JPS6029781A - Interface circuit inspection system for monochromatic video signal - Google Patents

Interface circuit inspection system for monochromatic video signal

Info

Publication number
JPS6029781A
JPS6029781A JP58137814A JP13781483A JPS6029781A JP S6029781 A JPS6029781 A JP S6029781A JP 58137814 A JP58137814 A JP 58137814A JP 13781483 A JP13781483 A JP 13781483A JP S6029781 A JPS6029781 A JP S6029781A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
video signal
signal
delay
interface circuit
counter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58137814A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
濱口 信次
宮下 一善
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58137814A priority Critical patent/JPS6029781A/en
Publication of JPS6029781A publication Critical patent/JPS6029781A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、モノクロビデオ信号のインタフェース回路検
査方式に係り、たとえばパソコンのインタフェース回路
検査において、特に、モノクロビデオ信号のインタフェ
ース回路検査に好適なようにしたモノクロビデオ信号の
インタフェース回路検査方式に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a monochrome video signal interface circuit testing method, and is particularly suitable for testing a monochrome video signal interface circuit, for example, in the interface circuit testing of a personal computer. This invention relates to an interface circuit testing method for monochrome video signals.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

まず、第1図は、従来のモノクロビデオ信号のインタフ
ェース回路検査方式に供される検査装置ρ略示ブロック
図を示し、以下、このブロック図に従って説明する。
First, FIG. 1 shows a schematic block diagram of a testing apparatus ρ used in a conventional monochrome video signal interface circuit testing method, and the following description will be made with reference to this block diagram.

通常、たとえば、パソコンから出力されるモノクロビデ
オ信号のインタフェース回路検査は、第1図に示すよう
に、フロッピーディスク1.モノクロディスプレイ3.
キーボード4が、検査対象パソコン2に接続されている
Normally, for example, an interface circuit test for a monochrome video signal output from a personal computer is performed using a floppy disk 1. Monochrome display 3.
A keyboard 4 is connected to the personal computer 2 to be inspected.

ここで、キーボード4により検査開始のキー久方を行う
と、フロッピーディスク1より検査用プログラムが検査
対象パソコン2に入力されて検査が始寸り、モノクロデ
ィスプレイ3に検査用パターンが表示される。このパタ
ーンを、オペレータが、誤表示がないかどうかの目視検
査4oを行い、インタフェース回路の合否判定を行って
いる。
When the key to start the test is pressed on the keyboard 4, the test program is input from the floppy disk 1 to the personal computer 2 to be tested, the test is about to begin, and the test pattern is displayed on the monochrome display 3. This pattern is visually inspected by an operator 4o to see if there is any erroneous display, and a pass/fail judgment of the interface circuit is made.

しかし、このような目視検査法では、検査時間がかかり
、寸だ、細かいビット落ちやピントずれなどは、人間の
目では検査が困難で、オペレータの疲労にもつながり、
作業能率が悪かったものである。
However, this visual inspection method takes time, and it is difficult for the human eye to detect small bits missing or out of focus, which can lead to operator fatigue.
The work efficiency was poor.

そこで、−これらを自動化し、高速で高信頼性の検査方
式が必要となってきた。
Therefore, there is a need for a high-speed, highly reliable inspection method that automates these processes.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、上記した従来技術の欠点をなくし、上記要請
にも応じて、たとえばパソコンのモノクロビデオ信号の
インタフェース回路を高速に、しかも精度良く検査を行
う自動検査方式に係るモノクロビデオ信号のインクフェ
ース回路検査方式の提供を、その目的とするものである
The present invention eliminates the drawbacks of the prior art described above, and in response to the above requirements, provides an ink interface for monochrome video signals related to an automatic testing method for testing monochrome video signal interface circuits of personal computers at high speed and with high precision. Its purpose is to provide a circuit testing method.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明に係るモノクロビデオ信号のインタフェース回路
検査方式は、モノクロビデオ信号をTTLビデオ信号に
変換し、そのTTLビデオ信号と、16MHzドツト周
波数(画面表示1ドツト60ns)の基本クロックとの
位相ずれを、ディレー回路を含むタイミング回路により
タイミング補正を行うようにし、これにより上記ビデオ
信号と基本クロックとの位相のずれた信号を含め、TT
Lビデオ信号の1ドツト5Qnsのほぼ中央でサンプリ
ングを可能として検査するようにしたものである。
The monochrome video signal interface circuit testing method according to the present invention converts the monochrome video signal into a TTL video signal, and checks the phase shift between the TTL video signal and the basic clock of 16 MHz dot frequency (1 screen display dot 60 ns). Timing correction is performed by a timing circuit including a delay circuit, and as a result, the TT
The inspection is made possible by sampling approximately at the center of 1 dot 5 Qns of the L video signal.

