増管出力の相対強度はコンパレータ4
0,43,49,50の全てから出力を出させることは
な・く、従って発光ダイオードのうちのいくつかは点灯
しない。最も強い出力信号を有するライン33は参照入
力56を受けているコンパレータからなる過負荷検知装
贋55に接続されている。そして過負過検知装置55の
出力は発光ダイオード57に接続され、光電子倍増管1
8の出力が高過ぎる場合に警報を発するようになってい
る。この制御回路では、参照ルミネッセンス物質を用い
た装置の校正時に、ポテンショメータ36,38,45
,47の設定を行なう。そして、他のルミネッセンス物
質をテストするときには、その物質の発光強度特性に合
わせてその都度これらポテンショメータを設定する。上
記実施例では光検知器及びこれに対応するポテンショメ
ータ、コンパレータは夫々3個づつ設けてあったが、そ
れ以上設けることができる。光検知器の数が増せば判定
結果の確実性も増し、判定できる物質の種類も増す。す
なわち、例えば、2つのルミネッセンス物質の発光スペ
クトル曲線が似ておりある部分のみが相違しているよう
な場合でも、光検知器の数が多ければ2つの発光スペク
トル曲線を区別できる。第5図及び第6図は他の実施例
を示したものである。
この例では、基本的には光検知器18,19,2川ま夫
々光パイプへ導かれる光ファイバー束24,25,26
を有する点で同じである。しかし、第2図の実施例では
励起光源12は1個であったが、第5図の実施例ではそ
の側面図として第6図に示されているように励起光源1
2は2個であり、夫々光パイプ27の両側に配置されて
いる。夫々のランプ12は水平方向に延びたケーシング
60内に沿って細長く設けられており、該ケーシング6
川ま対象物11の方向に面し且つ煩斜した細長い窓61
を持っている。光パイプ27は2つのランプケーシング
60の対向面の間を垂直に通過し、その下端はランプケ
ーシング60より下方に突出している。上記第2図示の
実施例及び第5図示の実施例において、光パイプを使用
しない設計変更が可能である。
その場合、各ファイバーの端部がテストする対象物の僅
かに上方で終端するようにし、又、それら各ファイバー
の端部は第3図に示したように均一に配列する。このよ
うな実施例を第7図に示す。この実施例では励起光の与
え方の他の例を採用している。各光検知器18,19,
20は夫々一端を対象物11の僅かに上方で終端ごせた
ファイバー東24,25,26を有してたる。しかしな
がら、これらファイバー束の各フィバ−は励起光を与え
るため新たに設けたファイバー東62の因りに環状に均
一に配置してある。この新たに設けたファイバー束62
は、各ファイバー24,25,26の対象物11に対向
する端部においてこれら各フイバーによって囲まれ、中
心コアを形成する。ファイバー東62は基本的には前記
した光パイプと同様の光パイプ63に接続してある。こ
の光パイプ63の広い端部はフィル夕64を介して励起
光源12に向い合っている。本発明では、テスト対象物
は搬送手段によりテスト位置まで搬送させるように構成
することができる。
このような実施例を第8図及び第9図に示す。この実施
例では、テスト対象物を搬送するモータ駆動のローラー
71を備えた搬送装置70を有している。この搬送装置
はプレート73に穿設したスリットァパーチャー72の
下を通過するようにしてある。アパーチャ−72の上方
に設置されたハウジング76に、励起光源としてのフラ
ッシュランプ74が設けてある。紫外線フィルター75
と円柱レンズ79がランプ74の直下に設けてある。フ
ィルター75を通過する光はしンズ79によってハウジ
ング76下端閉口部からスリットアパーチャー72の方
へ導かれる。ハウジング76の外側に近接して前記光パ
イプと同様の2つの光パイプ77,78が設けられてい
る。光パイプ77,78は夫々、光検知器18,19,
20に導くための光ファイバー東24,25,26に接
続されている。各ファイバー束のファイバーは2つのグ
ループに分けられ夫々その一方を光パイプ77に他方を
