JPS60253238A - Integrated circuit selecting device - Google Patents
Integrated circuit selecting deviceInfo
- Publication number
- JPS60253238A JPS60253238A JP59109008A JP10900884A JPS60253238A JP S60253238 A JPS60253238 A JP S60253238A JP 59109008 A JP59109008 A JP 59109008A JP 10900884 A JP10900884 A JP 10900884A JP S60253238 A JPS60253238 A JP S60253238A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic card
- selecting
- display
- set mode
- selecting device
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
この発明は、IC1i!別装置で異品種ごとに動作モー
ドを変更する場合、磁気カード読み取り器ディスプレイ
を装備し、磁気カードにより動作−ドを設定するととも
に、その設定内容を表示きるようにしたものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Technical field of the invention This invention relates to IC1i! When changing the operating mode for different types using a separate device, a magnetic card reader display is installed so that the operating mode can be set using a magnetic card and the setting contents can be displayed.
(b) 従来技術と問題点
従来装置では、設定スイッチにより各動作モトを設定し
ている。(b) Prior Art and Problems In the conventional device, each operation is set using a setting switch.
動作モードの一例を示すと、ICテスタと接1してIC
をテストする「テスト」モード、ICi別装置を単独で
動作させる「マシン」モード、Cテスタと接続したとき
にコンタクタ部の調整Jテストプログラムによる測定確
認をする「キャルモードなどがある。An example of the operation mode is when the IC is connected to an IC tester.
There is a "Test" mode for testing the ICi, a "Machine" mode for operating the separate ICi device independently, and a "Cal mode" for checking the measurement using the contactor adjustment J test program when connected to the C tester.
これらの動作モードは、測定しようとするI(の品種が
変更になると、その品種に合った設定ト容に変更する場
合がでてくる。When the type of I to be measured changes, these operating modes may be changed to settings suitable for that type.
この場合、作業者は測定しようとするICの8定内容を
理解し、その内容に合う設定スイッチイ切り換えなけれ
ばならない。In this case, the operator must understand the specific content of the IC to be measured and change the setting switch to match that content.
しかし、設定ミスを完全になくすことは困難マ設定ミス
のために正しい測定、選別ができずに出荷されてしまう
ことがある。However, it is difficult to completely eliminate setting errors, and because of setting errors, products may be shipped without being able to perform correct measurements or sorting.
また、後日設定ミスが判明しても、どのような設定モー
トで測定したのかを追跡調査することは不可能なととが
多い。Furthermore, even if a setting error is discovered later, it is often impossible to trace back the setting mote used to perform measurements.
(C) 発明の目的
この発明は、磁気カードにIC選別装置の設定モードを
入れておき、この磁気カードによりIC選別装置を動作
させ、この磁気カードを管理することにより、仮に出荷
後不良が判明しても、その追跡調査ができるようにする
ことを目的とする。(C) Purpose of the Invention This invention stores a setting mode for an IC sorting device in a magnetic card, operates the IC sorting device with this magnetic card, and manages this magnetic card, so that even if a defect is found after shipment, The purpose is to enable follow-up investigations even if the
(d> 発明の実施例 この発明による実施例の構成図を第1図に示す。(d> Examples of the invention A block diagram of an embodiment according to the invention is shown in FIG.
第1図の1は磁気カード読み取り器、2はディスプレイ
、3はキーボード、4は制御回路、5は磁気カード、6
は選別機構である。In Figure 1, 1 is a magnetic card reader, 2 is a display, 3 is a keyboard, 4 is a control circuit, 5 is a magnetic card, 6
is a sorting mechanism.
磁気カード5には品種の異なるICごとに、そのIC用
の設定モードを記憶しておき、測定しようとするICに
合った磁気カード5を磁気カード読み取り器1に挿入す
る。A setting mode for each IC of different types is stored in the magnetic card 5, and a magnetic card 5 suitable for the IC to be measured is inserted into the magnetic card reader 1.
磁気カード読み取り器1によって読み取られた情報Aは
、制御回路4を経由して選別機構6に送られ、選別機構
6を動作させる。また、情報Aの内容は、制御回路4を
経由してディスプレイ2に表示される。したがって、選
別機構6で選別するICと設定モードとの関係を目で見
て確認することができる。Information A read by the magnetic card reader 1 is sent to the sorting mechanism 6 via the control circuit 4 to operate the sorting mechanism 6. Further, the contents of the information A are displayed on the display 2 via the control circuit 4. Therefore, the relationship between the ICs to be sorted by the sorting mechanism 6 and the setting mode can be visually confirmed.
