JPS60258514A - Optical apparatus for microscope - Google Patents

Optical apparatus for microscope

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Publication number
JPS60258514A
JPS60258514A JP23868184A JP23868184A JPS60258514A JP S60258514 A JPS60258514 A JP S60258514A JP 23868184 A JP23868184 A JP 23868184A JP 23868184 A JP23868184 A JP 23868184A JP S60258514 A JPS60258514 A JP S60258514A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
beam path
optical
main beam
microscope
deflection element
Prior art date
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Pending
Application number
JP23868184A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
ゲオルク・ニコラウス・ニマン
フエルデイナント・パウリニー
クラウス・ペーター・シンドル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
C Reichert Optische Werke AG
Original Assignee
C Reichert Optische Werke AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by C Reichert Optische Werke AG filed Critical C Reichert Optische Werke AG
Publication of JPS60258514A publication Critical patent/JPS60258514A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0092Polarisation microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、顕微鏡用光学装置に関し、詳細には、顕微鏡
の対物レンズおよび観察筒が配置された主ビーム路と、
主ビーム路の一部の代わりに顕微鏡の対物レンズと観察
筒との間に選択的に介在できる附加補助ビーム路と、主
ビーム路と補助ビーム路を選択するよう主ビーム路内に
挿入できかつ主ビーム路より取出しできる光学偏向素子
から成り、補助ビーム路が各々ビームを偏向する少なく
ともSl、第2および第3光学面から成り、第3光学面
は補助ビーム路を観察筒内に偏向する顕微鏡用光学装置
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an optical device for a microscope, and in particular, a main beam path in which an objective lens and an observation tube of the microscope are arranged;
An additional auxiliary beam path that can be selectively interposed between the objective lens and the observation tube of the microscope instead of a part of the main beam path, and an additional auxiliary beam path that can be inserted into the main beam path to select between the main beam path and the auxiliary beam path. The microscope comprises an optical deflection element that can be taken out from the main beam path, and the auxiliary beam path consists of at least Sl, a second and a third optical surface each deflecting the beam, the third optical surface deflecting the auxiliary beam path into the observation tube. The present invention relates to an optical device for use.

[従来の技術] このタイプの光学装置は、オーストリア特許第333.
052号に例示されている。この特許明細書において、
光学主ビーム路(主光学軸)から光学偏向素子が除去さ
れているとき補助ビーム路が形成され、一方光学偏向素
子が光学主ビーム路内に挿入されているとき顕微鏡の対
物レンズからビームは直接観察筒内に偏向される。従っ
て、補助ビーム路は第1光学面により偏向されるまで顕
微鏡の対物レンズの光軸と整合しており、それまでの間
一般に垂直にのびる。次にビームを偏向する3つの光学
面は、補助ビーム路が観察筒に進入する主ビーム路と最
終的に一致するよう補助ビーム路を偏向する。オースト
リア特許第333゜052又はその対応米国特許第3,
924゜926号明細書によれば、補助ビーム路が最初
に偏向される前に補助ビーム路内に物体面の少なくとも
一つの像又は物体面の少なくとも−っの像および対物レ
ンズの射出ひとみの像が位置し、これら像のうちの一つ
の近くに偏光を制御する少なくとも一つの素子が設けら
れる。このような装置の利点は、偏光を妨害するような
すべての光学素子がなくなることにある。
[Prior Art] An optical device of this type is disclosed in Austrian Patent No. 333.
An example is given in No. 052. In this patent specification,
When the optical deflection element is removed from the main optical beam path (main optical axis), an auxiliary beam path is formed, whereas when the optical deflection element is inserted into the optical main beam path, the beam from the objective lens of the microscope is directly It is deflected into the observation tube. The auxiliary beam path is thus aligned with the optical axis of the microscope objective until it is deflected by the first optical surface and extends generally vertically until then. The three beam-deflecting optical surfaces then deflect the auxiliary beam path so that it finally coincides with the main beam path entering the observation tube. Austrian Patent No. 333°052 or its counterpart U.S. Patent No. 3,
According to No. 924/926, at least one image of the object plane or at least one image of the object plane and an image of the exit pupil of the objective is provided in the auxiliary beam path before the auxiliary beam path is first deflected. are located and at least one element for controlling polarization is provided near one of these images. The advantage of such a device is that all optical elements that would interfere with polarization are eliminated.