光パイプ78へ接続してある。各グループは各ファイバ
ー東から均等に分配される。光パイプ77,78は垂直
方向に対して傾斜しており、それによって光パイプの下
端面がスリット72の下方の搬送装置表面を向くように
してある。光パイプの下端面の長手方向はスリット72
の長手方向に沿って平行になっており、この光パイプの
長手方向は搬送装置70の動きの方向と交差する。フラ
ッシュランプ74は、フラッシュランプ74の作動とテ
スト位置に順次送られてくる対象物の動きとを同期させ
るための制御回路に接続されており、これにより短時間
の光が、搬送装置7川こ乗って動いている対象物11へ
投射される。従って、あたかも対象物11の動きは固定
されているのと同じ‘こなる。順次送られてくる対象物
のアパーチャー72位置への到着とランプ74の点灯と
を同期させる構成は第9図に示す。テスト対象物上の蛍
光物質の範囲は望ましくは出来るだけ狭くし、それによ
り光パイプ77,78がアパーチャ−72を通過する蛍
光物質からの光のみを検知するようにする。この蛍光物
質の範囲は、アパーチャ−72の範囲より僅かに大きい
程度で良く、フラッシュランプ74の正確な同期が必要
である。第9図において、テスト対象物11はランプ8
1と光検知器82との間の搬送装置70の搬送路に沿っ
て動くように示してある。これらランプ81と光検知器
82は第8図に示した実施例の適当な位置に配置するも
ので、これにより検知器82はテスト位置へテスト対象
物11が到着したときその対象物11の端部を検知でき
るようにする。対象物の端部が所定位置に到達した時点
で、通常、検知器82で検知されていた光がしや断され
るため、端部検知信号が二安定回路83へ与えられる。
二安定回路83の出力は水晶制御クロック発振器84の
出力と共にアンドゲート85へ入力される。アンドゲー
ト85の出力はカウンタ86へ与えられる。カウンタ8
6は二安定回路83へのりセット信号を出力すると共に
、コンパレータ87へも出力を送るようにしてある。コ
ンパレータ87はカウンタ86の出力と入力ライン88
上に得られる調整可能な遅延セット信号とを受け、フラ
ッシュランプ74を点灯するためのトリガーとして使用
される出力パルスをライン89上に出力するようになっ
ている。対象物11の端部が検出されてから予め定めた
時間の遅れでもつて出力パルスがライン89上に出力さ
れる。全ての動作はクロック84によって予め定めた時
間の遅れで行なわれる。上記した構成により、例えば対
象物11は約6.4の/秒の高速度で搬送し、フラッシ
ュは例えば検知器82が対象物11の端部を検出してか
ら14ミリ秒の遅れで作動させるとができる。ランプ8
1と光検知器82の代りに、1個の光パイプと対象物か
らの蛍光を検知する光検知器とを使用しても対象物がテ
スト位置に到着したことを検知できる。
そのときの光検知器は、蛍光の強ごがある値を越えたと
きに対象物の到着を検知するようにしても良い。その場
合、光パイプはアパーチャ−72の一端緑に近接して配
置し、その光パイプからの光が蛍光検知器へ送られるよ
うにする。本発明は以上述べた実施例に限定されるもの
でなく、励起光源、光検知器の数及びそれに対応した制
御回路等種々の点で設計変更が可能である。
更にこの発明は種々の用途に使用できるが、特に薬製品
のラベルの検査とか、搬送作業中の若しくは仕分け作業
中の或は包装作業中の容器に付されているラベルの分類
ないしは検査に好適である。又、本発明はルミネッセン
ス物質を付着ないし入れた種々の物品の検査或は仕分け
に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はある蛍光体の発光スペクトルを示す図、第2図
は本発明の実施例に係る判別装置の概略図、第3図は第
2図に示す実施例における光フアィバーの配贋を示す図
、第4図は第2図に示す実施例の制御回路を示す図、第
5図は他の実施例に係る判別装置の概略図、第6図は第
5図の実施例をA方向からみた側面図、第7図は他の実
施例に係る判別装置の概略図、第8図は搬送装置を備え