なお付記すると、次のとおりである。In addition, the following is added.

本発明によるモノクロビデオ信号のインタフェース回路
検査方式は、オペレータによる目視検査方式に代るもの
であり、ビデオ信号をTTLビデオ信号に変換するコン
パレータ、基本クロックをカウントするカウンタ、サン
プリングタイミング調整用のディレー回路、データ処理
・ディレー回路制御を行うマイクロコンピュータなどに
より構成されたものによる自動検査方式である。
The interface circuit inspection method for monochrome video signals according to the present invention is an alternative to the visual inspection method by an operator, and includes a comparator for converting a video signal into a TTL video signal, a counter for counting a basic clock, and a delay circuit for adjusting sampling timing. This is an automatic inspection method using a microcomputer that processes data and controls delay circuits.

特徴としては、ビデオ信号が1ドツト60nSと高速で
あることと、16MHzドツト周波数の基本クロックと
ビデオ信号の位相ずれが、個々のワークにより異なるこ
とが大きな問題であり、この位相ずれをディレー回路に
より調整し、データサンプリングする際、1ドツト60
nSのほぼ中央でサンプリングするような回路構成とし
、ジーツタなどがあった場合でも異常なくサンプリング
できるようにした点である。
The major problem is that the video signal is as fast as 60nS per dot, and the phase shift between the 16MHz dot frequency basic clock and the video signal varies depending on the individual workpiece.This phase shift can be corrected by using a delay circuit. When adjusting and data sampling, 1 dot 60
The circuit configuration is such that sampling is performed approximately at the center of nS, so that sampling can be performed without abnormality even when there is a jumper or the like.

マタ、マイクロコンピュータにより、検出位置を設定し
、クロックカウンタ、ラスタカウンタにより一致信号を
とり出し、自由に検出位置をとり。
The detection position is set by a microcomputer, the clock counter and raster counter extract a matching signal, and the detection position is freely set.

出すことができるようにしたものである。It was made so that it could be taken out.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

本発明に係るモノクロビデオ信号のインタフェース回路
検査方式の一実施例を、第2図ないし第4図を参照して
説明する。
An embodiment of the monochrome video signal interface circuit testing method according to the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 4.

ここで、第2図は、本発明のモノクロビデオ信号のイン
タフェース回路検査方式の一実施例に供される検査装置
のブロック図、第3図は、そのタイミングチャート図、
第4図は、その初期設定のフローチャート図である。
Here, FIG. 2 is a block diagram of a testing device used in an embodiment of the monochrome video signal interface circuit testing method of the present invention, and FIG. 3 is a timing chart thereof.
FIG. 4 is a flowchart of the initial setting.

図で、2は検査対象パソコン、5はコンパレータ、6は
シフトレジスタ、7はマイクロコンピュータ、8,15
.20はDフリップフロップ、9゜16はRSフリップ
フロップ、10,17はANI)回路、11,18はカ
ウンタ、12.19はレジスタ、13はタップ付ディレ
ーライン、14はマルチプレクサ、21はクロックカウ
ンタ、22はラスタカウンタ、23はNAND回路であ
る。
In the figure, 2 is a personal computer to be tested, 5 is a comparator, 6 is a shift register, 7 is a microcomputer, 8, 15
.. 20 is a D flip-flop, 9° 16 is an RS flip-flop, 10 and 17 are ANI) circuits, 11 and 18 are counters, 12 and 19 are registers, 13 is a tapped delay line, 14 is a multiplexer, 21 is a clock counter, 22 is a raster counter, and 23 is a NAND circuit.