偏光顕微鏡技術は、技術は2つの異なる観察法、すなわ
ちオルソスコープ観察法とコノスコープ観察法を基本的
に区別する。オルソスコープ観察法は、とりわけ岩石の
薄断面すなわち層の形状1粒度分布、色構造および粒子
境界を偏光した光により検査する方法であり、一方オル
ソスコープ法により発見された結晶粒のコノスコープ観
察法は、対物レンズの射出ひとみで生じた干渉現象を観
察する方法である。このような云わゆる光軸干渉法は、
結晶の軸数、軸角度およびその他の光学的性質の測定を
可能とする。この光軸干渉を表示するには、まず当該粒
子の薄断面を偏光した光で検査する。次に使用大径対物
レンズの射出ひとみに合焦され、中心に配置されたビー
ム路内に合焦可能な補助レンズすなわちベルトランド(
Bertrand)レンズを置き、必要であればピンホ
ール絞りにより粒子をアイソレートし、得られる干渉パ
ターンを観察する。
Polarized light microscopy technology basically distinguishes between two different observation methods: orthoscopic observation and conoscopic observation. Orthoscope observation is a method in which the thin cross-sections of rocks, i.e. the shape of layers, grain size distribution, color structure and grain boundaries, are examined using polarized light, while conoscopic observation of crystal grains discovered by orthoscopy is a method of is a method of observing interference phenomena occurring at the exit pupil of an objective lens. This so-called optical axis interferometry is
Enables measurement of crystal axis number, axis angle, and other optical properties. To display this optical axis interference, first examine a thin cross section of the particle using polarized light. It is then focused into the exit pupil of the large diameter objective used, and is focusable into the centrally located beam path by an auxiliary lens or Bertrand (
Bertrand) lens, isolate the particles with a pinhole aperture if necessary, and observe the resulting interference pattern.

[発明が解決しようとする問題点」 公知のライベル) (R6ichert)の顕微鏡ツエ
トパンΦポール・トゥブス(Zetopan Pal 
Tubus)型は単眼観察筒内に合焦可能なベルトラン
ドレンズを有し、このレンズは光学的に正しい点に位置
し、ビーム路の内外へ移動できるようになっている。
[Problems to be solved by the invention] Microscope Zetopan Φ Paul Toubs (R6ichert)
The Tubus type has a focusable Bertrand lens in the monocular viewing tube, which is positioned at an optically correct point and can be moved in and out of the beam path.

従って、この場合オルソスコープ観察法から短時間でコ
ノスコープ観察法へ切替えることができる。しかしなが
ら単眼観察筒の長さおよび外周はかなり大きくなってお
り、とりわけ単眼式の顕微鏡でしか可能でなく、双眼式
顕微鏡では不可能である。
Therefore, in this case, it is possible to switch from the orthoscope observation method to the conoscope observation method in a short time. However, the length and circumference of the monocular observation tube are quite large, which is only possible in particular with monocular microscopes, and not with binocular microscopes.

双眼観察筒を有する公知のライフの顕微鏡オルトプラン
・ポール(Orthoplan Po1)型では、顕微
鏡の主ビーム路が傾斜双眼観察筒内に偏向する前に主ビ
ーム路の内外へとベルトランドレンズおよび絞りが移動
できるようになっている。しかしながらここでは、ベル
トランドレンズおよび絞りの光学的位置に関して明らか
に妥協がなされており。
In the known Orthoplan Po1 type Rife microscope with a binocular tube, a Bertrand lens and an aperture are inserted into and out of the main beam path of the microscope before the main beam path of the microscope is deflected into the inclined binocular tube. It is possible to move. However, here a clear compromise has been made regarding the optical position of the Bertrand lens and the aperture.

顕微鏡の全高もかなり高くなっている。The overall height of the microscope is also quite high.

本発明の目的は、数種の異なる観察法、特にオルソスコ
ープ観察法とコノスコープ観察法に適した光学装置を提
供することにある。
The aim of the invention is to provide an optical device suitable for several different observation methods, in particular orthoscope and conoscopic observation methods.

本発明の別の目的は、全高が低くても、コメスコープ観
察用の光学素子が光学的に正しい位置にある装置を提供
するにある。
Another object of the present invention is to provide an apparatus in which the optical element for cometoscope observation is in an optically correct position even if the overall height is low.