た実施例に係る判別装置の概略図、第9図は第8図に示
す実施例の制御回路を示す図である。 11…・・・テスト対象物、12…・・・励起光源、1
3,64,75……フイルター、18,19,20・・
・・・・光検知器、21,22,23・・・・・・フィ
ルター、24,25,26,62……光ファイバー束、
27,63,77,78……光パイプ、31・…・・ゲ
インコントロール、32・・・・・・ピーク追従回路、
36,38,45,47……ポテンショメータ、40,
43,49,50……コンパレータ、42……アンドゲ
ート、41,44,51,52,53……発光ダイオー
ド、70・・・・・・搬送装置。 塾等1 雛蟹2 塾尊g 則鞍凶 雛g,5. 々g傘 塾竺Z 塾竺噂 塾竺里

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 テスト位置に置かれているルミネツセンス物質を付
    着又は内蔵した物品に励起光を照射するための光源と、
    励起光を受けたルミネツセンス物質が発する光を同時に
    受ける複数個の光学係と、複数個の光学系を通して得ら
    れるルミネツセンス光を受ける各光学系に対応した複数
    個の光検知器と、各交学系の途中又は端部に配置され、
    各光検知器に入射する光のそれぞれを予め定めた異なる
    波長にする透過波長を異にした複数個の光学フイルタと
    、各光検知器から出力される光の強さの変化に従つて変
    化する電気信号を受け、前記各光検知器の1つからの信
    号レベルを要求される範囲を明確にする2つの異なる信
    号レベルを供給するために変更し、他の光検知器から得
    た信号レベルと変更した信号レベルとを比較し、他の光
    検知器の信号レベルが要求された範囲内にあるときにそ
    の旨を表示する電気回路とを備えた物品判別装置。 2 各光学系が複数の光フアイバーで構成される特許請
    求の範囲第1項記載の物品判別装置。 3 各光学系が光フアイバー束で構成され、各光フアイ
    バー束の一端は対応する光検知器へ光を導くように構成
    され、光フアイバーの他端は1以上のグループに分け、
    各グループの光フアイバーは共通平面上で互に近接させ
    且つ物品からのルミネツセンス光を全てのフアイバー束
    が均等に受けるように配列した特許請求の範囲第2項記
    載の物品判別装置。 4 ルミネツセンス物質から発するルミネツセンス光を
    受け、それを各フアイバー束の端部に導くための少なく
    とも1個の光パイプを有する特許請求の範囲第3項記載
    の物品判別装置。 5 各フアイバー束の光フアイバーの端部は全てのフア
    イバー束に共通の1以上の光パイプに接続し、且つ各光
    パイプのインターフエース面において異なるフアイバー
    束に属する光フアイバーが均等にルミネツセンス光を受
    けるように光フアイバーを配置した特許請求の範囲第4
    項記載の物品判別装置。 6 励起光源が各フアイバー束の端部に近接して配置さ
    れている特許請求の範囲第3項、第4項又は第5項記載
    の物品判別装置。 7 各フアイバー束のフアイバーを、互に離れ且つ物品
    の同一部からの光を受けるように互に傾斜して配置され
    た2つの光パイプに接続し、励起光源からの光は2つの
    光パイプのちようど中間の系路を通つて物品に照射され
    るように励起光源を配置した特許請求の範囲第3項、第
    4項、第5項又は第6項記載の物品判別装置。 8 励起光源がフラツシユランプであり、且つ物品を順
    次テスト位置へ搬送する搬送装置と、物品のテスト位置
    到着を検出する検出手段と、物品のテスト位置到着と同
    時に前記フラツシユランプを作動させる同期手段とを備
    えた特許請求の範囲第1項、第2項、第3項、第4項、
    第5項、第6項又は第7項記載の物品判別装置。
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