また、24はビデオ信号、25は’I’ T Lビデオ
信号、26はH8ynC信号、27は16Mりoフロツ
ク信号(ディレー)、32はI(SynS信号(16M
クロック同期、ディレー)、33はカウンタゲート、3
4はカウンタクロック、35はカラム設定値、36はラ
スク設定値、37はVSync信号、38はVSync
信号(ディレー)、39はDMA(直接メモリアクセス
制御による転送)tlそれぞれ示すものである。
Also, 24 is a video signal, 25 is an 'I' T L video signal, 26 is an H8ynC signal, 27 is a 16M flow signal (delay), and 32 is an I (SynS signal (16M
clock synchronization, delay), 33 is a counter gate, 3
4 is the counter clock, 35 is the column setting value, 36 is the rask setting value, 37 is the VSync signal, 38 is the VSync
Signal (delay) and 39 indicate DMA (transfer by direct memory access control) tl, respectively.

しかして、上記のDフリップフロップ8,15、肌Sフ
リップフロップ9,16、AND回路10゜17、カウ
ンタ11,18、レジスタ12,19、タップ付ディレ
ーライン13、マルチプレクサ14、などは、ディレー
回路を含むタイミング回路を構成するものである。
Therefore, the D flip-flops 8 and 15, the S flip-flops 9 and 16, the AND circuit 10° 17, the counters 11 and 18, the registers 12 and 19, the tapped delay line 13, the multiplexer 14, etc. are delay circuits. This constitutes a timing circuit including:

そして、本実施例は、パソコンのモノクロビデオ信号の
インタフェース回路検査方式に係るものである。
The present embodiment relates to an interface circuit testing method for a monochrome video signal of a personal computer.

第2図において、まず初期設定として、第1水平期間の
1ドツト目にピラトラたて、水平同期信号から第1ドツ
トまでの時間をカウンタで測定する操作を各検査対象パ
ソコンごとに行い、水平同期信号の立ち上がりから第1
ドツトまでの時間を測定する。
In Fig. 2, as an initial setting, first set the horizontal synchronization at the first dot in the first horizontal period, and measure the time from the horizontal synchronization signal to the first dot using a counter for each PC to be tested. 1st from the rise of the signal
Measure the time to the dot.

この理由としては、2項目おり、一つは、各検査対象パ
ソコンごとに特性が異なるため、毎回初期設定を行い、
自動検査の準備を行うためと、もう一つは、ビデオ信号
と16MHzドツト周波数(画面表示1ドツ)60ns
)の基本クロックに係る1 6MH2(16Mという。
There are two reasons for this; one is that each computer to be tested has different characteristics, so initial settings must be made each time.
One is to prepare for automatic inspection, and the other is the video signal and 16MHz dot frequency (one dot displayed on the screen) for 60ns.
) 16MH2 (referred to as 16M).

)同期信号の位相ずれの補正を行い、1ドツ) 5 Q
 n sのほぼ中央でデータ・サンプリングを行うため
である。
) Corrects the phase shift of the synchronization signal, resulting in 1 dot) 5 Q
This is because data sampling is performed approximately at the center of ns.

次に、その検査装置の回路構成と初期設定とを、あわせ
て説明する。
Next, the circuit configuration and initial settings of the inspection device will be explained together.

′すなわち、まず検査対象パソコン2から出力されるビ
デオ信号24をコンパレータ5でTTLビデオ信号25
に変換し、シフトレジスタ6ヘデータを送る。
'That is, first, the video signal 24 output from the personal computer 2 under test is converted into a TTL video signal 25 by the comparator 5.
and sends the data to the shift register 6.

次に)(Sync (水平同期)信号26’rDフリソ
ゲフロツプ8へ入力し、16Mクロック信号27に同期
したH8ync信号(16Mクロック同期)28を作り
、この)(Sync信号(16Mりoツク同期)28か
らTTLビデオ信号25の立ち上がりまでのパルス幅(
カウンタゲー1−29)tRsフリップフロッグ9で作
シ、そのカウンタゲート29と16Mクロック信号27
と’tAND回路10に入力してカウンタクロック30
を検出し、その信号をカウンタ11でカウント(第4図
のイ、カウント数n)し、レジスタ12で一旦、記憶す
る。
Next, the )(Sync (horizontal synchronization) signal 26' is input to the rD fringe flop 8 to generate the H8sync signal (16M clock synchronization) 28 synchronized with the 16M clock signal 27, and this )(Sync signal (16M clock synchronization) 28 The pulse width from to the rising edge of the TTL video signal 25 (
Counter game 1-29) tRs flip frog 9 is operated, its counter gate 29 and 16M clock signal 27
and 'tAND circuit 10 to output the counter clock 30.
is detected, the counter 11 counts the signal (a, count number n in FIG. 4), and the register 12 temporarily stores it.