本発明の更に別の目的は、単眼観察筒又は同様に双眼観
察筒内の使用に適した装置を提供することにある。
A further object of the invention is to provide a device suitable for use in a monocular viewing tube or likewise in a binocular viewing tube.

[問題点を解決するための手段及び作用効果]上記目的
は本発明により達成される。すなわち、玉記の光学装置
の光学主ビーム路内に光学偏向素子を挿入すると、顕微
鏡の対物レンズからのヒームは横方向に偏向されて補助
ビーム路に進入することおよびベルトランドレンズおよ
びこのベルトランドレンズと協働する視野制限素子、好
ましくは、アイリス絞りが光学偏向素子と第3光学面と
の間に設けられるからである。
[Means and effects for solving the problems] The above objects are achieved by the present invention. That is, when an optical deflection element is inserted into the main optical beam path of the Yuki optical device, the beam from the objective lens of the microscope is laterally deflected into the auxiliary beam path and the Bertrand lens and this Bertrand This is because a field-limiting element, preferably an iris diaphragm, cooperating with the lens is provided between the optical deflection element and the third optical surface.

本発明に係る装置では、ベルトランドレンズおよび視野
制限素子は顕微鏡の主ビーム路の内外へは移動できず、
主ビーム路の対応部分に代わって光学偏向素子を変位さ
せるだけで選択できる補助ビーム路内に固定的に配置さ
れる。しかしながら、補助ビーム路は垂直方向に主延長
部を有していないが、水平方向ないし横方向に主要延長
部を有しているので、ベルトランドレンズおよびそれに
協働する絞りが正しい光学位置にあっても全高は低く維
持される。
In the device according to the invention, the Bertrand lens and the field-limiting element cannot be moved into or out of the main beam path of the microscope;
It is fixedly arranged in an auxiliary beam path which can be selected by simply displacing the optical deflection element in place of the corresponding part of the main beam path. However, the auxiliary beam path does not have a main extension in the vertical direction, but has a main extension in the horizontal or lateral direction, so that the Bertrand lens and its cooperating diaphragm are in the correct optical position. However, the overall height remains low.

好ましくは、ベルI・ランドレンズは光学偏向素子と第
1光学面との間に位置し、ベルトランドレンズと協働す
る視野制限素子は第2光学面と第3光学面との間に位置
する。こうして補助ビーム路の横方向延長部も比較的短
くされる。
Preferably, the Bell I-Rand lens is located between the optical deflection element and the first optical surface, and the field-limiting element cooperating with the Bertrand lens is located between the second optical surface and the third optical surface. . The lateral extension of the auxiliary beam path is thus also made relatively short.

好ましくは、異なる顕微鏡と対物レンズに合わせるよう
ベルトランドレンズのみならず第1および第2光学面は
、ビーム路に沿って変位自在とし、視野制限素子の位置
は変わらないようにする。
Preferably, the Bertrand lens as well as the first and second optical surfaces are movable along the beam path to accommodate different microscopes and objectives, leaving the position of the field-limiting element unchanged.

本発明の別の実施例では、主ビーム路と補助ビーム路を
選択する光学偏向素子が第3光学面と共に主ビーム路内
に挿入できかつ主ビーム路より取出しできるようになっ
ている。このため例えば、2つの反射面を有する三角(
生立方体)プリズムを使って、これを主ビーム路の内外
へ移動できる。このような構造は、互いに別々の2つの
ミラー(一つは偏向素子を形成するよう内外へ移動でき
る全反射ミラーで他方は、固定半透明ミラーである)を
使った装置よりもより利点が多い。
In a further embodiment of the invention, an optical deflection element for selecting the main beam path and the auxiliary beam path can be inserted into and removed from the main beam path together with the third optical surface. For example, a triangle with two reflective surfaces (
This can be moved in and out of the main beam path using a living cube) prism. Such a structure has many advantages over devices using two separate mirrors: one totally reflective mirror that can be moved in and out to form a deflection element, and the other a fixed semi-transparent mirror. .