なお、ディスプレイ2にはICとのコンタクタごとの測
定結果や、測定区分ごとの収容数、設定内容などを表示
することができるので、磁気カード5を個別に作成して
おけば、後日さかのぼって調査するのに便利である。The display 2 can display the measurement results for each contactor with the IC, the number accommodated for each measurement category, the settings, etc., so if you create the magnetic cards 5 individually, you can check them retroactively at a later date. It is convenient to do.
磁気カード5の内容をディスプレイ2の表示で確認した
場合などに、磁気カード5の内容を変更するクースがお
きるととがある。When the contents of the magnetic card 5 are confirmed on the display 2, there is a possibility that the contents of the magnetic card 5 are changed.
このようなときは、キーボード3を打鍵することにより
、制御回路4を経由して磁気カート5のメモリ内容を変
更する。この変更内容は、ディスプレイ2に表示される
ので、目で確認することができる。In such a case, by pressing a key on the keyboard 3, the memory contents of the magnetic cart 5 are changed via the control circuit 4. The content of this change is displayed on the display 2, so it can be confirmed visually.
従来は、第1図の1〜5に相当する部分に個別にオンオ
フする設定スイッチを配置していたので、ICの品種が
変るごとに設定スイッチをオンオフしており、操作が繁
雑で設定ミスを生じていた。Conventionally, individual on/off setting switches were placed in the parts corresponding to 1 to 5 in Figure 1, so the setting switches were turned on and off each time the type of IC changed, making the operation complicated and preventing setting errors. It was happening.
(e) 発明の効果 この発明によれば、次のような効果がある。(e) Effect of the invention According to this invention, there are the following effects.
(7) 磁気カードの管理番号をICの品種に対応させ
ておけば、設定誤りを防ぐことができる。(7) Setting errors can be prevented by making the management number of the magnetic card correspond to the type of IC.
(イ)磁気カードの管理番号を記録しておけば、追跡調
査をすることができる。(b) If you record the magnetic card's management number, you can conduct a follow-up investigation.
(つ)キーボードの打鍵により、設定内容の追加変更が
できるので、特殊仕様のものにも対応することができる
。(1) Since settings can be added and changed by keystrokes on the keyboard, it is possible to accommodate special specifications.
第1図はこの発明による実施例の構成図。
1・・・・・・磁気カード読み取り器、2・・・・・・
ディスプレイ、3・・・・・・キーボード、4・・・・
・・制御回路、5・・・・・・磁気カード、6・・・・
・・選別機構。
代理人 弁理士 小 俣 欽 同
第1図
羞寵気力−ドFIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention. 1...Magnetic card reader, 2...
Display, 3...Keyboard, 4...
...Control circuit, 5...Magnetic card, 6...
...Selection mechanism. Agent: Patent Attorney Kin Omata
Claims (1)
において、 磁気カード読み取り器と、 ディスプレイと、 キーボードと、 制御回路とを備え、 前記異品種ごとの動作モードを記憶した磁気カードを前
記磁気カード読み取り器に挿入して前記IC選別装置を
動作させるとともに、前記ディスプレイに動作モードを
表示させ、 前記磁気カードの内容を変更するときは、前記キーボー
ドにより前記磁気カードの内容を変更するとともに、前
記変更内容を前記ディスプレイに表示することを特徴と
するIC選別装置。[Claims] 1. An IC sorting device that changes the operating mode for each different product type, comprising a magnetic card reader, a display, a keyboard, and a control circuit, and storing the operating mode for each different product type. Insert a magnetic card into the magnetic card reader to operate the IC sorting device, display the operating mode on the display, and when changing the contents of the magnetic card, input the contents of the magnetic card using the keyboard. An IC sorting device characterized in that the IC sorting device changes the content of the IC and displays the content of the change on the display.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59109008A JPS60253238A (en) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | Integrated circuit selecting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59109008A JPS60253238A (en) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | Integrated circuit selecting device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60253238A true JPS60253238A (en) | 1985-12-13 |
Family
ID=14499223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59109008A Pending JPS60253238A (en) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | Integrated circuit selecting device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60253238A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01291440A (en) * | 1988-05-18 | 1989-11-24 | Tokyo Electron Ltd | Wafer prober |
-
1984
- 1984-05-29 JP JP59109008A patent/JPS60253238A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01291440A (en) * | 1988-05-18 | 1989-11-24 | Tokyo Electron Ltd | Wafer prober |
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