これに続いて、最大5QnS、間隔5ns刻みのタップ
付ディレーライン13を用いて、マイクロコンピュータ
7よりマルチプレクサ14をコントロールL、、16M
クロック信号(ディレー)31を得る。
Following this, the microcomputer 7 controls the multiplexer 14 by using a tapped delay line 13 with a maximum of 5 QnS and an interval of 5 ns.
A clock signal (delay) 31 is obtained.

すなわち、第4図の口に示すように、タップLの逐次切
替えにより5ns刻みディレー処置を行って、16Mク
ロック信号(ディレー)31を得るものである。
That is, as shown at the beginning of FIG. 4, a 16M clock signal (delay) 31 is obtained by performing delay processing in 5 ns increments by sequentially switching the tap L.

次に、この16Mクロック信号(ディレー)31に同期
したI(SynC信号(16Mクロック同期、ディレー
)32を取り出すために、Dフリップフロップ15を設
け、前記した回路と同様に、H8:yne信号(16M
クロック同期、ディンー勺32の立ち上がシから、TT
Lビデオ信号25の立ち上がシまでのパルス幅(カウン
タゲート33)を、RSフリツズフロツプ16で作り、
そのカウンタゲート33゛と16Mクロック信号(ディ
レー)3′1とを、AND回路17に入プル、カウンタ
クロック34を検出する。
Next, in order to take out the I (SynC signal (16M clock synchronization, delay)) 32 synchronized with this 16M clock signal (delay) 31, a D flip-flop 15 is provided, and similarly to the circuit described above, the H8:yne signal ( 16M
Clock synchronization, from the start-up of Din-English 32, TT
The pulse width (counter gate 33) up to the rising edge of the L video signal 25 is created by the RS fritz flop 16,
The counter gate 33' and the 16M clock signal (delay) 3'1 are pulled into the AND circuit 17, and the counter clock 34 is detected.

そして、その信号をカウンタ18でカウント(第4図の
ハ、カウント数m)し、レジスタ19で記憶するように
するものでおる。
Then, the signal is counted by a counter 18 (c, count number m in FIG. 4) and stored in a register 19.

その後、さきのレジスタ12と前記レジスタ19とのデ
ータを、マイクロコンピュータ7で比較(第4図の二)
シ、後者のカウント数mが前者のカウント数nより1カ
ウント少なくなるまでディレー量を増加していくもので
ある(第4図のN1の経路)。
After that, the microcomputer 7 compares the data in the previous register 12 and the register 19 (Figure 4, 2).
The delay amount is increased until the latter count number m becomes one count less than the former count number n (route N1 in FIG. 4).

この操作を行い、カウント数が1少なくなったとき、デ
ィレー量増加を止め、予め用意した条件、(例えば、1
0nS遅らせた時点で1カウント減少したので、第4図
のホに示すように、あと25ns遅らせる、など)によ
り、マイクロコンピュータのソフトウェアでマルチプレ
クサ14の制御を行い、ディレー量をコントロールし4
、TTLビデオ信号25の画面表示1ドツト約60ns
のほぼ中央でタイミングがとれるようにする。これを示
すのが第3図Cである。
When this operation is performed and the count decreases by 1, the increase in the delay amount is stopped and the condition prepared in advance (for example, 1
Since the count decreased by 1 when the delay was delayed by 0 ns, the multiplexer 14 was controlled by the microcomputer software to control the amount of delay.
, TTL video signal 25 screen display 1 dot approximately 60ns
Try to get the timing to be approximately in the center of the This is shown in FIG. 3C.