主ビーム路と補助ビーム路を選択する光学偏向素子およ
び第3光学面を除去して主ビーム内に異なる観察方法を
行うための別の光学素子を挿入できれば更にこの装置の
汎用性が高まる。例えば、分割ミラーを使えば、すべて
の入射光方法(干渉コントラスト法、偏光法、高輝度視
界法)が実施できる。
If the optical deflection element for selecting the main beam path and the auxiliary beam path and the third optical surface can be removed and another optical element for performing different observation methods can be inserted into the main beam, the versatility of this apparatus can be further increased. For example, all incident light methods (interference contrast method, polarization method, bright field method) can be implemented using split mirrors.

本発明に係る光学装置を実際に利用するため、本発明に
よれば顕微鏡の対物レンズと観察筒との間の主ビーム路
に隣接して取付けできる細長い支持部材と、光学偏向素
子と第3光学面から成り、王ビーム路に対して横方向に
支持部材に沿って主ビーム路の内外へ移動自在な第1光
学系と(好まり、 <は三角プリズム)第1および第2
光学面から成り、支持部材に沿って変位できるよう支持
部材の一端に向って取付けられた第2光学系と、光学偏
向素子と第1光学面との間のビーム路内にて支持部材に
変位自在に取付けられたベルトランドレンズと、第2光
学面と第3光学面との間のビーム路に沿う支持部材に取
付けられたベルトランドレンズと協働する固定視野制限
素子とから成り、第2光学系とベルトランドレンズは、
長さおよびピッチの異なる2つの相互に接続されたスピ
ンドルにより支持部材の前記一端に設けられた一つの回
転ノブより同時に駆動され、細長い支持部材の他端に第
1光学系を変位させる作動手段が設けられた装置も提供
される。
In order to use the optical device according to the invention in practice, the invention provides an elongated support member which can be mounted adjacent to the main beam path between the objective lens and the observation tube of the microscope, an optical deflection element and a third optical element. a first optical system (preferably < is a triangular prism), which comprises a surface and is movable in and out of the main beam path along a support member transversely to the main beam path;
a second optical system comprising an optical surface and mounted towards one end of the support member such that it can be displaced along the support member; and a second optical system that is displaceable along the support member in the beam path between the optical deflection element and the first optical surface. a second optical surface comprising a freely mounted Bertrand lens and a fixed field-limiting element cooperating with the Bertrand lens mounted on a support member along the beam path between the second optical surface and the third optical surface; The optical system and Bertrand lens are
Actuation means are actuated simultaneously by two interconnected spindles of different lengths and pitches from a rotary knob provided at said one end of the support member to displace the first optical system at the other end of the elongated support member. An apparatus is also provided.

このタイプの装置は、双限観察筒又は写真撮影用筒とW
J微鏡の対物レンズとの間の中間筒として挿入できる附
加ユニットとして設計できる。しかしながらこの種の装
置は、デュアルレフレックスプリズムの代わりにテレフ
ォトレンズの上に設置するビルトイン又はビルトオンシ
ステムとして又は照明モジュールの代わりに使用するブ
ツシュインユニットとしても設計できる。
This type of device consists of a double-limited observation tube or a photography tube and a W
It can be designed as an additional unit that can be inserted as an intermediate tube between the objective lens of the J microscope. However, a device of this type can also be designed as a built-in or built-on system for installation on a telephoto lens instead of a dual reflex prism or as a bush-in unit for use instead of a lighting module.

この装置は、横方向にがなりコンパクトになるばかりで
なく、ベルトランドレンズおよび第1および第2光学面
が変位できなくても異なる顕微鏡レンズに合わせてベル
トランドレンズを合焦させる単一回転ノブにより簡単な
操作が保証される。
This device not only flexes laterally and becomes more compact, but also features a single rotating knob that focuses the Bertrand lens to suit different microscope lenses even though the Bertrand lens and the first and second optical surfaces cannot be displaced. This ensures easy operation.

無限大よりも近くに補正された対物レンズに対しては、
変位長さが短いので移動量を線型近似できるが、無限大
に補正された対物レンズに対しては、固定中間像のため
にバ・ルトランドレンズはいかなる場合でも第1および
第2光学面の距離の倍だけ移動しなければならない。
For an objective lens corrected closer than infinity,
Since the displacement length is short, the amount of movement can be approximated linearly, but for an objective lens corrected to infinity, the Bartland lens always has a fixed intermediate image, so that the first and second optical surfaces are It must travel twice the distance.

好ましくは、第1光学系が主ビーム路の外に移動してい
るとき作動手段により主ビーム路の内に移動できる別の
光学素子を支持部材の他端に取付けることができる。
Preferably, a further optical element can be mounted at the other end of the support member, which can be moved into the main beam path by actuating means when the first optical system is moved out of the main beam path.

本発明の上記以外の利点、細部および特徴は、添附図面
に示した次の好ましい態様の説明から明らかとなろう。
Further advantages, details and features of the invention will become apparent from the following description of preferred embodiments, which are illustrated in the accompanying drawings.

[実施例] 細長い支持体10は、ダブテイル状のガイド11を担持
し、このダブテイル状ガイド11には、生立方体状のプ
リズム16から成る第1光学系12が変位自在に取付け
られており、プリズム16はダブテイ舟状ガイドll上
に直接載量されたホルダ14上に設けられている。生立
方体プリズム16は2つの反射面を有し、そのうちの一
つの反射面18は主ビーム路20内のビームを補助ビー
ム路22内に偏向する光学偏向素子を形成する。
[Example] The elongated support 10 carries a dovetail-shaped guide 11, and a first optical system 12 consisting of a living cube-shaped prism 16 is displaceably attached to the dovetail-shaped guide 11. 16 is mounted on a holder 14 which is placed directly on the dovetail boat guide II. The living cube prism 16 has two reflective surfaces, one of which, 18 , forms an optical deflection element that deflects the beam in the main beam path 20 into the auxiliary beam path 22 .

図面中で主ビーム路20の外にある第1光学系12が主
ビーム路20内に位置すると、偏向が生じる。第1光学
系12はロッド24を介してこの第1光学系12に接続
され、外部より作動できる作動手段23によりこの位置
に移動できる。
If the first optical system 12, which is outside the main beam path 20 in the drawing, is located inside the main beam path 20, a deflection occurs. The first optical system 12 is connected to this first optical system 12 via a rod 24 and can be moved into this position by actuating means 23 which can be actuated from the outside.

補助ビーム路22内の同じダブテイル状ガイド11には
、ベルトランドレンズ26が同様に変位自在に取付けら
れており、このレンズ26の位置は支持体10の外に設
けられた回転ノブ30によりねじ切りされたスピンドル
28上に精密に固定できる。又ダブテイ舟状ガイドll
上に同様にガイドされた第2光学系32は、同じ回転ノ
ブ30により中空スピンドル上で調節自在であり、この
中空スピンドルは、ねじ切りされたスピンドル28上に
取付けられ、異なるネジピッチを有している。第2光学
系は2つの光学ミラー36゜38を有し、これらミラー
はホルダ34に固定されており、ミラー36は補助ビー
ム路22を上方に偏向する第1光学面として作用し、ミ
ラー38は、補助ビーム路22を第1光学系12に戻す
よう偏向する第2光学面として作用する。第1光学系1
2への通路内にはアイリス絞り40が固定されている。
A Bertrand lens 26 is likewise displaceably mounted on the same dovetail guide 11 in the auxiliary beam path 22, the position of which can be adjusted by means of a rotary knob 30 provided outside the support 10. It can be precisely fixed on the spindle 28. Dovetail boat-shaped guide ll
A second optical system 32, similarly guided above, is adjustable on a hollow spindle by means of the same rotary knob 30, which hollow spindle is mounted on the threaded spindle 28 and has different thread pitches. . The second optical system has two optical mirrors 36, 38, which are fixed to the holder 34, the mirror 36 acting as a first optical surface for deflecting the auxiliary beam path 22 upwards, and the mirror 38 , acts as a second optical surface that deflects the auxiliary beam path 22 back into the first optical system 12. First optical system 1
An iris diaphragm 40 is fixed in the passage to 2.

このアイリス絞り40の代わりにビーム路の内外へ移動
されるピンホール絞りを設けることも可能である。第3
光学面を形成する生立方体プリズム16の上部反射面は
補助ビーム路22内のビームを上方に偏向するので、第
1光学系12が主ビーム路20内に位置するときビーJ
1は双眼wi察筒に導かれる主ビーム路20に進入する
Instead of this iris diaphragm 40, it is also possible to provide a pinhole diaphragm that can be moved into and out of the beam path. Third
The upper reflective surface of the living cubic prism 16 forming an optical surface deflects the beam in the auxiliary beam path 22 upwards, so that when the first optical system 12 is located in the main beam path 20 the beam J
1 enters the main beam path 20 guided by the binocular wi detector tube.