なお、第4図ホで、(十+25 n sディレーという
のは、タップ数t≦5(第4図の二までのディレー量が
5以下、すなわち5nSから25nsまで)の場合に、
さらに5タツプ、すなわち25n’Se遅らぜることを
示すものである。
In addition, in Fig. 4 E, (10+25 ns delay) means when the number of taps t≦5 (the delay amount up to 2 in Fig. 4 is 5 or less, that is, from 5 ns to 25 ns),
An additional 5 taps, or 25n'Se delay is shown.

これにより、各ドツトごとにデータサンプリングができ
るようになり、ビデオ信号にジッタなどがあった場合で
も、余裕をもって検出できるようなタイミング構成にな
っているものである。
This makes it possible to sample data for each dot, and the timing structure is such that even if there is jitter in the video signal, it can be detected with ample margin.

なお、データサンプリングする場合、サンプリング速度
を高速にして行う方法があるが、基本クロックが16M
H2であり、これ以上の高周波を扱うとなるとT T 
L回路では無理となり、以上説明した方式が必要となっ
たものである。
When sampling data, there is a method of increasing the sampling speed, but if the basic clock is 16M
H2, and when dealing with higher frequencies T T
This was not possible with an L circuit, and the method described above became necessary.

次に、上記の初期設定が完了したら、どの位置を検出す
るかの点について説明する。
Next, when the above-mentioned initial settings are completed, which position should be detected will be explained.

すなわち、ソフトウェアによって、第2図に示すごとく
、マイクロコンピュータ7よシカラム設定値35.ラス
タ設定値3Gの設定を行い、カラム位置検出の場合、ク
ロックカウンタ21で16Mクロック(ディレー)31
をカラン)・シ、HS y ” C信号(16Mクロッ
ク同期、ディレー)32でリセツトヲかける構成になっ
ており、予め設定したカラム位置を検出する。
That is, as shown in FIG. 2, the software controls the microcomputer 7 to set the column setting value 35. Set the raster setting value 3G, and in the case of column position detection, use the clock counter 21 to 16M clocks (delay) 31
The configuration is such that a reset is performed using the HS y "C signal (16M clock synchronization, delay) 32, and a preset column position is detected.

また、ラスタ位置検出は、ラスタカウンタ22でf(S
ync信号(16Mクロック同期、ディレー)32をカ
ウントし、VSync (垂直同期)信号(ディレー)
38でリセットをかける構成になっており、予め設定し
たラスタ位置な検出する。
Furthermore, raster position detection is performed using the raster counter 22 at f(S
ync signal (16M clock synchronization, delay) 32 counts, VSync (vertical synchronization) signal (delay)
The configuration is such that a reset is applied at step 38, and a preset raster position is detected.

なお、VSync信号(ディレー)38は、16Mクロ
ック信号(ディレー)31に同期したVS y n c
信号37′f:得るために、1〕フリツグフロツプ20
へ入力して得られたものである。
Note that the VSync signal (delay) 38 is a VSync signal (delay) synchronized with the 16M clock signal (delay) 31.
Signal 37'f: To obtain 1] flip-flop 20
This is what was obtained by inputting it into .

このカラム、ラスタ検出値と16Mクロック信号(ディ
レー)31をNAND回路23に入力し、シフトレジス
タ6、高速データ転送のためのDMA39にクロックを
与え、検出データをマイクロコンピュータ7に取り込む
ものでちる。
This column, raster detection value and 16M clock signal (delay) 31 are input to the NAND circuit 23, clocks are applied to the shift register 6 and DMA 39 for high-speed data transfer, and the detection data is taken into the microcomputer 7.

そして、その検出データと予めマイクロコンピュータ7
のメモリ内に格納されている基準値と比較して、合否の
判定を行うものである。
Then, the detection data and the microcomputer 7
Pass/fail judgment is made by comparing with reference values stored in the memory of

このようにして、1ドツト(iQnsという高速で、し
かも、ビデオ信号と16MHz同期信号との間に位相差
があり、タイミングがとれないという信号の波形検査を
、ディレーライン、マルチプレクサなどのタイミング補
正回路を用いて、1ドツト60I]Sのほぼ中央でデー
タサンプリングがとれるようにし、さらに、マイクロコ
ンピュータにより、“これらの制御を行い、高速で高信
頼性の自動検査方式が可能となったものである。
In this way, the signal waveform can be inspected at a high speed of 1 dot (iQns), and there is a phase difference between the video signal and the 16 MHz synchronization signal, making it difficult to get the timing right. This system was used to enable data sampling to be taken approximately at the center of one dot (60I]S, and a microcomputer was used to control these processes, making a high-speed, highly reliable automatic inspection method possible. .