更に第2光学系32に対して支持体10の反対側には第
3光学系41が設けられている。この第3光学系41も
同様にダブテイル状ガイドll上に変位自在に取付けら
れ、第1光学系12が主ビーム路20から外へ移動して
いるときロッド42および作動手段46により主ビーム
路20の中へ移動される。この第3光学系41は中性色
の分割ミラー、暗視野リングミラー、グイクロイックミ
ラー、入射光偏光子又は検光子にすることができるので
、異なる観察法を実施でき、とりわけ別々の観察法を短
時間で変えることが保証される。しかしながらそのうち
でも主ビーム路20内に第1光学系12を配置しなけれ
ばならないコノスコープ観察法と主ビーム路20の外に
光学系12を配置しなければならないオルソスコープ観
察法との切替が容易である。
Furthermore, a third optical system 41 is provided on the opposite side of the support body 10 with respect to the second optical system 32. This third optical system 41 is likewise displaceably mounted on the dovetail-shaped guide ll, and when the first optical system 12 is moved out of the main beam path 20, the rod 42 and the actuating means 46 will be moved into the . This third optical system 41 can be a neutral color splitting mirror, a dark-field ring mirror, a gicroic mirror, an incident light polarizer or an analyzer, so that different observation methods can be carried out, in particular separate observation methods. guaranteed to change in a short time. However, it is easy to switch between the conoscope observation method, which requires the first optical system 12 to be placed within the main beam path 20, and the orthoscope observation method, which requires the optical system 12 to be placed outside the main beam path 20. It is.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明に係る装置を示す側面図、第2図は第
1図に示した装置の平面図、第3図は第1図に示した装
置の端面図である。 12・・・第1光学系、16・・・光学偏向素子。 20・・・主ビーム路、 22・・・補助ビーム路。 26・・・ベルトランドレンズ。 32・・・第2光学系、 40・・・アイリス絞り。 41・・・第3光学系。 出願人 ラニー・ライヘルド・オプティッシェ・つ゛エ
ルグ・アーゲー 代理人 弁理士 加藤 朝道 手続補正書(自発) 昭和60年2月12日 特許庁長官 志 賀 学 殿 1、事件の表示 昭和59年特許W4第238681号 (昭和59年11月14日 出願) 2、発明の名称 顕微鏡用光学装置 3、補正をする者 特許出願人 氏名 ラニー・ライヘルド・オプティッシェφつ′エル
ケ番アーゲー 4、代理人 5、補正命令の日付 自発 6、補正により増加する発明の数 なし7、補正の対象 図面の補正 第1図、第2図、第3図 8、補正の内容 添付の通り(清、乍Tewtkr’ 
(D Jbす)手続補正書(方式) 昭和60年7月75日 特許庁長官 苛賀l舒 殿 1、事件の表示 昭和59年特許願第238681号 (昭和59年11月14日 出M) 2、発明の名称 顕微鏡用光学装置 3、補正をする者 特許出願人 氏名 ラニー・ライヘルド・オプティッシェ・ヴエルケ
拳アーゲー 4、代理人 (昭和60年4月2日 発送) 6、?IIi正により増加する発明の数 なし7、補正
の対象
FIG. 1 is a side view of the device according to the invention, FIG. 2 is a plan view of the device shown in FIG. 1, and FIG. 3 is an end view of the device shown in FIG. 12... First optical system, 16... Optical deflection element. 20...Main beam path, 22...Auxiliary beam path. 26...Bertrand lens. 32...Second optical system, 40...Iris diaphragm. 41...Third optical system. Applicant Lanny Reicheld Optissche Twerg AG Patent Attorney Kato Asami Procedural Amendment (voluntary) February 12, 1985 Commissioner of the Patent Office Manabu Shiga 1, Indication of Case 1988 Patent W4 No. No. 238681 (filed on November 14, 1982) 2. Title of the invention: Optical device for a microscope 3. Person making the amendment: Patent applicant's name: Lanny Reicheld Optische φtsu' Elke No. AG 4. Agent 5: Amendment order. Date of initiative 6, Number of inventions increased by amendment None 7, Amendment of drawings subject to amendment Figure 1, Figure 2, Figure 3 8, Contents of amendment As attached (Qing, 乍Tewtkr'
(D Jb) Procedural amendment (method) July 75, 1985 Director General of the Patent Office Mr. Isuga Isho 1, Indication of the case Patent Application No. 238681 of 1982 (filed on November 14, 1980) 2. Title of the invention: Optical device for a microscope 3. Person making the correction: Patent applicant's name: Lanny Reicheld Optische Wuerke Kenage 4. Agent (shipped on April 2, 1985) 6.? Number of inventions increased by IIi positive No. 7, subject to amendment

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] (1) 顕微鏡の対物レンズおよび観察筒が配置された
主ビーム路と、該主ビーム路の一部の代わりに顕微鏡の
対物レンズと観察筒との間に選択的に介在できる補助ビ
ーム路と、主ビーム路と補助ビーム路とを選択するよう
主ビーム路に挿入できかつ主ビーム路から取出すことが
できる光学偏向素子とから成り、光学偏向素子が光学主
ビーム路内に挿入されているとき顕微鏡の対物レンズか
らのビームは横方向に偏向されて補助ビーム路に進入す
るようになっており、前記補助ビーム路はそれぞれビー
ムを偏向する少なくとも第1.第2および第3光学面か
ら成り、第3光学面は補助ビーム路を観察筒内へ偏向し
、光学偏向素子と第3光学面との間にベルトランドレン
ズおよびこのベルトランドレンズと協働する視野制限素
子が設けられている顕微鏡用光学装置。
(1) A main beam path in which the objective lens of the microscope and the observation tube are arranged, and an auxiliary beam path that can be selectively interposed between the objective lens of the microscope and the observation tube instead of a part of the main beam path; an optical deflection element that can be inserted into and taken out from the main beam path to select between the main beam path and the auxiliary beam path, and when the optical deflection element is inserted into the main optical beam path, the microscope The beam from the objective lens is laterally deflected into an auxiliary beam path, each of which has at least a first . It consists of a second and a third optical surface, the third optical surface deflecting the auxiliary beam path into the observation tube and having a Bertrand lens between the optical deflection element and the third optical surface and cooperating with this Bertrand lens. An optical device for a microscope that is equipped with a field-of-view limiting element.
(2) 視野制限素子はアイリス絞りから成る特許請求
の範囲第1項記載の光学装置。
(2) The optical device according to claim 1, wherein the field-of-view limiting element is an iris diaphragm.
(3) 光学偏向素子と第1光学面との間にベルトラン
ドレンズが設けられ、第2光学面と第3光学面との間に
ベルトランドレンズと協働する視野制限素子が設けられ
ている特許請求の範囲第1項記載の光学装置。
(3) A Bertrand lens is provided between the optical deflection element and the first optical surface, and a field-of-view limiting element that cooperates with the Bertrand lens is provided between the second optical surface and the third optical surface. An optical device according to claim 1.
(4) 第1および第2光学面およびベルトランドレン
ズは異なる顕微鏡の対物レンズに合わせるようビーム路
に沿って変位自在であり、視野制限素子の位置は変わら
ない特許請求の範囲第1項記載の光学装置。
(4) The first and second optical surfaces and the Bertrand lens are movable along the beam path to match different microscope objectives, and the position of the field-limiting element remains unchanged. optical equipment.
(5) 主ビーム路と補助ビーム路を選択するための光
学偏向素子は、第3光学面と共に主ビーム路内に挿入さ
れ、又この主ビーム路より引出される特許請求の範囲第
1項記載の光学装置。
(5) The optical deflection element for selecting the main beam path and the auxiliary beam path is inserted into the main beam path together with the third optical surface and is also drawn out from the main beam path. optical device.
(6) 主ビーム路と選択ビーム路を選択するための光
学偏向素子が除去されかつ第3光学面も除去されている
とき別の観察法を行う他の光学素子を主ビーム路内に挿
入できる特許請求の範囲第5項記載の光学装置。
(6) When the optical deflection element for selecting the main beam path and the selected beam path is removed and the third optical surface is also removed, another optical element for a different observation method can be inserted into the main beam path. An optical device according to claim 5.
(7) 主ビーム路と補助ビーム路を選択するよう主ビ
ーム路に挿入できかつ主ビーム路から取出すことができ
る光学偏向素子により主ビーム路の一部の代わりに顕微
鏡の対物レンズと顕微鏡の観察筒との間の補助光学ビー
ムを選択的に介在させるだめの装置であって、光学偏向
素子が光学主ビーム路内に挿入されているとき、顕微鏡
の対物レンズからのビームを横方向に偏向させて補助ビ
ーム路に進入させるようになっており、前記補助ビーム
路は各々ビームを偏向する少なくとも第1、第2および
第3光学面から成り、第3光学面は補助ビーム路を観察
筒内へ偏向させるようになっており、前記装置は、顕微
鏡の対物レンズと観察筒との間の主ビーム路に隣接して
取イ」けできる細長い支持部材と、光学偏向素子と第3
光学面から成り、主ビーム路に対して横方向に支持部材
に治って主ビーム路の内外へ移動自在な$1光学系と、
第1および第2光学面から成り支持部材に沿って変位で
きるよう支持部材の一端に向って取付けられた第2光学
系と、光学偏向素子と第1光学面との間のビーム路内に
て支持部材に変位自在に取付けられたベルトランドレン
ズと、第2光学面と第3光学面との間のビーム路に沿う