しかして、上記実施例に係るものは、・くノコンのモノ
クロビデオ信号のインタフェース回路検査方式に係るも
のであるが、本発明は、上記以外のもののモノクロビデ
オ信号のインタフェース回路検査方式として汎用的なも
のである。
Therefore, the above embodiment relates to an interface circuit testing method for a monochrome video signal of Kunokon, but the present invention is a general-purpose method for testing an interface circuit for a monochrome video signal other than the above. It is something.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、モノクロビデオ
信号のインタフェース回路検査の自動化が可能となり、
従来の目視検査による欠点を解消でき、高信頼性と高速
な検査方式が可能となったもので、実用的にすぐれた効
果を奏する発明ということができる。
As explained above, according to the present invention, it is possible to automate the interface circuit inspection of monochrome video signals.
This invention can overcome the drawbacks of conventional visual inspection and enable a highly reliable and high-speed inspection method, and can be said to be an invention that has excellent practical effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来のモノクロビデオ信号のインタフェース
回路検査方式に供される検査装置の略示ブロック図、第
2図は、本発明のモノクロビデオ信号のインタフェース
回路検査方式の一実施例に供される検査装置のブロック
図、第3図は、そのタイミングチャート図、第4図は、
その初期設定のフローチャート図である。 2・・・検査対象パソコン、5・・・コンノくし〜り、
6・・シフトレジスタ、7・・・マイクロコンピュータ
、8゜15.20・・・Dフリップフロップ、9,16
・・・RSフリップフロップ、10,17・・・AND
回路、11.18・・・カウンタ、12.19・・・レ
ジスタ、13・・・タップ付ディレーライン、14・・
・マルチプレクサ、21・・・クロックカウンタ、22
・・・ラスタカウンタ、23・・・NAND回路、24
・・・ビデオ信号、25−TTLビデオ信号、26−A
5ync信号、27−16Mクロック信号、2B−H8
ync信号(16Mクロック同期)、29・・・カウン
タゲート、30・・・カウンタクロック、31・・16
Mクロック信号(ディレー)、32・・・H8y n 
C信号(16Mクロック同期、ディレー)、33・・・
カウンタゲート、34・・・カウンタクロック、35・
・・カシム設定値、36・・・ラスタ設定値、37・・
・VS ync信号、38・・・■5ynC信号(ディ
レー)、39・・1) M A 0 代理人 弁理士 福田幸作 (ほか1名) 芥1 目 茅 2 目 茅3 口 、 UU凹り一一一一一 2J41
FIG. 1 is a schematic block diagram of a testing device used in a conventional monochrome video signal interface circuit testing method, and FIG. 2 is a schematic block diagram of a testing device used in an embodiment of the monochrome video signal interface circuit testing method of the present invention. FIG. 3 is a block diagram of the inspection equipment, and FIG. 4 is a timing chart thereof.
It is a flowchart figure of the initial setting. 2...PC to be tested, 5...Kono Kushiri,
6...Shift register, 7...Microcomputer, 8゜15.20...D flip-flop, 9,16
...RS flip-flop, 10, 17...AND
Circuit, 11.18... Counter, 12.19... Register, 13... Delay line with tap, 14...
・Multiplexer, 21...Clock counter, 22
... Raster counter, 23 ... NAND circuit, 24
...Video signal, 25-TTL video signal, 26-A
5ync signal, 27-16M clock signal, 2B-H8
ync signal (16M clock synchronization), 29... Counter gate, 30... Counter clock, 31...16
M clock signal (delay), 32...H8y n
C signal (16M clock synchronization, delay), 33...
Counter gate, 34... Counter clock, 35.
...Kasim setting value, 36...Raster setting value, 37...
・VS sync signal, 38...■5ynC signal (delay), 39...1) M A 0 Agent Patent attorney Kosaku Fukuda (and 1 other person) 1 seed 2 eyes 3 mouth, UU dent 11 1112J41