支持部材に取付けられたベルトランドレンズと協働する
固定視野制限素子とから成り、第2光学系とベルトラン
ドレンズは、長さおよびピンチの異なる2つの相互に接
続されたスピンドルにより支持部材の前記 端に設けら
れた一つの回転ノブより同昨に駆動され、細長い支持部
材の他端には第1光学系を変位5せる作動手段が設けら
れている装置。
(7) Microscope objective lens and microscope observation instead of part of the main beam path by an optical deflection element that can be inserted into and taken out of the main beam path to select the main beam path and the auxiliary beam path. A device for selectively interposing an auxiliary optical beam between the tube and the tube, which laterally deflects the beam from the objective lens of the microscope when the optical deflection element is inserted into the main optical beam path. the auxiliary beam path is configured to enter an auxiliary beam path, the auxiliary beam path comprising at least first, second and third optical surfaces each deflecting the beam, the third optical surface directing the auxiliary beam path into the observation tube. The apparatus includes an elongated support member removable adjacent to the main beam path between the microscope objective and the observation tube, an optical deflection element and a third optical deflection element.
a $1 optical system consisting of an optical surface and mounted on a support member in a direction transverse to the main beam path so as to be movable in and out of the main beam path;
a second optical system comprising a first and a second optical surface and mounted toward one end of the support member so as to be displaceable along the support member; and in a beam path between the optical deflection element and the first optical surface. a Bertrand lens displaceably mounted on the support member; and a fixed field-limiting element cooperating with the Bertrand lens mounted on the support member along the beam path between the second optical surface and the third optical surface. The second optical system and the Bertrand lens are driven simultaneously by two interconnected spindles of different lengths and pinches from a rotary knob provided at the end of the support member, and The device is provided with actuating means for displacing the first optical system at the other end.
(8) 支持部材の前記他端に取付けられた第1光学系
が主ビーム路の外へ移動しているとき作動手段により主
ビーム路内に進入するよう移動できる少なくとも更に一
つの光学素子を含む特許請求の範囲第7項記載の装置。
(8) at least one further optical element movable into the main beam path by actuating means when the first optical system attached to the other end of the support member is moved out of the main beam path; An apparatus according to claim 7.
(9) 視野制限素子はアイリス絞りから成る特許請求
の範囲第7項記載の装置。 (10〕 光学偏向素子および第3光学面から成る第1
光学系が三角プリズムから成る特許請求の範囲第7項記
載の装置。
(9) The device according to claim 7, wherein the field-of-view limiting element comprises an iris diaphragm. (10) A first beam consisting of an optical deflection element and a third optical surface.
8. The apparatus according to claim 7, wherein the optical system comprises a triangular prism.
JP23868184A 1983-11-15 1984-11-14 Optical apparatus for microscope Pending JPS60258514A (en)

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DE1472290B2 (en) * 1966-07-16 1970-05-06 Ernst Leitz Gmbh, 6330 Wetzlar Additional device for a polarizing microscope

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ES537619A0 (en) 1985-09-16
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PT79491A (en) 1984-12-01
PT79491B (en) 1986-08-05
GB2149937B (en) 1986-09-03
DE3341302A1 (en) 1985-05-23
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GB8428774D0 (en) 1984-12-27

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