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、モノクロビデオ信号をTTLビデオ信号に変換し、
そのTTLビデオ信号と、16MHzドツト周波数(画
面表示1ドツ)60nS)の基本クロックとの位相ずれ
を、ディレー回路を含むタイミング回路によりタイミン
グ補正を行うようにし、これにより上記ビ°デオ信号と
基本クロックとの位相のずれた信号を含め、TTLビデ
オ信号の1ドツ)60nSのほぼ中央でサンプリングを
可能として検査するようにしたことを特徴とするモノク
ロビデオ信号のインタフェース回路検査方式。 2、特許請求の範囲第1項記載のものにおいて、タイミ
ング補正を行うようにし、マイクロコンビーータにより
、画面の検出位−を設定し、り・ツクカウンタ、ラスタ
カウンタなどにより一致信号を取り出し、自由に検出位
置を設定可能とし、取り出したデータを、ソフトウェア
により予め用意した基準値と比較して良否を判定し、検
査するようにしたものであるモノクロビデオ信号のイン
タフェース回路検査方式。
[Claims] 1. Converting a monochrome video signal to a TTL video signal,
A timing circuit including a delay circuit corrects the phase difference between the TTL video signal and the basic clock with a 16 MHz dot frequency (1 dot displayed on the screen, 60 nS). 1. A monochrome video signal interface circuit testing method, characterized in that sampling is possible at approximately the center of 60 nS of a TTL video signal, including signals out of phase with the TTL video signal. 2. In the device described in claim 1, timing correction is performed, a detection position of the screen is set by a microconbeater, and a coincidence signal is extracted by a rip counter, a raster counter, etc. An interface circuit testing method for monochrome video signals in which the detection position can be freely set and the extracted data is compared with a reference value prepared in advance by software to determine pass/fail.
JP58137814A 1983-07-29 1983-07-29 Interface circuit inspection system for monochromatic video signal Pending JPS6029781A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58137814A JPS6029781A (en) 1983-07-29 1983-07-29 Interface circuit inspection system for monochromatic video signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58137814A JPS6029781A (en) 1983-07-29 1983-07-29 Interface circuit inspection system for monochromatic video signal

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6029781A true JPS6029781A (en) 1985-02-15

Family

ID=15207476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58137814A Pending JPS6029781A (en) 1983-07-29 1983-07-29 Interface circuit inspection system for monochromatic video signal

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6029781A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2733746B2 (en) Logic signal display method
TWI442241B (en) Data Synchronization System and Method for Multi - measure Instrument
EP0113393B1 (en) A self-clocked signature analyser
US7318002B2 (en) Method and apparatus for automated testing of display signals
US4894718A (en) Method and system for testing video
US10353917B2 (en) Method and apparatus for analyzing a transmission signal
KR100356725B1 (en) Semiconductor test device
JPH08146099A (en) Timing edge forming circuit of semiconductor ic tester
JPS6029781A (en) Interface circuit inspection system for monochromatic video signal
US4833397A (en) Tester for verification of pulse widths in a digital system
US6449738B1 (en) Apparatus for bus frequency independent wrap I/O testing and method therefor
US20010007972A1 (en) Method and apparatus for verifying adequacy of test patterns
US4799023A (en) Circuits and apparatus which enable elimination of setup time and hold time testing errors
CN116087579B (en) High-precision program-controlled digital time sequence waveform generating device
US6928374B2 (en) Methods for displaying jitter and other anomalies in long acquisition data records
EP0235250A1 (en) Harmonic sampling logic analyzer
JPS642180A (en) Testing method for graphic picture
JP2002350502A (en) Semiconductor testing apparatus
JPS59112375A (en) Hard copy device
SU744580A1 (en) Logic circuit testing device
JP2944307B2 (en) A / D converter non-linearity inspection method
CN114924614A (en) Multi-board output signal synchronization method and device
JPS60229092A (en) Operation inspector for display control circuit
JPH07336730A (en) Image sampling device
JPH07104030A (en) Time measuring circuit